电子元器件与信息技术
GB/T17539—1998电子数据交换标准化应用指南
GB/T16679—1996信号与连接线的代号
GB/T2691—1994电阻器和电容器的标志代码
GB/T3482—1983电子设备雷击试验方法
GB/T3483—1983电子设备雷击试验导则
GB/T4210—2001电工术语电子设备用机电元件
GB/T5839—1986电子管和半导体器件额定值制
GB/T7347—1987汉语标准频谱
GB/T7348—1987耳语标准频谱
GB/T9259—1988发射光谱分析名词术语
GB/T11279—1989电子元器件环境试验使用导则
GB/T12636—1990微波介质基片复介电常数带状线测试方法
GB/T14278—1993电子设备热设计术语
GB/T14915—1994电子数据交换术语
GB/T18811—2002电子商务基本术语
GB/T2689.1—1981恒定应力寿命试验和加速寿命试验方法总则
GB/T2689.2—1981寿命试验和加速寿命试验的图估计法(用于威布尔分布)
GB/T2689.3—1981寿命试验和加速寿命试验的简单线性无偏估计法(用于威布尔分布)
GB/T2689.4—1981寿命试验和加速寿命试验的最好线性无偏估计法(用于威布尔分布)
GB/T3187—1994可靠性、维修性术语
GB/T5080.1—1986设备可靠性试验总要求
GB/T5080.2—1986设备可靠性试验试验周期设计导则
GB/T5080.4—1985设备可靠性试验可靠性测定试验的点估计和区间估计方法(指数分布) GB/T5080.5—1985设备可靠性试验成功率的验证试验方案
GB/T5080.6—1996设备可靠性试验恒定失效率假设的有效性检验
GB/T5080.7—1986设备可靠性试验恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试验方案
GB/T5081—1985电子产品现场工作可靠性、有效性和维修性数据收集 指南
GB/T6990—1986电子设备用元器件(或部件)规范中可靠性条款的编写指南
GB/T6993—1986系统和设备研制生产中的可靠性程序
GB/T7288.1—1987设备可靠性试验推荐的试验条件室内便携设备粗模拟
GB/T7288.2—1987设备可靠性试验推荐的试验条件固定使用在有气候防护场所设备精模拟GB/T7289—1987可靠性、维修性与有效性预计报告编写指南
GB/T9382—1988彩色电视广播接收机可靠性验证试验贝叶斯方法
GB/T9414.1—1988设备维修性导则第一部分:维修性导言
GB/T9414.2—1988设备维修性导则第二部分:规范与合同中的维修性 要求
GB/T9414.3—1988设备维修性导则第三部分:维修性大纲
GB/T9414.4—1988设备维修性导则第五部分:设计阶段的维修性研究
GB/T9414.5—1988设备维修性导则第六部分:维修性检验
GB/T9414.6—1988设备维修性导则第七部分:维修性数据的收集、分析与表示
GB/T9414.7—2000设备维修性导则第四部分:诊断测试
GB/T9414.8—2001设备维修性导则第九部分:维修性评价的统计方法
GB/T12992—1991电子设备强迫风冷热特性测试方法
GB/T12993—1991电子设备热性能评定
GB/T14127—1993黑白电视接收机可靠性验证试验贝叶斯方法
GB/T14394—1993计算机软件可靠性和可维护性管理
GB/T15174—1994可靠性增长大纲
GB/T15647—1995稳态可用性验证试验方法
GB4824—2001工业、科学和医疗（ISM）射频设备电磁骚扰特性的测量方法和限值
GB/T6113.1—1995无线电骚扰和抗扰度测量设备规范
GB/T6113.2—1998无线电骚扰和抗扰度测量方法
GB/T7349—2002高压架空送电线、变电站无线电干扰测量方法
GB/T7432—1987同轴电缆载波通信系统抗无线电广播和通信干扰的指标
GB/T7433—1987对称电缆载波通信系统抗无线电广播和通信干扰的指标
GB/T7434—1987架空明线载波通信系统抗无线电广播和通信干扰的指标
GB7495—1987架空电力线路与调幅广播收音台的防护间距
GB9254—1998信息技术设备的无线电骚扰限值和测量方法
GB/T12190—1990高性能屏蔽室屏蔽效能的测量方法
GB14023—2000车辆、机动船和由火花点火发动机驱动的装置的无线电骚扰特性的限值和测量方法
GB/T15152—1994脉冲噪声干扰引起移动通信性能降级的评定方法
GB15540—1995陆地移动通信设备电磁兼容技术要求和测量方法
GB/T16607—1996微波炉在1GHz以上的辐射干扰测量方法
GB/T17618—1998信息技术设备抗扰度限值和测量方法
GB/T17619—1998机动车电子电器组件的电磁辐射抗扰性限值和测量方法
GB/T17624.1—1998电磁兼容综述电磁兼容基本术语和定义的应用与解释
GB17625.1—1998低压电气及电子设备发出的谐波电流限值(设备每相输入电流≤16A)
GB17625.2—1999电磁兼容限值对额定电流不大于16A的设备在低压供电系统中产生的电压波动和闪烁的限制
GB/Z17625.3—2000电磁兼容限值对额定电流大于16A的设备在低压供电系统中产生的电压波动和闪烁的限制
GB/Z17625.4—2000电磁兼容限值中、高压电力系统中畸变负荷发射限值的评估
GB/Z17625.5—2000电磁兼容限值中、高压电力系统中波动负荷发射限值的评估
GB/T17626.1—1998电磁兼容试验和测量技术抗扰度试验总论
GB/T17626.2—1998电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验
GB/T17626.3—1998电磁兼容试验和测量技术射频电磁场辐射抗扰度试验
GB/T17626.4—1998电磁兼容试验和测量技术电快速瞬变脉冲群抗扰度试验
GB/T17626.5—1999电磁兼容试验和测量技术浪涌(冲击)抗扰度试验
GB/T17626.6—1998电磁兼容试验和测量技术
GB/T17626.7—1998电磁兼容试验和测量技术供电系统及所连设备谐波、谐间波的测量和测量仪器导则
GB/T17626.8—1998电磁兼容试验和测量技术工频磁场抗扰度试验
GB/T17626.9—1998电磁兼容试验和测量技术脉冲磁场抗扰度试验
GB/T17626.10—1998电磁兼容试验和测量技术阻尼振荡磁场抗扰度试验
GB/T17626.11—1999电磁兼容试验和测量技术电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验
GB/T17626.12—1998电磁兼容试验和测量技术振荡波抗扰度试验
GB17743—1999电气照明和类似设备的无线电骚扰特性的限值和测量方法
GB/T17799.1—1999电磁兼容通用标准居住、商业和轻工业环境中的抗扰度试验
GB17799.3—2001电磁兼容通用标准居住、商业和轻工业环境中的发射标准
GB17799.4—2001电磁兼容通用标准工业环境中的发射标准
GB/Z18039.1—2000电磁兼容环境电磁环境的分类
GB/Z18039.2—2000电磁兼容环境工业设备电源低频传导骚扰发射水平的评估
GB/Z18509—2001电磁兼容电磁兼容标准起草导则
GB/T18595—2001一般照明用设备电磁兼容抗扰度要求
GB18655—2002用于保护车载接收机的无线电骚扰特性的限值和测量方法
GB/T18732—2002工业、科学和医疗设备限值的确定方法
GB/T7450—1987电子设备雷击保护导则
GB4793.1—1995测量、控制和试验室用电气设备的安全要求第1部分:通用要求
GB4943—2001信息技术设备的安全
GB8898—2001音频、视频及类似电子设备安全要求
GB/T9361—1988计算机场地安全要求
GB9378—1988广播电视演播系统的视音频和脉冲设备安全要求
GB17859—1999计算机信息系统安全保护等级划分准则
GB/T1772—1979电子元器件失效率试验方法
GB/T5076—1985具有两个轴向引出端的圆柱体元件的尺寸测量
GB/T5077—1985电容器和电阻器的最大外形尺寸
GB/T5078—1985单向引出的电容器和电阻器所需空间的测定方法
GB/T11250.1—1989复合金属覆层厚度的测定金相法
GB/T11250.2—1989复合金属覆层厚度的测定X荧光法
GB/T11250.3—1989复合金属覆镍层厚度的测定容量法
GB/T11250.4—1989复合金属覆铝层厚度的测定重量法
GB/T2470—1995电子设备用固定电阻器、固定电容器型号命名方法
GB/T2693—2001电子设备用固定电容器第1部分:总规范
GB/T3788—1995真空电容器通用技术条件
GB/T4165—1984电子设备用可变电容器的使用导则
GB/T4166—1984电子设备用可变电容器的试验方法
GB/T4874—1985直流固定金属化纸介电容器总规范
GB/T5966—1996电子设备用固定电容器第8部分:分规范1类瓷介固定电容器
GB/T5967—1996电子设备用固定电容器第8部分:空白详细规范1类 瓷介固定电容器评定水平
GB/T5968—1996电子设备用固定电容器第9部分:分规范2类瓷介固定电容器
GB/T5969—1996电子设备用固定电容器第9部分:空白详细规范2类 瓷介电容器评定水平GB/T5993—1986电子设备用固定电容器第4部分:分规范固体和非固体电解质铝电容器(可供认证用)
GB/T5994—1986电子设备用固定电容器第4部分:空白详细规范非固体电解质铝电容器评定水平E(可供认证用)
GB/T6252—1986电子设备用A类调谐可变电容器类型规范
GB/T6253—1986电子设备用B类微调可变电容器类型规范
GB/T6254—1986电子设备用C类预调可变电容器类型规范
GB/T6261—1998电子设备用固定电容器第5部分:分规范额定电压不超过3000伏的直流云
母介质固定电容器试验方法的选择和一般要求
GB/T6262—1998电子设备用固定电容器第5部分:空白详细规范额定电压不超过3000伏的直流云母介质固定电容器评定水平E
GB/T6346—1986电子设备用固定电容器第11部分:分规范金属箔式聚乙烯对苯二甲酸乙二醇酯膜介质直流固定电容器(可供认证用)
GB/T6347—1986电子设备用固定电容器第11部分:空白详细规范金属箔式聚乙烯对苯二甲酸乙二醇酯膜介质直流固定电容器评定水平E(可供认证用)
GB/T7213—1987电子设备用固定电容器第15部分:分规范非固体或固体电解质钽电容器(可供认证用)
GB/T7214—1987电子设备用固定电容器第15部分:空白详细规范固体电解质和多孔阳极钽电容器评定水平E(可供认证用)
GB/T7332—1996电子设备用固定电容器第2部分:分规范金属化聚乙烯对苯二甲酸酯膜介质直流固定电容器
GB/T7333—1996电子设备用固定电容器第2部分:空白详细规范金属化聚乙烯对苯二甲酸酯膜介质直流固定电容器评定水平E
GB/T9320—1988电子设备用固定电容器第8部分(1):分规范1类高压瓷介电容器(可供认证用)
GB/T9321—1988电子设备用固定电容器第8部分(1):空白详细规范1类高压瓷介电容器评定水平E(可供认证用)
GB/T9322—1988电子设备用固定电容器第9部分(1):分规范2类高压瓷介电容器(可供认证用)〖HJ*
GB/T9323—1988电子设备用固定电容器第9部分(1):空白详细规范2类高压瓷介电容器评定水平E(可供认证用)
GB/T9324—1996电子设备用固定电容器第10部分:分规范多层片式瓷介电容器
GB/T9325—1996电子设备用固定电容器第10部分:空白详细规范多层片式瓷介电容器评定水平E
GB/T9597—1988电子设备用固定电容器分规范:1类高功率瓷介电容器(可供认证用)
GB/T9598—1988电子设备用固定电容器空白详细规范:1类高功率瓷介电容器评定水平E(可供认证用)
GB/T10185—1988电子设备用固定电容器第7部分:分规范金属箔式聚苯乙烯膜介质直流固定电容器
GB/T10186—1988电子设备用固定电容器第7部分:空白详细规范金属箔式聚苯乙烯膜介质直流固定电容器评定水平E(可供认证用)
GB/T10188—1988电子设备用固定电容器第13部分:分规范金属箔式聚丙烯膜介质直流固定电容器(可供认证用)
GB/T10189—1988电子设备用固定电容器第13部分:空白详细规范金属箔式聚丙烯膜介质直流固定电容器评定水平E(可供认证用)
GB/T10190—1988电子设备用固定电容器第16部分:分规范金属化聚丙烯膜介质直流固定电容器(可供认证用
GB/T10191—1988电子设备用固定电容器第16部分:空白详细规范金属化聚丙烯膜介质直流固定电容器评定水平E(可供认证用)
GB/T11300—1989电子设备用A类调谐可变电容器空白详细规范
GB/T11301—1989电子设备用装有整体C类预调电容器的A类调谐可变电容器空白详细规范GB/T11302—1989电子设备用B类微调可变电容器空白详细规范
GB/T11303—1989电子设备用C类预调可变电容器空白详细规范
GB/T11305—1989电子设备用固定电容器分规范:3类瓷介电容器(可供认证用)
GB/T11306—1989电子设备用固定电容器空白详细规范3类瓷介电容器评定水平E(可供认证用)
GB/T12775—1991电子设备用圆片型瓷介预调可变电容器总规范
GB/T12794—1991电子设备用固定电容器第15部分:空白详细规范非固体电解质箔电极钽电容器评定水平E(可供认证用)
GB/T12795—1991电子设备用固定电容器第15部分:空白详细规范非固体电解质多孔阳极钽电容器评定水平E(可供认证用)
GB/T14004—1992电子设备用固定电容器第6部分:分规范金属化聚碳酸酯膜介质直流固定电容器(可供认证用)
GB/T14005—1992电子设备用固定电容器第6部分:空白详细规范金属化聚碳酸酯膜介质直流固定电容器评定水平E(可供认证用)
GB/T14121—1993电子设备用固定电容器第3部分:分规范片状钽固定电容器(可供认证用) GB/T14122—1993电子设备用固定电容器第3部分:空白详细规范片状钽固定电容器评定水平E(可供认证用)
GB/T14472—1998电子设备用固定电容器第14部分:分规范抑制电源电磁干扰用固定电容器GB/T14473—1998电子设备用固定电容器第14部分:空白详细规范抑制电源电磁干扰用固定电容器评定水平D
GB/T14579—1993电子设备用固定电容器第17部分:分规范金属化聚丙烯膜介质交流和脉冲固定电容器
GB/T14580—1993电子设备用固定电容器第17部分:空白详细规范金属化聚丙烯膜介质交流和脉冲固定电容器评定水平E
GB/T15448—1995电子设备用固定电容器第19部分:分规范金属化聚乙烯对苯二甲酸酯膜介质直流片式固定电容器
GB/T16467—1996电子设备用固定电容器第19部分:空白详细规范金属化聚乙烯对苯二甲酸酯膜介质直流片式固定电容器评定水平E
GB/T17206—1998电子设备用固定电容器第18部分:分规范固体(MnO 2)与非固体电解质片式铝固定电容器
GB/T17207—1998电子设备用固定电容器第18部分:空白详细规范固体(MnO 2)电解质片式铝固定电容器评定水平E
GB/T17208—1998电子设备用固定电容器第18部分:空白详细规范非固体电解质片式铝固定电容器评定水平E
GB/T2471—1995电阻器和电容器优先数系
GB/T5729—1994电子设备用固定电阻器第一部分:总规范
GB/T5730—1985电子设备用固定电阻器第二部分:分规范低功率非线绕固定电阻器(可供认证用)
GB/T5731—1985电子设备用固定电阻器第二部分:空白详细规范低功率非线绕固定电阻器评定水平E(可供认证用)
GB/T5732—1985电子设备用固定电阻器第四部分:分规范功率型固定电阻器(可供认证用) GB/T5733—1985电子设备用固定电阻器第四部分:空白详细规范功率型固定电阻器评定水平E(可供认证用)
GB/T5734—1985电子设备用固定电阻器第五部分:分规范精密固定电阻器(可供认证用) GB/T5735—1985电子设备用固定电阻器第五部分:空白详细规范精密固定电阻器评定水平
E(可供认证用)
GB/T7016—1986固定电阻器电流噪声测量方法
GB/T7017—1986电阻器非线性测量方法
GB/T7338—1996电子设备用固定电阻器第6部分:分规范各电阻器可单独测量的固定电阻网络
GB/T7339—1987电子设备用固定电阻器第六部分:空白详细规范阻值和功耗相同，各电阻器可单独测量的固定电阻网络评定水平E(可供认证用)
GB/T7340—1987电子设备用固定电阻器第六部分:空白详细规范阻值和功耗不同，各电阻器可单独测量的固定电阻网络评定水平E(可供认证用)
GB/T9546—1995电子设备用固定电阻器第8部分:分规范片式固定电阻器
GB/T9547—1994电子设备用固定电阻器第八部分:空白详细规范片式固定电阻器评定水平E GB/T12276—1990电子设备用固定电阻器第七部分:分规范各电阻器不可单独测量的固定电阻网络(可供认证用)
GB/T12277—1990电子设备用固定电阻器第七部分:空白详细规范各电阻器不可单独测量的固定电阻网络评定水平E(可供认证用)
GB/T15654—1995电子设备用膜固定电阻网络第1部分:总规范
GB/T15882—1995电子设备用膜固定电阻网络第2部分:按能力批准程序评定质量的膜电阻网络分规范
GB/T15883—1995电子设备用膜固定电阻网络第2部分:按能力批准程序评定质量的膜电阻网络空白详细规范评定水平E
GB/T15884—1995电子设备用固定电阻器第5部分:空白详细规范精密固定电阻器评定水平F GB/T15885—1995电子设备用固定电阻器第4部分:空白详细规范功率型固定电阻器评定水平F
GB/T17034—1997电子设备用固定电阻器第2部分:空白详细规范低功率非线绕固定电阻器评定水平F
GB/T17035—1997电子设备用固定电阻器第4部分:空白详细规范带散热器的功率型固定电阻器评定水平H
GB/T15298—1994电子设备用电位器第一部分:总规范
GB/T15299—1994电子设备用电位器第二部分:分规范螺杆驱动和旋转预调电位器
GB/T15300—1994电子设备用电位器第二部分:空白详细规范螺杆驱动和旋转预调电位器评定水平E
GB/T15880—1995电子设备用电位器第3部分:分规范旋转式精密电位器
GB/T15881—1995电子设备用电位器第3部分:空白详细规范旋转式精密电位器评定水平E GB/T16515—1996电子设备用电位器第5部分:分规范单圈旋转式低功率线绕和非线绕电位器
GB/T17025—1997电子设备用电位器第4部分:分规范单圈旋转功率电位器
GB/T17026—1997电子设备用电位器第4部分:空白详细规范单圈旋转功率电位器评定水平E GB/T17027—1997电子设备用电位器第4部分:空白详细规范单圈旋转功率电位器评定水平F GB/T17028—1997电子设备用电位器第5部分:空白详细规范单圈旋转低功率电位器评定水平E
GB/T17029—1997电子设备用电位器第5部分:空白详细规范单圈旋转低功率电位器评定水平F
GB/T4475—1995敏感元器件术语
GB/T6663—1986直热式负温度系数热敏电阻器总规范(可供认证用)
GB/T6664—1986直热式负温度系数热敏电阻器空白详细规范评定水平E(可供认证用)
GB/T7153—2002直热式阶跃型正温度系数热敏电阻器第1部分:总规范
GB/T7154—1987直热式阶跃型正温度系数热敏电阻器空白详细规范评定水平E(可供认证用)
GB/T10193—1997电子设备用压敏电阻器第1部分:总规范
GB/T10194—1997电子设备用压敏电阻器第2部分:分规范浪涌抑制型压敏电阻器
GB/T10195.1—1997电子设备用压敏电阻器第2部分:空白详细规范碳化硅浪涌抑制型压敏电阻器评定水平E
GB/T10195.2—1997电子设备用压敏电阻器第2部分:空白详细规范氧化锌浪涌抑制型压敏电阻器评定水平E
GB/T13189—1991旁热式负温度系数热敏电阻器总规范(可供认证用)
GB/T13823.18—1997振动与冲击传感器的校准方法互易法校准
GB/T15430—1995红外探测器环境试验方法
GB/T15652—1995金属氧化物半导体气敏元件总规范
GB/T15653—1995金属氧化物半导体气敏元件测试方法
GB/T15768—1995电容式湿敏元件与湿度传感器总规范
GB/T18806—2002电阻应变式压力传感器总规范
GB/T4596—1984电子设备用三相变压器形铁心
GB/T8554—1998电子和通信设备用变压器和电感器测量方法及试验程序
GB/T9632.1—2002通信用电感器和变压器磁心测量方法
GB/T11441—1989通信和电子设备用变压器和电感器铁心片
GB/T14006—1992通信和电子设备用变压器和电感器外形尺寸第一部分:采用YEI-1铁心片的变压器和电感器
GB/T14006.2—1997通信和电子设备用变压器和电感器外形尺寸第2部分:采用YEx-2系列铁心片印制板安装式变压器和电感器
GB/T14006.3—1997通信和电子设备用变压器和电感器外形尺寸第3部分:使用YUI-1系列铁心片的变压器和电感器
GB/T14860—1993通信和电子设备用变压器和电感器总规范
GB/T15183—1994按能力批准评定质量的电子设备用电源变压器分规范
GB/T15184—1994按能力批准评定质量的电子设备用开关电源变压器分规范
GB/T15290—1994电子设备用电源变压器和滤波扼流圈总技术条件
GB/T18909—2002按能力批准评定质量的电子设备用高频电感器和中频变压器分规范
GB/T3351—1982人造石英晶体的型号命名
GB/T3388—2002压电陶瓷材料型号命名方法
GB/T11387—1989压电陶瓷材料静态弯曲强度试验方法
GB/T12864—1997电子设备用压电陶瓷滤波器电子元器件质量评定体系规范第2部分:分规范鉴定批准
GB/T12865—1997电子设备用压电陶瓷滤波器电子元器件质量评定体系规范第2部分:分规范鉴定批准第一篇:空白详细规范评定水平E
GB/T15287—1994抑制射频干扰整件滤波器第一部分:总规范
GB/T15288—1994抑制射频干扰整件滤波器第二部分:分规范试验方法的选择和一般要求GB/T16304—1996压电陶瓷电场应变特性测试方法
GB/T17190—1997电子设备用压电陶瓷滤波器电子元器件质量评定体系规范第1部分:总规范鉴定批准
GB/T9623—1988通信用电感器和变压器磁芯第一部分:总规范(可供认证用)
GB/T9624—1988通信用电感器和变压器磁芯第二部分:分规范电感器用磁性氧化物磁芯(可供认证用)
GB/T9625—1988通信用电感器和变压器磁芯第二部分:空白详细规范电感器用磁性氧化物磁芯评定水平A(可供认证用)
GB/T9626—1988通信用电感器和变压器磁芯第三部分:分规范宽带变压器用磁性氧化物磁芯(可供认证用)
GB/T9627—1988通信用电感器和变压器磁芯第三部分:空白详细规范宽带变压器用磁性氧化物磁芯评定水平A和B(可供认证用)
GB/T9628—1988通信用电感器和变压器磁芯第四部分:分规范电源变压器和扼流圈用磁性氧化物磁芯(可供认证用)
GB/T9629—1988通信用电感器和变压器磁芯第四部分:空白详细规范电源变压器和扼流圈用磁性氧化物磁芯评定水平A(可供认证用)
GB/T9630—1988磁性氧化物制成的罐形磁芯及其附件的尺寸
GB/T9634.1—2002铁氧体磁心表面缺陷极限导则第1部分:总则
GB/T9634.2—2002铁氧体磁心表面缺陷极限导则第2部分:RM磁心
GB/T9634.3—2002铁氧体磁心表面缺陷极限导则第3部分:ETD和E形磁心
GB/T9635—1988天线棒测量方法
GB/T9636—1988磁性氧化物制成的圆天线棒和扁天线棒
GB/T10192—1988磁性氧化物制成的螺纹磁芯的尺寸
GB/T11433—1989磁性氧化物制成的管、针、柱磁芯的尺寸
GB/T11435—1989铁氧体交流消音头磁芯
GB/T11436—1989软磁铁氧体材料成品、半成品化学分析方法
GB/T11437—1989广播接收机天线用铁氧体磁芯分规范(可供认证用)
GB/T11438—1989广播接收机天线用铁氧体磁芯空白详细规范评定水平A(可供认证用) GB/T12796—1991永磁铁氧体磁体总规范(可供认证用)
GB/T12797—1991微电机用永磁铁氧体磁体分规范(可供认证用)
GB/T12798—1991磁性氧化物或铁粉制成的轴向引线磁芯
GB/T16512—1996抑制射频干扰固定电感器第1部分总规范
GB/T16513—1996抑制射频干扰固定电感器第2部分分规范试验方法和一般要求的选择
GB/T17951—2000硬磁材料一般技术条件
GB/T6429—1986石英谐振器型号命名方法
GB/T6430—1986晶体盒型号命名方法
GB/T6627—1986人造石英晶体棒材型号命名方法
GB/T8553—1987晶体盒总规范
GB/T9532—1988铌酸锂、钽酸锂、锗酸铋、硅酸铋压电单晶材料型号命名方法
GB/T12273—1996石英晶体元件电子元器件质量评定体系规范第1部分:总规范
GB/T12274—1990石英晶体振荡器总规范(可供认证用)
GB/T12275—1990石英晶体振荡器型号命名方法
GB/T12859—1991电子设备用压电陶瓷谐振器总规范(可供认证用)
GB/T12860—1991电子设备用压电陶瓷谐振器分规范低频压电陶瓷谐振器
GB/T12861—1991电子设备用压电陶瓷谐振器空白详细规范低频压电陶瓷谐振器评定水平E(可供认证用)
GB/T12862—1991电子设备用压电陶瓷谐振器分规范高频压电陶瓷谐振器(可供认证用)
GB/T12863—1991电子设备用压电陶瓷谐振器空白详细规范高频压电陶瓷谐振器评定水平E(可供认证用)
GB/T15020—1994电子设备用石英晶体元件空白详细规范电阻焊石英晶体元件评定水平E GB/T15156—1994压电陶瓷换能元件总规范
GB/T16516—1996石英晶体元件电子元器件质量评定体系规范第2部分:分规范能力批准GB/T16517—1996石英晶体元件电子元器件质量评定体系规范第3部分:分规范鉴定批准GB/T2775—1993手控电子元件的轴端尺寸
GB/T9536—1995电子设备用机电开关第1部分:总规范
GB/T9537—1988电子设备用键盘开关第一部分:总规范(可供认证用)
GB/T13419—1998电子设备用机电开关第6部分:微动开关分规范
GB/T13420—1998电子设备用机电开关第6部分:微动开关分规范第1篇:空白详细规范
GB/T14120—1993单孔轴套安装、轴控电子元件的安装尺寸
GB/T14280—1993热时间延迟开关总规范
GB/T14281—1993恒温开关总规范
GB/T15461—1995电子设备用机电开关第3部分:成列直插封装式开关分规范
GB/T15462—1995电子设备用机电开关第3-1部分:成列直插封装式开关空白详细规范
GB/T16514—1996电子设备用机电开关第5部分:按钮开关分规范
GB/T17209—1998电子设备用机电开关第2部分:旋转开关分规范
GB/T17210—1998电子设备用机电开关第2部分:旋转开关分规范第一篇空白详细规范
GB/T18496—2001电子设备用机电开关第4部分:钮子(倒扳)开关分规范
GB/T5095.1—1997电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第1部分:总则
GB/T5095.2—1997电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第2部分:一般检查、电连续性和接触电阻测试、绝缘试验和电压应力试验
GB/T5095.3—1997电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第3部分:载流容量试验GB/T5095.4—1997电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第4部分:动态应力试验GB/T5095.5—1997电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第5部分:撞击试验(自由元件)、静负荷试验(固定元件)、寿命试验和过负荷试验
GB/T5095.6—1997电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第6部分:气候试验和锡焊试验
GB/T5095.7—1997电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第7部分:机械操作试验和密封性试验
GB/T5095.8—1997电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第8部分:连接器、接触件及引出端的机械试验
GB/T5095.9—1997电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第9部分:杂项试验
GB/T5095.11—1997电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第11部分:气候试验
GB/T5095.12—1997电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第12部分:锡焊试验第六篇:试验12f在机器焊接中封焊处耐焊剂和清洁剂
GB/T5095.15—1997电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第15部分:接触件和引出端的机械试验第八篇:试验15h接触件固定机构耐工具使用性
GB/T8977—1988调频、电视广播接收机用300Ω/75Ω平衡 不平衡阻抗变换器
GB/T9538—1988带状电缆连接器总规范
GB/T11313—1996射频连接器第1部分:总规范一般要求和试验方法
GB/T11313.1—2000射频连接器第1-1部分:单或多系列空白详细规范
GB/T11313.24—2001射频连接器第24部分:75Ω电缆分配系统用螺纹连接射频同轴连接器
(F型)
GB/T11313.33—2001射频连接器第33部分:BMA系列射频连接器分规范
GB/T12272—1990射频同轴连接器耐射频高电位电压测试方法
GB/T12793—1991电连接器接触件嵌卸工具总规范
GB/T14313—1993精密硬同轴线及其精密连接器总规范
GB/T14557—1993射频同轴连接器电气试验和测量程序反射系数
GB/T14865—1993SMB型射频同轴连接器
GB/T15157—1994印制板用频率低于3MHz的连接器第1部分:总规范一般要求和编制有质量评定的详细规范的导则
GB/T15157.2—1998印制板用频率低于3MHz的连接器第2部分:有质量评定的具有通用安装特征基本网格2.54mm(0.1in)的印制板用两件式连接器详细规范
GB/T15157.7—2002频率低于3MHz的印制板连接器第7部分:有质量评定的具有通用插合特性的8位固定和自由连接器详细规范
GB/T15158—1994音响设备用连接器系列和品种
GB/T15886—1995C型射频同轴连接器
GB/T15887—1995SMC型射频同轴连接器
GB/T15888—1995UHF型射频同轴连接器
GB/T15889—1995SSMA型射频同轴连接器
GB/T15890—1995SSMB型射频同轴连接器
GB/T17562.1—1998频率低于3MHz的矩形连接器第1部分总规范一般要求和编制有质量评定要求的连接器详细规范的导则
GB/T17562.8—2002频率低于3MHz的矩形连接器第8部分:具有4个信号接触件和电缆屏蔽用接地接触件的连接器详细规范
GB/T17570—1998光纤熔接机通用规范
GB/T18501.1—2001有质量评定的直流和低频模拟及数字式高速数据处理设备用连接器第1部分:总规范
GB/T18501.2—2001直流和低频模拟及数字式高速数据处理设备用连接器第2部分:有质量评定的圆形连接器分规范
GB/T15176—1994插入式电子元器件用插座及其附件总规范
GB/T15286—1994端接件总规范
GB/T18290.2—2000无焊连接第2部分:无焊压接连接一般要求、试验方法和使用导则
GB/T18290.3—2000无焊连接第3部分:可接触无焊绝缘位移连接 一般要求、 试验方法和使用导则
GB/T18290.4—2000无焊连接第4部分:不可接触无焊绝缘位移连接 一般要求 、试验方法和使用导则
GB/T18290.5—2000无焊连接第5部分:无焊压入式连接一般要求、试验方法和使用导则GB/T10232—1994电气继电器第7部分:有或无机电继电器测试程序
GB/T16608—1996电气继电器第10部分:IEC电子元器件质量评定体系在有或无继电器上的应用
GB/T18908.1—2002工业用时间继电器第1部分:要求和试验
GB/T11321—1989波导元件模数尺寸选择指南
GB/T11322.1—1997射频电缆第0部分:详细规范设计指南第一篇同轴电缆
GB/T11449.1—1989波导法兰盘第一部分:一般要求
GB/T11449.2—1989波导法兰盘第二部分:普通矩形波导法兰盘规范
GB/T11449.3—1989波导法兰盘第三部分:扁矩形波导法兰盘规范
GB/T11449.4—1989波导法兰盘第四部分:圆形波导法兰盘规范
GB/T11449.5—1989波导法兰盘第六部分:中等扁矩形波导法兰盘规范
GB/T11449.6—1989波导法兰盘第七部分:方形波导法兰盘规范
GB/T11450.1—1989空心金属波导第一部分:一般要求和测量方法
GB/T11450.2—1989空心金属波导第二部分:普通矩形波导有关规范
GB/T11450.3—1989空心金属波导第三部分:扁矩形波导有关规范
GB/T11450.4—1989空心金属波导第四部分:圆形波导有关规范
GB/T11450.5—1989空心金属波导第六部分:中等扁矩形波导有关规范
GB/T11450.6—1989空心金属波导第七部分:方形波导有关规范
GB/T11451—1989软波导组件性能
GB/T12774—1991同轴电气假负载总规范
GB/T13415—1992射频混频器总规范
GB/T13416—1992射频传输线(同轴)开关总规范
GB/T16531—1996射频同轴电缆组件第3部分半柔软同轴电缆组件分规范
GB/T17737.1—2000射频电缆第1部分:总规范总则、定义、要求和试验方法
GB/T17737.2—2000射频电缆第2部分:聚四氟乙烯(PTFE)绝缘半硬射频同轴电缆分规范GB/T17737.3—2001射频电缆第3部分:局域网用同轴电缆分规范
GB/T17738.1—1999射频同轴电缆组件第1部分:总规范一般要求和试验方法
GB/T6643—1986通用硬同轴传输线及其法兰连接器总规范
GB/T7556—1987对称电缆60路载波系统进网特性要求
GB/T7557—19871.2/4.4mm标准同轴电缆300路载波系统进网特性要求
GB/T11323—1989电缆分配系统用单同轴电缆一般要求和试验
GB/T12269—1990射频电缆总规范
GB/T14864—1993实芯聚乙烯绝缘射频电缆
GB/T15217—1994同轴电缆屏蔽衰减测量方法(吸收钳法)
GB/T15285—1994漏泄同轴电缆分规范
GB/T15866—1995射频同轴电缆组件第2-1部分:柔软同轴电缆组件分规范
GB/T15867—1995射频同轴电缆组件第4部分:半硬同轴电缆组件分规范
GB/T15891—1995射频电缆第四部分:超屏蔽电缆规范第一篇:一般要求和试验方法
GB/T9530—1988电子陶瓷名词术语
GB/T9531.1—1988电子陶瓷零件技术条件
GB/T9531.2—1988A类瓷件技术条件
GB/T9531.3—1988B类瓷件技术条件
GB/T9531.4—1988C类瓷件技术条件
GB/T9531.5—1988D类瓷件技术条件
GB/T9531.6—1988E类瓷件技术条件
GB/T9531.7—1988F类瓷件技术条件
GB/T1360—1998印制电路网格体系
GB/T2036—1994印制电路术语
GB/T4588.1—1996无金属化孔单双面印制板分规范
GB/T4588.2—1996有金属化孔单双面印制板分规范
GB/T4588.3—2002印制板的设计和使用
GB/T4588.4—1996多层印制板分规范
GB/T4588.10—1995印制板第10部分:有贯穿连接的刚挠双面印制板规范
GB/T4588.12—2000预制内层层压板规范(半制成多层印制板)
GB/T4677—2002印制板测试方法
GB/T4721—1992印制电路用覆铜箔层压板通用规则
GB/T4722—1992印制电路用覆铜箔层压板试验方法
GB/T4723—1992印制电路用覆铜箔酚醛纸层压板
GB/T4724—1992印制电路用覆铜箔环氧纸层压板
GB/T4725—1992印制电路用覆铜箔环氧玻璃布层压板
GB/T5489—1985印制板制图
GB/T9315—1988印制电路板外形尺寸系列
GB/T9491—2002锡焊用液态焊剂(松香基)
GB/T12629—1990限定燃烧性的薄覆铜箔环氧玻璃布层压板(制造多层印制板用) GB/T12630—1990一般用途的薄覆铜箔环氧玻璃布层压板(制造多层印制板用) GB/T12631—1990印制导线电阻测试方法
GB/T13555—1992印制电路用挠性覆铜箔聚酰亚胺薄膜
GB/T13556—1992印制电路用挠性覆铜箔聚脂薄膜
GB/T13557—1992印制电路用挠性覆铜箔材料试验方法
GB/T14708—1993挠性印制电路用涂胶聚酯薄膜
GB/T14709—1993挠性印制电路用涂胶聚酰亚胺薄膜
GB/T16261—1996印制板总规范
GB/T16315—1996印制电路用限定燃烧性的覆铜箔聚酰亚胺玻璃布层压板
GB/T16317—1996多层印制电路用限定燃烧性的薄覆铜箔聚酰亚胺玻璃布层压板GB/T18334—2001有贯穿连接的挠性多层印制板规范
GB/T18335—2001有贯穿连接的刚挠多层印制板规范
GB/T6832—1986头戴耳机测量方法
GB/T7614—1987校准测耳机用的宽频带型仿真耳
GB/T10240—1988电声产品声音质量主观评价用节目源编辑制作规范
GB/T11452—1989助听器标准的指南
GB/T11453—1989模拟实际工作条件下的助听器性能测量方法
GB/T11454—1989助听器用音频感应回路的磁场强度
GB/T11455—1989不完全佩戴在听者身上的助听设备
GB/T2658—1995小型交流风通用机技术条件
GB/T7345—1994控制微电机基本技术要求
GB/T7346—1998控制电机基本外形结构型式
GB/T10405—2001控制电机型号命名方法
GB/T13537—1992电子类家用电器用电动机通用技术条件
GB/T16961—1997电子调速微型异步电动机通用技术条件
GB/T787—1974电子管管基尺寸
GB/T2987—1996电子管参数符号
GB/T3188—1982电子管外形尺寸
GB/T3189—1982电子管引出帽连接尺寸
GB/T3789.1—1991发射管电性能测试方法总则
GB/T3789.2—1991发射管电性能测试方法阳极电流和栅极电流的测试方法
GB/T3789.3—1991发射管电性能测试方法阴极发射电流的测试方法
GB/T3789.4—1991发射管电性能测试方法栅极反向电流的测试方法
GB/T3789.5—1991发射管电性能测试方法栅极热放射电流的测试方法
GB/T3789.6—1991发射管电性能测试方法跨导、放大系数的测试方法
GB/T3789.7—1991发射管电性能测试方法阳极离子流的测试方法
GB/T3789.8—1991发射管电性能测试方法阳极最大耗散功率和阳极过载耗散功率的测试方法
GB/T3789.9—1991发射管电性能测试方法栅极最大耗散功率的测试方法
GB/T3789.10—1991发射管电性能测试方法第一栅极截止电压的测试方法
GB/T3789.11—1991发射管电性能测试方法第三栅极截止电压的测试方法
GB/T3789.12—1991发射管电性能测试方法极间绝缘的测试方法
GB/T3789.13—1991发射管电性能测试方法共栅电路静态特性曲线的测试方法
GB/T3789.14—1991发射管电性能测试方法共阴电路静态特性曲线的测试方法〖
GB/T3789.15—1991发射管电性能测试方法输出功率的测试方法
GB/T3789.16—1991发射管电性能测试方法脉冲输出功率的测试方法
GB/T3789.17—1991发射管电性能测试方法电气强度的测试方法
GB/T3789.18—1991发射管电性能测试方法电极间绝缘体高频损耗的测试方法
GB/T3789.19—1991发射管电性能测试方法频率特性曲线的测试方法
GB/T3789.20—1991发射管电性能测试方法第一栅极电流截止电压的测试方法
GB/T3789.21—1991发射管电性能测试方法静态特性参考点的测试方法
GB/T3789.22—1991发射管电性能测试方法振动稳定性的测试方法
GB/T3789.23—1991发射管电性能测试方法第三栅极控制能力的测试方法
GB/T3789.24—1991发射管电性能测试方法线性放大管双音互调失真的测试方法
GB/T3789.25—1991发射管电性能测试方法图像输出功率的测试方法
GB/T3789.26—1991发射管电性能测试方法功率增益的测试方法
GB/T3789.27—1991发射管电性能测试方法三音互调失真的测试方法
GB/T3789.28—1991发射管电性能测试方法交叉调制的测试方法
GB/T3789.29—1991发射管电性能测试方法低频亮度非线性的测试方法
GB/T3789.30—1991发射管电性能测试方法由亮度信号不同引起的色度信号失真(微分增益DG和微分相位DP)的测试方法
GB/T3789.31—1991发射管电性能测试方法同步脉冲压缩的测试方法
GB/T4965—1985吸气剂分类及型号命名方法
GB/T7274—1987电子管极间电容测试方法
GB/T12855—1991小功率发射管的使用和维护
GB/T3306—2001小功率电子管电性能测试方法
GB/T3307—1982小功率电子管灯丝断续试验方法
GB/T6255—2001空间电荷控制电子管总规范
GB/T6257—1986阳极耗散功率不大于1kW的小功率发射管空白详细规范(可供认证用)
GB/T9431—1988阳极耗散功率大于1kW的玻壳发射管空白详细规范(可供认证用)
GB/T9432—1988工业加热用四极管空白详细规范(可供认证用)
GB/T9587—1988阳极耗散功率大于1kW的金属陶瓷发射管空白详细规范(可供认证用)
GB/T12854—1991脉冲调制管空白详细规范(可供认证用)
GB/T15426—1994收讯放大电子管空白详细规范
GB/T9043—1999通信设备过电压保护用气体放电管通用技术条件
GB/T9602—1988连续波磁控管电性能测试方法
GB/T12852—2001磁控管总规范
GB/T12853—2001连续波磁控管空白详细规范
GB/T3212—1982黑白电视显象管测试方法
GB/T3951—1983液晶显示器件型号命名方法
GB/T5961—1986彩色显象管空白详细规范(可供认证用)
GB/T5998—1994彩色显象管测试方法
GB/T5999—1986示波管和指示管测试方法
GB/T6206—1986黑白显象管空白详细规范(可供认证用)
GB/T6207—1986示波管和指示管空白详细规范(可供认证用) GB/T6250—1986液晶显示器件名词术语
GB/T6251—1986液晶显示器件外形尺寸标注及引线排布规则GB/T6258—1986盘封电子管空白详细规范
GB/T9435—1988彩色显像管有效屏面尺寸
GB/T11447—1989光学纤维面板测试方法
GB/T11478—1989摄像管总规范(可供认证用)
GB/T11479—1989摄像管空白详细规范(可供认证用)
GB/T11480—1989摄像管测试方法
GB/T11490—1989彩色显像管管基尺寸
GB/T12567—1990直观存储管测试方法
GB/T12568—1990直观存储管分规范(可供认证用)
GB/T12569—1990直观存储管空白详细规范(可供认证用) GB/T12570—1990单色显示管空白详细规范(可供认证用) GB/T12571—1990单色显示管测试方法
GB/T13170.1—1991反射式电视测试图综合测试图
GB/T13170.2—1991反射式电视测试图线性测试图A型
GB/T13170.3—1991反射式电视测试图线性测试图B型
GB/T13170.4—1991反射式电视测试图高频特性测试图
GB/T13170.5—1991反射式电视测试图中频特性测试图
GB/T13170.6—1991反射式电视测试图余像测试图
GB/T13170.7—1991反射式电视测试图棋盘格测试图
GB/T13170.8—1991反射式电视测试图辐值响应测试图
GB/T13170.9—1991反射式电视测试图重合测试图A型
GB/T13170.10—1991反射式电视测试图重合测试图B型
GB/T13170.11—1991反射式电视测试图圆域测试图
GB/T13170.12—1991反射式电视测试图辐射条测试图
GB/T13170.13—1991反射式电视测试图区域测试图
GB/T13170.14—1991反射式电视测试图灰度测试图A型
GB/T13170.15—1991反射式电视测试图灰度测试图B型
GB/T14010—1992阴极射线管玻壳试验方法
GB/T14011—1992阴极射线管X射线辐射测试方法
GB/T14012—1992黑白显象管玻壳总规范(可供认证用)
GB/T15427—1994彩色显示管测试方法
GB/T18896—2002彩色投影显象管测试方法
GB/T18917—2002彩色投影显象管空白详细规范
GB/T3213—1994闸流管与充气整流管测试方法
GB/T3790—1995荧光显示管测试方法
GB/T5295—1985光电阴极光谱响应特性系列
GB/T5960—1986阴极射线管总规范(可供认证用)
GB/T6428—1995氢闸流管测试方法
GB/T7257—1987氦氖激光器参数测试方法
GB/T7270—1987光电倍增管测试方法
GB/T7271—1987光电管测试方法
GB/T9430—1988荧光数码显示管亮度稳定性试验方法
GB/T9433—1988过电压保护气体放电管总规范(可供认证用)
GB/T9434—1988过电压保护气体放电管测试方法
GB/T9586—1988荧光数码显示管加速寿命试验方法
GB/T9588—1988盖革 弥勒计数管测试方法
GB/T11482—1989交流等离子体显示器件总规范(可供认证用)
GB/T11483—1989交流等离子体显示器件测试方法
GB/T12078—1989X射线管总规范(可供认证用)
GB/T12079—1989X射线管光电性能测试方法
GB/T12082—1989气体激光器文字符号
GB/T12083—1989气体激光器电源系列
GB/T12559—1990印制电路用照相底图图形系列
GB/T12564—1990光电倍增管总规范(可供认证用)
GB/T12846—1991脉冲闸流管总规范(可供认证用)
GB/T12847—1991氢闸流管空白详细规范(可供认证用)
GB/T13065—1991过电压保护气体放电管空白详细规范(可供认证用) GB/T13706—1992光电管总规范(可供认证用)
GB/T13707—1992光电管空白详细规范(可供认证用)
GB/T13708—1992光电倍增管空白详细规范(可供认证用)
GB/T13709—1992检测用Ｘ射线管空白详细规范(可供认证用)
GB/T13710—1992分析用Ｘ射线管空白详细规范(可供认证用)
GB/T13943—1992荧光显示管总规范(可供认证用)
GB/T13944—1992荧光显示管空白详细规范(可供认证用)
GB/T13945—1992辉光放电显示管总规范(可供认证用)
GB/T13946—1992辉光放电显示管空白详细规范(可供认证用)
GB/T14110—1993闸流管与充气整流管总规范(可供认证用)
GB/T14111—1993闸流管与充气整流管空白详细规范(可供认证用) GB/T14182—1993变像管和像增强管总规范(可供认证用)
GB/T14183—1993变像管和像增强管空白详细规范(可供认证用)
GB/T14184—1993变像管和像增强管测试方法
GB/T14186—1993充气稳压管总规范(可供认证用)
GB/T14279—1993交流等离子体显示器件空白详细规范(可供认证用) GB/T14515—1993有贯穿连接的单、双面挠性印制板技术条件
GB/T14516—1993无贯穿连接的单、双面挠性印制板技术条件
GB/T15301—1994气体激光器总规范
GB/T15648—1995辉光放电显示管测试方法
GB/T249—1989半导体分立器件型号命名方法
GB/T4589.1—1989半导体器件分立器件和集成电路总规范(可供认证用)
GB/T4937—1995半导体器件机械和气候试验方法
GB/T11499—2001半导体分立器件文字符号
GB/T12300—1990功率晶体管安全工作区测试方法
GB/T12560—1999半导体器件分立器件分规范
GB/T15651—1995半导体器件分立器件和集成电路第5部分:光电子器件
GB/T17573—1998半导体器件分立器件和集成电路第1部分:总则
GB/T18910.1—2002液晶和固态显示器件第1部分:总规范
GB/T4023—1997半导体器件分立器件和集成电路第2部分:整流二极管
GB/T6570—1986微波二极管测试方法
GB/T6588—2000半导体器件分立器件第3部分:信号(包括开关)和调整二极管第1篇信号二极管、开关二极管和可控雪崩二极管空白详细规范
GB/T6589—2002半导体器件分立器件第3-2部分:信号(包括开关)和调整二极管电压调整二极管和电压基准二极管(不包括温度补偿精密基准二极管)空白详细规范
GB/T12562—1990PIN二极管空白详细规范(可供认证用)
GB/T13063—1991电流调整和电流基准二极管空白详细规范
GB/T13066—1991单结晶体管空白详细规范
GB/T14863—1993用栅控和非栅控二极管的电压 电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的标准方法
GB/T15137—1994体效应二极管空白详细规范
GB/T15177—1994微波检波、混频二极管空白详细规范
GB/T15178—1994变容二极管空白详细规范
GB/T4586—1994半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管
GB/T4587—1994半导体分立器件和集成电路第7部分:双极型晶体管
GB/T6217—1998半导体器件分立器件第7部分:双极型晶体管第一篇高低频放大环境额定的双极型晶体管空白详细规范
GB/T6218—1996开关用双极型晶体管空白详细规范
GB/T6219—1998半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管第一篇1GHz、5W以下的单栅场效应晶体管空白详细规范
GB/T6256—1986工业加热三极管空白详细规范(可供认证用)
GB/T6571—1995半导体器件分立器件第3部分:信号(包括开关)和调整二极管
GB/T7576—1998半导体器件分立器件第7部分:双极型晶体管第四篇高频放大管壳额定双极型晶体管空白详细规范
GB/T7577—1996低频放大管壳额定的双极型晶体管空白详细规范
GB/T7581—1987半导体分立器件外形尺寸
GB/T6351—1998半导体器件分立器件第2部分:整流二极管第一篇100A以下环境或管壳额定整流二极管(包括雪崩整流二极管)空白详细规范
GB/T6352—1998半导体器件分立器件第6部分:闸流晶体管第一篇100A以下环境或管壳额定反向阻断三极闸流晶体管空白详细规范
GB/T6590—1998半导体器件分立器件第6部分:闸流晶体管第二篇100A以下环境或管壳额定的双向三极闸流晶体管空白详细规范
GB/T9436—1988液晶显示器件参数符号
GB/T15449—1995管壳额定开关用场效应晶体管空白详细规范
GB/T15450—1995硅双栅场效应晶体管空白详细规范
GB/T16468—1996静电感应晶体管系列型谱
GB/T12561—1990发光二极管空白详细规范(可供认证用)
GB/T15529—1995半导体发光数码管空白详细规范
GB/T15167—1994半导体激光光源总规范
GB/T18680—2002液晶显示器用氧化铟锡透明导电玻璃
GB/T4654—1984碳化硅、锆英砂、陶瓷类红外辐射加热器通用技术条件
GB/T11153—1989激光小功率计性能检测方法
GB/T14078—1993氦氖激光器技术条件
GB/T15649—1995半导体激光二极管空白详细规范
GB/T4619—1996液晶显示器件测试方法
GB/T12848—1991扭曲向列型液晶显示器件总规范(可供认证用)
GB/T12849—1991钟、表用扭曲向列型液晶显示器件空白详细规范(可供认证用)
GB/T12850—1991计算器用扭曲向列型液晶显示器件空白详细规范(可供认证用)
GB/T12851—1991仪器、仪表用扭曲向列型液晶显示器件空白详细规范(可供认证用)
GB/T14116—1993彩色液晶显示器件的光度和色度的测试方法
GB/T14117—1993彩色液晶显示器件空白详细规范(可供认证用)
GB/T15655—1995超扭曲向列型液晶显示器件分规范
GB/T15656—1995超扭曲向列型液晶显示器件空白详细规范
GB/T12565—1990半导体器件光电子器件分规范(可供认证用)
GB/T14137—1993光纤机械式固定接头插入损耗测试方法
GB/T18309.1—2001纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第1部分:总则和导则
GB/T18310.1—2002纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第2-1部分:试验振动(正弦)
GB/T18310.2—2001纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第2-2部分:试验配接耐久性
GB/T18310.3—2001纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第2-3部分:试验静态剪切力
GB/T18310.4—2001纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第2-4部分:试验光纤/光缆保持力
GB/T18310.5—2002纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第2-5部分:试验扭转/扭绞
GB/T18310.6—2001纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第2-6部分:试验锁紧机构抗拉强度
GB/T18310.7—2002纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第2-7部分:试验弯矩
GB/T18310.12—2002纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第2-12部分:试验撞击
GB/T18310.18—2001纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第2-18部分:试验干热高温耐久性
GB/T18310.19—2002纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第2-19部分:试验恒定湿热
GB/T18310.21—2002纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第2-21部分:试验
温度 湿度组合循环试验
GB/T18310.39—2001纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第2-39部分:试验对外界磁场敏感性
GB/T18311.2—2001纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第3-2部分:检查和测量单模纤维光学器件偏振依赖性
GB/T18311.3—2001纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第3-3部分:检查和测量监测衰减和回波损耗变化(多路)
GB/T18311.6—2001纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第3-6部分:检查和测量回波损耗
GB/T4799—2001激光器型号命名方法
GB/T4931—2000氦氖激光器系列型谱
GB/T4932—2000二氧化碳激光器系列型谱
GB10320—1995激光设备和设施的电气安全
GB/T11297.1—2002激光棒波前畸变的测量方法
GB/T11297.3—2002掺钕钇铝石榴石激光棒消光比的测量方法
GB/T12507.1—2000光纤光缆连接器第1部分:总规范
GB/T12507.2—1997光纤光缆连接器第2部分:F-SMA型光纤光缆连接器分规范
GB/T12511—1990纤维光学开关第一部分:总规范(可供认证用)
GB/T12512—1990纤维光学衰减器第一部分:总规范(可供认证用)
GB/T13265.1—1997纤维光学隔离器第1部分:总规范
GB/T13265.2—1997纤维光学隔离器第1-1部分:空白详细规范
GB/T13712—1992纤维光学调制器第一部分∶总规范(可供认证用)
GB/T13713—1992纤维光学分路器第一部分∶总规范(可供认证用)
GB/T13714—1992纤维光学分路器第三部分∶分规范１至-ｎ-个波长复用器／解复用器(可供认证用)
GB/T13739—1992激光辐射横模鉴别方法
GB/T13740—1992激光辐射发散角测试方法
GB/T13741—1992激光辐射光束直径测试方法
GB/T13863—1992激光辐射功率测试方法
GB/T13864—1992激光辐射功率稳定度测试方法
GB/T14136.1—1993纤维光学滤光器第一部分:总规范(可供认证用)
GB/T14275—1993纤维光学调制器第二部分:分规范波导电光调制器(可供认证用)
GB/T15175—1994固体激光器主要参数测试方法
GB/T15490—1995固体激光器总规范
GB/T16529—1996光纤光缆接头第1部分:总规范构件和配件
GB/T16529.2—1997光纤光缆接头第2部分:分规范光纤光缆接头盒和集纤盘
GB/T16529.3—1997光纤光缆接头第3部分:分规范光纤光缆熔接式接头
GB/T16529.4—1997光纤光缆接头第4部分:分规范光纤光缆机械式接头
GB/T16530—1996单模纤维光学器件回波损耗偏振依赖性测量方法
GB/T18308.1—2001纤维光学转接器第1部分:总规范
GB/Z18461—2001激光产品的安全生产者关于激光辐射安全的检查清单
GB18490—2001激光加工机械安全要求
GB/T18904.2—2002半导体器件第12-2部分:光电子器件纤维光学系统或子系统用带尾纤的激光二极管模块空白详细规范
GB/T13583—1992红外探测器外形尺寸系列
GB/T13584—1992红外探测器参数测试方法
GB/T17444—1998红外焦平面阵列特性参数测试技术规范
GB/T18904.1—2002半导体器件第12-1部分:光电子器件纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的光发射或红外发射二极管空白详细规范
GB/T18904.3—2002半导体器件第12-3部分:光电子器件显示用发光二极管空白详细规范GB/T18904.4—2002半导体器件第12-4部分:光电子器件纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的Pin-FET模块空白详细规范
GB/T3430—1989半导体集成电路型号命名方法
GB/T7092—1993半导体集成电路外形尺寸
GB/T8976—1996膜集成电路和混合膜集成电路总规范
GB/T9178—1988集成电路术语
GB/T11498—1989膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用鉴定批准程序)(可供认证用) GB/T12750—1991半导体集成电路分规范(不包括混合电路)(可供认证用)
GB/T12842—1991膜集成电路和混合膜集成电路术语
GB/T12843—1991半导体集成电路微处理器及外围接口电路电参数测试方法的基本原理
GB/T13062—1991膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范(可供认证用)
GB/T14028—1992半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理
GB/T14029—1992半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理
GB/T14030—1992半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
GB/T14031—1992半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理
GB/T14032—1992半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理
GB/T14112—1993半导体集成电路塑料双列封装冲制型引线框架规范
GB/T14113—1993半导体集成电路封装术语
GB/T14862—1993半导体集成电路封装结到外壳热阻测试方法
GB/T15138—1994膜集成电路和混合集成电路外形尺寸
GB/T15297—1994微电路模块机械和气候试验方法
GB/T15431—1995微电路模块总规范
GB/T15876—1995塑料四面引线扁平封装引线框架规范
GB/T15877—1995蚀刻型双列封装引线框架规范
GB/T15878—1995小外形封装引线框架规范
GB/T15879—1995半导体器件的机械标准化第5部分:用于集成电路载带自动焊(TAB)的推荐值
GB/T16464—1996半导体器件集成电路第1部分:总则
GB/T16465—1996膜集成电路和混合膜集成电路分规范（采用能力批准程序）
GB/T16466—1996膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范(采用能力批准程序）
GB/T16525—1996塑料有引线片式载体封装引线框架规范
GB/T16526—1996封装引线间电容和引线负载电容测试方法
GB/T17023—1997半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第二篇HCMOS数字集成电路54/74HC、54/74HCT、 54/74-HCU系列族规范
GB/T17024—1997半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第三篇HCMOS数字集成电路54/74HC、54/74HCT、 54/74-HCU系列空白详细规范
GB/T17574—1998半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路
GB/T3431.2—1986半导体集成电路文字符号引出端功能符
GB/T3432.4—1989半导体集成电路TTL电路系列和品种54/74LS系列的品种
GB/T3434—1986半导体集成电路ECL电路系列和品种
GB/T3435—1987半导体集成CMOS电路系列和品种4000系列的品种
GB/T3436—1996半导体集成电路运算放大器系列和品种
GB/T4376—1994半导体集成电路电压调整器系列和品种
GB/T4377—1996半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理
GB/T4855—1984半导体集成电路线性放大器系列和品种
GB/T5965—2000半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第一篇双极型单片数字集成电路门电路(不包括自由逻辑阵列)空白详细规范
GB/T6648—1986半导体集成电路静态读/写存储器空白详细规范(可供认证用)
GB/T6798—1996半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
GB/T6800—1986半导体集成音响电路音频功率放大器测试方法的基本原理
GB/T6812—1986半导体集成非线性电路系列和品种模拟乘 除法器的品种
GB/T6813—1986半导体集成非线性电路系列和品种时基电路的品种
GB/T6814—1986半导体集成非线性电路系列和品种模拟开关的品种
GB/T6815—1986半导体集成非线性电路系列和品种锁相环的品种
GB/T7509—1987半导体集成电路微处理器空白详细规范(可供认证用)
GB/T9423—1988半导体集成TTL电路系列和品种54/74ALS系列的品种
GB/T9424—1998半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第五篇CMOS数字集成电路4000B和4000UB系列空白详细规范
GB/T9425—1988半导体集成电路运算放大器空白详细规范(可供认证用)
GB/T11497.1—1989半导体集成电路CMOS电路系列和品种54/74HC系列的品种
GB/T11497.2—1989半导体集成电路CMOS电路系列和品种54/74HCT系列的品种
GB/T12084—1989半导体集成电路TTL电路系列和品种54/74F系列的品种
GB/T12844—1991半导体集成电路非线性电路系列和品种采样/保持放大器的品种
GB/T12845—1991半导体集成电路非线性电路系列和品种电压/频率和频率/电压转换器的品种
GB/T13064—1991半导体集成电路系列和品种复印机用系列的品种
GB/T13067—1991半导体集成电路系列和品种石英电子钟表用系列的品种
GB/T13068—1991半导体集成电路系列和品种磁敏传感器用系列的品种
GB/T13069—1991半导体集成电路系列和品种数控机床用系列的品种
GB/T14025—1992半导体集成电路门阵列电路系列和品种ECL系列的品种
GB/T14026—1992半导体集成电路微型计算机电路系列和品种80C86系列的品种
GB/T14027.1—1992半导体集成电路通信电路系列和品种有源滤波器系列品种
GB/T14027.2—1992半导体集成电路通信电路系列和品种脉码调制编译码器系列品种
GB/T14027.3—1992半导体集成电路通信电路系列和品种模拟开关阵列系列品种
GB/T14027.4—1992半导体集成电路通信电路系列和品种双音多频电路系列品种
GB/T14027.5—1992半导体集成电路通信电路系列和品种电话电路系列品种
GB/T14027.6—1992半导体集成电路通信电路系列和品种频率合成器系列品种
GB/T14027.7—1992半导体集成电路通信电路系列和品种数字交换系统接口电路系列品种GB/T14114—1993半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器测试方法的基本原理
GB/T14115—1993半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理
GB/T14119—1993半导体集成电路双极熔丝式可编程只读存储器空白详细规范(可供认证用)