高加速寿命试验和高加速应力筛选技术综述

高加速寿命试验和高加速应力筛选技术综述

张先文

(工业和信息化部电子第五研究所,广东广州510610)

摘要:介绍高加速寿命试验和高加速应力筛师技术的概念、测试步骤.并举例说明HALT和HASS试验箱的性能指标和详细参数、HALT和HASS试验系统的校准方法及注意事项。

关键词:高加速寿命试验;高加速应力筛选试验;试验设备;校准

中图分类号:TB24文献标识码:A文章编号:1672-5468(2009)06-0066-04

OverviewofHALT&HASSTestingTechnology

ZHANGXian—wen

(CEPREL,Guangzhou510610,China)

Abstract:TheconceptandprocedureofHALT&HASSareintroduced.TheperformanceanddetailedparametersofHALT&HASSchambers.andthecalibrationoftheHALT&HASStestingsystemsayeillustratedwithexamples.

Keywords:HALT;HASS;testingsystem;calibration

1引言

目前.高加速寿命试验和高加速应力筛选试验(HALT和HASS)技术在美国已经被广泛地应用到电子产品的可靠性分析中.成为很先进的产品耐环境设计工具。这种可靠性试验方法是由美国HOBBS工程公司的Gregg.k.Hobbs博士研究提出的。HALT是产品研制的工具.HASS是筛选的工具.将它们结合使用并分别应用于产品设计阶段和制造阶段.成为一种非常先进的可靠性测试技术。

2HALT和HASS测试技术概述

2.1HALT技术

HALT是一种通过让被测物承受不同的应力,进而发现其设计上的缺限.以及潜在弱点的实验方法。它是一种发现缺陷的工序.它通过设置逐级递增的、加严的环境应力来加速暴露试验样品的缺陷和薄弱点,而后对暴露的缺陷和故障从设计、工艺和用料等方面进行分析和改进.从而达到提升可靠性的目的。最大的特点是设置高于样品设计运行限的环境应力.从而使暴露故障的时间大大短于正常可靠性应力条件下的所需时间。

HALT的主要目的是通过增加被测物的极限值。进而增加其坚固性及可靠性。它利用阶梯应力的方式加诸于产品。能够在早期发现产品缺陷、操作设计边际及结构强度极限。其加诸于产品的应力有振动、高低温、温度循环、电力开关循环、电压边际及频率边际测试等。利用该测试可以迅速地找出产品设计及制造的缺陷,改善设计缺陷、增加产品可靠性并缩短其上市周期,同时还可提供设计能力、产品可靠性的基础数据以及日后研发的重要依

收稿日期:2009-08—12修回日期:2009—11-10

作者简介:张先文(1975一),男,安徽桐城人,工业和信息化部电子第五研究所华东分所中国赛宝实验室计量检测部工程师,从事电子产品的热力校准工作。

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