电子探针在找矿方面的应用 一、电子探针-基本概念 电子探针仪是 X射线光谱学与电子光学技术相结合而 产生的。1948年法国的R.卡斯坦制造了第一台电子探针 仪。1958年法国首先制造出商品仪器。电子探针仪与扫 描电子显微镜在结构上有许多共同处。70年代以来生产 的电子探针仪上一般都带有扫描电子显微镜功能，有的还 附加另一些附件，使之除作微区成分分析外，还能观察和 研究微观形貌、晶体结构等。 用波长色散谱仪（或能量色散谱仪）和检测计数系统， 测量特征X射线的波长（或能量）和强度，即可鉴别元素 的种类和浓度。在不损耗试样的情况下，电子探针通常能 分析直径和深度不小于1微米范围内、原子序数4以上的 所有元素；但是对原子序数小于12的元素，其灵敏度较 差。常规分析的典型检测相对灵敏度为万分之一，在有些 情况下可达十万分之一。检测的绝对灵敏度因元素而异， 一般为10-14～10-16克。用这种方法可以方便地进行点、 线、面上的元素分析，并获得元素分布的图象。对原子序数高于10、浓度高于10％的元素，定量分析的相对精度优于±2％。 电子探针仪主要包括：探针形成系统 (电子枪、加速和聚焦部件等)、X射线信号检测系统和显示、记录系统、样品室、高压电源和扫描系统以及真空系统。 二、电子探针-结构特点 电子探针X射线显微分析仪(简称电子 探针)利用约1Pm的细焦电子束，在样品表 层微区内激发元素的特征X射线，根据特 征X射线的波长和强度，进行微区化学成 分定性或定量分析。电子探针的光学系统、 真空系统等部分与扫描电镜基本相同，通 常也配有二次电子和背散射电子信号检测器，同时兼有组织形貌和微区成分分析两方面的功能。电子探针的构成除了与扫描电镜结构相似的主机系统以外，还主要包括分光系统、检测系统等部分。 电子探针主要由电子光学系统（镜筒），X射线谱仪和信息记录显示系统组成。电子探针和扫描电镜在电子光学系统的构造基本相同，它们常常组合成单一的仪器。 电子光学系统 该系统为电子探针分析提供具有足够高的入射能量，足够大的束流和在样品表面轰击殿处束斑直径近可能小的电子束，作为X射线的激发源。为此，一般也采用钨丝热发射电子枪和2-3个聚光镜的结构。为了提高X射线的信号强度，电
2011——2012学年第二学期 现代服务系计算机专业成绩分析报告 一、各科目试卷评价： 从各科教师的试卷分析可以看出，各科目的试题量都基本适中，学生可以在规定的时间内完成答题，绝大部分试题都能从学生的实际情况出发，尤其是计算机考试更注重学生的实操能力，结合我校示范校建设和一体化课程改革的要求，各计算机班级专业课程的考试基本上都是采用了理论+实操的考试方式，考试成绩基本上能真实反映出学生的实际情况，起到了通过考试评价教学效果的作用。二、考试评价： 所控班级：一年级—计算机广告1、2、3班；二年级—中级计算机22班；三年级—高级计算机3班。本学期计算机广告1、2、3班考试课目为：《WORD案例》及格率89.5%、《Photoshop图像处理》及格率63.8%、汉字录入实训76.6%。中级计算机22班学生考试四门功课：《计算机操作员（中级）》及格率为97%、《计算机操作员基础知识》及格率为95%；《网页设计与制作》及格率为84.4%、《多媒体技术与应用》70.9%%。高计3班考试课程为《AE》及格率为100%、《电子商务》及格率58%、《计算机操作员（高）》及格率95%、《计算机操作员基础知识》及格率91%。
从本次考试来看，计算机专业试题题量适中，难易程度与学生实际情况及计算机专业要求相符，知识点之间环环相扣，注重实操和理论相结合。从考试成绩来看，学生主要的错误集中点在以下几个方面： 1、《计算机操作员基础知识》考试的知识点琐碎，覆盖面广，每一章都有知识点，大多数学生的错误点集在计算机安装、连接、调试、和多媒体信息处理这些知识点上 2、《网页设计与制作》多数学生不能按时完成作业，缺乏想象力、创造力。 3、《录入实训》概念不清，速度提不起来。 4、《计算机操作员（中高级）》集中出现在输入的速度上；电子表格的计算机功能（函数）使用不当；Powerpoint动画设置不熟练 5、《电子商务》综合能力的掌握，网络营销经验不足。 6、《多媒体课件制作》题目与图片的分布不协调，不能实现密码输入超时提入。 7、《Photoshop图像处理》作品操作过程不够细，在细节方面失分过多，图层、蒙版应用不当。 8、试卷错误集中在对联制作部分和公司招聘方案部分。充分说明学生基础功不够扎实，不能合理安排时间，对基础知识的操作有误，除此之外错误还集中在一些细节部分，比如利用自选图形、艺
实验六电子探针结构原理及分析方法 一、实验内容及实验目的 1．结合电子探针仪实物，介绍其结构特点和工作原理，加深对电子探针的了解。 2．选用合适的样品，通过实际操作演示，以了解电子探针分析方法及其应用。 二、电子探针的结构特点及原理 电子探针X射线显微分析仪(简称电子探针)利用约1μm的细聚焦电子束，在样品表层微区内激发元素的特征X射线，根据特征X射线的波长和强度，进行微区化学成分定性或定量分析。电子探针的光学系统、真空系统等部分与扫描电镜基本相同，通常也配有二次电子和背散射电子信号检测器，同时兼有组织形貌和微区成分分析两方面的功能。电子探针的构成除了与扫描电镜结构相似的主机系统以外，还主要包括分光系统、检测系统等部分。本实验这部分内容将参照教材，并结合实验室现有的电子探针，简要介绍与X射线信号检测有关部分的结构和原理。 三、电子探针的分析方法 电子探针有三种基本工作方式：点分析用于选定点的全谱定性分析或定量分析、以及对其中所含元素进行定量分析；线分析用于显示元素沿选定直线方向上的浓度变化；面分析用于观察元素在选定微区内的浓度分布。 1．实验条件 (1) 样品：样品表面要求平整，必须进行抛光；样品应具有良好的导电性，对于不导电的样品，表面需喷镀一层不含分析元素的薄膜。实验时要准确调整样品的高度，使样品分析表面位于分光谱仪聚焦圆的圆周上。 (2) 加速电压：电子探针电子枪的加速电压一般为3~50kV，分析过程中加速电压的选择，应考虑待分析元素及其谱线的类别。原则上加速电压一定要大于被分析元素的临界激发电压，一般选择加速电压为分析元素临界激发电压的2~3倍。若加速电压选择过高，导致电子束在样品深度方向和侧向的扩展增加，使X射线激发体积增大，空间分辨率下降。同时过高的加速电压将使背底强度增大，影响微量元素的分析精度。 (3) 电子束流：特征X射线的强度与入射电子束流成线性关系。为提高X射线信号强度，电子探针必须使用较大的入射电子束流，特别是在分析微量元素或轻元素时，更需选择大的束流，以提高分析灵敏度。在分析过程中要保持束流稳定，在定量分析同一组样品时应控制束流条件完全相同，以获取准确的分析结果。 (4) 分光晶体：实验时应根据样品中待分析元素及X射线线系等具体情况，选用合适的分光晶体。常用的分光晶体及其检测波长的范围见有关表。这些分光晶体配合使用，检测X
分析测试中心电子探针（EPMA）简介 一、仪器概述 电子探针利用聚焦得非常细(微米-纳米级)的高能电子束轰击样品，激发出各种被测物质的有用信息（如特征X射线、二次电子、背散射电子等），通过分析这些有用信息达到对样品微区成分分析和形貌观察的目的。 电子探针与扫描电镜的结构大致相似，不同的是电子探针有一套完整的X射线波长和能量探测装置（波谱仪WDS和能谱仪EDS），用来探测电子束轰击样品所激发的特征X射线。由于特征X射线的能量或波长随着原子序数的不同而不同，只要探测入射电子在样品中激发出的特征X射线波长或能量，就可获得样品中所含的元素种类和含量，以此对样品微区成分进行定量分析是电子探针最大的特点。 分析测试中心已安装的电子探针是日本岛津公司生产的EPMA-1600型最新产品，它不仅具有较高的X射线检出角，同时由于使用全聚焦的X射线分光晶体，能兼顾X 射线检测的高灵敏度和高分辨率，并配有高稳定的电子光学系统、真空系统及高精度机械系统以及EDAX公司生产的Genesis能谱仪，是目前华南地区最先进的微区成分定性定量分析和形貌观察用大型精密科研仪器之一。 二、仪器用途 适用于材料(合金、陶瓷、半导体材料等)、矿物、冶金、机械、微电子等领域的微区化学组成定性和定量分析、微区化学组成线分析、微区化学组成面分析以及各类固体产品的微区形貌观察与成分分布图像等，是对试样表面形貌观察、微区组织结构和元素定性定量分析的最有效、原位（in-situ）表征手段。 三、仪器的性能与特点 1、具有较高的X-射线检出角(52.5?)，有利于提高仪器空间分辨率和凸凹样品分析观察的可靠性；分光晶体采用Johanson型全聚焦分光晶体，同一道波谱仪兼顾高分辨率和高灵敏度。 2、分析精度：好于1%(主要元素，含量>5%)和5%(次要元素，含量～1%)；谱仪检测极限：大于10ppm。 3、分析元素范围：4Be-92U；加速电压：0.2-30kV(可调步长≤0.5kV)；二次电子像分辨率：6nm；放大倍数：50-300000?，连续可调（有效图像观察倍数≤50000?）。 4、电子束流稳定性：好于1.5?10-3/h；电子束流：10-12–10-5A，连续可调，绝对准确值好于10%。 5、样品台最小移动间距为0.02微米，重复精度好于±1μm，机械系统精密度高。
对口高考电子类专业（综合）课试卷分析 一、试题的主要特征 1、三门学科知识点覆盖面不一，总体较低 2004年电子类专业课《考试纲要》要求考察的知识点为293个，其中《电工基础》知识点159个，《电子技术基础》知识点81个，《电子线路》知识点54个。高考试卷中涉及《电工基础》知识点18个，广度为11%；涉及《电子技术基础》知识点23个，广度为28%；涉及《电子线路》知识点18个，广度为33%。由以上统计数据可以看出，三门学科知识点覆盖面均较低，《电工基础》尤为明显。 2、试题注重对基础知识的考查，但更突出能力考查 《电工基础》涉及的基础知识有：电阻串联分压、简单电位计算、正弦交流电的基本知识等；《电子技术基础》涉及的基础知识有：模拟和数字信号的区别、PN结的导电特性、三极管的分类等；《电子线路》涉及的基础知识有：数制转换、逻辑代数的基本运算等。 能力考查方面，注重理论联系实际，考查学生灵活运用所学知识分析和解决实际问题的能力。如第四大题第2题要求学生分析给定组合逻辑电路，并说明如何实现身份识别；第四大题第4题，考查了学生通过分析一控制系统输入输出关系方程，利用集成运放，选择适当方式和参数，解决实际问题的能力。 3、试题难度加大 据统计，试题中考试水平各层次所占的百分比分别为A（识记）：10.67%，B（理解）：10.67%，C（掌握）：44.67%，D（综合运用）：34%。C和D层次和起来比率高达78.67%！ 三门学科中，《电子线路》试题的难度相对最大，《电子线路》满分104分，试题各层次所占的分数从A到D分别为8分、6分、50分、40分，C和D层次分数加起来为90分！ 4、试题内容未能紧扣2004年《考试纲要》 ①知识点覆盖面低，一些重要章节知识点未曾考查，如直流稳压电源。 ②试题与考纲中按考试水平分，各层次所占的百分比相差太大。（见下表）
电工学与工业电子学试卷分析 本次试卷覆盖面广，重视了基础知识，基本技能，解决问题的考查，客观题的设置也比较合理，有一定的综合性和灵活性，难易程度比较适中，比较真实地反映电工基础教学质量的现状。本试卷包含七种题型，通过不同侧面考查了电工基础问题的合理性和灵活性。 二、考核成绩分析 （一）填空题 填空题以基础知识为主，主要考查学生对基础知识的掌握。出错较少。 （二）判断题 错题较多的是1.正弦交流电的有效值除与最大值有关外，还与它的初相位相关。 9、三相负载作星形联接时，无论负载对称与否，线电流必定等于对应负载的相电流。 （三）选择题 第2小题和第8小题学生部分学生选择错误。 （四）计算题 有一对称三相负载，每相的电阻为6Ω，电抗为8Ω，电源线电压为380V，试计算负载星形联接和三角形联结时的有功功率。 由于中职学生计算能力差，出错率高。 （五）动手操作题 此题主要考查学生的动手操作能力和观察能力。 （六）解决问题 总体上来说，学生完成较好。 完成较好的题目有第1题、第2题、第4题。 第3题，大部分学生解题的思路明确。
第5题，这是一道看起来不难，错误率却颇高的题。一部分学生因为无法理解题意而无从下手；还有一部分学生对三相电工率计算的应用题缺乏深入思考，因此错误极多。 三、存在问题及改进措施 在教学中，我们要勇于实践《电工基础大纲标准》，要将课程的理念渗透到课堂教学中，努力提高教学水平和教学质量，为学生后续的学习和发展打好坚实的基础。 1、本课程是中等职业学校电类的一门技术基础课。其任务是使学生具备从事电气电子工作所必需的电工基础知识，基本理论和基本技能，并为学习后续课程和培养学生的创新能力打下基础。 2、 （1）．熟悉电路的基本概念、基本定律和定理，熟悉通用电路的组成与特性； （2）．初步具备识读电路图、计算电路基本物理量的能力； （3 ）．初步具备分析电路一般问题的能力； （ 4 ）．初步具备学习和应用电气电子工程新知识、新技术的能力； （5）．了解与本课程有关的技术规范，培养严谨的工作作风和创新精神。 总之，此试卷测出了学生的水平，也测出教师自己教学中的不足之处，我将会在今后教学工作中加以改进，以达到更好的效果。
图8-12 电子探针结构的方框图 2.4.1 电子光学系统 电子光学系统包括电子枪、电磁透镜、消像散器和扫描线圈等。其功能是产生一定能量的电子束、足够大的电子束流、尽可能小的电子束直径，产生一个稳定的X 射线激发源。 2.4.1.1 电子枪 电子枪是由阴极（灯丝）、栅极和阳极组成。它的主要作用是产生具有一定能量的细聚焦电子束(探针)。从加热的钨灯丝发射电子，由栅极聚焦和阳极加速后，形成一个10μm ～100μm 交叉点（Crossover)，再经过二级会聚透镜和物镜的聚焦作用，在试样表面形成一个小于1μm 的电子探针。电子束直径和束流随电子枪的加速电压而改变， 加速电压可变范围一般为1kV ～30kV 。 2.4.1.2 电磁透镜 电磁透镜分会聚透镜和物镜，靠近电子枪的透镜称会聚透镜，会聚透镜一般分两级，是把电子枪形成的10μm －100μm 的交叉点缩小1－100倍后，进入样品上方的物镜，物镜可将电子束再缩小并聚焦到样品上。为了挡掉大散射角的杂散电子，使入射到样品的电子束直径尽可能小，会聚透镜和物镜下方都有光阑。 为了在物镜和样品之间安置更多的信号探测器，如二次电子探测器、能谱仪等，必须有一定的工作距离( 物镜底面和样品之间的距离)。工作距离加长必然会使球差系数增大，从而使电子束直径变大，如果电子束几何直径为dg, 由于球差系数的影响，最终形成的电子束 直径d 应为：d 2＝dg 2＋ds 2 ，ds 为最小弥散圆直径，它和球差系数Cs 的关系为: ds ＝ 2 1Cs 2 α (8·2) α为探针在试样表面的半张角。因此，增加工作距离受到球差的限制。为了解决这一矛盾，设计了一种小物镜，是这类仪器的一项重要改进。小物镜可以在不增加工作距离的情况下，在物镜和样品之间安放更多的信号探测器，如JCXA －733电子探针，工作距离为11mm ，可同时安装四道波谱仪(WDS)，一个能谱仪，一个二次电子探测器和一个背散射电子探测器，并使X 射线出射角增加到40°。高出射角减小了试样对X 射线的吸收和样品表面粗糙所造成的影响，但小物镜要获得足够的磁场必须在其线圈内通以大电流，为了解决散热问题要进行强制冷却，一般用油冷却。
电子探针分析过程浅析 电子探针（EPMA）是非常先进的元素定性和定量分析设备，是目前微区元素定量分析最准确的仪器。它使用细聚焦电子束入射样品表面，激发出样品元素的特征X射线，分析X射线的波长，即可知道样品中所含元素的种类；分析特征X射线的强度，可知样品中对应元素的相对含量，并配置能谱仪分析附件。电子探针可进行图像观察，并获得元素的定性定量分析数据。它的应用能为钢铁产品的研发工作及质量控制提供准确、有效的分析数据。针对此课题，本报记者采访了首钢技术研究院检验高级工程师严春莲。 电子探针在钢铁工业中有非常重要的作用，国内外许多科研院所、钢铁企业都利用电子探针进行固体样品的微区（微米到纳米级）分析，可分析的元素范围是B5—U92。它利用细聚焦的电子束照射样品，可查明钢铁样品微区中的元素成分，尤其是可以对C、N、O等轻元素进行定性定量分析，X射线取出角可达52.5°，以高信噪比及高灵敏度检测钢材中较轻元素的含量可达ppm级。这是扫描电镜所不能胜任的，因为扫描电镜和能谱仪一般是对元素周期表中Na元素以后的重元素进行定性和半定量分析。现阶段，利用电子探针已经突破这一局限，大大方便研发人员对样品中的轻元素进行微观分析研究。如板材产品会出现明显的碳偏析和析出相，通过电子探针进行微区观察分
析，会有助于生产实际问题的解决，促进新产品强化机理问题的深入研究。另外，电子探针还可以进行镀层成分、厚度的测定、粒度分布的测定及断面分析等。电子探针无疑是钢铁企业提高科研水平、改善产品质量的一种非常有效的技术手段。 与传统的成分分析仪相比，电子探针更偏重成分的微区定量分析，处于微米级的分析精度，它的检测极限一般为0.01—0.05wt%，对原子序数大于11，含量在10wt%以上的元素，其相对误差通常小于2%。而光谱类的分析仪是较宏观的检测，处于毫米级的分析精度。以380CL 车轮钢开裂分析为例，裂纹从边部开裂，沿着中心偏析带附近往里扩展，但未曾沿着中心偏析带开裂。裂纹开裂处周边无夹杂，无氧化物，周边组织无脱碳现象。利用金相显微镜、扫描电镜等分析后只能观察到有偏析带，但具体是什么成分偏析、偏析程度如何就无法准确判定，而利用电子探针分析发现试样中心偏析带附近存在着磷偏析带，裂纹沿着磷偏析带开裂。根据这一结果，倒推出当时在炼钢生产时，同一时间生产的高强钢也发现了严重的磷偏析，现场生产异常排除后，车轮钢至今未发现因磷偏析引起的开裂。 目前，首钢技术研究院利用电子探针开发铸坯枝晶组织显示、枝晶偏析定量分析等技术处于国内领先水平。通过设置适当的分析条件，电子探针的面、线、点分析功能可以较好地表征钢中微量元素的偏析状况，并可获得准确定量的微区化学成分。对成分偏析含量低、组织
本科毕业论文(设计）（２0１0届本科毕业生） 题目：基于任务的电子技术实验测评系统 ——考试子系统的设计与实现 学生姓名：周婧 学生学号： 学院名称: 物理科学与技术学院 专业名称：电子信息工程 指导教师：李柳 20１0年０5月2６日
物理科学与技术学院本科生毕业论文开题报告
前言 在技术逐渐渗入社会生活各个层面的今天，传统的考试方式也面临着变革,而电子技术实验测评考试则是一个很重要的方向。基于任务的电子测评系统考试子系统的技术可以借助于遍布全球的因特网进行,因此考试既可以在本地进行，也可以在异地进行，大大拓展了考试的灵活性。试卷可以根据题库中的内容即时生成,可避免考试前的压题;而且可以采用大量标准化试题，从而使用计算机判卷，大大提高阅卷效率；还可以直接把成绩送到数据库中,进行统计、排序等操作。所以现在较好的考试方法为电子技术实验测评考试,试题内容放在服务器上，考生通过姓名、准考证号码和口令进行登录，考试答案也存放在服务器中，这样考试的公平性、答案的安全性可以得到有效的保证。因此，采用电子技术实验测评考试方式将是以后考试发展的趋势。 电子技术实验测评考试系统的实现技术有多种，可以采用传统的客户机／服务器型的ＭIS型架构，即试题内容放在远程的服务器上,在考试机上安装考试应用程序和数据库客户机配置,因此每次考试时要对机器进行安装、配置，考务工作比较烦琐,而且考试程序放在客户机上，安全性也受到一定影响，因此本文讨论的电子技术实验测评考试系统采用电子技术实现。电子技术超越了传统的"客户机/服务器"两层结构，采用了三层体系结构：用户界面层/事务层／数据库层,因此电子结构有着更好的安全性，在用户机上不需要安装任何应用程序,应用程序可以安装在事务层所在的计算机上,试题存放在数据库服务器上，当然,事务层和数据库可以是同一台机器（如果条件允许,还是应该把这两层分开在不同的计算机上），所以，本文所讨论的考试系统采用电子技术实现。
《电子技术基础》教学计划 《电子技术基础》是学习电子专业课的基础。注重电子元件的作用参数以及电路工作原理的学习，为了有计划、有目的的完成本学期的计划和教学任务，让学生学习专业课打下良好的基础，制订本学期的教学计划如下： 一、教学任务 1、完成第九章到第十一章的教学内容 2、了解数字电路特点及应用 3、理解逻辑门电路的逻辑功能，熟识其图形符号 4、能对TTL非门电路的工作原理进行简要分析，了解TTL与非门、异或门、集电极开路门、三态输出门的功能及典型应用 5、会应用公式法和卡诺图法对逻辑函数进行化简 6、了解组合逻辑电路的读图方法 7、会分析一般的编码器、译码器电路 二、教学重点与难点 （一）重点 1、逻辑电路及逻辑函数的化简 2、编码器、译码器电路的分析及设计 （二）难点 1、逻辑函数的化简 2、组合逻辑电路的设计 三、学生基本情况分析 经过一学期的接触，对学生的学习情况有了进一步的了解，学生成绩参差不齐，尖子生少，学困生较多，两级分化较突出。上课时学生的学习积极性不高，不够灵活，这就需要教师在教法和学生的学习方法上作进一步改进，让学生成为学习的主人，进行探究性的学习，从而培养学生的学习兴趣，启发思维，提高学习的积极性，培养良好的学习习惯及分析问题，解决问题的能力，加之，职专学生普遍基础较差，底子簿弱，教材难教难学，这就需要师生在本期倍加努力，分层施教，对少部分同学要提高要求，除掌握好基本概念基本规律外还应掌握分析数字电路的方法，并提高能力。对于大部分同学则重点掌握基本概念和基本规律，强调基础知识的掌握，为今后学习好专业打好基础才能达到预期的目的。 四、教学措施 1、在教学中，要根据不同的课程，用不同的方式去教学。在教学过程中，要尽量的引入一些新的信息让学生产生兴趣，并掌握一些手段。根据《电子技术基础》的特点，尽量的用课件做一些实验演示，让学生看到波形的产生过程，变换过程等来提高学生的想象力，以推动学生的纵向和横向发展。对于各章节的练习要辅导学生弄懂，让学生觉得实在学懂了，才会保持较为浓厚的学习兴趣，并强调各章节的学习指导对学习的作用，让学生能真实的感受到进步的喜悦。 2、在教学中，要根据不同的学生提出不同的要求而调整教学方法，去改变教学方式，
第八章 电子探针、扫描电镜显微分析 中国科学院上海硅酸盐所李香庭 1 概论 1.1 概述 电子探针是电子探针X射线显微分析仪的简称，英文缩写为EPMA(Electron probe X-ray microanalyser)，扫描电子显微境英文缩写为SEM（Scanning Electron Microscope）。这两种仪器是分别发展起来的，但现在的EPMA都具有SEM的图像观察、分析功能，SEM也具有EPMA的成分分析功能，这两种仪器的基本构造、分析原理及功能日趋相同。特别是现代能谱仪，英文缩写为EDS（Energy Dispersive Spectrometer）与SEM组合，不但可以进行较准确的成分分析，而且一般都具有很强的图像分析和图像处理功能。由于EDS分析速度快等特点，现在EPMA通常也与EDS组合。虽然EDS的定量分析准确度和检测极限都不如EPMA的波谱仪（Wavelength Dispersive Spectrometer ，缩写为WDS）高，但完全可以满足一般样品的成分分析要求。由于EPMA与SEM设计的初衷不同，所以二者还有一定差别，例如SEM以观察样品形貌特征为主，电子光学系统的设计注重图像质量，图像的分辨率高、景深大。现在钨灯丝SEM的二次电子像分辨率可达3nm，场发射SEM二次电子像分辨率可达1nm。由于SEM一般不安装WDS，所以真空腔体小，腔体可以保持较高真空度；另外，图像观察所使用的电子束电流小，电子光路及光阑等不易污染，使图像质量较长时间保持良好的状态。 EPMA一般以成分分析为主，必须有WDS进行元素成分分析，真空腔体大，成分分析时电子束电流大，所以电子光路、光阑等易污染，图像质量下降速度快，需经常清洗光路和光阑，通常EPMA二次电子像分辨率为6nm。EPMA附有光学显微镜，用于直接观察和寻找样品分析点，使样品分析点处于聚焦园（罗兰园）上，以保证成分定量分析的准确度。 EPMA和SEM都是用聚焦得很细的电子束照射被检测的样品表面，用X射线能谱仪或波谱仪，测量电子与样品相互作用所产生的特征X射线的波长与强度，从而对微小区域所含元素进行定性或定量分析，并可以用二次电子或背散射电子等进行形貌观察。它们是现代固体材料显微分析(微区成份、形貌和结构分析)的最有用仪器之一，应用十分广泛。电子探针和扫描电镜都是用计算机控制分析过程和进行数据处理，并可进行彩色图像处理和图像分析工作，所以是一种现代化的大型综合分析仪。现在国内各种型号的电子探针和扫描电镜有近千台，分布在各个领域。 1.2电子与固体样品的交互作用 一束细聚焦的电子束轰击样品表面时，入射电子与样品的原子核和核外电子将产生弹性或非弹性散射作用，并激发出反映样品形貌、结构和组成的各种信息，如二次电子、背散射电子、吸收电子、阴极发光和特征X射线等（图8－1）。
电子探针分析技术在地学中的应用进展 摘要电子探针分析技术（EPMA）是一种应用较早、且至今仍具有独特魅力的多元素分析技术。二战以后，世界经济和社会的迅猛发展极大地促进了科学技术的进步，电子探针分析技术（EPMA）也进入了一个快速发展时期。在地学领域的应用中,取得了令人瞩目的成就。文章就该技术的发展历史、发展趋势及在地学中的应用进展等方面做出了具体阐述。 关键词：电子探针；地学；应用进展 1引言 电子探针是电子探针X 射线显微分析仪的简称，英文缩写为EPMA (Electron Probe X-ray Micro-Analyser)，它用一束聚焦得很细（50nm～１μｍ）的加速到 5kV-30kV的电子束，轰击用光学显微镜选定的待分析试样上某个“点”（一般直径为1-50um），利用试样受到轰击时发射的X射线的波长及强度，来确定分析区域中的化学组成。 随着电子光学技术和计算机技术的发展，现在的EPMA同时具有扫描电镜SEM的形貌观察、结构分析等功能。不但像仪器发明之初那样，以金属和矿物样品中不同相或不同组成的成分分析为主要目的，而且也应用在冶金、电子电器件、陶瓷、塑料、纤维、木材、牙齿、骨骼、叶、根等等方面。其应用领域之广泛，可说目前已经涉及到所有固体物质的研究工作中，尤其在材料研究工作方面。这种仪器不仅是研究工作中的重要工具，而且也是质量检查的手段之一。本文仅对EPMA在地学领域中的应用进展加以阐述。 2电子探针的发展历史简介 电子探针分析的基本原理早在1913 年就被Moseley发现，但直到1949 年，法国的Castaing在guinier教授的指导下，才用透射电镜（TEM）改装成一台电子探针样机。1951年6月，Castaing在他的博士论文中，不仅介绍了他所设计的电子探针细节，而且还提出了定量分析的基本原理。现在电子探针的定量修正方法尽管作了许多修正，但是，他的一些基本原理仍然适用。1955年Castaing在法国物理学会的一次会议上，展出了电子探针的原形机, 1956 年由法国CAMECA公司制成商品，1958年才把第一台电子探针装进了国际镍公司的研究室中，当时的电子探针是静止型的,电子束没有扫描功能。
计算机历年试卷分析集团公司文件内部编码：（TTT-UUTT-MMYB-URTTY-ITTLTY-
计算机文化基础 主要讲述两大方面的内容：如何考试、如何复习 一、考试： A、参考教材：(石油大学出版社出版) 计算机文化基础（Windows 98） 计算机文化基础学习指导与上机实验（Windows 98） 计算机文化基础（Windows 2000） 计算机文化基础学习指导与上机实验（Windows 2000） B、考试形式：笔试， C、其中客观题占80分、主观题占20分。 1、判断题：10个小题， 2、每小题1分， 3、共10分 4、单选选择：50小题， 5、每小题1分， 6、共50分 7、多项选择：10小题，8、每小题2分，9、共20分 10、填空题：10小题，11、每小题2分，12、共20分 2005年试卷按章节统计结果： 章节 目标 第一章 第二章 第三章第四章第五章 判断题 题目数5 0 1 1 3
分值50113 单项选择 题目数15610910 分值15610910 多项选择 题目数43111 分值86222 填空题 题目数52111 分值104222 分值小计3816151417 其中，判断和单选题每小题1分，多选和填空题每小题2分，客观题占80分，主观题占20分 综合试卷、教材内容，结合本科目的特点，按照大纲的总体要求，命题人在出题时，考查的要点不外乎以下形式： 记忆：名词、快捷键 世界上第一台电子数字计算机是1946年在美国研制成功的，该机的英文缩写名是ENIAC。（04年单选） 在Internet上使用的网络协议是TCP/IP协议。（04年单选） CPU的中文名称是中央处理器。（04年单选） 计算机病毒的特点是：传染性、破坏性、潜伏性。（04年多选）
xxxxxxxxxx 学校 2014—2015学年度第一学期《电子商务》期末考试试卷(B 卷) QMSD/JW -18-02 适用班级： 考生班级 姓名 命题人： 审核人： 一、单项选择题（本题有10小题，每小题2分，共20分。在每小题所给出的4个选项中，只有1个符合题目要求，请把所选项前的字母填入该小题的括号内。多选、错选、不选均不得分） 1.在下列网络营销工具中，最基本、最重要的是（ ）。 2．在电子商务中，CRM 通常是指（ ）。 3．netc@https://www.doczj.com/doc/306550946.html, 是一个典型的E-mail 地址，它包含了（ ）。 4．下列关于IP 地址的说法中错误的是（ ）。 5．HTML 指的是（ ）。 6.以下哪些不是网上市场调研的主要内容（ ） 7.数字证书采用公钥体制，即利用一对互相匹配的密钥进行（ ） 8．表示企业与企业间的电子商务的英文缩写是（ ） 9.下列关于网络防火墙的说法正确的是（ ） 10.下列方法中，不能起到预防计算机病毒作用的是（ ）。 二、填空题（本题有12小题、20个空，每空1分，共20分。） 1.静态网页的文件扩展名通常为 和 。 2.电子商务活动过程中的四流分别是 、资金流、 和物流。
3.“以电子化数字形式存在的现金货币”指的是。 4.数据加密技术可分为和两类。 5.“HTTP”的中文含义是。 6.计算机网络最基本的功能是和。 7.企业网站可以概括为、和综合型电子商务网站三种形式。 8.微博，即的简称，是一个基于的信息分享、传播及获取平台。 9.目前，在物流应用中常用的自动识别技术是和。 10.EDI就是将数据和信息和，并通过计算机网络进行交换和处理。 11. 是一种完全专业化的物流模式，是指从生产到销售的整个流通过程中进行服务的第三方。 12.虚拟专用网简称。 三、判断改正题（本题有10小题，每小题2分，共20分。判断下列各题是否正确，正确的在题后括号内划√，错误的划×，并加以改正。判断错误或不作判断均不得分） 1.URL的格式为：（协议）：//（端口号）：（主机名）/（文件路径）/（文件名）（） 改正： 2.在网页中插入图像时，用得最多的图像格式是GIF和JPEG。（） 改正： 3.总线型是以中央结点为中心与各结点连接。（） 改正： 4.表格对页面区域进行划分，而框架对整个窗口进行划分（） 改正： 5.数据库就是信息的集合，这种集合与特定的主题和目标相联系。（） 改正：6.采用虚拟主机方式建立电子商务网站的投资大。（） 改正： 7.远程登录服务使用了Telnet协议。（） 改正： 8.SQL Server是一种基于浏览器/服务器的关系型数据库。（） 改正： 9.计算机按网络覆盖范围划分，有广域网（LAN）、局域网（WAN）和城域网（MAN）。（）改正： 10.网上银行是虚拟化的金融服务机构。（） 改正： 四、简答题（本题有5小题，每小题3~5分，共18分） 1.（4分）简述电子商务系统网络安全的四大要素。 2.（4分）简述电子商务网站建设的基本步骤。
(日本电子株式会社北京事务所) Fax: 86-10-68046324 场发射电子探针简介 一、日本电子探针JXA-8530F技术说明：
(日本电子株式会社北京事务所) Fax: 86-10-68046324 日本电子致力于电子探针的研究有半个多世纪的历史,从第一代电子探针的面市,到现在日本电子推出的以最新技术的场发射 (FE) 电子枪为特色的JEOL场发射电子探针显微分析仪FE-EPMA，带来了微区表面定量分析的革命。 日本电子2007年最新推出的第一代场发射电子探针JXA-8500F，使电子探针的图像观察能力和分析能力发生质的飞跃。经过一段时间改进，第二代场发射探针JXA-8530F已经推上市场。JXA-8530F在继承了JXA-8500F的强力硬件―包括场发射电子枪、电子光学系统和分子泵真空系统的同时，图像的分辨率提高一倍，束斑尺寸最小减小一个数量级，空间分辨率，分析效率大幅提高。 JXA-8530F具有日本电子传统的电子探针优势。 (一)优秀的电子光学系统 日本电子在电子光学设计制造方面有着传统的优势，图像质量好，长时间使用，图像的分辨率衰减慢，大工作距离11mm时获得高质量图像是日本电子的强项。二次电子图像分辨率达到3nm。日本电子的背散射电子探头性能突出是市场上普遍的反映，将原子序数相近的元素，以不同的衬度在图像上体现出来，表征这一性能的指标既是“背散射电子探测器的灵敏度”，日本电子采用高灵敏度、环型半导体背散射探测器，可将成分极为相近的两个相的衬度反映出来，其意义是显尔易见的。 扫描图像的调整自动化程度高，操作简便日本电子采用专利技术——“预对电子源”，更换电子源后，无须机械调整，即可获得图像（电子束），而且灯丝寿命长；操作方便，自动聚焦、自动消象散、自动衬度和自动亮度等功能的引入，使操作者很容易的获得高质量图像。 束流范围大、稳定而且大小容易改变，这是定量分析的基础，JXA-8530F束流范围为5X10-7 -10-12A /束流稳定度为±0.3%/h (二)波谱系统 JXA-8530F采用两种尺度的罗兰圆谱仪（100mm和140mm）进行分光，兼顾分辨率和灵敏度，提高了它的检测灵敏度。大罗兰圆谱仪波长分辨率高这是它的强项，而小罗兰园谱仪则追求了高计数率，JXA-8530F通常采用两种罗兰圆谱仪的搭配，扬长避短，从而实现对样品的精确分析。 在晶体交换的灵活性和避免误差方面，日本电子的电子探针，其分光晶体可在谱仪的任何位置处进行晶体交换，这一关键技术可以大大避免样品分析时晶体位置改变带来的误差。通过分析软件来控制“法拉第杯”的“进”、“出”，避免电子束对样品的不必要辐照，其结果是分析速度快、污染小和分析结果可靠，适合各种样品的分析。
考试试卷分析及教师教学总结 一、试卷质量分析 试题覆盖度：7 章（教材共7 章）20 节（教材共29 节）。 试题份量：大题数7 小题数18 。 各类型题目分值：选择10 判断0 填空8 简答 2 论述0 计算 5 证明0 其它0 。 题目难度：简单30 分，相关题号(一)1、3、5、6、8（二）1、3、4、5、6、7、8 。 中等难度50 分，相关题号（一）2、4、7、9、10 、（二）2、（三）1、 2、（四）1、 3、4 。 较难20分，相关题号（四）2、5 。 二、考试成绩分析（卷面成绩，柱型图） 三、考试结果分析 考试结果反映的主要问题是什么？主要原因是什么？ 从考试结果看，学生基本知识点掌握较差，基本理论的应用不熟练。反映出学生学习之余没有对所学的相关课程知识很好掌握，实验操作能力较弱，应在今后的教学中加强基础知识及解决实际问题的能力的训练。 四、教学总结 你认为自己教学的主要优点是什么？主要缺点是什么？教学效果如何？为提高教学质量采取了哪些措施？ （1）主要优点：.因材施教；重点突破，兼顾小知识点。 (2). 主要缺点：由于学生基础较薄弱，对于较难知识教学中并没有完全突破。 （3）措施：为了进一步提高教学质量，应做到两点，一是灵活教学，认真研究学生实际情况，从这个实际情况出发，备课，研究教学内容，设计适合学生实际情况的教学案例。二是提高学生学习兴趣，有浓厚的学习兴趣，才能学好教材内容，才能有较好的理论基础来帮助提高实践能力。 五、教学建议 就学院和本教学系部的整体教学工作，你认为目前教与学两方面存在的主要问题是什么？如何改进？ （1）任课教师应具有高度的事业心和责任感。精心设计，认真备课，使学生通过基础理论学习后，能进一步扩大知识面，为学习其专业知识奠定基础。 （2）定期组织教研活动，互相交流教学经验，研讨教材、教法。
电子探针（EPMA） 全名为电子探针X射线显微分析仪，又名微区X射线谱分析仪。可对试样进行成分、形态、结构、物性等多方面的分析。除H、He、Li、Be等几个较轻元素外，都可进行定性和定量分析。 工作原理：是将试样置于显微镜下，选定分析位置，利用经过加速和聚焦的极窄的电子束为探针，激发试样中某一微小区域，在直径为1um、体积为1um3区域内的不同元素受激发射出X射线,用波长色散X射线谱仪或能量色散X射线谱仪读出元素的特征X射线，根据特征X射线的强度与波长信息，进行元素的定性定量分析。 发展历史：从Castaing奠定电子探针分析技术的仪器、原理、实验和定量计算的基础以来，电子探针分析(EPMA)作为一种微束、微区分析技术在50~60年代蓬勃发展，至70年代中期已比较成熟；促进了地学中地质年代学研究项目的深入，在矿物学、岩石学、矿床学、微古生物学、普查找矿等方面起了非常巨大的作用, 在许多重大地质成果中都发挥了重要作用。 特点：EPMA技术具有高空间分辨率(约1μm ) 检出限可低至10-14～10-15克、简便快速、精度高、分析元素范围广( 4Be ～92U)、不破坏样品属非破坏性分析。在矿物研究工作中既能微观观察，同时又能分析微区成分。 运用前景：电子探针在分析鉴定微矿物、微成分方面，有着广阔的应用前景，主要用于岩石矿物的深度分析，如与薄片鉴定结合，检测未知矿物及难辨矿物——片钠铝石、钠沸石、皂石等。与阴极发光显微镜相结合，可揭示矿物的发光机制。与扫描电镜配合，可精确测定扫描电镜下的各种粘土矿物及未知矿物，使形态观察与成分分析密切联系。还可与X衍射分析结合，详细测定各种矿物，包括混层粘土矿物的成分等等。 电子探针的运用 如今，电子探针已广泛运用于地学研究中的许多领域，如：测定地质体年龄、鉴定矿物、研究系列矿物、固溶体分离矿物、矿物环带结构、矿物蚀变晕、构造分析等。 1．电子探针化学测年 电子探针化学定年方法最早是由日本Suzuki等(1991a)提出的,他们对日本的变质
化学试题试卷分析 一、试卷分析 （一）、基本情况 化学试卷对学生现阶段的复习进行了一次系统、全面、科学的考查，试题的题型风格与考试说明中的题例风格一致，难易程度适中，对学生能力的层次考察意图明显，梯度科学，不同层次的学生感觉试题入手不难，但要得到高分不易，体现了即将面临的高考的明确思路，也比较充分地体现了课改后的基本理念。综观化学试卷，可以从整体到细节感觉到结构合理、知识覆盖面广，重点知识重点进行考察，尤其是突出了基本知识、基本技能、基本方法和思维能力的考查，对下一步的复习具有重要的指导意义。 （二）、数据分析统计 化学试卷难度 0.65 区分度 0.48 表一：化学平均分、难度 表二、各分数段人数
（三）、客试题考查内容表三：客观试题考查内容 表四：主观试题考查内容 表五：客观题答题情况
表六：主观题答题情况 第26题;典型错误：无机框图推断题。知识的综合运用程度高，原因主要是部分学生不能综合运用而出现的答题错误。离子浓度的比较，学生不理解电解质溶液中的守衡关系，以及表达方式出现严重畸义而出现错误。 第27题：注重实验能力和化学知识在化工生产中的应用能力的考查，体现课程改革的理念，注重科学探究的方法，体现出知识与技能、过程与方法、情感、态度、价值观的三维目标。典型错误有： 1、盐钵、研铂 1、胃酸、浓盐酸、HCl
2、电子式书写C原子与N原子之间写成两对共用电子 对 3、文字表述不完全、原理不准 4、取待测液（或未知液、原溶液、上层清液）若溶液 变红，则SCN-被氧化，只写一种结论。 第28题：典型错误如： 1、计数量的判断复出2或3的结论 2、热量大小比较的理由阐述中，大部分学生能注意到可逆反应进行不到底，但忽视了对意义的阐述，造成论证理由不完整。 3、在部分学生头脑中认为等效平衡中，热量也是等效的，所以造成了选择错误。 4、求转化率的过程中使用不规范的符号。 改进措施：加强化学用语的表达训练，日常训练中强调使用规范的表述语言，提高用语的科学性、准确性、规范性，强化新知识的学习和训练。 第37题：本题考点集中，提示明显，设问开门见山，分值分散，学生得分点多。文字理解难度较大的是对电子有几种空间运动状态，答错为电子运动状态有几种的占很大比例。失分原因为有关概念不清，化学用语表达不准，识图能力差。 第38题：典型错误如：基础知识掌握不好，对有机物的
实验6 电子探针（能谱仪）结构原理及分析方法 一、实验目的与任务 1) 结合电子探针仪实物，介绍其结构特点和工作原理，加深对电子探针的了解。 2)选用合适的样品，通过实际操作演示，以了解电子探针分析方法及其应用。 二、电子探针的结构特点及原理 电子探针X射线显微分析仪(简称电子探针)利用约1Pm的细焦电子束，在样品表层微区内激发元素的特征X射线，根据特征X射线的波长和强度，进行微区化学成分定性或定量分析。电子探针的光学系统、真空系统等部分与扫描电镜基本相同，通常也配有二次电子和背散射电子信号检测器，同时兼有组织形貌和微区成分分析两方面的功能。电子探针的构成除了与扫描电镜结构相似的主机系统以外，还主要包括分光系统、检测系统等部分。本实验这部分内容将参照第十四章，并结合实验室现有的电子探针，简要介绍与X射线信号检测有关部分的结构和原理。 三、实验方法及操作步骤 电子探针有三种基本工作方式：点分析用于选定点的全谱定性分析或定量分析，以及对其中所含元素进行定量分析；线分析用于显示元素沿选定直线方向上的浓度变化；面分析用于观察元素在选定微区内浓度分布。 1．实验条件 (1) 样品样品表面要求平整，必须进行抛光；样品应具有良好的导电性，对于不导电的样品，表面需喷镀一层不含分析元素的薄膜。实验时要准确调整样品的高度，使样品分析表面位于分光谱仪聚焦圆的圆周上。 (2) 加速电压电子探针电子枪的加速电压一般为3～50kV，分析过程中加速电压的选择应考虑待分析元素及其谱线的类别。原则上，加速电压一定要大于被分析元素的临界激发电压，一般选择加速电压为分析元素临界激发电压的2～3倍。若加速电压选择过高，导致电子束在样品深度方向和侧向的扩展增加，使X射线激发体积增大，空间分辨率下降。同时过高的加速电压将使背底强度增大，影响微量元素的分析精度。 (3) 电子束流特征X射线的强度与入射电子束流成线性关系。为提高X射线信号强