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硬盘 SMART 检测参数详解

硬盘 SMART 检测参数详解
硬盘 SMART 检测参数详解

一、SMART概述

硬盘的故障一般分为两种:可预测的(predictable)和不可预测的(unpredictable)。后者偶而会发生,也没有办法去预防它,例如芯片突然失效,机械撞击等。但像电机轴承磨损、盘片磁介质性能下降等都属于可预测的情况,可以在在几天甚至几星期前就发现这种不正常的现象。如果发生这种问题,SMART功能会在开机时响起警报,至少让使用者有足够的时间把重要资料转移到其它储存设备上。

最早期的硬盘监控技术起源于1992年,IBM在AS/400计算机的IBM 0662 SCSI 2代硬盘驱动器中使用了后来被命名为Predictive Failure Analysis(故障预警分析技术)的监控技术,它是通过在固件中测量几个重要的硬盘安全参数和评估他们的情况,然后由监控软件得出两种结果:“硬盘安全”或“不久后会发生故障”。

不久,当时的微机制造商康柏和硬盘制造商希捷、昆腾以及康纳共同提出了名为IntelliSafe 的类似技术。通过该技术,硬盘可以测量自身的的健康指标并将参量值传送给操作系统和用户的监控软件中,每个硬盘生产商有权决定哪些指标需要被监控以及设定它们的安全阈值。

1995年,康柏公司将该技术方案提交到Small Form Factor(SFF)委员会进行标准化,该方案得到IBM、希捷、昆腾、康纳和西部数据的支持,1996年6月进行了1.3版的修正,正式更名为S.M.A.R.T.(Self-Monitoring Analysis And Reporting Technology),全称就是“自我检测分析与报告技术”,成为一种自动监控硬盘驱动器完好状况和报告潜在问题的技术标准。

作为行业规范,SMART规定了硬盘制造厂商应遵循的标准,满足SMART标准的条件主要包括:

1)在设备制造期间完成SMART需要的各项参数、属性的设定;

2)在特定系统平台下,能够正常使用SMART;通过BIOS检测,能够识别设备是否支持SMART并可显示相关信息,而且能辨别有效和失效的SMART信息;

3)允许用户自由开启和关闭SMART功能;

4)在用户使用过程中,能提供SMART的各项有效信息,确定设备的工作状态,并能发出相应的修正指令或警告。在硬盘及操作系统都支持SMART技术并且开启的情况下,若硬盘状态不良,SMART技术能够在屏幕上显示英文警告信息:“WARNING:

IMMEDIATLY BACKUP YOUR DATA AND REPLACE YOUR HARD DISK DRIVE,

A FAILURE MAY BE IMMINENT.”(警告:立刻备份你的数据并更换硬盘,硬盘可能失效。)

SMART功能不断从硬盘上的各个传感器收集信息,并把信息保存在硬盘的系统保留区(service area)内,这个区域一般位于硬盘0物理面的最前面几十个物理磁道,由厂商写入相关的内部管理程序。这里除了SMART信息表外还包括低级格式化程序、加密解密程序、自监控程序、自动修复程序等。用户使用的监测软件通过名为“SMART Return Status”的命令(命令代码为:B0h)对SMART信息进行读取,且不允许最终用户对信息进行修改。

二、SMART的ID代码

硬盘SMART检测的ID代码以两位十六进制数表示(括号里对应的是十进制数)硬盘的各项检测参数。目前,各硬盘制造商的绝大部分SMART ID代码所代表的参数含义是一致的,但厂商也可以根据需要使用不同的ID代码,或者根据检测项目的多少增减ID代码。一般来说,以下这些检测项是必需的:

01(001)底层数据读取错误率 Raw Read Error Rate

04(004)启动/停止计数 Start/Stop Count

05(005)重映射扇区数 Relocated Sector Count

09(009)通电时间累计 Power-On Time Count (POH)

0A(010)主轴起旋重试次数(即硬盘主轴电机启动重试次数) Spin up Retry Count 0B(011)磁盘校准重试次数 Calibration Retry Count

0C(012)磁盘通电次数 Power Cycle Count

C2(194)温度 Temperature

C7(199) ULTRA DMA奇偶校验错误率 ULTRA ATA CRC Error Rate

C8(200)写错误率 Write Error Rate

三、SMART的描述(Description)

描述,即某一检测项目的名称,是ID代码的文字解释。对用户而言,不仅要了解描述的含义,重要的是要了解各参数的值如“临界值”、“最差值”的定义,“当前值”与“数据值”的区别等,才能对自己的硬盘状态有一个基本了解。

四、SMART的值

1、临界值(Threshold)

临界值是硬盘厂商指定的表示某一项目可靠性的门限值,也称阈值,它通过特定公式计算而得。如果某个参数的当前值接近了临界值,就意味着硬盘将变得不可靠,可能导致数据丢失或者硬盘故障。由于临界值是硬盘厂商根据自己产品特性而确定的,因此用厂商提供的专用检测软件往往会跟Windows下检测软件的检测结果有较大出入。

以参数Raw Read Error Rate(底层数据读取错误率)为例:某型硬盘对该参数的计算公式为“10×log10(主机和硬盘之间所传输数据的扇区数)×512×8/重读的扇区数”。其中“512×8”是把扇区数转化为所传输的数据位(bits),这个值只在所传输的数据位处于1010~1012范围时才作计算,而当Windows系统启动后,主机和硬盘之间所传输的数据扇区大于或等于1012时,此值将重新复位,所以有些值在不同的操作环境、不同检测程序下时会有较大的波动。

2、当前值(Normalized value)

当前值是各ID项在硬盘运行时根据实测数据通过公式计算的结果,计算公式由硬盘厂家自定。

硬盘出厂时各ID项目都有一个预设的最大正常值,也即出厂值,这个预设的依据及计算方法为硬盘厂家保密,不同型号的硬盘都不同,最大正常值通常为100或200或253,新硬盘刚开始使用时显示的当前值可以认为是预设的最大正常值(有些ID项如温度等除外)。随着使用损耗或出现错误,当前值会根据实测数据而不断刷新并逐渐减小。因此,当前值接近临界值就意味着硬盘寿命的减少,发生故障的可能性增大,所以当前值也是判定硬盘健康状态或推测寿命的依据之一。

3、最差值(Worst)

最差值是硬盘运行时各ID项曾出现过的最大的非正常值。

最差值是对硬盘运行中某项数据变劣的峰值统计,该数值也会不断刷新。通常,最差值与当前值是相等的,如果最差值出现较大的波动(小于当前值),表明硬盘曾出现错误或曾经历过恶劣的工作环境(如温度)。

4、数据值(Data或Raw value)

数据值是硬盘运行时各项参数的实测值,大部分SMART工具以十进制显示数据。

数据值代表的意义随参数而定,大致可以分为三类:

1)数据值并不直接反映硬盘状态,必须经过硬盘内置的计算公式换算成当前值才能得出结果;

2)数据值是直接累计的,如Start/Stop Count(启动/停止计数)的数据是50,即表示该硬盘从出厂到现在累计启停了50次;

3)有些参数的数据是即时数,如Temperature(温度)的数据值是44,表示硬盘的当前温度是44℃。

因此,有些参数直接查看数据也能大致了解硬盘目前的工作状态。

五、状态(Status)

硬盘的每项SMART信息中都有一个临界值(阈值),不同硬盘的临界值是不同的,SMART 针对各项的当前值、最差值和临界值的比较结果以及数据值进行分析后,提供硬盘当前的评估状态,也是我们直观判断硬盘健康状态的重要信息。根据SMART的规定,状态一般有正常、警告、故障或错误三种状态。

SMART判定这三个状态与SMART的 Pre-failure/advisory BIT(预测错误/发现位)参数的赋值密切相关,当Pre-failure/advisory BIT=0,并且当前值、最差值远大于临界值的情况下,为正常标志。当Pre-failure/advisory BIT=0,并且当前值、最差值大于但接近临界值时,为警告标志;当Pre-failure/advisory BIT=1,并且当前值、最差值小于临界值时,为故障或错误标志。

六、SMART参数详解

一般情况下,用户只要观察当前值、最差值和临界值的关系,并注意状态提示信息即可大致了解硬盘的健康状况。下面简单介绍各参数的含义,以红色标出的项目是寿命关键项,蓝色为固态硬盘(SSD)特有的项目。

在基于闪存的固态硬盘中,存储单元分为两类:SLC(Single Layer Cell,单层单元)和MLC(Multi-Level Cell,多层单元)。SLC成本高、容量小、但读写速度快,可靠性高,擦写次数可高达100000次,比MLC高10倍。而MLC虽容量大、成本低,但其性能大幅落后于SLC。为了保证MLC的寿命,控制芯片还要有智能磨损平衡技术算法,使每个存储单元的写入次数可以平均分摊,以达到100万小时的平均无故障时间。因此固态硬盘有许多SMART参数是机械硬盘所没有的,如存储单元的擦写次数、备用块统计等等,这些新增项大都由厂家自定义,有些尚无详细的解释,有些解释也未必准确,此处也只是仅供参考。下面凡未注明厂商的固态硬盘特有的项均为SandForce主控芯片特有的,其它厂商各自单独注明。

01(001)底层数据读取错误率 Raw Read Error Rate

数据为0或任意值,当前值应远大于与临界值。

底层数据读取错误率是磁头从磁盘表面读取数据时出现的错误,对某些硬盘来说,大于0的数据表明磁盘表面或者读写磁头发生问题,如介质损伤、磁头污染、磁头共振等等。不过对希捷硬盘来说,许多硬盘的这一项会有很大的数据量,这不代表有任何问题,主要是看当前值下降的程度。

在固态硬盘中,此项的数据值包含了可校正的错误与不可校正的RAISE错误(UECC+URAISE)。

注:RAISE(Redundant Array of Independent Silicon Elements)意为独立硅元素冗余阵列,是固态硬盘特有的一种冗余恢复技术,保证内部有类似RAID阵列的数据安全性。

02(002)磁盘读写通量性能 Throughput Performance

此参数表示硬盘的读写通量性能,数据值越大越好。当前值如果偏低或趋近临界值,表示硬盘存在严重的问题,但现在的硬盘通常显示数据值为0或根本不显示此项,一般在进行了人工脱机SMART测试后才会有数据量。

03(003)主轴起旋时间 Spin Up Time

主轴起旋时间就是主轴电机从启动至达到额定转速所用的时间,数据值直接显示时间,单位为毫秒或者秒,因此数据值越小越好。不过对于正常硬盘来说,这一项仅仅是一个参考值,硬盘每次的启动时间都不相同,某次启动的稍慢些也不表示就有问题。

硬盘的主轴电机从启动至达到额定转速大致需要4秒~15秒左右,过长的启动时间说明电机驱动电路或者轴承机构有问题。旦这一参数的数据值在某些型号的硬盘上总是为0,这就要看当前值和最差值来判断了。

对于固态硬盘来说,所有的数据都是保存在半导体集成电路中,没有主轴电机,所以这项没有意义,数据固定为0,当前值固定为100。

04(004)启停计数 Start/Stop Count

这一参数的数据是累计值,表示硬盘主轴电机启动/停止的次数,新硬盘通常只有几次,以后会逐渐增加。系统的某些功能如空闲时关闭硬盘等会使硬盘启动/停止的次数大为增加,在排除定时功能的影响下,过高的启动/停止次数(远大于通电次数0C)暗示硬盘电机及其驱动电路可能有问题。

这个参数的当前值是依据某种公式计算的结果,例如对希捷某硬盘来说临界值为20,当前值是通过公式“100-(启停计数/1024)”计算得出的。若新硬盘的启停计数为0,当前值为100-(0/1024)=100,随着启停次数的增加,该值不断下降,当启停次数达到81920次时,当前值为100-(81920/1024)=20,已达到临界值,表示从启停次数来看,该硬盘已达设计寿命,当然这只是个寿命参考值,并不具有确定的指标性。

这一项对于固态硬盘同样没有意义,数据固定为0,当前值固定为100。

05(005)重映射扇区计数 Reallocated Sectors Count/ 退役块计

数 Retired Block Count

数据应为0,当前值应远大于临界值。

当硬盘的某扇区持续出现读/写/校验错误时,硬盘固件程序会将这个扇区的物理地址加入缺陷表(G-list),将该地址重新定向到预先保留的备用扇区并将其中的数据一并转移,这就称为重映射。执行重映射操作后的硬盘在Windows常规检测中是无法发现不良扇区的,因其地址已被指向备用扇区,这等于屏蔽了不良扇区。

这项参数的数据值直接表示已经被重映射扇区的数量,当前值则随着数据值的增加而持续下降。当发现此项的数据值不为零时,要密切注意其发展趋势,若能长期保持稳定,则硬盘还可以正常运行;若数据值不断上升,说明不良扇区不断增加,硬盘已处于不稳定状态,应当考虑更换了。如果当前值接近或已到达临界值(此时的数据值并不一定很大,因为不同硬盘保留的备用扇区数并不相同),表示缺陷表已满或备用扇区已用尽,已经失去了重映射功能,再出现不良扇区就会显现出来并直接导致数据丢失。

这一项不仅是硬盘的寿命关键参数,而且重映射扇区的数量也直接影响硬盘的性能,例如某些硬盘会出现数据量很大,但当前值下降不明显的情况,这种硬盘尽管还可正常运行,但也不宜继续使用。因为备用扇区都是位于磁盘尾部(靠近盘片轴心处),大量的使用备用扇区会使寻道时间增加,硬盘性能明显下降。

这个参数在机械硬盘上是非常敏感的,而对于固态硬盘来说同样具有重要意义。闪存的寿命是正态分布的,例如说MLC能写入一万次以上,实际上说的是写入一万次之前不会发生“批量损坏”,但某些单元可能写入几十次就损坏了。换言之,机械硬盘的盘片不会因读写而损坏,出现不良扇区大多与工艺质量相关,而闪存的读写次数则是有限的,因而损坏是正常的。所以固态硬盘在制造时也保留了一定的空间,当某个存储单元出现问题后即把损坏的部分隔离,用好的部分来顶替。这一替换方法和机械硬盘的扇区重映射是一个道理,只不过机械硬盘正常时极少有重映射操作,而对于固态硬盘是经常性的。

在固态硬盘中这一项的数据会随着使用而不断增长,只要增长的速度保持稳定就可以。通常情况下,数据值=100-(100×被替换块/必需块总数),因此也可以估算出硬盘的剩余寿命。

Intel固态硬盘型号的第十二个字母表示了两种规格,该字母为1表示第一代的50纳米技术的SSD,为2表示第二代的34纳米技术的SSD,如SSDSA2M160G2GN就表示是34nm 的SSD。所以参数的查看也有两种情况:

50nm的SSD(一代)要看当前值。这个值初始是100,当出现替换块的时候这个值并不会立即变化,一直到已替换四个块时这个值变为1,之后每增加四个块当前值就+1。也就是100对应0~3个块,1对应4~7个块,2对应8~11个块……

34nm的SSD(二代)直接查看数据值,数据值直接表示有多少个被替换的块。

06(006)读取通道余量 Read Channel Margin

这一项功能不明,现在的硬盘也不显示这一项。

07(007)寻道错误率 Seek Error Rate

数据应为0,当前值应远大于与临界值。

这一项表示磁头寻道时的错误率,有众多因素可导致寻道错误率上升,如磁头组件的机械系统、伺服电路有局部问题,盘片表面介质不良,硬盘温度过高等等。

通常此项的数据应为0,但对希捷硬盘来说,即使是新硬盘,这一项也可能有很大的数据量,这不代表有任何问题,还是要看当前值是否下降。

08(008)寻道性能 Seek Time Performance

此项表示硬盘寻道操作的平均性能(寻道速度),通常与前一项(寻道错误率)相关联。当前值持续下降标志着磁头组件、寻道电机或伺服电路出现问题,但现在许多硬盘并不显示这一项。

09(009)通电时间累计 Power-On Time Count (POH)

这个参数的含义一目了然,表示硬盘通电的时间,数据值直接累计了设备通电的时长,新硬盘当然应该接近0,但不同硬盘的计数单位有所不同,有以小时计数的,也有以分、秒甚至30秒为单位的,这由磁盘制造商来定义。

这一参数的临界值通常为0,当前值随着硬盘通电时间增加会逐渐下降,接近临界值表明硬盘已接近预计的设计寿命,当然这并不表明硬盘将出现故障或立即报废。参考磁盘制造商给出的该型号硬盘的MTBF(平均无故障时间)值,可以大致估计剩余寿命或故障概率。

对于固态硬盘,要注意“设备优先电源管理功能(device initiated power management,DIPM)”会影响这个统计:如果启用了DIPM,持续通电计数里就不包括睡眠时间;如果关闭了DIPM功能,那么活动、空闲和睡眠三种状态的时间都会被统计在内。

0A(010)主轴起旋重试次数 Spin up Retry Count

数据应为0,当前值应大于临界值。

主轴起旋重试次数的数据值就是主轴电机尝试重新启动的计数,即主轴电机启动后在规定的时间里未能成功达到额定转速而尝试再次启动的次数。数据量的增加表示电机驱动电路或是机械子系统出现问题,整机供电不足也会导致这一问题。

0B(011)磁头校准重试计数 Calibration Retry Count

数据应为0,当前值应远大于与临界值。

硬盘在温度发生变化时,机械部件(特别是盘片)会因热胀冷缩出现形变,因此需要执行磁头校准操作消除误差,有的硬盘还内置了磁头定时校准功能。这一项记录了需要再次校准(通常因上次校准失败)的次数。

这一项的数据量增加,表示电机驱动电路或是机械子系统出现问题,但有些型号的新硬盘也有一定的数据量,并不表示有问题,还要看当前值和最差值。

0C(012)通电周期计数 Power Cycle Count

通电周期计数的数据值表示了硬盘通电/断电的次数,即电源开关次数的累计,新硬盘通常只有几次。

这一项与启停计数(04)是有区别的,一般来说,硬盘通电/断电意味着计算机的开机与关机,所以经历一次开关机数据才会加1;而启停计数(04)表示硬盘主轴电机的启动/停止(硬盘在运行时可能多次启停,如系统进入休眠或被设置为空闲多少时间而关闭)。所以大多情况下这个通电/断电的次数会小于启停计数(04)的次数。

通常,硬盘设计的通电次数都很高,如至少5000次,因此这一计数只是寿命参考值,本身不具指标性。

0D(013)软件读取错误率 Soft Read Error Rate

软件读取错误率也称为可校正的读取误码率,就是报告给操作系统的未经校正的读取错误。数据值越低越好,过高则可能暗示盘片磁介质有问题。

AA(170)坏块增长计数 Grown Failing Block Count(Micron 镁光)

读写失败的块增长的总数。

AB(171)编程失败块计数 Program Fail Block Count

Flash编程失败块的数量。

AC(172)擦写失败块计数 Erase Fail Block Count

擦写失败块的数量。

AD(173)磨损平衡操作次数(平均擦写次数) / Wear Leveling Count(Micron 镁光)

所有好块的平均擦写次数。

Flash芯片有写入次数限制,当使用FAT文件系统时,需要频繁地更新文件分配表。如果闪存的某些区域读写过于频繁,就会比其它区域磨损的更快,这将明显缩短整个硬盘的寿命(即便其它区域的擦写次数还远小于最大限制)。所以,如果让整个区域具有均匀的写入量,就可明显延长芯片寿命,这称为磨损均衡措施。

AE(174)意外失电计数 Unexpected Power Loss Count

硬盘自启用后发生意外断电事件的次数。

B1(177)磨损范围对比值 Wear Range Delta

磨损最重的块与磨损最轻的块的磨损百分比之差。

B4(180)未用的备用块计数 Unused Reserved Block Count Total(惠普)固态硬盘会保留一些容量来准备替换损坏的存储单元,所以可用的预留空间数非常重要。这个参数的当前值表示的是尚未使用的预留的存储单元数量。

B5(181)编程失败计数 Program Fail Count

用4个字节显示已编程失败的次数,与(AB)参数相似。

B5(181)非4KB对齐访问数 Non-4k Aligned Access(Micron 镁光)

B6(182)擦写失败计数 Erase Fail Count

用4个字节显示硬盘自启用后块擦写失败的次数,与(AC)参数相似。

B7(183)串口降速错误计数 SATA Downshift Error Count

这一项表示了SATA接口速率错误下降的次数。通常硬盘与主板之间的兼容问题会导致SATA传输级别降级运行。

B8(184)I/O错误检测与校正 I/O Error Detection and Correction(IOEDC)“I/O错误检测与校正”是惠普公司专有的SMART IV技术的一部分,与其他制造商的I/O 错误检测和校正架构一样,它记录了数据通过驱动器内部高速缓存RAM传输到主机时的奇偶校验错误数量。

B8(184)点到点错误检测计数 End to End Error Detection Count

Intel第二代的34nm固态硬盘有点到点错误检测计数这一项。固态硬盘里有一个LBA (logical block addressing,逻辑块地址)记录,这一项显示了SSD内部逻辑块地址与真实物理地址间映射的出错次数。

B8(184)原始坏块数 Init Bad Block Count(Indilinx芯片)

硬盘出厂时已有的坏块数量。

B9(185)磁头稳定性 Head Stability(西部数据)

意义不明。

BA(186)感应运算振动检测 nduced Op-Vibration Detection(西部数据)意义不明。

BB(187)无法校正的错误 Reported Uncorrectable Errors(希捷)

报告给操作系统的无法通过硬件ECC校正的错误。如果数据值不为零,就应该备份硬盘上的数据了。

报告给操作系统的在所有存取命令中出现的无法校正的RAISE(URAISE)错误。

BC(188)命令超时 Command Timeout

由于硬盘超时导致操作终止的次数。通常数据值应为0,如果远大于零,最有可能出现的是电源供电问题或者数据线氧化致使接触不良,也可能是硬盘出现严重问题。

BD(189)高飞写入 High Fly Writes

磁头飞行高度监视装置可以提高读写的可靠性,这一装置时刻监测磁头的飞行高度是否在正常范围来保证可靠的写入数据。如果磁头的飞行高度出现偏差,写入操作就会停止,然后尝试重新写入或者换一个位置写入。这种持续的监测过程提高了写入数据的可靠性,同时也降低了读取错误率。这一项的数据值就统计了写入时磁头飞行高度出现偏差的次数。

BD(189)出厂坏块计数 Factory Bad Block Count(Micron 镁光芯片)

BE(190)气流温度 Airflow Temperature

这一项表示的是硬盘内部盘片表面的气流温度。在希捷公司的某些硬盘中,当前值=(100-当前温度),因此气流温度越高,当前值就越低,最差值则是当前值曾经到达过的最低点,临界值由制造商定义的最高允许温度来确定,而数据值不具实际意义。许多硬盘也没有这一项参数。

BF(191)冲击错误率 G-sense error rate

这一项的数据值记录了硬盘受到机械冲击导致出错的频度。

C0(192)断电返回计数 Power-Off Retract Count

当计算机关机或意外断电时,硬盘的磁头都要返回停靠区,不能停留在盘片的数据区里。正常关机时电源会给硬盘一个通知,即Standby Immediate,就是说主机要求将缓存数据写入硬盘,然后就准备关机断电了(休眠、待机也是如此);意外断电则表示硬盘在未收到关机通知时就失电,此时磁头会自动复位,迅速离开盘片。

这个参数的数据值累计了磁头返回的次数。但要注意这个参数对某些硬盘来说仅记录意外断电时磁头的返回动作;而某些硬盘记录了所有(包括休眠、待机,但不包括关机时)的磁头返回动作;还有些硬盘这一项没有记录。因此这一参数的数据值在某些硬盘上持续为0或稍大于0,但在另外的硬盘上则会大于通电周期计数(0C)或启停计数(04)的数据。在一些新型节能硬盘中,这一参数的数据量还与硬盘的节能设计相关,可能会远大于通电周期计数(0C)或启停计数(04)的数据,但又远小于磁头加载/卸载计数(C1)的数据量。

对于固态硬盘来说,虽然没有磁头的加载/卸载操作,但这一项的数据量仍然代表了不安全关机,即发生意外断电的次数。

C1(193)磁头加载/卸载计数 Load/Unload Cycle Count

对于过去的硬盘来说,盘片停止旋转时磁头臂停靠于盘片中心轴处的停泊区,磁头与盘片接触,只有当盘片旋转到一定转速时,磁头才开始漂浮于盘片之上并开始向外侧移动至数据区。这使得磁头在硬盘启停时都与盘片发生摩擦,虽然盘片的停泊区不存储数据,但无疑启停一个循环,就使磁头经历两次磨损。所以对以前的硬盘来说,磁头起降(加载/卸载)次数是一项重要的寿命关键参数。

而在现代硬盘中,平时磁头臂是停靠于盘片之外的一个专门设计的停靠架上,远离盘片。只有当盘片旋转达到额定转速后,磁头臂才开始向内(盘片轴心)转动使磁头移至盘片区域(加载),磁头臂向外转动返回至停靠架即卸载。这样就彻底杜绝了硬盘启停时磁头与盘片接触的现象,西部数据公司将其称为“斜坡加载技术”。由于磁头在加载/卸载过程中始终不与盘片接触,不存在磁头的磨损,使得这一参数的重要性已经大大下降。

这个参数的数据值就是磁头执行加载/卸载操作的累计次数。从原理上讲,这个加载/卸载次数应当与硬盘的启停次数相当,但对于笔记本内置硬盘以及台式机新型节能硬盘来说,这一项的数据量会很大。这是因为磁头臂组件设计有一个固定的返回力矩,保证在意外断电时磁头能靠弹簧力自动离开盘片半径范围,迅速返回停靠架。所以要让硬盘运行时磁头保持在盘片的半径之内,就要使磁头臂驱动电机(寻道电机)持续通以电流。而让磁头臂在硬盘空闲几分钟后就立即执行

卸载动作,返回到停靠架上,既有利于节能,又降低了硬盘受外力冲击导致磁头与盘片接触的概率。虽然再次加载会增加一点寻道时间,但毕竟弊大于利,所以在这类硬盘中磁头的加载/卸载次数会远远大于通电周期计数(0C)或启停计数(04)的数据量。不过这种加载/卸载方式已经没有了磁头与盘片的接触,所以设计值也已大大增加,通常笔记本内置硬盘的磁头加载/卸载额定值在30~60万次,而台式机新型节能硬盘的磁头加载/卸载设计值可达一百万次。

C2(194)温度 Temperature

温度的数据值直接表示了硬盘内部的当前温度。硬盘运行时最好不要超过45℃,温度过高虽不会导致数据丢失,但引起的机械变形会导致寻道与读写错误率上升,降低硬盘性能。硬盘的最高允许运行温度可查看硬盘厂商给出的数据,一般不会超过60℃。

不同厂家对温度参数的当前值、最差值和临界值有不同的表示方法:希捷公司某些硬盘的当前值就是实际温度(摄氏)值,最差值则是曾经达到过的最高温度,临界值不具意义;而西部数据公司一些硬盘的最差值是温度上升到某值后的时间函数,每次升温后的持续时间都将导致最差值逐渐下降,当前值则与当前温度成反比,即当前温度越高,当前值越低,随实际温度波动。

C3(195)硬件ECC校正 Hardware ECC Recovered

ECC(Error Correcting Code)的意思是“错误检查和纠正”,这个技术能够容许错误,并可以将错误更正,使读写操作得以持续进行,不致因错误而中断。这一项的数据值记录了磁头在盘片上读写时通过ECC技术校正错误的次数,不过许多硬盘有其制造商特定的数据结构,因此数据量的大小并不能直接说明问题。

C3(195)实时无法校正错误计数 On the fly ECC Uncorrectable Error Count 这一参数记录了无法校正(UECC)的错误数量。

C3(195)编程错误块计数 Program Failure block Count(Indilinx芯片)

C4(196)重映射事件计数 Reallocetion Events Count

数据应为0,当前值应远大于临界值。

这个参数的数据值记录了将重映射扇区的数据转移到备用扇区的尝试次数,是重映射操作的累计值,成功的转移和不成功的转移都会被计数。因此这一参数与重映射扇区计数(05)相似,都是反映硬盘已经存在不良扇区。

C4(196)擦除错误块计数 Erase Failure block Count(Indilinx芯片)

在固态硬盘中,这一参数记录了被重映射的块编程失败的数量。

C5(197)当前待映射扇区计数 Current Pending Sector Count

数据应为0,当前值应远大于临界值。

这个参数的数据表示了“不稳定的”扇区数,即等待被映射的扇区(也称“被挂起的扇区”)数量。如果不稳定的扇区随后被读写成功,该扇区就不再列入等待范围,数据值就会下降。

仅仅读取时出错的扇区并不会导致重映射,只是被列入“等待”,也许以后读取就没有问题,所以只有在写入失败时才会发生重映射。下次对该扇区写入时如果继续出错,就会产生一次重映

射操作,此时重映射扇区计数(05)与重映射事件计数(C4)的数据值增加,此参数的数据值下降。

C5(197)读取错误块计数(不可修复错误)Read Failure block Count(Indilinx 芯片)

C6(198)脱机无法校正的扇区计数 Offline Uncorrectable Sector Count

数据应为0,当前值应远大于临界值。

这个参数的数据累计了读写扇区时发生的无法校正的错误总数。数据值上升表明盘片表面介质或机械子系统出现问题,有些扇区肯定已经不能读取,如果有文件正在使用这些扇区,操作系统会返回读盘错误的信息。下一次写操作时会对该扇区执行重映射。

C6(198)总读取页数 Total Count of Read Sectors(Indilinx芯片)

C7(199)Ultra ATA访问校验错误率 Ultra ATA CRC Error Rate

这个参数的数据值累计了通过接口循环冗余校验(Interface Cyclic Redundancy Check,ICRC)发现的数据线传输错误的次数。如果数据值不为0且持续增长,表示硬盘控制器→数据线→硬盘接口出现错误,劣质的数据线、接口接触不良都可能导致此现象。由于这一项的数据值

不会复零,所以某些新硬盘也会出现一定的数据量,只要更换数据线后数据值不再继续增长,即表示问题已得到解决。

C7(199)总写入页数 Total Count of Write Sectors(Indilinx芯片)

C8(200)写入错误率 Write Error Rate / 多区域错误率 Multi-Zone Error Rate (西部数据)

数据应为0,当前值应远大于临界值。

这个参数的数据累计了向扇区写入数据时出现错误的总数。有的新硬盘也会有一定的数据量,若数据值持续快速升高(当前值偏低),表示盘片、磁头组件可能有问题。

C8(200)总读取指令数 Total Count of Read Command(Indilinx芯片)

C9(201)脱道错误率 Off Track Error Rate / 逻辑读取错误

率 Soft Read Error Rate

数据值累积了读取时脱轨的错误数量,如果数据值不为0,最好备份硬盘上的资料。

C9(201)TA Counter Detected(意义不明)

C9(201)写入指令总数 Total Count of Write Command(Indilinx芯片)

CA(202)数据地址标记错误 Data Address Mark errors

此项的数据值越低越好(或者由制造商定义)。

CA(202)TA Counter Increased(意义不明)

CA(202)剩余寿命 Percentage Of The Rated Lifetime Used(Micron 镁光

芯片)

当前值从100开始下降至0,表示所有块的擦写余量统计。计算方法是以MLC擦写次数除以50,SLC擦写次数除以1000,结果取整数,将其与100的差值作为当前值(MLC预计擦写次数为5000,SLC预计擦写次数为100000)。

CA(202)闪存总错误bit数 Total Count of error bits from flash(Indilinx 芯片)

CB(203)软件ECC错误数 Run Out Cancel

错误检查和纠正(ECC)出错的频度。

CB(203)校正bit错误的总读取页

数 Total Count of Read Sectors with correct bits error(Indilinx芯片)

CC(204)软件ECC校正 Soft ECC Correction

通过软件ECC纠正错误的计数。

CC(204)坏块满标志 Bad Block Full Flag(Indilinx芯片)

CD(205)热骚动错误率 Thermal Asperity Rate (TAR)

由超温导致的错误。数据值应为0。

CD(205)最大可编程/擦除次数 Max P/E Count(Indilinx芯片)

CE(206)磁头飞行高度 Flying Height

磁头距离盘片表面的垂直距离。高度过低则增加了磁头与盘片接触导致损坏的可能性;高度偏高则增大了读写错误率。不过准确地说,硬盘中并没有任何装置可以直接测出磁头的飞行高度,制造商也只是根据磁头读取的信号强度来推算磁头飞行高度。

CE(206)底层数据写入出错率 Write Error Rate

CE(206)最小擦写次数 Erase Count Min(Indilinx芯片)

CF(207)主轴过电流 Spin High Current

数据值记录了主轴电机运行时出现浪涌电流的次数,数据量的增加意味着轴承或电机可能有问题。

CF(207)最大擦写次数 Erase Count Max(Indilinx芯片)

D0(208)主轴电机重启次数 Spin Buzz

数据值记录了主轴电机反复尝试启动的次数,这通常是由于电源供电不足引起的。

D0(208)平均擦写次数Erase Count Average(Indilinx芯片)

D1(209)脱机寻道性能 Offline Seek Performance

这一项表示驱动器在脱机状态下的寻道性能,通常用于工厂内部测试。

D1(209)剩余寿命百分比 Remaining Life %(Indilinx芯片)

D2(210)斜坡加载值 Ramp Load Value

这一项仅见于几年前迈拓制造的部分硬盘。通常数据值为0,意义不明。

D2(210)坏块管理错误日志 BBM Error Log(Indilinx芯片)

D3(211)写入时振动 Vibration During Write

写入数据时受到受到外部振动的记录。

D3(211)SATA主机接口CRC写入错误计数 SATA Error Count CRC (Write)(Indilinx芯片)

D4(212)写入时冲击 Shock During Write

写入数据时受到受到外部机械冲击的记录。

D4(212)SATA主机接口读取错误计数 SATA Error Count Count CRC (Read)(Indilinx芯片)

DC(220)盘片偏移量 Disk Shift

硬盘中的盘片相对主轴的偏移量(通常是受外力冲击或温度变化所致),单位未知,数据值越小越好。

DD(221)冲击错误率 G-sense error rate

与(BF)相同,数据值记录了硬盘受到外部机械冲击或振动导致出错的频度。

DE(222)磁头寻道时间累计 Loaded Hours

磁头臂组件运行的小时数,即寻道电机运行时间累计。

DF(223)磁头加载/卸载重试计数 Load/Unload Retry Count

这一项与(C1)项类似,数据值累积了磁头尝试重新加载/卸载的次数。

E0(224)磁头阻力 Load Friction

磁头工作时受到的机械部件的阻力。

E1(225)主机写入数据量 Host Writes

由于闪存的擦写次数是有限的,所以这项是固态硬盘特有的统计。Intel的SSD是每当向硬盘写入了65536个扇区,这一项的数据就+1。如果用HDTune等软件查看SMART时可以自己计算,Intel SSD Toolbox已经为你算好了,直接就显示了曾向SSD中写入过的数据量。

E2(226)磁头加载时间累计 Load 'In'-time

磁头组件运行时间的累积数,即磁头臂不在停靠区的时间,与(DE)项相似。

E3(227)扭矩放大计数 Torque Amplification Count

主轴电机试图提高扭矩来补偿盘片转速变化的次数。当主轴轴承存在问题时,主轴电机会尝试增加驱动力使盘片稳定旋转。这个参数的当前值下降,说明硬盘的机械子系统出现了严重的问题。

E4(228)断电返回计数 Power-Off Retract Cycle

数据值累计了磁头因设备意外断电而自动返回的次数,与(C0)项相似。

E6(230)GMR磁头振幅 GMR Head Amplitude

磁头“抖动”,即正向/反向往复运动的距离。

E7(231)温度 Temperature

温度的数据值直接表示了硬盘内部的当前温度,与(C2)项相同。

E7(231)剩余寿命 SSD Life Left

剩余寿命是基于P/E周期与可用的备用块作出的预测。新硬盘为100;10表示PE周期已到设计值,但尚有足够的保留块;0表示保留块不足,硬盘将处于只读方式以便备份数据。

E8(232)寿命余量 Endurance Remaining

寿命余量是指硬盘已擦写次数与设计最大可擦写次数的百分比,与(CA)项相似。

E8(232)预留空间剩余量 Available Reserved Space(Intel芯片)

对于Intel的SSD来说,前边05项提到会保留一些容量来准备替换损坏的存储单元,所以可用的预留空间数非常重要。当保留的空间用尽,再出现损坏的单元就将出现数据丢失,这个SSD的寿命就结束了。所以仅看05项意义并不大,这一项才最重要。这项参数可以看当前值,新的SSD里所有的预留空间都在,所以是100。随着预留空间的消耗,当前值将不断下降,减小到接近临界值(一般是10)时,就说明只剩下10%的预留空间了,SSD的寿命将要结束。这个与(B4)项相似。

E9(233)通电时间累计 Power-On Hours

对于普通硬盘来说,这一项与(09)相同。

E9(233)介质磨耗指数 Media Wareout Indicator(Intel芯片)

由于固态硬盘的擦写次数是有限的,当到达一定次数的时候,就会出现大量的单元同时损坏,这时候预留空间也顶不住了,所以这项参数实际上表示的是硬盘设计寿命。Intel的SSD要看当前值,随着NAND的平均擦写次数从0增长到最大的设计值,这一参数的当前值从开始的100逐渐下降至1为止。这表示SSD的设计寿命已经终结。当然到达设计寿命也不一定意味着SSD 就立即报废,这与闪存芯片的品质有着很大的关系。

注:Total Erase Count全擦写计数是指固态硬盘中所有块的擦写次数的总和,不同规格的NAND芯片以及不同容量的SSD,其最大全擦写次数均有所不同。

F0(240)磁头飞行时间 Head Flying Hours / 传输错误率 Transfer Error Rate (富士通)

磁头位于工作位置的时间。

富士通硬盘表示在数据传输时连接被重置的次数。

F1(241)LBA写入总数 Total LBAs Written

LBA写入数的累计。

F1(241)写入剩余寿命 Lifetime Writes from Host

自硬盘启用后主机向硬盘写入的数据总量,以4个字节表示,每写入64GB字节作为一个单位。

F2(242)LBA读取总数 Total LBAs Read

LBA读取数的累计。某些SMART读取工具会显示负的数据值,是因为采用了48位LBA,而不是32位LBA。

F2(242)读取剩余寿命 Lifetime Reads from Host

自硬盘启用后主机从硬盘读取的数据总量,以4个字节表示,每读取64GB字节作为一个单位。

FA(250)读取错误重试率 Read Error Retry Rate

从磁盘上读取时出错的次数。

FE(254)自由坠落保护 Free Fall Protection

现在有些笔记本硬盘具有自由坠落保护功能,当硬盘内置的加速度探测装置检测到硬盘位移时,会立即停止读写操作,将磁头臂复位。这个措施防止了磁头与盘片之间发生摩擦撞击,提高了硬盘的抗震性能。这个参数的数据里记录了这一保护装置动作的次数。

硬盘常见故障的原因

硬盘常见故障的原因 硬盘常见故障的原因: 1、硬盘的连接或设置错误 硬盘的数据线或电源线和硬盘接口接触不良,造成硬盘无法正常工件、在同一要数据线上连接两个硬盘,而硬盘的跳线没有正确设置,造成bios无法正确识别硬盘。 2、硬盘供电问题 硬盘的供电电路如果出现了问题,会直接导致硬盘不能正常工作。造成硬盘不通电、硬盘检测不到、盘片不转、磁头不寻道等故障。供电电路常出问题的部位是:插座的接线柱、滤波电容、二极管、三级管、场效应管、电感、保险电阻等。 3、接口电路故障 接口是硬盘与电脑之间传输数据的通道,接口电路出现故障有可能会导致检测不到硬盘、乱码、参数误认等现象。接口电路容易出现故障的部位是接口芯片与之匹配的晶振损坏、接口插针断裂、接口排阻损坏。 4、磁头芯片故障 芯片出现问题可能会出现磁头不能正确寻道、数据不能写入盘片、不能识别硬盘、有异响等故障现象。 5、电机驱动芯片故障 用于驱动硬盘主轴电机和音圈电机。现在的硬盘由于转速太

高导致芯片的发热量大而损坏。据不完全统计,70%左右的硬盘电路故障是由芯片损坏引起的。 6、硬盘坏道 硬盘由于经常非法关机或使用不当造成坏道,导致电脑系统文件损坏或丢失,电脑无法启动或死机。 7、硬盘引导区损坏 由于感染了引导型病毒,硬盘的引导区被修改,导致电脑无法正常读取硬盘,此故障通常提示lnvalid partiton tabel信息。 8、硬盘被逻辑锁锁住 由于被“黑客”攻击,电脑的硬盘被逻辑锁锁住,导致硬盘无法正常启动。 9、分区表丢失 由于病毒破坏造成硬盘分区表损坏或丢失,将导致系统无法启动。 10、其它部件损坏 包括主轴电机、磁头、音圈电机、定位卡子等损坏,将导致硬盘无法正常工作。 硬盘常见故障的

硬盘可能出现的故障大全

硬盘故障大全 硬盘故障大全 2.BIOS设置中硬盘模式的含义 3.Fdisk无法读取硬盘分区 4.Windows XP挂起到硬盘后的异常故障解决 5.报废硬盘维修实录 6.常见硬盘自举失败的分析 7.从死神手中抢回宝贵的硬盘数据 8.低格能否消除硬盘坏道 9.故障硬盘数据拯救全攻略 10.打开硬盘分区出错 11.解决多硬盘盘符混乱问题 12.解决硬盘坏磁道问题 13.硬盘引导型故障分析及排除 14.解开硬盘逻辑死锁的一种有效方法 15.开机启动时的硬盘故障分析及排除 16.利用DM软件使硬盘再生 17.令维修人员大跌眼镜的硬盘故障 18.启动时硬盘的停顿如何解决? 19.浅谈IDE硬盘常见故障与维护 20.巧用Ghost擦去硬盘坏扇区 21.巧装大硬盘上XP 22.如何维修硬盘坏道 23.什么样的“坏硬盘”可修复 24.谈谈硬盘出现物理坏道的迹象及修复技巧 25.挽救被损硬盘一例 26.挽救硬盘的几个方法 27.我的硬盘会打盹 28.小跳线解决硬盘容量限制 29.一次硬盘数据恢复的经验 30.一分钟教你辨别返修硬盘 31.移动硬盘故障的5种可能 32.硬盘保护卡安全漏洞及解决办法 33.硬盘编号一点通 34.硬盘不能分区的困惑、管路敷设技术通过管线敷设技术不仅可以解决吊顶层配置不规范高中资料试卷问题,而且可保障各类管路习题到位。在管路敷设过程中,要加强看护关于管路高中资料试卷连接管口处理高中资料试卷弯扁度固定盒位置保护层防腐跨接地线弯曲半径标高等,要求技术交底。管线敷设技术中包含线槽、管架等多项方式,为解决高中语文电气课件中管壁薄、接口不严等问题,合理利用管线敷设技术。线缆敷设原则:在分线盒处,当不同电压回路交叉时,应采用金属隔板进行隔开处理;同一线槽内,强电回路须同时切断习题电源,线缆敷设完毕,要进行检查和检测处理。、电气课件中调试对全部高中资料试卷电气设备,在安装过程中以及安装结束后进行高中资料试卷调整试验;通电检查所有设备高中资料试卷相互作用与相互关系,根据生产工艺高中资料试卷要求,对电气设备进行空载与带负荷下高中资料试卷调控试验;对设备进行调整使其在正常工况下与过度工作下都可以正常工作;对于继电保护进行整核对定值,审核与校对图纸,编写复杂设备与装置高中资料试卷调试方案,编写重要设备高中资料试卷试验方案以及系统启动方案;对整套启动过程中高中资料试卷电气设备进行调试工作并且进行过关运行高中资料试卷技术指导。对于调试过程中高中资料试卷技术问题,作为调试人员,需要在事前掌握图纸资料、设备制造厂家出具高中资料试卷试验报告与相关技术资料,并且了解现场设备高中资料试卷布置情况与有关高中资料试卷电气系统接线等情况,然后根据规范与规程规定,制定设备调试高中资料试卷方案。、电气设备调试高中资料试卷技术电力保护装置调试技术,电力保护高中资料试卷配置技术是指机组在进行继电保护高中资料试卷总体配置时,需要在最大限度内来确保机组高中资料试卷安全,并且尽可能地缩小故障高中资料试卷破坏范围,或者对某些异常高中资料试卷工况进行自动处理,尤其要避免错误高中资料试卷保护装置动作,并且拒绝动作,来避免不必要高中资料试卷突然停机。因此,电力高中资料试卷保护装置调试技术,要求电力保护装置做到准确灵活。对于差动保护装置高中资料试卷调试技术是指发电机一变压器组在发生内部故障时,需要进行外部电源高中资料试卷切除从而采用高中资料试卷主要保护装置。

硬盘常见故障排除实例50个

硬盘常见故障排除实例 1.开机时硬盘无法工作 故障现象 开机时硬盘无法自举,系统不认硬盘。 分析处理 这种故障往往是最令人感到可怕的。产生这种故障的主要原因是硬盘主引导扇区数据被破坏,表现为硬盘主引导标志或分区标志丢失。这种故障的罪魁祸首往往是病毒,它将错误的数据覆盖到了主引导扇区中。市面上一些常见的杀毒软件都提供了修复硬盘的功能,大家不妨一试。但若手边无此类工具盘,则可尝试将全0数据写入主引导扇区,然后重新分区和格式化,其方法如下:用一张干净的DOS启动盘启动计算机,进入A:\>后,输入以下命令(括号内为注释): A:\>DEBUG(进入DEBUG程序) -F1003FF0(将数据区的内容清为0) -A400(增加下面的命令) MOVAX,0301 MOVBX,0100 MOVCX,0001 MOVDX,0080 INT13 INT03 -G=400(执行对磁盘进行操作的命令) -Q(退DEBUG程序) 用这种方法一般能使你的硬盘复活,但由于要重新分区和格式化,里面的数据可就难保了。以上是硬盘在日常使用中的一些常见故障及解决方法,希望能对大家有所启发。如果硬盘的故障相当严重并不能用上述的一些方法处理时,则很可能是机械故障。由于硬盘的结构相当复杂,所以不建议用户自己拆卸,而应求助于专业人员予以维修。 2.SATA硬盘提示“写入缓存失败” 故障现象 最近朋友送我一块120GB的希捷SATA硬盘,我挂在自己的机器上当从盘使用。但是碰到一个问题,这块硬盘开机时可以正常读取,过一段时间之后(20分钟左右)就提示“写入缓存失败”,然后就无法读取了;不过,重启计算机又可以继续使用,过一会又重复上述现象。 分析处理 SATA硬盘是不分“主/从盘”的,你可以在BIOS中指定从哪块硬盘启动。你说的故障有两种可能,一种是硬盘数据线接触不良;另一种则是SATA硬盘本身可能出现了问题。对于前者,通常是由于SATA插槽与插头松动所致,可以想办法加固一下(如使用橡皮盘捆起来或小纸片垫一下),看问题能否解决。对于后者而言,可能是硬盘本身过热,或芯片故障所致,硬盘本身过热的话,可以想办法安装硬盘散热器。或是芯片有问题,只能送修了。

常见硬盘故障英文提示信息

硬盘常见英文提示 网上对硬盘错误的英文提示有很多的资料,我只是列出一些常见的硬盘故障的提示,主要针对喜欢折腾电脑的又是新手的朋友,高手绕道啊,呵呵。下面绝大部分是我遇见过的硬盘故障。 1、Date error(数据错误): 从软盘或硬盘上读取数据不存在不可修复错误,磁盘上有坏扇区或坏的文件分配表。 2、Hard disk configuration error(硬盘配置错误): 硬盘配置不正错,跳线不对,硬盘参数设置不正确等。 3、Hard disk controller failure(硬盘控制器失效): 控制器卡(多功能卡)松动,连线不对,硬盘配置不正确,跳线不对,硬盘参数设置不正确等。 4、Hard disk failure(硬盘失效故障): 控制器卡(多功能卡)故障,硬盘配置不正确,跳线不对,硬盘物理故障。 5、Hard disk drive read failure(硬盘驱动器读取失效): 控制器卡(多功能卡)松动,硬盘配置不正确,硬盘参数设置不正确,硬盘记录数据被破坏等。 6、No boot device available(无引导设备): 系统找不到为引导设备的软盘或硬盘。 7、No boot sector on hard disk drive (硬盘上无引导扇区): 硬盘上引导扇区丢失,感染了病毒或配置参数不正确。 8、Non system disk or disk error(非系统盘或磁盘错误): 作为引导的磁盘不是系统盘,不含有系统引导和核心文件,或磁盘片本身故障。 9、Sector not found (扇区未找到): 系统在软盘和硬盘上不能定位给定扇区 10、seek error(搜索错误): 系统在软盘和硬盘上不能定位给定扇区,磁道或磁头。 11、Reset failed(硬盘复位失败): 硬盘或硬盘接口的电路故障。 12、Fatal error Rad Hard Disk(硬盘致命错误): 硬盘或硬盘接口故障

硬盘常见故障的分析及处理

硬盘常见故障的分析及处理 [摘要] 本文主要对工作中常见的硬盘故障进行了分析,并提出了解决的方法. [关键词] 硬盘无法启动运行缓慢数据丢失 随着广播电视的数字化飞速发展,国内地市级以上的电视台大多都在使用高效、快捷的基于计算机技术的非线性编辑系统和播出系统。比如阿拉善电视台为制作中心引进非线性编辑系统和为播控中心引进的数字化播控系统已近六年了,这些设备的引进确实使节目制作人员和播出人员的工作效率得到了提高和工作质量得到了大幅提升。而非线性编辑系统和播出系统在使用的过程中经常会出现一些问题,使正常的工作受到影响,而发生故障次数较多和对工作影响最大的就是硬盘的故障,所以了解硬盘常见故障的发生及解决方法便成了工作人员和维护人员迫切的事情。 由硬盘引发故障而造成的现象主要有系统无法正常启动,系统运行缓慢,频繁死机或数据丢失。下面就这些常见故障一一分析。 系统无法正常启动 我们在工作中经常会遇到由于硬盘发生故障而导致系统无法正常启动的现象,这通常有硬盘的软、硬件方面的原因: 一、硬件故障及其排除方法 1、硬件接触不良:硬盘接口松动导致接触不良,一般只需重新拔插接口即可排除故障。 2、硬盘电缆损坏:硬盘线是指连接硬盘接口和硬盘盘体的电缆线多次插拔后有可能引起信号线断裂。此时需要更换硬盘电缆线。 3、硬盘盘体或电路损坏:如果出现CMOS设置中找不到硬盘,硬盘不能低级格式化,低级格式化时坏道增多等情况,多数因为硬盘体或电路损坏,因考虑更换硬盘。 二、软件故障及其排除方法 1、CMOS参数丢失:硬盘参数存储在CMOS中,可以通过CMOS设置程序查询或修改。不同类型与容量的硬盘对应着不同的参数,这些参数一旦丢失或发生错误,就会导致硬盘不能启动。可通过硬盘参数自动检测功能恢复正确的硬盘参数。 2、硬盘操作系统瘫痪:从硬盘启动操作系统的条件是活动分区的逻辑盘中必须装有完整的操作系统。当操作系统出现故障时,可用与硬盘相同的操作系统软盘从A驱引导,并执行“SYS C:”命令进行修复。 3、硬盘主引导扇区损坏:硬盘主引导扇区位于硬盘的0磁道0柱面1扇区,共512个字节。其内容是在执行Fdisk程序对硬盘分区时产生的。它主要由硬盘主引导记录MBR(Main Boot Record)、硬盘分区表DPT(Disk Partition Table)和分区结束标志组成。主引导记录占用了446个字节(偏移0----偏移1BDH);硬盘分区表是以80H或00H为开始标志,以55AAH为结束标志,共占用64个字节(偏移1BEH ------偏移1FDH),最后两个字节“55AA”(偏移1FEH----偏移1FFH)是分区的有效结束标志。 硬盘主引导记录MBR包含了硬盘的一系列参数和一段引导程序,其中硬盘引导程序的主要作用是检查分区表是否正确并且在系统硬件完成自检以后引导具有激活标志的分区上的操作系统,并将控制权交给启动程序。因此,如果硬

硬盘的常见错误提示及解决方法

硬盘的常见错误提示及解决方法 收集者:小路发布于:https://www.doczj.com/doc/8f2145344.html, 发布时间:2008-4-11 12:59:28 发布人:小路 减小字体增大字体 一、显示:“c:drive failure run setup utility,press(f1)to resume” 此类故障是硬盘参数设置不正确所以从软盘引导硬盘可用,只要重新设置硬盘参数即可。二、显示:“no rom basic,system halted” 病因分析:造成该故障的原因一般是引导程序损坏或被病毒感染,或是分区表中无自举标志,或是结束标志55aah被改写。 治疗方法:从软盘启动,执行命令“fdisk/mbr"即可。fdisk中包含有主引导程序代码和结束标志55aah,用上述命令可使fdisk中正确的主引导程序和结束标志覆盖硬盘上的主引导程序,这一招对于修复主引导程序和结束标志55aah损坏既快又灵。对于分区表中无自举标志的故障,可用ndd迅速恢复。 三、显示“error loading operating system”或“missing operating system” 病因分析:造成该故障的原因一般是dos引导记录出现错误。dos引导记录位于逻辑0扇区,是由高级格式化命令format生成的。主引导程序在检查分区表正确之后,根据分区表中指出的dos分区的起始地址,读dos引导记录,若连续读五次都失败,则给出“error loading opear ting system”的错误提示,若能正确读出dos引导记录,主引导程序则会将dos引导记录送入内存0:7c00h处,然后检查dos引导记录的最后两个字节是否为55aah,若不是这两个字节,则给出“missing operation system”的提示。 治疗方法:一般情况下用ndd修复即可。若不成功,只好用format c:/s命令重写dos引导记录,也许你会认为格式化后c盘数据将丢失,其实不必担心,数据仍然保存在硬盘上,格式化c盘后可用nu8.0中的unformat恢复。如果曾经用dos命令中的mirror或nu8.0中的image 程序给硬盘建立过image镜像文件,硬盘可完全恢复,否则硬盘根目录下的文件全部丢失,根目录下的第一级子目录名被更名为dir0、dir1、 dir2……,但一级子目录下的文件及其下级子目录完好无损,至于根目录下丢失的文件,你可用nu8.0中的unerase再去恢复即可。 四、显示:“invalid drive specification” 治疗方法: 1、重新分区格式化。 2、如0磁道损坏需要低级格式化,然后用set comspec(指定command文件位置),使得com mand远离0磁道。 当硬盘出现分区故障后,希望用户先用上述方法解决,若不成功,对硬盘分区格式化是解决软故障的基本方法,但信息将被清除。 其使用原则是:能用高格解决的不用分区,能用分区解决的不用低级格式化 高级分区技巧 在讲解高级分区技巧之前,我们有必要先来了解一下簇的概念。 文件系统是操作系统的重要组成部分,现在我们常用的windows操作系统都可以支持多种文件系统,例如fat16、fat32以及ntfs文件系统等。文件系统是操作系统与驱动器之间的一个接口,当操作系统请求从硬盘里读取一个文件时,会请求相应的文件系统(fat16、fat32、ntfs)打开文件,而簇的概念也在此时出现。虽然我们知道扇区是磁盘最小的物理存储单元,但对于dos操作系统来说,扇区要小得多(仅仅512个字节),dos无法对数目众多的扇区进行寻址。根据dos的设计初衷,dos只能处理216个磁盘单元,而磁盘单元可以是扇区,也可以是由扇区集合所构成的簇。所以当使用fat16格式时,扇区必须组成“簇”的形式,每个簇可以包括

提示硬盘出错情况及解决办法

硬盘常见的出错提示及解决方法 1、显示: “C:Drive Failure Run Setup Utility,Press(F1)To Resume” 此类故障是硬盘参数设置不正确所以从软盘引导硬盘可用,只要重新设置硬盘参数即可。 2、显示: “No ROM Basic,System Halted” 病因分析:造成该故障的原因一般是引导程序损坏或被病毒感染,或是分区表中 无自举标志,或是结束标志55AAH被改写。 治疗方法:从软盘启动,执行命令“FDISK/MBR\"即可。FDISK中包含有主引导程 序代码和结束标志55AAH,用上述命令可使FDISK中正确的主引导程序和结束标志覆盖硬 盘上的主引导程序,这一招对于修复主引导程序和结束标志55AAH损坏既快又灵。对于 分区表中无自举标志的故障,可用NDD迅速恢复。 标题: 硬盘的常见错误提示及解决方法 硬盘的常见错误提示及解决方法 1、显示: “C:Drive Failure Run Setup Utility,Press(F1)To Resume” 此类故障是硬盘参数设置不正确所以从软盘引导硬盘可用,只要重新设置硬盘参数即可。 2、显示: “No ROM Basic,System Halted” 病因分析:造成该故障的原因一般是引导程序损坏或被病毒感染,或是分区表中 无自举标志,或是结束标志55AAH被改写。 治疗方法:从软盘启动,执行命令“FDISK/MBR\"即可。FDISK中包含有主引导 序代码和结束标志55AAH,用上述命令可使FDISK中正确的主引导程序和结束标志覆盖硬 盘上的主引导程序,这一招对于修复主引导程序和结束标志55AAH损坏既快又灵。对于 分区表中无自举标志的故障,可用NDD迅速恢复。 3、显示: “Error loading operating system”或“Missing operating system” 病因分析:造成该故障的原因一般是DOS引导记录出现错误。DOS引导记录位于逻 辑0扇区,是由高级格式化命令FORMA T生成的。主引导程序在检查分区表正确之后,根 据分区表中指出的DOS分区的起始地址,读DOS引导记录,若连续读五次都失败,则给出“Error loading opearting system”的错误提示,若能正确读出DOS引导记录,主引 导程序则会将DOS引导记录送入内存0:7C00h处,然后检查DOS引导记录的最后两个字节 是否为55AAH,若不是这两个字节,则给出“Missing operation system”的提示。 治疗方法:一般情况下用NDD修复即可。若不成功,只好用FORMA T C:/S命令重写D OS引导记录,也许你会认为格式化后C盘数据将丢失,其实不必担心,数据仍然保存在 硬盘上,格式化C盘后可用NU8.0中的UNFORMA T恢复。如果曾经用DOS命令中的MIRROR 或 NU8.0中的IMAGE程序给硬盘建立过IMAGE镜像文件,硬盘可完全恢复,否则硬盘根目录下的文件全部丢失,根目录下的第一级子目录名被更名为DIR0、DIR1、DIR2......, 但一级子目录下的文件及其下级子目录完好无损,至于根目录下丢失的文件,你可用N U8.0中的UNERASE再去恢复即可。 4、显示: “Invalid Drive Specification” 治疗方法:

常见开机及硬盘引导错误提示

常见开机及硬盘引导错误提示 硬盘引导故障 因以下文件的损失或者丢失,WINDOWS无法启动:\WINDOWS\SYSTEM32\CONFIG\SYSTEM,你可以通过使用原始启动软盘或CD-ROM来启动WINDOWS安装程序,以便修复这个文件,在第一屏时选择R,开始修复。 这种情况,一般是内存或硬盘故障引起,清理内存或更换内存,不能解决就可能是硬盘的问题了,可以MHDD扫描坏道,没有坏道就重装系统解决,但这种故障有可能还会出现。 Non system disk or disk error 作为引导盘的磁盘不是系统盘,不含有系统引导和核心文件,或者硬盘有故障。 reboot and select proper boot device or insert boot media in selected boot device and press a key 重启然后选择启动驱动器或插入可引导的设备再按任意键。意思就是没有启动磁盘,可能愿因是硬盘没接或BIOS未将硬盘加入启动列表。

BOOTMGR is missing 引导错误或丢失,需要进PE修复引导。 NTLRD is missing... 引导错误或丢失,需要进PE修复引导。 Disk error Press any key to restart 硬盘识别错误,进BIOS检查启动顺序或重装系统。 Error loading operating system”或“Missing Operating system” 先检查电脑上有没有插U盘或光驱里有没有光盘,有的话都要取出来,如果排除了上面的情况,那就是系统分区有问题或MBR有问题,重建MBR,然后重装系统。 3rd Master HardDisk: S.M.A.R.T. Status BAD Backup and Replace SMART是对硬盘状态进行监测的一种技术,当硬盘出现故障时,就会提示用户及时备份数据。所以此故障代表硬盘快要坏了。如果不想出现这个提示,可以在BIOS里硬盘详细信息窗口关闭。

最新整理硬盘常见故障判断及处理方法

硬盘常见故障判断及处理方法 可能还有很多网友不太清楚硬盘常见故障判断及 处理方法,那么下面就由学习啦小编来给你们说说硬盘常见故障判断及处理方法吧,希望可以帮到你们哦! 硬盘常见故障判断及处理方法,如下: 一.硬盘故障的分类 硬盘故障分为物理故障和软故障两类,其诊断的依据主要是根据系统上电后的现象及屏幕上出现的提示信息来判断。当硬盘出现故障后,应仔细分析故障现象,判断是属软故障还是物理器件损坏。千万不要盲目拆盖、拔插控制卡或轻易将硬盘进行低级格式化,使问题变得更加复杂化。有时还会由于维护操作不当,不仅没有把故障修复好,反而引起新的故障。 1.硬盘的物理故障 硬盘常见的物理故障现象有如下几种: ①硬盘电路故障主轴电机失速,引起啸叫,伴随有硬盘批示灯不断闪烁,自检时显示出错信息: l d q u o;1701r d q u o;或者 l d q u o;H a r d D i s k E r r o r r d q u o;这说明硬盘控制电路部分有故障。硬盘电路故障在硬盘故障统计中占的比例不大,一般都是暴露在自检过程中,

且故障现象较为单一。读和写控制电路的故障会同时发生,几乎没有只能读(不能写)或只能写(不能读)的现象。 ②硬盘腔体故障机器加电后,硬盘腔体异常响声,自检过程中有明显的l d q u o;哒哒哒r d q u o;的长时间磁 头l d q u o;撞车r d q u o;声,说明硬盘腔体内有机械故障。这大多是磁头步进钢带松动或断裂,故障起因于盘体受到严重撞击或振动。 ③硬盘适配器或接插件故障系统加电自检到硬盘 子系统时,自检不能通过,且硬盘批示灯不亮同时屏幕显示如下一些信息:l d q u o;1701,H a r d D i s k E r r o r r d q u o;或者 l d q u o;H D D C o n t r o l l e r E r r o r r d q u o;该故障现象如果不是硬盘的主引导记录损坏就是硬盘子系统的硬件故障。例如,硬盘适配卡、硬盘驱动器损坏,或者硬盘适配卡与主板Ⅰ/O插槽和与硬盘驱动器之间连接的接 插件和电缆损坏或接触不良。 ④硬盘0柱面损坏硬盘经较长时间自检后,在引 导时显示: l d q u o;D i s k B o o t F a i l u r e T R A C K 0 B A D r d q u o;如果在此后立即死机至使引导失败,可能是磁盘0柱面损坏。其结果是导致硬盘主引导扇区,或者D O S引导扇

常见电脑开机错误提示信息

常见电脑开机错误提示信息 1、开机提示“CMOS battery failed”信息 提示信息的意思是CMOS电池没有电了,更换主板上的锂电池即可。 2、开机提示“CMOS checksum error-Defaults loaded”信息 这种情况发生的大部分原因都是因为电力供应造成的。如超频失败后CMOS放电可出现这种情况。应该立刻保存CMOS设置。如果再次出现这个问题,建议更换锂电池。在更换电池仍无用的情况下,则将主板送修,因为CMOS芯片可能已被损坏。 3、开机提示“Display switch is set incorrectly”信息。 一般来说,老主板上有一个跳线用来设置屏幕为单色或彩色。 出现此信息表示主板上的设置和BIOS设置不一致,所以只要判断主板和BIOS设置哪个是正确的,然后更改错误的设置即可。 4、开机提示“CMOS CRC Error”信息 该故障是由于在开机的POST自动检测过程中发现CMOS RAM校验和CRC错误。 排除该故障的方法如下: 1)重新启动电脑,在显示启动信息后按下Delete键进入BIOS设置,读取BIOS默认设置,设置完毕后按下F10键保存并退出BIOS设置。 2)再次启动电脑,系统正常运行,即排除故障。 提示:一般情况下,该故障并不影响系统的正常运行,重新设置CMOS参数后即可排除故障。

5、开机提示“HARD DISK initializing Please wait a moment”信息 这种信息只会出现在较老的硬盘上,主要是因为其速度较慢。换上速度较快的硬盘即可解决问题。 6、开机提示“Hard disk install”信息 检测任何与硬盘有关的硬件设置,包括电源线、数据线和硬盘的跳线设置。如果是新购买的大容量硬盘,也要检查主板是否支持。 如果上述都没有问题,那很可能是硬件出现问题,IDE口或者硬盘损坏,拿去送修。 7、开机提示“Primary master hard fail” “Primary slave hard fail” “Secondary master hard fail” 或“Secondary slavehard fail”信息 可能是BIOS设置不当,如没有从盘,但在BIOS设置里设为从盘,就会出现此错误。也可能是硬盘的电源线、数据线为接好或者硬盘跳线设置不当。 可进入BIOS设置“IDE HDD Auto Detection”项中对硬盘进行自动检测。 8、开机提示“Hard disk(s)diagno sis fail”信息 出现该信息一般是硬盘本身出现故障,可以把硬盘接到别的电脑上检测。如果问题未解决,则可能是这块硬盘出现严重的物理故障,如零磁道损坏,直接送到厂家维修。 9、开机提示“Flooy disks fail”信息

3.5硬盘常见故障与维修

3.5硬盘常见故障与维修 教学目标: 1.具有根据故障现象定位硬盘故障的能力;具有维修常见硬盘故障的能力 2.了解硬盘结构、类型、性能指标;了解常用数据修复软件易我工具;了解主要维修设备pc3000、效率源等 3.能利用所学知识和经验(灵活性)创造性地解决新问题 教学条件: 场地:计算机维修实训室 工具:Pc3000、万用表、工具箱、工具软件、假负载等 教学内容: 一、硬盘的结构和工作原理 硬盘作为一种磁表面存储器,是在非磁性的合金材料表面涂上一层很薄的磁性材料,通过磁层的磁化来存储信息 目前大部分电脑上安装的硬盘都是采用“温彻斯特(Winchester)”技术制造的,故称之为“温彻斯特硬盘”,简称“温盘”。温彻斯特硬盘有如下技术特点: (1)磁头、盘片及运动机构密封; (2)磁头对盘片呈接触式启动停,工作时呈飞行状态; (3)由于磁头工作时与盘片不接触,所以磁头加载较小; (4)磁盘片表面平整光滑。 硬盘是一个贵重的高度精密的机电一体化产品,由盘片、磁头、盘片转轴及控制电机、磁头控制器、数据转换器、接口和缓存等几个部分构成。 硬盘中所有的盘片都装在一个旋转轴上,每张盘片之间是平行的,在每个盘片的存储面上有一个磁头,磁头与盘片之间的距离比头发丝的直径还小,所有的磁头联在一个磁头控制器上,由磁头控制器负责各个磁头的运动。磁头可沿盘片的半径方向运动,加上盘片每分钟几千转的高速旋转,磁头就可以定位在盘片的指定位置上进行数据的读写操作。硬盘作为精密设备,尘埃是其大敌,必须完全密封。 1.硬盘的外部结构 (1)接口:包括电源插口和数据接口两部分,其中电源插口与主机电源相联,为硬盘工作提供电力保证。数据接口则是硬盘数据和主板控制器之间进行传输交换的纽带,根据联接方式的差异,分为EIDE接口和SCSI接口等。 (2)控制电路板:大多采用贴片式元件焊接,包括主轴调速电路、磁头驱动与伺服定位电路、读写电路、控制与接口电路等。在电路板上还有一块高效的单片机ROM芯片,其固化的软件可以进行硬盘的初始化,执行加电和启动主轴电机,加电初始寻道、定位以及故障检测等。在电路板上还安装有容量不等的高速缓存芯片。 (3)固定盖板:就是硬盘的面板,标注产品的型号、产地、设置数据等,和底板结合成一个密封的整体,保证硬盘盘片和机构的稳定运行。固定盖板和盘体侧面还设有安装孔,以方便安装。 2.硬盘的内部结构 硬盘内部结构由固定面板、控制电路板、盘头组件、接口及附件等几大部分组成,而盘头组件(HardDiskAssembly,HAD)是构成硬盘的核心,封装在硬盘的净化腔体内,包括浮动磁头组件、磁头驱动机构、盘片及主轴驱动机构、前置读写控制电路等。 盘片和主轴组件: (1)浮动磁头组件:由读写磁头、传动手臂、传动轴三部分组成。磁头是硬盘技术最

硬盘常见故障分析与排除

硬盘常见故障分析与排除 在PC电脑中,硬盘出现故障的机率并不大,一块正常使用中的硬盘,如果不受到病毒的严重破坏,使用五、六年是没有任何问题的。但有些时候,由于使用不当,也会出现这样那样的问题,严重时还会将硬盘的电路板烧坏。当然,并不是所有的故障都是由于硬件设备引起的,与其它的配件产品一样,硬盘在出现问题后,我们要按照先软后硬盘的步骤进行排除,彻底找到故障的根源。由于硬盘的特殊性(PC电脑中唯一的存储设备),因此我们平时要做好数据备份的好习惯,一旦硬盘出现毁灭性故障不可修复时,我们的重要数据不至于丢失。 由于系统在启动时,要激活硬盘上的启动区,并加载硬盘的上的数据,因此如果找不到硬盘或硬盘的启动区被破坏,系统是无法正常启动的。因此,硬盘出现故障后,表现相当的直观,我们可以从电脑的提示中,找到问题的所在。 一、开机会出现HARD DISK FAILURE的错误提示。如果有时开机后检测硬盘失败,并出现:“HARD DISK FAILURE”,而有时则能检测通过正常启动,并且在检测失败后有时在BIOS中能用AUTO DETECT重新设置,有时AUTODETECT又找不到硬盘。这重情况一般是由于硬盘的供电不足或是IDE数据线损坏或硬盘上的IDE接口出现问题所导致的,一般表现为硬盘的电源供电接口或数据线接口松动所致,这里请按以下顺序检查:检查硬盘线是否松动;换一根好的硬盘线试试。把硬盘换到其他机器上试试,换一块主板--确认IDE口没问题。也有可能是电源导致的问题,换一个质量好一些的电源。认真检查硬盘的PCB,如果PCB板有烧坏的痕迹,就得请尽快送修。 如果主板检测到了硬盘的话,请先确认一下检测到的硬盘的容量和其他的参数是否和实际的硬盘参数是相同的。若检测到的硬盘容量和实际的不同,说明系统一定出现故障了,这种情况的发生可能是硬盘、主板、甚至是硬盘数据线。可以用替换法加以确认。 总之一旦在自检时出现“HARD DISK FAILURE”之类的提示,请迅速用替换法,确定硬盘是否有故障。如果怀疑硬盘出现物理故障,则需要维修或者更换硬盘。 二、开机会出现Error Loading Operation System的错误提示。这种故障叫做调进操作系统错误,这类故障是在读取分区引导区(BOOT区)出错时提示的。其原因可能一是分区表指示的分区起始物理地址不正确。比如由于误操作而把分区表项的起始扇区号(在第三字节)由1改为0,因而INT 13H读盘失败后,即报此错;二是分区引导扇区所在磁道的磁道标志和扇区ID损坏,找不到指定扇区;三是驱动器读电路故障。 如果出现这类的提示,则证明故障的根本原因出现在故障上,这时我们可以利用低格工具,对硬盘进行重新分区,看看能不能解决问题。另外,如果是硬盘的读电路故障所引起的,那么就只能尽快送修了。 三、BIOS设置和安装问题。如果BIOS里硬盘参数设置不对,自检不会通过,硬盘是无法正常使用的。首先检查BIOS里硬盘参数的设置,一般来说,486以后的计算机都会有自动检测硬盘型号的功能,进入BIOS里,找到IDE HDD AUTO DETECTION一项后,会自动检测到硬盘型号。

十大常见硬盘故障提示

十大常见硬盘故障提示 硬盘最常见的故障就是引导型故障,即硬盘不能启动等。出现引导型故障时,系统会有很多错误提示,我们如果读懂了这些提示,对于解决硬盘问题也是非常有帮助的。 1.错误提示:HDD controller failure 错误解释:硬盘驱动器控制失败。 错误原因:这是启动机器时,由POST程序(BIOS中的自动检测程序)向驱动器发出寻道命令后,驱动器在规定时间内没有完成操作而产生的超时错误。出现这种错误,有可能是你的硬盘已经损坏了。 2.错误提示:HDC controller fail 错误解释:硬盘控制器控制失败。 错误原因:这类故障是硬件故障,POST程序向控制器发出复位命令后,在规定的时间内没有得到控制器的中断响应,可能是控制器损坏或电缆没接好,另外,控制器控制失败与硬盘参数设置是否正确也有关。 4.错误提示:Non-System Disk or Disk Error Replace And Press any key when ready 错误解释:非系统盘或磁盘错误,重新换盘后按任意键。 错误原因:DOS BOOT区中的引导程序执行后发现错误,报此信息。其可能的原因有:硬盘根目录区第一扇区地址出界(在540MB之后)、读盘出错。这类故障大多为软件故障,如果BPB表损坏,即用软盘启动后,硬盘不能正常读写,可以用NDD修复;如果BPB表完好,只需简单SYS C:传送系统就可引导。 5.错误提示:Invalid Partition Table 错误解释:无效的分区表。 错误原因:在找到激活分区后,主引导程序还将判断余下的三个表项的“分区引导标志”字节(首字节)是否均为0,即确认是否只有惟一的激活分区,如果有一个不为0,系统就报错并死机,这在使用一些第三方分区软件作了几个激活分区后很容易出现。 6.错误提示:DRIVE NOT READY ERROR Insert Boot Diskette in A:Press any key when ready 错误解释:设备未准备好,插入引导盘到A 驱,准备好后按任意键。

Windows系统常见错误提示大全

Windows系统常见错误提示大全 CMOS battery failed CMOS电池失效。一般出现这种情况就是说明给主板CMOS供电的电池已经快没电了,需要朋友们及时更换主板电池。 CMOS check sum error-Defaults loaded CMOS执行全部检查时发现错误,要载入系统预设值。一般来说出现这句话有两种解释:一种是说主板CMOS供电电池快要没电了,朋友们可以先换个电池试试看;第二种解释是如果更换电池后问题还是没有解决,那么就说明CMOS RAM可能有问题了,如果主板没过一年的话就可以到经销商处换一块主板,要是过了一年就让经销商送回生产厂家修一下吧! Floppy Disk(s) fail 或Floppy Disk(s) fail(80) 或Floppy Disk(s) fail(40) 无法驱动软盘驱动器。系统提示找不到软驱,首先要看看软驱的电源线和数据线有没有松动或者是接反,最好是是把软驱放到另外一台机子上试一试,如果这些都不行,那么只好再买一个了,好在目前市场中的软驱还不算贵。 Hard disk install failure 硬盘安装失败。这是因为硬盘的电源线或数据线可能未接好或者硬盘跳线设置不当引起的。朋友们可以检查一下硬盘的各根连线是否插好,看看同一根数据线上的两个硬盘的跳线设置是否一样。如果一样,只要将两个硬盘的跳线设置不一样即可(一个设为Master,另一个设为Slave)。 Hard disk(s) diagnosis fail 执行硬盘诊断时发生错误。出现这个问题一般就是硬盘内部本身出现硬件故障了,你可以把硬盘放到另一台机子上试一试,如果问题还是没有解决,只能去修一下了。如果硬盘还在包换期内的话,最好还是赶快去换一块! Hardware Monitor found an error,enter POWER MANAGEMENT SETUP for details,Press F1 to continue,DEL to enter SETUP 监视功能发现错误,进入POWER MANAGEMENT SETUP查看详细资料,或按F1键继续开机程序,按DEL键进入CMOS设置。现在好一些的主板都具备有硬件的监视功能,用户可以设定主板与CPU的温度监视、电压调整器的电压输出准位监视和对各个风扇转速的监视,当上述监视功能在开机时发觉有异常情况,那么便会出现这段话,这时朋友们可以进入CMOS设置选择POWER MANAGEMENT SETUP,在右面的**Fan Monitor**、**Thermal Monitor**和**Voltage Monitor**查看是哪部分监控发出了异常情况,然后再加以解决。 Keyboard error or no keyboard present 键盘错误或者未接键盘。检查一下键盘与主板接口是否接好,如果键盘已经接好,那么就是主板键盘口坏了,主板如尚在包修期内,朋友们可以找经销商或主板厂家进行解决。

硬盘的常见错误提示及解决方法

硬盘的常见错误提示及解决方法 一、显示:“c:drive failure run setup utility,press(f1)to resume” 此类故障是硬盘参数设置不正确所以从软盘引导硬盘可用,只要重新设置硬盘参数即可。 二、显示:“no rom basic,system halted” 病因分析:造成该故障的原因一般是引导程序损坏或被病毒感染,或是分区表中无自举标志,或是结束标志55aah被改写。 治疗方法:从软盘启动,执行命令“fdisk/mbr"即可。fdisk中包含有主引导程序代码和结束标志55aah,用上述命令可使fdisk中正确的主引导程序和结束标志覆盖硬盘上的主引导程序,这一招对于修复主引导程序和结束标志55aah损坏既快又灵。对于分区表中无自举标志的故障,可用ndd迅速恢复。 三、显示“error loading operating system”或“missing operating system” 病因分析:造成该故障的原因一般是dos引导记录出现错误。dos引导记录位于逻辑0扇区,是由高级格式化命令format生成的。主引导程序在检查分区表正确之后,根据分区表中指出的dos分区的起始地址,读dos引导记录,若连续读五次都失败,则给出“error loading opearting system”的错误提示,若能正确读出dos引导记录,主引导程序则会将dos引导记录送入内存0:7c00h处,然后检查dos引导记录的最后两个字节是否为55aah,若不是这两个字节,则给出“missing operation system”的提示。 治疗方法:一般情况下用ndd修复即可。若不成功,只好用format c:/s命令重写dos引导记录,也许你会认为格式化后c盘数据将丢失,其实不必担心,数据仍然保存在硬盘上,格式化c盘后可用nu8.0中的unformat恢复。如果曾经用dos命令中的mirror或nu8.0中的image程序给硬盘建立过image镜像文件,硬盘可完全恢复,否则硬盘根目录下的文件全部丢失,根目录下的第一级子目录名被更名为dir0、dir1、dir2……,但一级子目录下的文件及其下级子目录完好无损,至于根目录下丢失的文件,你可用nu8.0中的unerase再去恢复即可。 四、显示:“invalid drive specification” 治疗方法: 1、重新分区格式化。 2、如0磁道损坏需要低级格式化,然后用set comspec(指定command文件位置),使得command远离0磁道。 当硬盘出现分区故障后,希望用户先用上述方法解决,若不成功,对硬盘分区格式化是解决软故障的基本方法,但信息将被清除。 其使用原则是:能用高格解决的不用分区,能用分区解决的不用低级格式化 高级分区技巧 在讲解高级分区技巧之前,我们有必要先来了解一下簇的概念。 文件系统是操作系统的重要组成部分,现在我们常用的windows操作系统都可以支持多种文件系统,例如fat16、fat32以及ntfs文件系统等。文件系统是操作系统与驱动器之间的一个接口,当操作系统请求从硬盘里读取一个文件时,会请求相应的文件系统(fat16、fat32、ntfs)打开文件,而簇的概念也在此时出现。虽然我们知道扇区是磁盘最小的物理存储单元,但对于dos操作系统来说,扇区要小得多(仅仅512个字节),dos无法对数目众多的扇区进行寻址。根据dos的设计初衷,dos只能处理216个磁盘单元,而磁盘单元可以是扇

ADINA有关常见错误提示信息的解释

Q:为什么在计算过程中提示“error during write”并停止计算? A:当出现这个错误提示时,首先检查一下自己的硬盘空间是否足够。如果硬盘空间足够,就可能是由于结果文件(.por文件)太大引起的。需要在ADINA-AUI 前处理中选择control--->porthole(.por)--->volume,在打开的对话框中把Max. Number of Steps in a Single Porthole设为一个较小的数,此数值大小根据模型大小而定,最小为1。 Q:为什么在物理场耦合计算过程中提示“ input conversion error”并停止计算?A:在计算物理场耦合问题时出现这个错误提示,是由于生成流体模型、热模型或结构模型的dat文件时,没有取消Run Adina这个选项,因此程序自动运行了耦合的两个模型中的一个造成的。 Q:为什么在计算过程中提示“Model may be unstable, ratio of diagonals > 1.E11, please check your input data”? A:出现这个提示时,如果程序并不停止计算则说明模型未必有错误。这个提示一般是由于模型某方向上的刚度远小于其他方向上的刚度造成的,只要程序不停止计算就不是错误。另外还可以通过选择菜单control>miscellaneous options,在打开的窗口中右下角选择上use matrix stabilization这个复选框,可以在一定程度上解决这个问题。 Q:为什么在计算过程中提示“pivot=0”? A:对于线性问题,如果模型中定义了势流体;或者对于非线性问题,如果模型中定义了自动时间步长、单元生死、载荷位移控制、接触和势流体,则出现这个提示并不是错误,模型可以继续计算。 Q:为什么在保存和读入数据库文件时提示“Unable to retrieve Parasolid Part 1”?A:ADINA中不支持中文的路径名或者文件名称,如果使用了中文的路径名或文件名,则将丢失相应的Parasolid几何信息;如果数据库模型中不包括Parasolid 几何信息,则不会出现这个问题。另外一种情况也可能导致相应的问题出现:在模型包含Parasolid几何模型时,如果在数据库文件的移动和拷贝过程中,需要同时对*.idb和*.X_T进行移动和拷贝,否则也将丢失几何信息。如果模型不包含Parasolid几何信息,则所有信息都包括在*.idb文件中。Parasolid几何信息以独立文件形式保存的意义是实现ADINA与CAD软件双向交换数据。

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