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第二部分 射线检测
一.是非题：294题
二.选择题：324题
三.问答题： 90题
四.计算题： 64题
一．是非题 （在题后括弧内，正确的画○ ，错误的画×）
1.1 当原子核内质子数不变，而原子量增加时，它就变成另一种元素。 （ ）
1.2 具有放射性的同位素，称为放射性同位素。 （ ）
1.3 元素 中有27个质子和33个中子，原子序数为27。 （ ）
1.4 α衰变的规律是新核的质量数比原核的质量数减少2 。 （ ）
1.5 γ衰变前后核的质量数和核电荷数均不发生改变 （ ）
1.6 X射线和γ射线都是光子流，不带电荷。 （ ）
1.7 X射线与γ射线只要波长相同，就具有相同的性质。 （ ）
1.8 X、γ射线不受电磁场影响。 （ ）
1.9 X、γ射线是电磁辐射；中子射线是粒子辐射。 （ ）
1.10 具有连续光谱的X射线，称连续X射线，又称白色X射线。 （ ）
1.11 高速运动的电子同靶原子核的库仑场作用，电子失去其能量以光子形式辐射出来，这种辐射称韧致辐射。 （ ）
1.12 加在X光管两端的电压越低，则电子的速度就越大，辐射出的射线能量就越高。（ ）
1.13 一定能量的连续X射线穿透物质时，随厚度的增加射线的总强度减小，平均波长变短，但最短波长不变。 （ ）
1.14 连续X射线的能量与管电压有关,与管电流无关。 （ ）
1.15 连续X射线的强度与管电流有关, 与管电压无关。 （ ）
1.16 由发射X射线的材料特征决定波长的Ⅹ射线，称标识X射线，又称特征X射线。( ）
1.17 如果X射线管的管电压超过激发电压,高速运动的电子同阳极靶碰撞时,可以把阳极靶原子内层电子逐出壳层之外,使该原子处于激发态，外层电子将向内层跃迁，发射标识X射线。 （ ）
1.18 标识X射线的能量与管电压、管电流均无关,仅取决于靶的材料 。 （ ）
1.19 X射线穿过同一物质时，峰值电压越高半价层越大。 （ ）
1.20 γ射线的能量取决于放射性同位素的活度或居里数，而它的强度取决于源的种类。( )
1.21 用于检测的X射线和γ射线，它们之间的主要区别在于：X射线是韧致辐射的产物，而γ射线是放射性同位素原子核衰变的
产物；X射线是连续谱，γ射线是线状谱。 （ ）
1.22 工业用放射性同位素辐射出的γ射线的能量用平均能量来度量，X射线机辐射出的X射线能量是用管电压峰值来度量。 （ ）
1.23 活度是描述放射同位素不稳定程度的量，它表示单位时间内核发生的衰变数。 （ ）
1.24 放射性同位素的能量蜕变至其原值一半所需时间，称半衰期。 ( )
1.25 放射性同位素的半衰期与放射性同位素的种类有关。 （ ）
1.26 当γ射线经过3个半衰期后，其能量仅剩下初始当值的1/8。 ( )
1.27 γ射线的能量取决于源的种类，而它的强度取决于放射性同位素的活度或居里数。( )
1.28 描述放射性物质不稳定程度的量称为“活度” ( )
1.29 放射性同位素的衰变和衰减是一回事。 ( )
1.30 放射性同位素的强度蜕变至其原值一半所需时间，称半衰期。（与1.24重复） （ )
1.31在核反应堆中，把一种元素变为放射性元素的过程，称为激活。 ( )
1.32不稳定的同位素，称为放射性同位素。 ( )
1.33半衰期是指X射线强度减弱到初始值一半所需要的时间。 ( )
1.34工业检测用放射性同位素，有的是在核反应堆中通过中子照射激活的，如 和 ，
也有的是核裂变的产物，如 。 ( )
1.35 源经过几个半衰期后，将其放在核反应堆中激活，可重复使用。 ( )
1.36 所谓“吸收”，就是物质阻止射线通过的能力。 ( )
1.37 线质是射线穿透物质能力的度量，穿透力较强的射线称其线质较软，穿透力较弱的射线称其线质较硬。 （ ）
1.38 射线的线质越软，衰减系数越大。 （ ）
1.39 射线的线质越硬，其光子能量越大，波长越短，穿透力越强。 ( )
1.40 射线的线质越软，其光子能量越小，波长越长，半价层越小。 ( )
1.41 射线的线质越软，穿透力越强。 ( )
1.42 射线通过物质时,会与物质发生相互作用而强度减弱,导致强度减弱的原因可分为吸收与散射。 （ ）
1.43 因为发生光电效应的几率与被照物质原子序数的3次方成正比，所以原子序数越大，发生光电效应的几率越小。 ( )
1.44 光电效应中光子被部分吸收，而康普顿效应中光子被完全吸
收。 ( )
1.45 康普顿散射不是由轨道电子引起的，而主要是光子同固体内的自由电子相互作用引起的。 （ ）
1.46 发生康普顿效应时，电子获得光子的部分能量以反冲电子的形式射出。同时，光子的
能量减小，方向也改了，成为低能散射线。 （ ）
1.47 当光子能量大于等于1.02MeV时，与物质相互作用才产生电子对效应。（ ）
1.48 不包含散射成分的射线，称窄束射线；包含散射成分的射线，称宽束射线。 （ ）
1.49 管电压提高，衰减系数增大。 （ ）
1.50 线衰减系数的物理意义是单色射线穿过1cm厚工件时，穿过前后射线强度比值的自然对数。 ( )
1.51 射线的能量减弱到初始值一半时所穿过物质的厚度，称半价层，又称半值层。 （ ）
1.52 当X射线通过3个半价层后，其强度仅为初始值的1/3。 （ ）
1.53 在相同的管电压下，透照厚度增加，散射比减小。 （ ）
1.54 射线照相法用底片作为记录介质，可以直接得到缺陷的图像，且可以长期保存。通过观察底片能够比较准确地判断出缺陷的性质、数量、尺寸和位置。 （ ）
1.55 射线源移去后，被照射工件本身仍残留低度的辐射。 ( )
2.1 无损检测仪器不再属于依法管理的计量器具。 （ ）
2.2 目前广泛使用的X射线管有玻璃管和金属陶瓷管。 （ ）
2.3 所谓“管电流”就是流过X射线管的灯丝电流。 ( )
2.4 决定X射线管靶材适用性的两个因素是原子序数和熔点。 （ ）
2.5 金属陶瓷X射线管有抗震性强，管电流和焦点稳定性好，体积小的优点，但真空度不如玻璃X射线管。 ( )
2.6 周向X射线机的阳极靶有两种，即平面阳极靶和锥体阳极靶。 （ ）
2.7 新购置或停用较久的X光机，使用前要训练X光管，其目的是排出射线柜中的气泡。( )
2.8 型号为2505X射线探伤机四位数字中，前两位“25”表示管电压的峰值为250kV，后两位数字“05”表示管电流为5mA。 （ ）
2.9 X光机操作时高压升不上去和高压跳闸是一回事。 ( )
2.10半波自整流与半波整流电路相比，在负半周时，加在X光管阳极上的负高电压低，如
阳极冷却不好，这种低电压可防止或减少
反向电流的产生，X射线管可以安全地工作。( )
2.11 X射线机的输出效率不会因电缆线的加长而发生变化。 （ ）
2.12 X射线管的实际焦点是指阳极靶被电子撞击的部分，有效焦点是指实际焦点在垂直于管轴线上的正投影。 （ ）
2.13长方形焦点和椭圆形焦点，其有效焦点尺寸按d=(a+b)/2公式计算( 式中： a -长或
长轴，b-宽或短轴)。 ( )
2.14方焦点X光管，其有效焦点尺寸按边长计。 ( )
2.15 在管电压、管电流和冷却条件相同的情况下，焦点尺寸越小，其阳极温度越高。 （ ）
2.16管电压一定，X光管可承受的负荷取决于焦点尺寸和阳极靶冷却的效果。 （ ）
2.17 X射线管的阴极特性是指灯丝温度与饱和电流密度的关系曲线。 （ ）
2.18 X射线管的阳极特性是指管电流与管电压的关系曲线。 （ ）
2.19 在使用过程中，阳极靶冷却不良会影响管电流的稳定性。 （ ）
2.20工业检测用的X射线管工作在电流饱和区，要改变管电流，只有改变灯丝的加热电流。
（ ）
2.21 贮罐用贫化轴作屏蔽，主要原因是贫化铀μ值大，可制造出体积小，重量轻的贮罐。 （ ）
2.22 γ射线探伤机按机体机构可分为直通道形式和“S”通道形式。 （ ）
2.23 对不同种类的放射性同位素，高活度的同位素总是比低活度的同位素具有更高的辐射水平。 ( )
2.24 比活度越大，意味着该放射性同位素源的尺寸可以做的更小。 （ ）
2.25按标准要求，底片的本底灰雾度应不大于0.3。 （ ）
2.26天津Ⅲ,AgfaD7,上海GX-A7属于T3类胶片。 （ ）
2.27 实际使胶片卤化银颗粒感光的因素是电子。 （ ）
4.28不同类型的胶片，在相同的透照条件下绘制特性曲线的形状相同。 ( )
2.29 射线胶片两面涂感光乳剂层的目的是提高胶片的感光度和清晰度。 （ ）
2.30 胶片的梯度低，其宽容度必然大。 （ ）
2.31 “潜影”的产生是银离子接受电子还原成银的过程。 （ ）
2.32 潜影形成后，如相隔很长时间才显影，得到的影像比及时冲洗得到的影像较淡，此现象称为潜影衰退。潜影衰退实际上是构成潜影中心的银又被空气氧化而变成Ag+离子的逆变过程。
（ ）
2.33 表征胶片相对曝光量与底片黑度之间关系的曲线，称胶片特性曲线。 （ ）
2.34 胶片灰雾度是指曝光量为零时底片的黑度。 （ ）
2.35胶片梯度值与显影条件有关，即显影配方、时间、温度等的变化都会使胶片梯度值发生改变。 （ ）
2.36 在实际应用范围内，射线的线质对胶片特性曲线的形状基本上无影响。 ( ) 2.37 管电压、管电流和穿透厚度之间关系的曲线称胶片特性曲线。 ( )
2.38 改变胶片的曝光量引起相应底片上黑度差的固有能力称为胶片对比度。 ( )
2.39 增感系数是指其它条件不变时，使用增感屏与不使用增感屏所需曝光时间之比。 ( )
2.40 对于同一金属屏材质时，在300kVP以下，管电压越高，增感系数越大。 （ ）
2.41 增感系数随γ射线能量的增高而减小。 ( )
2.42 荧光增感的原理是射线与荧光物质作用，产生荧光，从而加速胶片的感光过程。( )
2.43 金属增感屏受X或γ射线照射激发出二次电子产生二次射线，使胶片增感。常用的金属材料是铅，它的粒度细，增感系数小，所得底片的清晰度高。 ( )
2.44 胶片和增感屏在射线检测过程中应始终相互紧贴。 （ ）
2.45 入射光强与穿过底片的透射光强之比的自然对数称为黑度。 （ ）
2.46 已知入射光强为3000cd/m2，穿过底片的透射光强为30cd/m2 ，该底片黑度不满足AB
级射线检测要求。 （ ）
2.47 黑度计至少每6个月校验一次，并有记录可查。 （ ）
2.48 标准黑度片至少每两年送计量单位检定一次。 （ ）
2.49 黑度计可测量的最大黑度不小于4.5，测量值误差应不超过±0.05。 （ ）
2.50 像质计是用来检查透照技术和胶片处理质量的，衡量该质量的数值是识别丝号，它
等于底片上能识别出的最细钢丝的线编号。 ( )
2.51 已知Ⅱ型像计的最粗金属丝直径为1.0mm，则中间一根为0.5mm，最细一根为0.25mm。( )
2.52 采用R10系列像质计，其线编号Z与钢丝直径d的关系式为Z=6-101gd。 ( )
2.53 小口径钢管专用像质计，由5根直径相同的钢丝和铅字符号组成，其像质计的代号用
Fe和线编号构成。(Ο)
2.54 按标准规定，碳钢、低合金钢和不锈钢均属黑色金属，可采用碳钢像质计。 （ ）
3.1 像质计灵敏度2.0％，是指大于2.0％透照厚度的缺陷均可被检出。 ( )
3
.2 底片上缺陷影像的尺寸都大于实际缺陷的尺寸。 ( )
3.3 X、γ射线通过工件相邻两个不同厚度区域后的射线强度差与通过较大厚度区射线强
度的比，称主因对比度，又称工件对比度。 ( )
3.4 主因对比度与工件厚度变化引起的黑度差有关。 ( )
3.5 X、γ射线透照工件时，由于相邻区域射线强度存在差异所产生的对比度称主因对比度。
（ ）
3.6 透照厚度差相同的工件，采用高电压的主因对比度低。 （ ）
3.7 通过同一部件邻近两厚度部位的射线强度差越小，则主因对比度越大。 ( )
3.8 使用较低能量的射线可提高主因对比度，但同时会降低胶片对比度。 ( )
3.9 透照厚度差相同的工件，采用高电压与低电压相比，主因对比度(工件对比度)低。( )
3.10 通过同一部件邻近两厚度部位的射线强度差越小，则主因对比度越小。 ( )
3.11改变胶片的曝光量引起相应底片上黑度差的固有能力称为胶片对比度。 （ ）
3.12 在主因对比度一定的情况下，由胶片系统影响对比度的因素称胶片对比度。 ( )
3.13 胶片卤化银粒子的平均大小，称胶片粒度。 ( )
3.14 底片对比度就是底片上相邻区域的黑度差。 ( )
3.15 线质变硬，底片对比度提高。 ( )
3.16 任何情况下，底片的对比度越大越好。 ( )
3.17 厚工件中的紧闭裂纹，透照方向适当时，一定能被检出。 ( )
3.18 窄束与宽束射线相比，窄束射线的对比度高。 ( )
3.19 射线强度提高，底片宽容度增大。 ( )
3.20用增大射线源到胶片距离的方法可减小射线照相固有不清晰度。 ( )
3.21胶片颗粒度越大,固有不清晰度也越大。 ( )
3.22射线底片上叠加在工件影像上的黑度随机涨落,即影像黑度的不均匀程度称底片影像颗粒度。（ ）
3.23底片的颗粒度随射线能量的提高而增大。 （ ）
3.24底片影像颗粒度与胶片卤化银的粒度是同一概念。 ( )
3.25透照厚度增大，散射比增大。 ( )
3.26像质计灵敏度与缺陷检出率是一个概念。 ( )
3.27减小最小可见对比度△Dmin，不利于识别小缺陷。 ( )
3.28观片灯亮度提高，最小可见对比
度△Dmin减小，能分辨的黑度范围向高黑度一边扩展。 （ ）
3.29在较暗的室内评片，消除了散射光影响，底片的最小可见对比度△Dmin减小，有利于
分辨缺陷。 （ ）
4.1 无损检测规程包括通用工艺规程和专用工艺卡。 （ )
4.2 从事承压设备检测的人员应按《特种设备无损检测人员考核与监督管理规则》的要
求取得与其工作相应的资格证书，并负相应的技术责任。 （ ）
4.3 按标准规定，射线检测技术分为三级：A级-低灵敏度技术；AB级-中灵敏度技术；B级-高灵敏度技术。 （ ）
4.4 锅炉、压力容器、压力管道及其在用承压设备对接焊接接头的射线检测，一般应采用A级或AB级射线检测技术。 （ ）
4.5 在射线检测之前，对接接头的表面应经外观检测并合格。表面的不规则状态在底片上的影像不得掩盖或干扰缺陷影像，否则应对表面作适当修整。 （ ）
4.6 除非另有规定，射线检测应在焊后进行。对有延迟裂纹倾向的材料，至少应在焊接完成24小时后进行射线检测。 （ ）
4.7 进行局部射线检测的压力容器对接焊接接头，发现有不允许的缺陷时，应先返修缺陷，复照时再按标准要求扩探。 （ ）
4.8 椭圆形封头的射线检测程序应安排在拼焊后，热压成型前进行。 （ ）
4.9 筒节（包括：短节、大小口）的纵向对接焊接接头应在校圆前进行射线检测。 （ ）
4.10 一般情况下，焊接试板与壳体纵向坡口对接，一次焊接完成后，应同时委托射线检测。
（ ）
4.11 按标准规定，透照某一厚度的工件，其使用的管电压或选择的γ射线种类要受到控制，
其目的主要是提高底片的清晰度，从而保证底片获得规定的质量要求。 ( )
4.12 X射线检测必须选用较低的管电压。 （ ）
4.13 双壁透照时，确定γ射线最小透照厚度所依据的厚度为W。 （ ）
4.14 射线透照时，选择X射线最高管电压所依据的厚度为W。 （ ）
4.15 在采用γ射线对裂纹敏感性大的材料进行射线检测时，应采用T3类或较低类别的胶片，用以提高缺陷的检出率。 （ ）
4.16 JB/T 4730-2005规定的透照厚度等于穿过焊缝的厚度。 （ ）
4.1
7 按标准要求，射线检测一般应使用金属增感屏或不用增感屏。 （ ）
4.18 JB/T4730-2005规定，透照时可以采用荧光增感或金属荧光增感，但仅限于A级。( )
4.19 由曝光因子的公式可知，焦距增加一倍，则曝光量是原值的4倍。 （ ）
4.20 采用铅箔荧光增感时，不能根据曝光因子公式修正透照参数。 （ ）
4.21 透照厚度比K定义为一次透照长度范围内射线束穿过母材的最大厚度与最小厚度之比。 （ ）
4.22 A级、AB级纵向对接焊接接头的K值应≤1.01。 （ ）
4.23 按标准规定，A级、AB级环向对接焊接接头透照厚度比K ≤ 1.1，当管子100mm
4.24 控制透照厚度比K的主要目的是保证底片内的黑度在规定范围内变化。 （ ）
4.25 一次透照长度L3是焊缝射线照相一次透照的有效检测长度。即在满足几何不清晰度和
K值要求的前提下，按照标准规定,将搭接标记贴放在源侧或胶片侧附近焊缝的母材上，搭
接标记之间母材上的长度。 （ ）
4.26 采用双壁单影透照DO≥100mm管子时，焦距F选择的越大，一次透照长度越小。 ( )
4.27 透照某环缝，焦距相同，在满足透照比K值要求的前提下，双壁单影的一次透照长度
L3，比单壁单影外透照的一次透照长度大。 ( )
4.28 由于结构、环境条件、射线设备等方面的限制，检测的某些条件不能满足AB级（或B级）射线检测的技术要求时，可以按A级射线检测技术进行检测。 （ ）
4.29 经合同各方同意，在采取有效补偿措施并保证像质计灵敏度达到要求的条件下，利用
源采用双壁单影法透照管子环焊缝时，允许管子壁厚的下限值为5mm。 （ ）
4.30 JB/T4730.2-2005规定，采用源在内中心透照方式周向曝光时,只要得到的底片黑度和像质计灵敏度符合标准要求,f值可以减小,但减小值不应超过规定值的20%。 （ ）
4.31 JB/T4730.2-2005规定:如采用源在内作偏心单壁透照时,只要得到的底片黑度和像质计灵敏度符合标准要求,f值可以减小,但减小值不应超过规定值的50%。 （ ）
4.32 搭接长度△L是指底片上搭接标记至底片端头的距离。 ( )
4.33 纵向对接焊缝接头双壁单影透照时，搭接标记应贴在胶片侧的工件表面上，底片上两搭接标记之间的长度即为有效透照长度。
( )
4.34 环向对接焊缝接头双壁单影透照时，搭接标记应贴在胶片侧的工件表面上，其有效透照长度为除两搭接标记之间的长度之外，两端还应有附加长度。 ( )
4.35 源置于曲率中心对环向对接焊接接头进行周向曝光时，搭接标记放在胶片侧或源侧均
可。 （ ）
4.36 透照曲面工件，当焦距F小于曲率半径R时，为保证不漏检，搭接标记应放在胶片侧。 （ ）
4.37 按标准规定，透照厚度W:单壁透照时，为射线照射方向上材料的公称厚度T，双壁透
照时为2T。 （ )
4.38 双壁透照，像质计的选用和像质评价所依据的厚度为W。 （ ）
4.39 一次曝光连续排列的多张胶片时，至少在第一张、中间一张和最后一张胶片处各放置
1个像质计。 （ ）
4.40 环向对接焊接接头采用源置于中心周向曝光时，至少在圆周上等间隔地放置4个像质
计。 （ ）
4.41 球罐对接焊接接头采用源置于球中心全景曝光时，至少在北极区、赤道区、南极区附
近的焊缝上沿纬度等间隔地各放置3个像质计，在南、北的极板拼缝上各放置1个像质计。 （ ）
4.42 环向对接焊接接头作中心周向曝光时，若透照区为抽查或返修复照的，则每张底片上均应有像质计影像。 ( )
4.43 按JB/T4730.2-2005标准规定，单壁透照中，如果像质计无法放置在源侧，也可以放
于胶片侧，但应进行对比试验，使实际透照的底片灵敏度符合要求。 （ ）
4.44按JB/T4730.2-2005标准规定，像质计无法放置在源侧，也可以放于胶片侧，但应进
行对比试验或提高一个应识别丝号，使实际透照的底片灵敏度符合要求。 （ ）
4.45 当像质计放置在胶片侧时，应在像质计上适当位置放置铅字“F”作为标记，“F”标记
的影像应与像质计的标记同时出现在底片上，且应在检测报告中注明。 （ ）
4.46 在可以实施的情况下应选用单壁透照方式，在单壁透照不能实施时才允许采用双壁透
照方式。 （ ）
4.47 现有一板厚10mm ，纵向对接焊接接头长640mm的筒节，需按标准的AB级100％透照，选用焦距600m，使用胶片长360mm，只需两
次曝光即可满足要求。 （ ）
4.48 现有一板厚14mm的焊接试板，纵向对接焊接接头长450mm，选用700mm焦距，使用300mm长胶片，一次曝光两张胶片即可满足标准AB级100％检测要求。 （ ）
4.49 现有一壁厚10mm，内径450mm的压力容器环向对接焊接接头要求20％透照，选用600mm焦距做单壁外透照，使用360×80mm胶片，透照一片即可满足标准AB级要求。 （ ）
4.50 现有一壁厚12mm，内径450mm的压力容器人孔组件，纵向对接焊接接头长250mm，纵、环向对接焊接接头均要求100％透照。现仅能采用XXQ2505定向X光机作单壁外透照，焦距取600mm，胶片长300mm，纵向对接焊接接头透一片，环向对接焊接接头曝光6次即可满足标准AB级要求。 （ ）
4.51 现有一壁厚48mm，内径500mm的高压容器环向对接焊接接头（氩弧焊打底），因无人
孔，仅在透照侧的封头上有一Φ50mm孔，只能采用γ射线作中心内透照，由标准AB级要求查得像质计放于源侧应识别丝号为8，底片上可识别的最大丝号刚好为8，此底片灵敏度合格。 （ ）
4.52 现有一壁厚50mm，内径400mm的高压容器，其环向对接焊接接头采用192Ir源作中心周向曝光，已知源的焦点尺寸为Φ3×3mm，采用阿克发D5带状胶片（自带铅增感屏），按JB/T 4730.2-2005标准AB级要求，可一次曝光检测整条环向对接接头。 （ ）
4.53 筒体纵向对接焊接接头透照时，一般用600mm焦距，每片的一次透照长度取250mm。若选用800mm焦距使用周向X光机一次曝光两张片，可大大提高工作效率。 （ ）
4.54 现有一Φ159×7mm接管对接焊缝接头，要求检测比例100%，若焦距采用310mm，按
JB/T4730.2-2005的要求应透照7片。 ( )
4.55 有一壁厚20mm，内径400mm的封头与筒体环缝，可采用XXH2505射线机作周向检测。 ( )
4.56 对于某一种胶片，其曝光量与相应的底片黑度之间关系的曲线称曝光曲线。 （ ）
4.57 按标准规定，若采用γ射线透照时, 总的曝光时间应不少于输送源往返所需时间的10倍。 （ ）
4.58 表征射线能量、工件厚度和曝光时间三者关系的曲线称曝光曲线。 （ ）
4.59 即使管电压相同，不同X射线机所产生的X射线的线质也是不同的。 （ ）
4.60 对每台在用射线设备均应做出常用检测材料的曝光曲线。 （ ）
4.61 X射线检测时，AB级射线检测技术曝光量的推荐值应不小于15mA.min。 （ ）
4.62 在相同射线能量下，透照厚度增大，散射比增大。 （ ）
4.63 射线透过有余高焊缝后到达胶片上的散射比，总大于透过厚度与焊缝相同的平板后到达胶片上的散射比。 （ ）
4.64 照射量的国际单位是库仑/千克，专用单位是伦琴，两者的关系是1库仑/千克=3.877×103伦琴。 （ ）
4.65 增大底片宽容度通常的方法是降低管电压。 （ ）
4.66 在X射线管窗口加滤波板的作用是增大宽容度，消除边蚀散射。 （ ）
4.67 对截面厚度差较大的工件，在保证灵敏度要求的前提下，应增大宽容度。 （ ）
4.68 小径管是指内直径DO小于等于100mm的管子 。 （ ）
4.69按标准规定，小径管环向对接焊接接头采用倾斜透照方式椭圆成像时，应当同时满足二个条件：（1）T≤8mm；（2）焊缝宽度g≤DO/4。 （ ）
4.70 按标准规定，对小径管环向对接焊接接头不满足倾斜透照方式椭圆成像条件或椭圆成像有困难时,允许采用垂直透照方式重叠成像。 （ ）
4.71 双壁双影法透照小直径管子对接焊缝接头时，若使用一般像质计时，其应识别的线径丝号必须用铅字标记或对准中心标记，以正确辨认应识别丝号。 ( )
4.72 小径管采用双壁双影倾斜透照方式椭圆成像，b值的大小为D0+2 。 （ ）
4.73 小径管采用双壁双影垂直透照方式重叠成像， b值的大小为D0+4 。 （ ）
4.74 小径管环向对接接头透照椭圆成像时，影像的开口宽度应控制在1倍焊缝宽度左右。（ ）
4.75 JB/T4730-2005规定，外径小于等于89mm的管子对接焊缝接头应采用双壁双投影法透照。 ( )
4.76 按标准规定，对外径大于100mm的管子对接焊缝透照时，K值和一次透照长度可适当
放宽，整圈焊缝的透照次数不少于4次。 ( )
5.1 暗室的墙壁应涂墨绿色，水槽不可以用白色瓷砖。 （ ）
5.2 水是保证冲片质量的关键，应使用饮用自来水，否则应设专线供自来水。 （ ）
5.3 使用地下水冲片对底片质量没有影响。 （ ）
5.4 手工洗片时，为保证显影液的温度，可将加热棒直接放入显影槽中加热。 （ ）
5.5 一般情况下，米吐尔与对苯二酚配合使用来增加
显影能力和反差。 （ ）
5.6 对曝光过度的胶片，为获得符合要求的底片，可采用缩短显影时间来补救。 （ ）
5.7 胶片曝光部分越多，耗费的显影液越少。 （ ）
5.8 显影液温度过高，会导致影像颗粒度粗大。 （ ）
5.9 显影时间过长，会导致影像灰雾度过大。 （ ）
5.10 胶片放进老化的显影液中显影，会使底片产生黄色灰雾；显影液被定影液污染，会使底片产生双色灰雾。 （ ）
5.11 当显影槽不放盖时，显影液就会被氧化，从而降低显影液的浓度。 （ ）
5.12 定影液有两个作用：溶解未曝光的AgBr和坚膜。 （ ）
5.13 显影液是碱性的，定影液是酸性的。 （ ）
5.14 胶片从放入定影液开始直到所有的AgBr颗粒消失这段时间称为定影时间。 （ ）
5.15 把显影后的胶片直接放入定影液，易产生不均匀的条纹，易使定影液失效。 （ ）
5.16 潜影形成后如不及时冲洗，有可能出现“潜影衰退”的现象。 ( )
5.17 射线检测工作量较小，暗室处理时可采用盘中冲洗。 ( )
5.18 胶片处理分为手工冲洗和自动冲洗，标准推荐采用自动冲洗的方法。 （ ）
5.19若采用自动洗片机洗片，透照时必须严格控制曝光规范。 （ ）
5.20 暗室手工冲洗胶片的关键是显影槽必须有恒温装置。 （ ）
6.1 评片一般应在专用评片室内进行。评片室应整洁、安静，温度适宜，光线应暗且柔和。（ ）
6.2 按标准规定，评片应在专用评片室内进行，评片室内的光线应暗淡或全暗，室内照明用
光不得在底片表面上产生反射。 ( )
6.3 标准规定，底片评定范围的亮度应满足：当底片评片范围内的黑度D≤2.5时，透过底片评定范围内的亮度应不低于30cd/m2 ；当底片评片范围内的黑度D > 2.5时，透过底片评定范围内的亮度应不低于10cd/m2 。 （ ）
6.4 按JB/T4730.2-2005要求，黑度计可测的最大黑度应不小于4.5，测量的误差值应不超过±0.1。 （ ）
6.5 标准中规定，所使用标准黑度片至少应每年送计量单位检定一次。 （ ）
6.6 为评价缺陷数量和密集程度而设置的一定尺寸的方形或矩形区域定义为缺陷评定区。（ ）
6.7 为检查背散射，在暗盒背面贴附一个“B”铅字，若在较黑背景上出现“B”的较淡影
像，就说明背
散射防护不良，应予重照；如在较淡背景上出现“B”较黑影像，则不作底片
判废的依据。 ( )
6.8 为检查底片的灵敏度，每张底片上都必须有像质计。 （ ）
6.9 标准规定，在底片的焊缝上能够清晰地看到长度不小于10mm的金属丝影像时，则认为该丝是可识别的。 （ ）
6.10 按标准规定，小径管使用等丝像专用质计时，在底片的焊缝上能够清晰地看到至少两根金属丝，则认为是可识别的。 （ ）
6.11 标准规定，若在底片黑度均匀部位（一般为相邻焊缝的母材金属区），能够清晰地看到长度不小于10mm的断续金属丝影像时，则认为该丝是可识别的。 （ ）
6.12 按标准规定，小径管使用等丝像专用质计时，在相邻焊缝的小径管母材金属区能够清晰地看到至少两根金属丝，则认为是可识别的。 （ ）
6.13 标准规定，用X射线透照截面厚度变化大的工件时, 底片黑度允许降低，但AB级最低黑度允许降至1.2。 （ ）
6.14 管子焊缝双壁双影法透照时，焊缝影像的间距以3～10mm为宜，最大间距不得超过
15mm。 （没有要求，05标准4.1.4b）…椭圆成像时，应控制影像的开口宽度在1倍焊缝宽度左右。） ( )
6.15 长宽比小于或等于3的缺陷定义为圆形缺陷。 长宽比大于3的缺陷的定义为条形缺陷。 ( )
6.16 按《压力容器安全技术监察规程》规定，奥氏体不锈钢材料制造的压力容器、低温压
力容器、球形压力容器及焊缝系数取1.0的压力容器，其焊缝表面不得有咬边。 ( )
6.17 底片评定的宽度一般为焊缝本身及焊缝两侧热影响区的范围。 （ ）
6.18 钢制承压设备对接焊接接头中的缺陷可分为裂纹、未焊透、未熔合、条形缺陷和圆形
缺陷五类。 （ ）
6.19 按标准规定，压力管道环向对接焊接接头的缺陷，按性质可分为裂纹，未熔合，未焊透，条形缺陷，圆形缺陷，根部内凹和根部咬边共七类。 （ ）
6.20按标准规定，钢制承压设备对接焊接接头中的缺陷按性质可分为裂纹、未熔合、未焊透和条形缺陷等共四类。 （ ）
6.21 双壁透照，缺陷评定所依据的厚度为T。
（ ）
6.22 标准规定，钢制承压设备Ⅰ级和Ⅱ级对接焊接接头内不允许存在裂纹、未熔合、未
焊透和条形缺陷。 （ ）
6.23标准规定，钢制承压设备Ⅱ级和Ⅲ级对接焊接接头内不允许存在裂纹、未熔合和未焊透。 （ ）
6.24 圆形缺陷长径大于或等于1/2板厚时应评为Ⅳ级。 （ )
6.25 钢制承压设备对接焊接接头中，有两个或两个以上的条形缺陷处于同一直线上，且相邻缺陷的间距小于或等于较长缺陷长度时，应作为1个缺陷处理，且间距也应计入缺陷的长度之中。 （ ）
6.26 钢制承压设备对接焊接接头中，在圆形缺陷评定区内同时存在圆形缺陷和条形缺陷时，应进行综合评级。 （ ）
6.27 局部射线检测的底片在界线标记以外的缺陷也应评定 。 ( )
6.28 底片有效评定区是指两塔接标记之间为长，焊缝本身加焊缝两侧5mm为宽的范围。( )
6.29 对于单壁外透照100%检测的环向对接焊接接头而言，当底片端部有条形缺陷时，应
将该端搭接标记与相邻底片上的搭接标记重叠接长观察评定。 ( )
6.30 对于源置于曲面的中心作周向100%检测的环向对接焊接接头而言，当底片端部有条形
缺陷时，应将该端搭接标记与相邻底片上的搭接标记重叠接长观察评定。 ( )
6.31 有一母材公称厚度T为24mm的钢制容器，按图样要求，焊接质量≤Ⅱ级为合格，在平
行焊缝的一条直线上有两组条形缺陷，单个尺寸小于1/3 T，其总长分别为21mm和10mm在
12T的焊缝长度内仅有此二组条形缺陷，该底片应评为不合格。 ( )
6.32 在T=4mm的钢对接焊缝接头的底片上，仅有3mm和2mm的条形缺陷，且处于平行焊缝
的一直线上，其间距8mm，该片应评定为Ⅲ级。 ( )
6.33 在T=3mm的钢对接焊缝接头的底片上，有长度6mm和2mm的条形缺陷处于平行焊缝的
一直线上，间距10mm，该片应评为Ⅲ级。 ( )
6.34 在T=14mm的钢对接焊缝接头的底片上，仅有6mm和7mm平行焊缝的两个条形缺陷，其
间距为4mm, 两个缺陷在长度方向的最小间为10mm，，该片应评为Ⅲ级。 ( )
7.1 X、γ射线损伤生物细胞的过程就是电离辐射过程。 （ ）
7.2 电离是物质原子或分子受外界影响失去或得到电子从而成为带电离子的过程。 （ ）
7.3电离辐射是
指由直接电离粒子和间接电离粒子组成的射线。 （ ）
7.4 照射量是用来表征X或γ射线对空气电离能力大小的一个物理量，而吸收剂量表征受照物体吸收电离辐射能量程度的一个物理量。 （ ）
7.4 照射量的国际单位是库仑/千克，专用单位是伦琴，两者的关系是1库仑／千克＝3.877×103伦琴。 （ ）
7.5 照射量这个概念仅适用于X射线或γ射线对空气的效应。 ( )
7.6 不带电的X射线或γ射线与物质相互作用时的能量转移过程分两个阶段：它首先把能量转移给次级电子，用比释动能来描述。然后次级电子通过电离和激发的形式，将能量转移给物质，用吸收剂量来描述。 （ ）
7.7 所谓比释动能是指不带电粒子与物质相互作用，在单位质量的物质中释放出来的所有带电粒子的初始动能的总和。 （ ）
7.8 空气比释动能率是在空气中距源1米处，对空气衰减和散射修正后的比释动能率。用1m处的μGy?h-1表示。 （ ）
7.9 在实际工作中，仪器直接测量的只能是照射量，而不是吸收剂量。因此，要计算辐射场中某点被照射物质的吸收剂量，就只能用该点的照射量进行换算。 ( )
7.10 吸收剂量的国际单位是戈瑞，专用单位是拉德，两者的关系是1戈瑞=100拉德( )
7.11吸收剂量相同，而射线的种类和能量不同时，对机体产生的生物效应有所不同而引入了当量剂量这个概念。 （ ）
7.12 对于X射线和γ射线而言，吸收剂量和当量剂量在数值上是相等的，即1Gy=1SV 。 （ ）
7.13 对不同类型的电离辐射，只要吸收剂量相同，所产生的生物损伤程度也相同。（ ）
7.14 当量剂量的国际单位是希沃特，已经废弃专用单位是雷姆，两者的关系是1希沃特=100
雷姆。 （ ）
7.15当量剂量相同，小剂量漫性照射引起肌体不同器官或组织的敏感程度不同而引入了有效剂量这个概念。通常用有效剂量确定人体各器官的限量值。 （ ）
7.16 辐射监测主要是指场所辐射监测和个人剂量监测。 （ )
7.17 个人剂量笔给出的是射线剂量的照射率值，剂量仪给出的是累积值。 （ ）
7.18 个人剂量笔工作原理基于电离效应。 （ ）
7.19 职业放射性工作人员，任何一年中的有效
剂量不超过50 mSv 。 （ ）
7.20公众中有关关键人群组的成员所受到的年有效剂量不应超过1 mSv 。 （ ）
7.21 职业放射性工作人员连续5年的年平均有效剂量（但不可做任何追溯性平均）不得超过20mSv。 （ ）
7.22 由于现场环境复杂，进行X、γ射线检测时,划定控制区和管理区（或监督区）最好的方法是用剂量仪测定。 （ ）
7.23 从事射线检测人员上岗前应进行辐射安全知识培训，并取得放射工作人证。 （ ）
7.24 相同管电压下，混凝土墙的半价层厚度是1/10价层厚度的5倍。 （ ）
7.25 在有射线辐射的场所，人体接受累积剂量与受照射的时间成正比。 （ ）
7.26 射线强度是随穿过屏蔽物的厚度尺寸成指数规律减弱。 （ ）
是非题答案：
1.1 × 1.2 ○ 1.3 ○ 1.4 × 1.5 ○
1.6 ○ 1.7 ○ 1.8 ○ 1.9 ○ 1.10 ○
1.11 ○ 1.12× 1.13 ○ 1.14○ 1.15×
1.16 ○ 1.17 ○ 1.18○ 1.19 ○ 1.20 ×
1.21 ○ 1.22○ 1.23 ○ 1.24× 1.25○
1.26 × 1.27 ○ 1.28○ 1.29 × 1.30 ○
1.31 ○ 1.32○ 1.33 × 1.34 ○ 1.35×
1.36 ○ 1.37 × 1.38○ 1.39 ○ 1.40○
1.41 × 1.42○ 1.43 × 1.44 × 1.45○
1.46 ○ 1.47 ○ 1.48○ 1.49 × 1.50○
1.51 × 1.52× 1.53 1.54 ○ 1.55 ×
2.1 ○ 2.2 ○ 2.3 × 2.4 ○ 2.5 ×
2.6 ○ 2.7 × 2.8 ○ 2.9 × 2.10 ○ 2.11 × 2.12 ○ 2.13 ○ 2.14 ○ 2.15 ○
2.16 ○ 2.17 ○ 2.18○ 2.19 ○ 2.20 ○
2.21 ○ 2.22 ○ 2.23 × 2.24 ○ 2.25 ×
2.26 ○ 2.27 ○ 2.28× 2.29 × 2.30 ○
2.31 ○ 2.32 ○ 2.33 ○ 2.34 ○ 2.35 ○
2.36 ○ 2.37 × 2.38○ 2.39 × 2.40 ○
2.41 ○ 2.42 ○ 2.43 ○ 2.44 ○ 2.45 ×
2.46 × 2.47 ○ 2.48○ 2.49 ○ 2.50 ○
2.51 ○ 2.52 ○ 2.53 Ο 2.54 ○
3.1 × 3.2 × 3.3 ○ 3.4 × 3.5 ○
3.6 ○ 3.7 × 3.8 × 3.9 ○ 3.10 ○
3.11 ○ 3.12 ○ 3.13○ 3.14○ 3.15 ×
3.16 × 3.17 × 3.18 ○ 3.19 × 3.20 ×
3.21 ×3.22 ○3.23 ○3.24×3.25○
3.26 × 3.27 × 3.28○ 3.29 ○
4.1 ○ 4.2 ○ 4.3 ○4.4 × 4.5 ○
4.6 ○ 4.7 × 4.8 × 4.9 ×4.10 ×
4.11 × 4.12 × 4.13 ○4.14 ○ 4.15 ×
4.16 × 4.17 ○4.18 × 4.19 ○ 4.20 ○
4.21 ○ 4.22 × 4.23 ×4.24 × 4.25 ○
4.26 ○ 4.27 ○4.28 × 4.29 ○ 4.30 ×
4
.31 × 4.32 × 4.33 ×4.34 × 4.35 ○
4.36 × 4.37 ○4.38 ○ 4.39 ○ 4.40 × 4.41 ○ 4.42 ○4.43 ○ 4.44 ×4.45 ○
4.46 ○4.47 ×4.48 ×4.49 ×4.50 ×
4.51 × 4.52 × 4.53 ×4.54 × 4.55 ×
4.56 × 4.57 ○4.58 × 4.59 ○ 4.60 ○
4.61 × 4.62 ○ 4.63 ○4.64 × 4.65 ×
4.66 ○ 4.67 ○4.68 × 4.69 ○ 4.70 ○ 4.71 ○ 4.72 ○ 4.73 ○4.74 ○ 4.75 ×
4.76 ×
5.1 ○ 5.2 ○ 5.3 × 5.4 × 5.5 ○
5.6 × 5.7 × 5.8 ○ 5.9 ○ 5.10 ○
5.11 ○ 5.12 ○ 5.13 ○ 5.14 × 5.15○
5.16 ○ 5.17 × 5.18 ○ 5.19○ 5.20 ○
6.1 ○ 6.2 × 6.3 ○ 6.4 × 6.5 ×
6.6 ○ 6.7 ○ 6.8 × 6.9 × 6.10 ×
6.11 × 6.12 ○ 6.13 × 6.14 × 6.15×
6.16 ○ 6.17 × 6.18 ○ 6.19○ 6.20 ×
6.21 ○ 6.22 × 6.23 ○ 6.24 × 6.25×
6.26 ○ 6.27 ○ 6.28 ○ 6.29× 6.30 ○
6.31 ○ 6.32 ○ 6.33 × 6.34 ×
7.1 ○ 7.2 ○ 7.3 ○ 7.4 ○ 7.5 ○
7.6 ○ 7.7 ○ 7.8 ○ 7.9 ○ 7.10 ○
7.11 ○ 7.12 ○ 7.13 × 7.14 ○ 7.15○
7.16 ○ 7.17 × 7.18 ○ 7.19○ 7.20 ○
7.21 ○ 7.22 ○ 7.23 ○ 7.24 × 7.25○
7.26 ○
二 选择题(将正确答案的代号填在括弧内)
1.1 原子核的核电荷数等于（ ）。
A. 中子数 B. 原子序数
C. 光子数 D. 原子量
1.2 原子核中的质子数与（ ）相等。
A. 中子数 B. 原子序数
C. 质量数 D. 以上都是
1.3 原子的质量数就是（ ）。
A. 原子的重量 B. 原子的质子、中子与电子数的总和
C. 原子核中质子与中子数的总和 D. 原子核中质子与电子数的总和
1.4 原子序数是标志元素在元素周期表中的次序号，它等于该元素原子（ ）。
A. 核中的质子数 B. 核中的中子数
C. 核中的质子与中子数之和 D. 质量
1.5 原子中质子与电子的（ ）。
A. 电荷相等，符号相反 B. 电荷相等，符号相同
C. 电荷不等，符号相反 D. 电荷不等，符号相同
1.6 下列叙述中，错误的是（ ）。
A.α射线是一束氦的原子核，带正电
B.β射线是一束快速运动的电子，带负电
C.γ射线是一种波长很短的电磁波，不带电
D.α、β、γ三种射线均不带电
1.7 射线检测采用的三种射线是（ ）。
A. α射线、β射线和γ射线 B. X射线、γ射线和中子射线
C. 红外线、紫外线和宇宙线 D. 以上都是
1.8 射线检测所采用的X射线、γ射线属于（ ）。
A. 机械波
B. 冲击波
C. 电磁波 D. 微波
1.9 相同能量的X射线与γ射线的唯一区别是（ ）。
A. 生物效应 B. 产生机理
C. 波长 D. 穿透材料能力
1.10 电磁波中的频率f、速度C、波长λ三者之间的关系是（ ）。
A. f=λC B. C = fλ C. λ=fC D. λ= f/c
1.11 X射线属于（ ） 。
A. 电子流 B. 质子流
C. 中子流 D. 光子流
1.12 连续X射线束是（ ）。
A. 含有多种波长的X射线束 B. 特征X射线束
C. 单一波长的X射线束 D. 以上都是
1.13 连续X射线产生于（ ）。
A. 韧致辐射 B. 跃迁辐射
C. 荧光辐射 D. 以上都是
1.14 光子能量的数学表达式是（ ）。
A. E = B. E =
C. E = D. E =
1.15 韧致辐射是指高速运动的电子同阳极靶相碰撞时，与阳极靶的（ ）相互作用，电子失去动能，产生连续X射线。
A. 自由电子 B. 原子核的质子
C. 壳层电子 D. 原子核外库仑场
1.16 连续X射线的波长与( )有关。
A．曝光时间 B.管电压
C．管电流 D. 以上都是
1.17 已知X射线的最短波长为0.062A°，其管电压为（ ）kV。
A. 150 B. 200 C. 250 D. 300
1.18 当管电压一定，管电流加大时，产生的连续X射线的强度、波长有何变化？（ ）
A.强度不变，波长变短。 B.强度增加，波长不变。
C.强度降低，波长变长。 D.强度降低，波长变长。
1.19 当管电流一定，管电压增大时，产生的连续X射线的线质、强度有何变化？（ ）
A. 线质变硬，强度增大。 B. 线质不变，强度增大。
C. 线质变软，强度降低。 D. 线质不变，强度降低。
1.20 当管电流一定，提高X射线管的管电压时，连续X射线的波长、穿透能力有何变化？（ ）
A.波长不变，穿透能力不变。 B.波长变短，穿透能力增加。
C.波长变长，穿透能力降低。 D.波长变长，穿透能力增加。
1.21 当管电压一定，管电流减少时，产生连续X射线的线质、强度有何变化？（ ）
A. 线质变硬，强度不变。 B. 线质不变，强度增加。
C. 线质变软，强度降低。 D. 线质不变，强度降低。
1.22 将X射线管靶极金属由钼靶改为钨靶，而管电压和管电流都一定时，所产生连续X射线的线质（ ）。
A. 变硬 B. 变软
C. 不变 D. 随环境而变硬
1.23 连续X射线强度最大时的波长约为其最短波长
的（ ）倍。
A. 2.0 B. 2.5
C. 1.5 D. 1.0
1.24 对连续X射线的总强度IT与靶材的原子序数Z的关系叙述正确的是（ ）。
A. IT与Z成正比 B. IT与Z的平方成正比
C. IT与Z 成反比 D. IT与Z的平方成正比
1.25 连续X射线的线质可用（ ）表示 。
A. 衰减系数 B. 半价层
C. 有效能量 D. 以上都对
1.26 X射线的穿透能力取决于（ ）。
A. 管电流 B. 管电压
C. 曝光时间 D. 焦距
1.27 连续X射线穿透物质后，强度( )，线质( )。
A．减弱 B. 增强
C. 变软 D. 变硬
1.28 将X射线管靶极金属由钼靶改为钨靶，而管电压和管电流都一定时，所产生标识X射线的（ ）.
A. 能量与波长都相同 B. 能量不同，波长相同
C. 能量与波长都不相同 D. 能量相同，波长不同
1.29 从X射线管中发射出的射线包括（ ）。
A. 连续X射线 B. 标识X射线
C. β射线 D. A 和B
1.30 标识X射线的波长与( )有关。
A. 靶的原子序数 B. 管电流
C. 管电压 D. 以上都是
1.31 高速电子撞击阳极靶而发生能量转换，所获得的X射线能量是电子能量的( )。
A. 全部 B. 大部分 C. 一半 D.很小部分
1.32 若散射线忽略不计，当透照厚度增加量相当于1个半价层时，则胶片接受的照射量减
少( )。
A．30% B. 70% C. 100% D. 50%
1.33 通常管电压200kV是指( )。
A. 单色射线的能量为0.2MeV B. 连续X射线的最大能量为0.2MeV
C. 标识射线的能量为0.2MeV D. 以上都是
1.34 放射性同位素钴60是将其稳定的同位素钴59置于核反应堆中俘获（ ）发生核反应而制成的。
A. 电子 B. 中子 C. 质子 D. 原子
1.35 钴60辐射的γ射线能量为（ ）。
A. 3MeV，1MeV B. 2.17MeV，1.88MeV
C. 1.17MeV，1.33MeV D. 0.67MeV，0.53MeV
1.36 γ射线的穿透力取决于（ ）。
A. 射源尺寸 B. 射源种类 C. 曝光时间 D. 源活度
1.37 γ射线源的半衰期为75天，此源是（ ）。
A. B. C. D.
1.38 在常用的γ射线源中 的半衰期为是（ ）。
A. 33年 B. 5.3年 C. 130天 D. 75天
1.39 源的半衰期是5.3年，假设最初的活度是100居里，则21.1年后，其活度变为（ ）居里。
A. 50 B. 25 C. 12.5 D. 6.25
1.40 已知γ射线的衰变常数λ为0.021/年，它的半
衰期为（ ）。
A. 33年 B. 5.3年 C. 130天 D. 75天
1.41 γ源的半衰期与（ ）有关。
A. 源的强度 B. 源的物理尺寸
C. 源的种类 D. 以上都是
1.42 的半衰期为75天，当其强度由50居里衰减到30居里约要经过（ ）天。
A. 76天 B. 56天 C. 101天 D. 61天
1.43 X射线与γ射线不同的是（ ）。
A. γ射线的穿透力比X射线弱 B. X射线的波长比γ射线短
X. 射线与γ射线的产生机理不同 D. 以上都对
1.44 穿透能力最小的γ源是（ ）。
A. B. C. D.
1.45下列四种放射性同位素中，半衰期最长的是( )。
A． B. C. D.
1.46下列四种放射性同位素中，半价层最大的是( )。
A. B. C. D.
1.47 在常用的γ射线源中穿透能力最强的是( )。
A. B. C. D.
1.48 二个相同活度的γ射线源，一个妥善存放不用，另一个日夜使用，经三年后它们的
活度( )。
A. 不用的一个大 B. 用的一个大
C. 相同 D. 不一定
1.49 X射线和物质相互作用形式主要有( )。
A.光电效应 B.康普顿效应
C.电子对效应 D.以上都是
1.50 所谓光电效应就是（ ）。
A. 光子与物质作用使物质发射出电子而光子本身消失的一种现象。
B. 光子与物质作用使物质发射出电子而光子本身能量减弱、方向改变。
C. 光子与物质作用使物质产生一个负电子和一个正电子而光子本身消失。
D. 光子与物质作用使物质产生一个质子而光子本身消失。
1.51 光电效应的特征是（ ）。
A. 产生光电子 B. 产生反冲电子
C. 散射光子 D. 以上都是
1.52 最容易发生光电效应的射线能量为（ ）。
A. 10keV～500keV B. 100keV～10MeV
C. 1.02MeV以上 D. 10keV以下
1.53 射线和物质作用，使物质发出电子，而射线能量减小 ，运动方向改变，这种现象称为（ ）。
A. 光电效应 B. 康普顿效应
C. 电子对效应 D. 以上都不对
1.54 散射线的主要成份是低能电磁辐射,它主要是由光子在（ ）过程中能量减弱而产生的。
A. 光电效应 B. 康普顿效应
C. 电子对效应 D. 电离
1.55 窄束射线和宽束射线的区别是（ ）。
A. 窄束是指散射和未散射的射线均到达检测器,宽束是指只有未散射的射线到达检测器
B. 窄束是指只有未散射的射线到达检测器，宽束是指散射和未散射的射线线均到达检