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等离子体综述

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ICP等离子体直读光谱仪作业指导书

ICP等离子体直读光谱仪作业指导书 1 主题内容 本作业指导书规定了ICP等离子体发射光谱开机预热、编辑分析方法、和打印报告等各环节的具体操作程序。 2人员 操作人员须经过专业培训,考核合格,取得仪器操作授权。 3仪器的准备 (1)开机 调分压表为0.5—0.8Mpa,同时确认两瓶氩气储量足够。再确认氩气打开1小时后开主机。 (2)预热 主机开机以后预热一般2—3小时,使光室恒温指示达到90±0.2华氏度。 4计算机操作系统 (1)条件检查 再次确认氩气储量大于或等于一瓶,分压为0.5—0.8Mpa,通气时间大于40min。 检查并确认炬管等进样系统正确安装。 ●检查病确认废液桶有足够的容积空间。 ?将进样管放入水中。 (2)启动计算机

进入TEVA软件,点击点火图标,检查仪器连接是否正常。 如果仪器连接正常,点击点火图标,稳定15—30min后开始工作。 5编辑分析方法 (1)选择元素及谱线 在TEVA软件里选择Analysis 选择Methad,再选择new,选择所需要的元素,点击OK即可。 (2)设定分析参数 在上一步完成后,点击Methad,点击Analysis Preference设置重复次数、长短波积分时间。 (3)保存参数 点击Automated output,选上store results to database,点击Apply to all sample type,即可。 (4)设定标准系列 点击standards,输入标准系列,点击save保存。 6拍摄高标谱图 回到Analyst界面中,点击拍摄高标图标,选择各元素条件拍摄高标谱图。 7校正高标谱图里的谱线 选择使谱线波长接近元素波长,强度最大的位置为谱图的中心位置,然后右键点击Restore zoom即可。 8拍摄标准谱线 回到Analyst界面中,点击左下角Analyst,点击拍摄标准曲线图标,点击run,

等离子体概述

一、等离子体概述 物质有几个状态?学过初中物理的会很快回答固态、液态、气态。其实,等离子态是物质存在的又一种聚集态,称为物质的第四态。它是由大量的自由电子和离子组成,整体上呈现电中性的电离气体。 在一定条件下,物质的各态之间是可以相互转化的,当有足够的能量施予固体,使得粒子的平均动能超过粒子在晶格中的结合能,晶体被破坏,固体变成液体。若向液体施加足够的能量,使粒子的结合键破坏,液体就变成了气体。若对气体分子施加足够的能量,使电子脱离分子或原子的束缚成为自由电子,失去电子的原子成为带正电的离子时,中性气体就变成了等离子体。物质的状态对应了物质中粒子的有序程度,等离子内物质中的粒子有序程度是最差的。相应的,等离子体内的粒子具有较高的能量、较高的温度。实际上,宇宙中99.9%的物质处于等离子态,它是宇宙中物质存在的普遍形式,不过地球上,等离子体多是人造的。 人工如何造出等离子体呢?从上面的论述可以看出,等离子体的能量是很高的,任何物质加热到足够高的温度,都会成为电离态,形成等离子体。在太阳和恒星的内部,都存在着大量的高温产生的等离子体。太阳和恒星的热辐射和紫外辐射能使星际空间的稀薄气体产生电离,形成等离子体,如地球上空的电离层就是这样来的。各种直流、交流、脉冲放电等均可用来产生等离子体。利用激光也可以产生等离子体。 等离子体如何描述?温度。等离子体有两种状态:平衡状态和非平衡状态。等离子体中的带电粒子之间存在库伦力的作用,但是此作用力远小于粒子运动的热运动能。当讨论处于热平衡状态的等离子体时,常将等离子体当做理想气体处理,而忽略粒子间的相互作用。在热平衡状态下,粒子能量服从麦克斯韦分布。每个粒子的平均动能32 E kT =。对于处于非平衡状态下的等离子体,一般认为不同粒子成分各自处于热平衡态,分别用e T 、i T 、n T 表示电子气、离子气和中性气体的温度,并表示各自的平均动能。可以用动力学温度E T (eV )表示等离子体的温度,E T 的单位是能量单位,由粒子的动能公式可得 2133222 E E mv kT T ===,E T 就是粒子的等效能量kT 值(1eV 的能量温度,相应的开氏绝对温度为1T k ==11600K )。 温度是描述等离子体能量的,还有其它的一些概念来表述。(1)高温等离子体,低温等离子体,冷等离子体。高温等离子体也是完全电离体,温度68 10~10K ,核反应、恒星的等离子体是这类。低温等离子体是部分电离体, 463410~10,310~310e i T K T K ==??,电弧等离子体、燃烧等离子体是这种。冷等离子体是410,e i T K T >约等于室温的等离子体。 (2)电离度。强电离等离子体指电离度η>10-4的等离子体,弱电离等离子体η<10-4。η是电离度,0=n n n η+,n 是两种异电荷粒子中任何一种密度,0n 为中性粒子密度。粒子密度是表示单位体积中所含粒子的数目。(3)稠密等离子体和稀薄等离子体。具体区分度不详。

等离子体物理培养方案

等离子体物理学科硕士研究生培养方案 (专业代码:070204) 等离子体物理主要研究微波等离子体理论与应用、计算等离子体物理、等离子体电子学以及激光与等离子体的相互作用、聚变等离子体、等离子体诊断。微波等离子体理论与应用,重点研究其产生、维持的理论和方法,微波等离子体激光、微波等离子体沉积及新材料制备等。计算等离子体物理研究等离子体重要物理过程的粒子模拟技术(PIC技术)。等离子体电子学主要研究电磁场或电磁波和电子注及等离子体的三元相互作用,探索新型高效率、高功率微波器件。聚变等离子体学主要开展对受控聚变中所涉及的基础等离子体物理学进行细致研究。重点开展波与等离子体相互作用及加热机理,探索新型等离子体诊断方法。 一、培养目标 培养德、智体全面发展的,具有坚实的数理基础和等离子体物理专业知识,掌握本学科坚实的理论基础及系统的专门知识,掌握现代微波等离子体实验技能和基本的等离子体诊断技术,了解等离子体物理的前沿领域和发展动态。具有严谨求实的科学态度和工作作风及从事科学研究工作及独立从事专门技术工作的能力,能胜任高等院校、研究机构和产业部门有关方面的教学、研究、工程、开发及管理工作。 二、研究方向 1.微波等离子体理论与应用2.计算等离子体物理 3.聚变等离子体物理4.等离子体电子学 5.等离子体诊断6.太赫兹科学技术 三、培养方式和学习年限 全日制硕士研究生学制为三年。提前完成硕士学业者,可申请提前半年毕业;若因客观原因不能按时完成学业者,可申请适当延长学习年限,但最长学习年限不超过四年。 四、学分与课程学习基本要求 总学分要求不低于26学分,其中课程总学分不低于24个学分,必修环节不低于2学分。课程学分要求中,学位课不低于15学分,其中公共基础课必修,基础课至少选修一门。专业基础课中有“*”标志的为全校共选专业基础课。允许在导师指导下、在相同学科门类之间、工科与理科之间跨学科选修1~2门学位课作为本学科的学位课。 学位课可以代替非学位课,但非学位课不能代替学位课。对于跨学科专业录取的硕士生,要求补修相应专业本科核心课程至少2门,通过考试,但不计学分;通过后方可选修专业课。 研究生应在导师指导下制定个人培养计划和具体选课。研究生学习与研究课题有关的专业知识,可由导师指定内容系统地自学某些课程,并列入个人培养计划,但不计学分。 五、课程设置 研究生课程主要划分为学位课、非学位选修课、必修环节三大部分。

等离子体实验报告

等离子体分析实验报告 摘要: 本文阐述了气体放电中等离子体的特性及其测试方法,分别使用单探针法和双探针法测量了等离子体参量,并简要介绍了等离子体的应用,最后对实验结果进行讨论。 关键词:等离子体、单探针、双探针 (一)引言 等离子体作为物质的第四态在宇宙中普遍存在。在实验室中对等离子体的研究是从气体放电开始的。朗缪尔和汤克斯首先引入“等离子体”这个名称。近年来等离子体物理学有了较快发展,并被应用于电力工业、电子工业、金属加工和广播通讯等部门,特别是等离子体的研究,为利用受控热核反应,解决能源问题提供了诱人的前景。 (二)实验目的 1,了解气体放电中等离子体的特性。 2,利用等离子体诊断技术测定等离子体的一些基本参量。 (三)实验原理 1,等离子体的物理特性 等离子体定义为包含大量正负带电粒子、而又不出现净空间电荷的电离气体。 等离子体有一系列不同于普通气体的特性: (1)高度电离,是电和热的良导体,具有比普通气体大几百倍的比热容。 (2)带正电的和带负电的粒子密度几乎相等。

(3)宏观上是电中性的。 描述等离子体的一些主要参量为: (1)电子温度e T 。它是等离子体的一个主要参量,因为在等离子体中电子碰撞电离是主要的,而电子碰撞电离与电子的能量有直接关系,即与电子温度相关联。 (2)带电粒子密度。电子密度为e n ,正离子密度为i n ,在等离子体中e i n n 。 (3)轴向电场强度L E 。表征为维持等离子体的存在所需的能量。 (4)电子平均动能e E 。 (5)空间电位分布。 本实验研究的是辉光放电等离子体。 辉光放电是气体导电的一种形态。当放电管内的压强保持在10~102 Pa 时,在两电极上加高电压,就能观察到管内有放电现象。辉光分为明暗相间的8个区域,在管内两个电极间的光强、电位和场强分布如图一所示。8个区域的名称为 (1)阿斯顿区,(2)阴极辉区,(3)阴极暗区,(4)负辉区,(5)法拉第暗区, (6)正辉区,(7)阳极暗区,(8)阳极辉区。其中正辉区是等离子区。 辉光放电的光强、电位和场强分布 2,单探针与双探针法的测量原理 测试等离子体的方法被称为诊断。等离子体诊断有探针法,霍尔效应法,微

等离子体实验报告

等离子体特性研究 Research on Plasma 【教学基本要求】 1.了解计算机数据采集的基本过程和影响采集精确度的主要因素。 2.掌握气体放电中等离子体的特性与特点。 3.掌握描述等离子体特性的主要参量及各参量的影响因素。 4.理解等离子体诊断的主要方法,重点掌握单探针法。 5.了解等离子体研究实验软件的主要功能,熟练操作软件。 【授课提纲】 1.等离子体物理学科发展史和主要研究领域(1)等离子体物理学科发展简史 ●19世纪30年代起 ●20世纪50年代起 ●20世纪80年代起 (2)等离子体物理主要研究领域 ●低温应用等离子体 ●聚变等离子体 ●空间和天体等离子体 2.认识等离子体 (1)空间等离子体展示 (2)宇宙中90%物质处于等离子体态 (3)等离子体概念 (4)等离子体分类 (5)等离子体是物质第四态 (6)等离子体参数空间 (7)电离气体是一种常见的等离子体 (8)等离子体特性和主要参量 3.等离子体诊断 (1)德拜屏蔽和准中性 (2)等离子体诊断-单探针法

【板书内容】 等离子体特性研究 φφtan 11600tan == k e T e e e kT E 23= e e e m kT v π8= kT m eS I v eS I n e e e π2400= = ()? ????-== =e s p e e kT U U e I Se n e N I exp 41 ? C kT eU I e p += ln e e e e n v E T ,, ,

【实验报告】 等离子体特性研究 【实验目的】 1. 了解气体放电中等离子体的特性。 2. 利用等离子体诊断技术测定等离子体的一些基本参量。 【实验原理】 等离子体(又称等离子区)定义为包含大量正负带电粒子、而又不出现净空间电荷的电离气体。也就是说,其中正负电荷密度相等,整体上呈现电中性。等离子体可分为等温等离子体和不等温等离子体,一般气体放电产生的等离子体属不等温等离子体。 等离子体有一系列不同于普通气体的特性:① 高度电离,是电和热的良导体,具有比普通气体大几百倍的比热容。② 带正电的和带负电的粒子密度几乎相等。③ 宏观上是电中性的。 虽然等离子体宏观上是电中性的,但是由于电子的热运动,等离子体局部会偏离电中性。然而,电荷之间的库仑相互作用,使这种偏离电中性的范围不能无限扩大,最终使电中性得以恢复。偏离电中性的区域最大尺度称为德拜长度。 1. 等离子体的主要参量 描述等离子体的主要参量有:① 电子温度T ,它是等离子的一个主要参量,因为在等离子中电子碰撞电离是主要的,而电子碰撞电离与电子的能量有直接关系,即与电子温度相关;② 带电粒子密度,电子密度为ne ,正离子密度为ni ,在等离子体中ne ni 。;③ 轴向电场强度EL 。表征为维持等离子体的存在所需的能量;④ 电子平均动能e E ;⑤ 空间电位分布。 此外,由于等离子体中带电粒子间的相互作用是长程的库仑力,使它们在无规则的热运动之外,能产生某些类型的集体运动,如等离子振荡,其振荡频率p f 称为朗缪尔频率或等离子体频率。电子振荡时辐射的电磁波称为等离子体电磁辐射。 2. 稀薄气体产生的辉光放电 辉光放电是气体导电的一种形态。当放电管内的压强保持在Pa 2 10~10时,在两电极上加高电压,就能观察到管内有放电现象。辉光分为明暗相间的8个区域,分别为阿斯顿区、阴极辉区、阴极暗区、负辉区、法拉第暗区、正辉区(即正辉柱)、阳极暗区、阳极辉区。正辉区是感兴趣的等离子区。其特征是:气体高度电离;电场强度很小,且沿轴向有恒定值。这使得其中带电粒子的无规则热运动胜过它们的定向运动。所以它们基本上遵从麦克斯韦速度分布律。由其具体分布可得到一个相应的温度,即电子温度。但是由于电子质量小,它在跟离子或原子作弹性碰撞时能量损失很小,所以电子的平均动能比其他粒子的大得多,这是一种非平衡状态。因此,虽然电子温度很高(约为105K ),但放电气体的整体温度并不明显升高,放电管的玻璃壁并不软化。

等离子体诊断技术作业题及答案

“等离子体诊断技术”课程作业题 1.试述光谱分析法对激光等离子体诊断的特点以及能进行定量测试的物理量,并举例说明; 答:不同波段对分析仪器及所用的分析技术的要求不相同。而且各种类型的高温等离子体的参数范围变化很大,不同的参数范围和不同的诊断方法对光谱的分析也有不同的要求。在此着重介绍可见光区光谱分析,稍微介绍下红外和紫外以及X射线光谱。在可见光区,光谱分析基本上都是用棱镜光谱仪、衍射光栅光谱仪和干涉光谱仪。光谱分析仪中最关键的元件是棱镜或衍射光栅等色散元件,它用以使不同波长的光在空间分离出来。 棱镜的分光原理是基于某些透光物质的色散作用,即某些透光介质对不同光波的光具有不同的折射率。棱镜光谱分析仪最大的优点是其没有光谱重叠问题。其显 著缺点是,在0.4m μ到1.0m μ,d n dλ 均下降约达一个数量级,使角色散率和分辨 率都随波长而有显著变化。棱镜光谱仪的工作光谱区,主要取决于棱镜及其它光学零件所用材料的光谱透射率。国产KCA-1型大型棱镜摄谱仪,光源出发的光通过三透镜系统照明狭缝,使得整个狭缝照明均匀,并使光线充满物镜,从而发挥仪器的最大分辨率。狭缝是光谱仪中十分精密的部件,其缝宽调节精度达微米量级,它的高度有光阑调节。 近代高级的光谱仪大多都采用光栅作为色散元件。从广义上讲,任何一种装置和结构,只要它能给入射光的振幅或相位、或者两者同时加以周期性的空间调制,都称为衍射光栅。它的分光作用是基于光的衍射和干涉现象。实际采用的光栅都不采用投射式,而采用反射式。由于振幅调制式光栅的大部分光强仍然都落在五色散的零级谱上,因而现代所有的光栅都采用相位调制式反射光栅。相位调制式反射光栅的主要优点是,可以选择一定形状的沟槽断面,是大部分的入射光集中于预定的方向上,这种光栅称为闪耀光栅。闪耀光栅在闪耀方向上,所集中地入射总光能可达80%~90%,这是闪耀光栅的最大优点。在光栅光谱仪中,不同波长的不同光谱级的光会发生重叠,这是其最严重的缺点之一。反射光栅除了上述的平面反射光栅外,还有一种所谓凹面反射光栅,它是在球面反射镜上沿弦刻画出等间隔且等宽的许多平行直刻痕二制成的。凹面光栅除了具有与平面光栅相同

直流辉光等离子体系列实验报告-复旦大学物理教学实验中心

直流辉光等离子体系列实验报告 陈金杰合作者张帆指导老师乐永康 (复旦大学物理系上海 200433) 摘要:利用直流辉光等离子体实验装置,获得等离子体。并研究直流低气压放电现象,测量等离子体伏安曲线,测定气体击穿电压验证帕邢定律,利用Langmuir单探针和Langmuir双探针测量等离子体的密度、温度和德拜长度等参数。并就相关现象进行讨论。 关键词:直流辉光等离子体气体放电伏安特性击穿Langmuir探针 引言:关于等离子体 等离子体(Plasma)是一种由大量正、负带电粒子和中性粒子组成的准中性气体,广泛存在于宇宙中,常被视为是物质的第四态,被称为等离子态,或者“超气态”。等离子体具有很高的电导率,与电磁场存在极强的耦合作用。等离子体是由克鲁克斯在1879年发现的,1928年美国科学家欧文·朗缪尔和汤克斯(Tonks)首次将“等离子体(plasma)”一词引入物理学,用来描述气体放电管里的物质形态。严格来说,等离子是具有高位能动能的气体团,等离子的总带电量仍是中性,借由电场或磁场的高动能将外层的电子击出,结果电子已不再被束缚于原子核,而成为高位能高动能的的自由电子。等离子体可通过放电、加热、光激励等方法产生,它有以下特点: [1] (1) 电子温度高于离子温度 由于电子和离子的质量差别悬殊,电子更容易从电场中获得能量,因此电子的平均动能远大于离子的平均动能,即电子和离子有各自独立的不同平衡温度。电子温度比离子温度高得多,而离子温度与等离子体中中性粒子温度一样。引入等离子体中的极板也可以保持较低的温度。等离子体高度电离,是电和热的良导体,具有比普通气体大几百倍的比热容。 (2) 具有丰富的活性粒子 通过与电子的非弹性碰撞,各种粒子得到活性激发。这些活性粒子具有不同能量,可在固体表面发生各种物理和化学效应。所以需要在很高温度下才能进行的化学反应在等离子体中很容易完成。 (3) 存在等离子体鞘层 在等离子体中引入负(或正) 电极,为屏蔽外电势对等离子体的影响,在电极周围形成正(或负) 电荷层,称为等离子体鞘层。以等离子体电位为零电位,则外加电压完全降落在这一鞘层上。进入这一鞘层的正离子受到加速,得到数值上相当于电势能的动能。调节外加负电压的数值,正

等离子体

3.空心阴极效应如何产生的? 两平行平板阴极置于真空设备中,当满足气体点燃电压时,这两个阴极都产生辉光放电,在阴极附近形成阴极暗区,当两阴极靠近或气压降低时,两 个负辉区合并。此时从阴极K1发射出电子在K1 的阴极位降区加速,当它进入阴极K2的阴极位降 区又被减速,因此如果这些电子没有产生电离和 激发,则电子在K1和K2之间来回振动,增加了 电子和气体分子的碰撞几率,可以引起更多的激 发和电离过程。电离密度增加,负辉光强度增加, 这种现象称为空心阴极效应。 4.辉光放电和弧光放电的特点各是? 5.低于和高于共析温度渗氮时组织是如何形成的?1首先是α相被氮所饱和,当氮含量达到饱和极限时,便通过非扩散性的晶格重构方式,形成γ’相;随着时间的延长,当γ’相的氮含量达到饱和极限时,在铁的表层,同样以晶格重构方式形成ε相。γ’相和ε相均按扩散方式长大。因此,纯铁经充分渗氮后,表层组织依次为ε、γ’以及α相 2在高于共析温度时纯铁渗氮,在渗氮温度下生成的组织,由表及里依次为:ε,,γ,α。当缓冷至室温时,低浓度的ε相会析出。γ相在590发生共析转变(),相降低了其饱和含氢量而析出。若快冷时,则含氮奥氏体发生氮马氏体转变,故表层组织依次为:ε,,,α 6.三种渗氮理论分别是什么?1射与沉积理论:离子渗氮时,渗氮层是通过反应阴极溅射而形成。在真空炉体内,工件为阴极,炉体为阳极,加上直流高压后,稀薄气体电离,形成等离子体2子离子理论:在离子渗氮中,虽然溅射很明显,然而不是主要的控制因素,对渗氮起决定作用的是氮氢分子离子化的结果3性氮原子模型:对离子渗氮其作用的实际上是中性氮原子,分子离子的作用是次要的 7.简述离子渗氮的特点:优点a渗氮速度快b渗氮层组织易控制,脆性小c无公害热处理d节约能源、气源e变形小;f适用于不锈钢渗氮。缺点:1不同形状、尺寸、材料的零件混合装炉渗氮时,要使工件温度均匀一致比较困难2.离子渗氮设备较复杂,价格也比气体渗氮炉贵3.准确测定零件温度较困难。 8.简述渗氮过程中脉状组织形成受什么影响?a合金元素在晶界偏聚严重的,则脉状组织明显;b工艺参数的影响:渗氮温度高,保温时间越长,NH3渗氮时炉内;压强越高,均促进脉状组织的形成;c零件棱角的影响:棱角处的脉状组织比其他部位严重得多 9.讨论渗氮材料选择有哪些原则? 1碳钢渗氮效果极差,表面硬度低,硬化层浅。为了提高碳氮的硬化效果,可以采用离子软化工艺2合金结构钢。根据使用条件,选择不同的钢种进行离子渗氮,预先处理一般为调制处理,有的低碳合金钢可以用正火处理。而渗氮温度必须略低于调制回火温度,以保证心部强度不致降低。3工模具渗氮。常用离子渗氮提高工模具使用寿命。4不锈耐酸钢的离子渗氮。离子渗氮可以大幅度提高铁素体型,马氏体型和奥氏体不锈钢的硬度和耐磨性。对于表面要求耐磨,往往由于磨损报废,又要求耐酸蚀的零件可以选用不锈耐酸钢进行离子渗氮处理。5铸铁的离子渗氮。铸铁由于含碳量及含硅量较高,阻止氮的扩散,常采用离子软化的方法渗氮,或选用球墨铸铁合金铸铁,也加快渗速6钛及钛合金的渗氮。由于钛及钛合金具有优异的特性,有广泛的应用。 10.试举例说明如何提高离子渗层的耐蚀性能与耐磨性能: 提高耐蚀性:加入适量的合金元素。提高耐磨性:控制好渗氮温度(较低为宜),选择合适气体比例(减少CO2)。 11.检测渗氮层厚度的方法有哪些?1金相法2硬度梯度法3用X射线衍射法测化合物层厚度4淬火法; 12.检测渗氮层硬度的方法有哪些?1表面硬度:表面硬度的测定以负荷5~10kg的维氏硬度计为准;2硬度梯度:用50~100g现为硬度计进行测定,从边缘往中心每隔一定距离打一硬度值,然后作出硬度分布曲线。 13.元素Al和Cr对渗层有什么影响 1)形成合金氮化物,使硬度、耐磨性增加2)溶入а-Fe中,提高а-Fe的溶氮能力,产生固溶强化作用3)影响氮在铁中的扩散系数及表面吸氮能力4)改变钢的临界点,从而改变渗氮温度

等离子体刻蚀机原理

等离子体刻蚀机原理 什么是等离子体? ?随着温度的升高,一般物质依次表现为固体、液体和气体。它们统称为物质的 三态。 ?当气体的温度进一步升高时,其中许多,甚至全部分子或原子将由于激烈的相 互碰撞而离解为电子和正离子。这时物质将进入一种新的状态,即主要由电子和 正离子(或是带正电的核)组成的状态。这种状态的物质叫等离子体。它可以称 为物质的第四态。 等离子体的应用 等离子体的产生

等离子体刻蚀原理 ?等离子体刻蚀是采用高频辉光放电反应,使反应气体激活成活性粒子,如原子或游离基,这些活性粒子扩散到需刻蚀的部位,在那里与被刻蚀材料进行反应,形成挥发性反应物而被去除。 ?这种腐蚀方法也叫做干法腐蚀。 等离子体刻蚀反应

?首先,母体分子CF4在高能量的电子的碰撞作用下分解成多种中性基团或离子。 CF4→CF3,CF2,CF,C,F ?其次,这些活性粒子由于扩散或者在电场作用下到达SiO2表面,并在表面上发生化学反应。 ?生产过程中,在CF4中掺入O2,这样有利于提高Si和SiO2的刻蚀速率。 等离子体刻蚀工艺 ?装片 在待刻蚀硅片的两边,分别放置一片与硅片同样大小的玻璃夹板,叠放整齐,用夹具夹紧,确保待刻蚀的硅片中间没有大的缝隙。将夹具平稳放入反应室的支架上,关好反应室的盖子。 检验方法 ?冷热探针法 检验原理 ?热探针和N型半导体接触时,传导电子将流向温度较低的区域,使得热探针处

电子缺少,因而其电势相对于同一材料上的室温触点而言将是正的。 ?同样道理,P型半导体热探针触点相对于室温触点而言将是负的。 ?此电势差可以用简单的微伏表测量。 ?热探针的结构可以是将小的热线圈绕在一个探针的周围,也可以用小型的电烙 铁。 检验操作及判断 ?确认万用表工作正常,量程置于200mV。 ?冷探针连接电压表的正电极,热探针与电压表的负极相连。 ?用冷、热探针接触硅片一个边沿不相连的两个点,电压表显示这两点间的电压为负值,说明导电类型为p,刻蚀合格。相同的方法检测另外三个边沿的导电类型是否为p型。 ?如果经过检验,任何一个边沿没有刻蚀合格,则这一批硅片需要重新装片,进行刻蚀。 一.等离子体刻蚀工艺原理: 等离子体刻蚀机是基于真空中的高频激励而产生的辉光放电将四氟化碳中的氟离子电离出来从而获得化学活性微粒与被刻蚀材料起化学反应产生辉发性物质进行刻蚀的。同时为了保证氟离子的浓度和刻蚀速度必须加入一定比例的氧气生成二氧化碳。 二.主要用途及适用范围: 该设备主要对太阳能电池片周边的P—N结进行刻蚀,使太阳能电池片周边呈开路状态。也可用于半导体工艺中多晶硅,氮化硅的刻蚀和去胶。 三.使用环境及工作条件: 1)环境温度:5℃—40℃; 2)相对湿度:<70%; 3)环境净化等级:>10000级; 4)大气压强:一个标准大气压; 5)电源:三相交流380(1±10%)V,频率50 (1±10%)Hz; 6)所用气体压力:0.1Mpa—0.2 Mpa;所用气体为四氟化碳、氧气和氮气。 7)每台设备要有良好的,独立的接地且接地电阻最好小于0.1Ω;四.总体结构: 本设备由真空管路系统、气路系统、反应室、压力控制系统、SY型射频功率源、电源供电及控制部分组成。 1)真空管路系统主要由2X—15型旋片式真空泵、电磁隔断放气阀、波纹管、碟阀、预抽阀、电磁隔断阀组成。 2)气路系统主要由控制四氟化碳、氧气、尾气、稀释、氮气的电磁阀及不锈钢管和软管组成。其中为了精确控制四氟化碳和氧气10:1的混合比例,在控制四氟化碳和氧气电磁阀的后级加了质量流量计。(这里要附带讲一下关于工作压差的问题,我们所用的质量流量计的工作压差为0.1Mpa—0.5Mpa。而反应室的辉光工作压力为80Pa或更低,尤其是在充气瞬间。因此这就是为什么要求供气压力设定为0.1Mpa—0.2 Mpa的原因。以前出现过由于硅片刻不通,操作

低温等离子体废气处理

有机、无机废气和恶臭处理技术 市场拓展人员培训教程 (宋文国,男,1968年出生,高级工程师,从事于节能环保项目多年。邮箱:,手机:) 一、行业废气概况 煤化工废气 煤制焦过程废气 焦化废气主要来源于装煤、炼焦、化产回收等过程。装煤初期,煤料在高温条件下与空气接触,形成大量黑烟及烟尘、荒煤气及对人体健康有害的多环芳烃。炼焦时,废气一方面来自化学转化过程中未完全炭化的细煤粉及其析出的挥发组分、焦油、飞灰和泄漏的粗煤气,另一方面来自出焦时灼热的焦炭与空气接触生成的CO、CO2、NOx等,主要污染物包括苯系物(如苯并芘)、酚、氰、硫氧化物以及碳氢化合物等。 煤制气过程废气 煤制气废气的来源主要是气化炉开车过程中由于炉内结渣、火层倾斜等非正常停车而产生的逸散,另外,还有炉内的排空气形成部分废气、固定床气化炉的卸压废气、粗煤气净化工序中的部分尾气、硫和酚类物质回收装置的尾气及酸性气体、氨回收吸

收塔的排放气。这些废气的主要成分包括碳氧化物、硫氧化物、氨气、苯并芘、CO、CH4等,有些还夹杂了煤中的砷、镉、汞、铅等有害物质,对环境及人体健康有较大的危害。 煤制油过程废气 煤的液化可分为直接液化和间接液化。煤直接液化时,经过加氢反应,所有异质原子基本被脱除,也无颗粒物,回收的硫可以获得元素硫,氮大多转化为氨。煤间接液化时,催化合成过程中的排放物不多,未反应的尾气(主要是CO)可以在燃烧器中燃烧,排放的废气中CO2和硫很少,也没有颗粒物的生成。煤液化过程对环境造成的影响较小,主要的污染物是液化残渣,这是一种高碳、高灰和高硫物质,在某些工艺中占到液化原料煤总量的40%左右,需进一步处理。 煤燃烧过程废气 煤燃烧过程主要污染物有粉尘与烟雾、SO2为主的硫化物、N2O、NO、NO2、N2O3、 N2O4等氮氧化物、Hg、Cd、Pb、Cr、As、Se、F等有害微量元素、产生温室效应的CO2等。煤直接燃烧的能量利用率低,环境污染严重。 石油化工厂废气 化工厂在生产过程中会产生大量的废气,比如:氨、三甲胺、硫化氢、二氧化硫、甲硫氢、甲硫醇、甲硫醚、二甲二硫、二硫化碳和硫化氢等无机废气;还有VOC类:苯、甲苯、二甲苯、丙

气体放电中等离子体的研究实验报告 南京大学

南京大学物理系实验报告 题目实验2.3 气体放电中等离子体的研究 姓名朱瑛莺 2014年4月4日学号 111120230 一、引言 等离子体作为物质的第四态在宇宙中普遍存在。在实验室中对等离子体的研究是从气体放电开始的。朗缪尔和汤克斯首先引入“等离子体”这个名称。近年来等离子体物理学有了较快发展,并被应用于电力工业、电子工业、金属加工和广播通讯等部门,特别是等离子体的研究,为利用受控热核反应,解决能源问题提供了诱人的前景。 二、实验目的 1、了解气体放电中等离子体的特性。 2、利用等离子体诊断技术测定等离子体的一些基本参量。 三、实验原理 1、等离子体及其物理特性 等离子体有一系列不同于普通气体的特性: (1)高度电离,是电和热的良导体,具有比普通气体大几百倍的比热容。(2)带正电的和带负电的粒子密度几乎相等。 (3)宏观上是电中性的。 2、等离子体的主要参量 描述等离子体的一些主要参量为: (1)电子温度Te。它是等离子体的一个主要参量,因为在等离子体中电子碰撞电离是主要的,而电子碰撞电离与电子的能量有直接关系,即与电子温度相关联。 (2)带电粒子密度。电子密度为n e ,正离子密度为n i ,在等离子体中n e ≈n i 。 (3)轴向电场强度E L 。表征为维持等离子体的存在所需的能量。 (4)电子平均动能Ee 。 (5)空间电位分布。 3、稀薄气体产生的辉光放电 本实验研究的是辉光放电等离子体。 辉光放电是气体导电的一种形态。当放电管内的压强保持在10-102Pa时,在两电极上加高电压,就能观察到管内有放电现象。辉光分为明暗相间的8个区域。8个区域的名称为(1)阿斯顿区,(2)阴极辉区,(3)阴极暗区,(4)负辉区,(5)法拉第暗区,(6)正辉区(即正辉柱),(7)阳极暗区,(8)阴极辉区。 如图1所示,其中正辉区是我们感兴趣的等离子区。其特征是:气体高度电离;电场强度很小,且沿轴向有恒定值。这使得其中带电粒子的无规则热运动胜过它们的定向运动。所以它们基本上遵从麦克斯韦速度分布律。由其具体分布可得到一个相应的温度,即电子温度。但是,由于电子质量小,它在跟离子或原子作弹性碰撞时能量损失很小,所以电子的平均动能比其他粒子的大得多。这是一种非平衡状态。因此,虽然电子温度很高(约为105K),但放电气体的整体温

低温等离子体的产生方法

辉光放电电晕放电介质阻挡放电射频放电滑动电弧放电射流放电大气压辉光放电次大气压辉光放电 辉光放电(Glow Discharge) 辉光放电属于低气压放电(low pressure discharge),工作压力一般都低于 10mbar,其构造是在封闭的容器內放置两个平行的电极板,利用电子将中性原子和分子激发,当粒子由激发态(excited state)降回至基态(ground state)时会以光的形式释放出能量。电源可以为直流电源也可以是交流电源。每种气体都有其典型的辉光放电颜色(如下表所示),荧光灯的发光即为辉光放电。因此,实验时若发现等离子的颜色有误,通常代表气体的纯度有问题,一般为漏气所至。辉光放电是化学等离子体实验的重要工具,但因其受低气压的限制,工业应用难于连续化生产且应用成本高昂,而无法广泛应用于工业制造中。目前的应用范围仅局限于实验室、灯光照明产品和半导体工业等。 部分气体辉光放电的颜色 Gas He Ne(neon) Ar Kr Xe H2N2O2 Air Cathode Layer red yellow pink --

red-brown pink red pink Negative Glow pink orange dark-blue green orange-green thin-blue blue yellow-white blue Positive Column Red-pink red-brown dark-red blue-purple white-green pink red-yellow red-yellow red-yellow 次大气压下辉光放电(HAPGD)产生低温等离子体 由于大气压辉光放电技术目前虽有报道但技术还不成熟,没有见到可用于工业生产的设备。而次大气压辉光放电技术则已经成熟并被应用于工业化的生产中。次大气压辉光放电可以处理各种材料,成本低、处理的时间短、加入各种气体的气氛含量高、功率密度大、处理效率高。可应用于表面聚合、表面接枝、金属渗氮、冶金、表面催化、化学合成及各种粉、粒、片材料的表面改性和纺织品的表面处理。次大气压下辉光放电的视觉特征呈现均匀的雾状放电;放电时电极两端的电压低而功率密度大;处理纺织品和碳纤维等材料时不会出

等离子体物理

在强激光等离子体相互作用中正电子束的发射 第一个测量强激光产生正电子束的装置已经制成。在不同的激光产生条件下通过测量不同的正电子能量峰值下的正电子发散和源尺寸得到发射值。对于其中一个激光产生条件,我们使用了一个空间paper-pot 技术来改善发射值。相比于使用在现在加速器上的正电子源,在100和500mm.mard之间激光产生正电子有一个几何发射。在5-20Mev能量范围中,每束 1010-1012个正电子中,这种低的束流发射度是准单能的,这可能在未来加速器中能作为替代正电子源。 最近的实验表明,在FWHM中大约20-40度的发散角下,用强短脉冲激光照射富含高Z的目标靶可以产生数量众多的准单能兆电子伏特的正电子。这个实验表明了可以使用激光产生正电子作为直线加速器中的替代源的可能性。使用激光产生正电子作为新的替代源取决于一些潜在的优势,大大减小的物理尺寸,更少的成本和束流品质的提高比如每个脉冲的粒子数,能量范围,束流发射度。这些优势正是基于激光尾场的电子加速器概念所追求的。 传统的正电子源通常包含高能量的电子束和富含Z的目标靶。例如,SLC使用了一个120 Hz, 30 GeV, 30kW的电子束和一个24mm厚,水冷却式W(90%)-Rh(10%)目标靶来产生正电子。一个两千米长的直线加速器需要产生电子驱动束。在2-20 MeV范围内,大约500mm.mrad的几何发散度下,在加速系统中 可以捕捉到每束5×1010的正电子束。在被放进加速器之前,被收集到的正电子 束要先被加速到 1.2 GeV并且被传送到一个发射制动环中。 用强激光产生正电子的同时会在高Z目标靶中产生相似的电子。用一个持续 的非常短强激光脉冲照射一个1mm厚,直径2mm的金制目标靶,产生1010-1012个 5-20MeV的准单能正电子。既然这是总电子能量其中包含了决定正电子产量的兆电子伏特电子,所以激光的功率会比激光的强度更重要。相同的物理过程在基于正电子源的的加速其中是有优势的。在BH过程中,激光产生热电子制造能产生和原子核相互作用的正负电子对的轫致辐射光子。考虑到对比每个脉冲的粒子数和粒子能量,这篇文章会阐述激光产生正电子束的几何发射度,和与在SLC 中~500mm.mard的比较结果。 几何发散度 ,被定义为,其中x和x'表示在x轴上的 粒子的位置和发散,代表一束中粒子的平均数。发散角的上限,其中和分别是原尺寸和发散角度的平方根。这篇文章说明了四个驱动激光正 电子能量6,12,17,28MeV的发射度上限。我们展示的发散度是通过1-D方法得到的。 考虑到非常小的激光焦点的结合和在20至40度范围内测量正电子束的发散,可能会预期正电子发射度可能小于10mm.mard。然而,实际的源尺寸和激光产生正电子束的发散度比预想的更大,如图1a所示。在激光中产生的热电子通过目标靶传送,所以,在目标靶任意深度中,正电子构成的区域都会比激光中焦点区域大。小部分有足够动能的正电子可以跃出目标靶并且成为有用的作为正电子源。跃出表面的正电子在目标靶背面的横向分布决定了原尺寸大小。源

等离子体物理基础期末考试含答案

版权所有,违者必究!! 中文版低温等离子体作业 一. 氩等离子体密度103 210n cm -=?, 电子温度 1.0e T eV =, 离子温度0.026i T eV =, 存 在恒定均匀磁场B = 800 Gauss, 求 (1) 德拜半径; (2) 电子等离子体频率和离子等离子体频率; (3) 电子回旋频率和离子回旋频率; (4) 电子回旋半径和离子回旋半径。 解:1、1/2302 ( )8.310()e i D e i T T mm T T ne ελ-==?+, 2、氩原子量为40, 221/21/2 00()8.0,()29pe pi e i ne ne GHz MHz m m ωωεε====, 3、14,0.19e i e i eB eB GHz MHz m m Ω= =Ω== 4、设粒子运动与磁场垂直 2 4.210, 1.3e e i i ce ci m v m v r mm r mm qB qB -===?=== 二、一个长度为2L 的柱对称磁镜约束装置,沿轴线磁场分布为22 0()(1/)B z B z L =+,并满 足空间缓变条件。 求:(1)带电粒子能被约束住需满足的条件。 (2)估计逃逸粒子占全部粒子的比例。 解:1、由B(z)分布,可以求出02m B B =,由磁矩守恒得 22001122m m mv mv B B ⊥⊥ = ,即0m v ⊥⊥= (1) 当粒子能被约束时,由粒子能量守恒有0m v v ⊥≥,因此带电粒子能被约束住的条件是在磁镜 中央,粒子速度满足002 v v ⊥≥ 2 、逃逸粒子百分比20 1 sin 129.3%2P d d π θ ?θθπ = ==?? (2)

等离子体化学的基本原理及应用

等离子体化学的基本原理及应用等离子体化学是20世纪六十年代发展起来的一门新兴交叉科学。经过40多年的研究发展,已经广泛地引用于化工、冶金、机械、纺织、电子、能源、半导体,医药等不同领域。本文对等离子体化学在材料、电子、光学、医药、化学合成、环境保护几个方面的一些应用进行综述。[1-2] 1理论概述[3] 对常温常压条件下的气体通过高温加速电子加速离子给物质以能量,物质被解离成阴、阳离子的状态,由于整个体系阴、阳离子总电荷相等,故称为等离子体。而从通常的能量排布:气体>液体>固体的角度来说,等离子的能量比气体更高,能表现出一般气体所不具有的特性,所以也被称为物质的第四态。 当气体电离生成电子正离子一般在段时间内发生结合,回到中性分子状态,这个过程产生的电子、离子的一部分能量以电磁波等不同形式消耗,在分子离解时常生成自由基,生成的电子结合中性原子,分子形成负离子。因此,整个等离子体是电子正负离子激发态原子,原子以及自由基的混合状态。因为各种化学反应都是在高激发态下进行的,与经典的化学反应完全不同。这样使等离子体的原子或分子的本性通常都发生改变,即使是较稳定的惰性气体也会变得具有很强的化学活泼性。 在放电气体中发生的反应称为等离子体化学反应,用电子温度Te和离子温度Ti作为参数。若Te ≈Ti称为平衡等离子体或高温等离子体。若Te >>Ti称为非平衡等离子体或低温等离子体。这两种不同的情况在不同的领域都有广泛的运用。 2设备与装置[3-4] 可以将等离子的产生理解为:一定的真空度,外加电场/磁场,通电条件下射频放电产生的特殊物质。各国学者一直努力研制一种能得到均匀稳定的等离子的设备。可以通过(1)解光放电、(2)电晕放电、(3)寂静放电、(4)RF放电、(5)微波放电这5种放电方式(基本特征见图1)来得到等离子体,但为了保证反应产物不分解,一般采用辉光放电形式。这类仪器通过外加电场可以有效地把能量直接传递给反应体系中的气体分子,反应腔里将发生气体放电,产生非平衡等离子体,这种能量传递方法不仅经济有效,而且产生的等离子体具有能量高密度大的特点,所以应用较为广泛。根据反应器的结构不同分为内部电极方式的反应器、外部电极方式的反应器、直流放电反映器、采用商业频率的反映器、微波放电反映器(见图2)。而大多数工业活动需在常压或加压(高气体浓度)条件下进行,尤其化学工业、环境工程和材料工业等还不具备在低气压条件下进行化学反应的工艺条件。

ICP-AES实验报告

实验目的: (1)掌握电感耦合等离子体原子发射光谱仪的原理与结构; (2)掌握ICP-AES进行微量元素测定的方法; (3)了解标准溶液以及它的保存和使用方法; 实验原理: ICP光源具有环形通道、高温、惰性气氛的特点。因此,ICP-AES具有检出限低,精密度高,线性范围宽、基体效应小等优点,可用于高、中、低含量的70种元素的同时测定。 ICP-AES包括:1.高频发生器2.等离子体炬管3.试样雾化器4.光谱系统ICP-AES的原理:当高频发生器接通电源后,高频电流通过感应线圈产生交变磁场。开始时,管内为Ar气,不导电,需要用高压电火花触发,使气体电离后,在高频交流电场的作用下,带电粒子高速运动,碰撞,形成"雪崩"式放电,产生等离子体气流。在垂直于磁场方向将产生感应电流(涡电流,粉色),其电阻很小,电流很大(数百安),产生高温。又将气体加热、电离,在管口形成稳定的等离子体焰炬。 ICP-AES特点:(1)温度高,惰性气氛,原子化条件好,有利于难熔化合物的分解和元素激发,有很高的灵敏度和稳定性;(2)"趋肤效应",涡电流在外表面处密度大,使表面温度高,轴心温度低,中心通道进样对等离子的稳定性影响小。也有效消除自吸现象,线性范围宽(4~5个数量级);(3)ICP中电子密度大,碱金属电离造成的影响小;(4)Ar气体产生的背景干扰小;(5)无电极放电,无电极污染;ICP焰炬外型像火焰,但不是化学燃烧火焰,气体放电。 实验仪器: 电感耦合等离子体原子发射光谱仪、计算机 实验步骤: (1)依次打开电源、稳压器开关,预热五分钟,打开冷却循环水、空气压缩机和排风开关,打开氩气钢瓶调节分压表压力为0.6Mpa左右。 (2)开主机。打开显示器,计算机和打印机。 (3)打开iTEVA软件的plasma status对话框,进入点火界面,确认status状态正常(无红色图标),点击开启等离子体键。 (4)点着火使等离子体稳定15-30分钟,并在观察CID温度<-40℃。RF和光室温度稳定。建立分析方法。

等离子体刻蚀..

等离子体刻蚀 ●集成电路的发展 1958年:第一个锗集成电路 1961年:集成8个元件 目前:集成20亿个元件 对比: 第一台计算机(EN IAC,1946),18000 只电子管, 重达30 吨, 占 地180 平方米, 耗电150 千瓦。奔II芯片:7.5百万个晶体管 ●集成电路发展的基本规律 穆尔法则:硅集成电路单位面积上的晶体管数,每18个月翻一番,特征尺寸下降一半。 集成度随时间的增长: 特征长度随时间的下降:

集成电路制造与等离子体刻蚀 集成电路本质:微小晶体管,MOS场效应管的集成 微小晶体管,MOS场的制作:硅片上微结构制作----槽、孔早期工艺:化学液体腐蚀----湿法工艺 5微米以上 缺点: (a)腐蚀性残液----->降低器件稳定性、寿命 (b)各向同性 (c)耗水量大(why) (d)环境污染

随着特征尺寸的下降,湿法工艺不能满足要求,寻求新的工艺----> 等离子体干法刻蚀,在1969引入半导体加工,在70年代开始广泛应用。

等离子体刻蚀过程、原理: 4

刻蚀三个阶段 (1) 刻蚀物质的吸附、反应 (2) 挥发性产物的形成; (3) 产物的脱附, 氯等离子体刻蚀硅反应过程 Cl2→Cl+Cl Si(表面)+2Cl→SiCl2 SiCl2+ 2Cl→SiC l4(why) CF4等离子体刻蚀SiO2反应过程 离子轰击作用 三种主要作用 (1)化学增强物理溅射(Chemical en2hanced physical sputtering) 例如,含氟的等离子体在硅表面形成的SiF x 基与元素 Si 相比,其键合能比较低,因而在离子轰击时具有较高 的溅射几率, (2)晶格损伤诱导化学反应(damage - induced chemical reaction) 离子轰击产生的晶格损伤使基片表面与气体物质的反 应速率增大 (3)化学溅射(chemical sputtering) 活性离子轰击引起一种化学反应,使其先形成弱束缚的 分子,然后从表面脱附。 其他作用 ?加速反应物的脱附 ---> 提高刻蚀反应速度 ?控制附加沉积物---> 提高刻蚀的各向异性

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