液晶显示屏SPC分层抽样及分区管控的研究应用
北京京东方显示技术有限公司 王 丹 王 超 徐习亮 王 健 黄 雷 鲍子胜 刘润超 刘玉清 顾 岩 石单纯 陈 静 于天明 孙腾琳
【期刊名称】《电子世界》
【年(卷),期】2019(000)016
【总页数】2
在液晶显示屏制造过程中，因工艺及产品特殊性导致现有SPC管理存在一些不足。为了消除现有SPC管理不足、更好地进行质量管理，需要对SPC管理方法进行分析和改进。本文通过实际案例介绍了如何通过实验研究、数据分析及原理探究确定产品分层抽样的方法；并打破传统过程监控模式使用分层控制图进行过程监控，实现SPC管理方法改善提升。
1.引言
随着科技的发展，液晶显示屏由于具有低耗能、低辐射等优点，广泛应用于目前的显示设备，已经成为主流平板显示器（王超，姚之晓，TFTLCD横纹不良研究与改善：液晶与显示，2019）。在液晶显示屏制造工艺日益成熟以及生产线自动化程度逐渐提高的情况下，如何有效、及时地发现制造过程中存在地细小变异，是液晶显示制造技术取得进一步突破、产品质量更上一台阶的关键所在（吴永俊，SPC(统计过程控制)在液晶显示器制造中的应用：电子质量，2007）。液晶显示屏制造过程中使用固定尺寸的大玻璃基板进行TFT及CF生产。由于玻璃基板尺寸较大，同一基板内不同位置的特性值存在较大差异，因此需要制定合理的分层抽样规则。
本文以实际生产中某产品TFT基板ITO金属层的DICD特性值为例，介绍了通过实验测试、数据分析及原理探究得到玻璃基板内部数据分布规律，并以此制定分层抽样规则；同时突破常规管理方法
，对各分层单独使用控制图监控，实现SPC管理有效识别过程细小变异、预警不良，为企业带来实际效益。
2.寻找合适的SPC监控方法
液晶屏实际生产过程中，使用固定尺寸的大玻璃基板进行TFT及CF生产，对盒完成后再将大玻璃基板（本文中后续称之为Glass）切割成小尺寸显示屏（本文中后续称之为Panel）。在前段生产过程中，由于Glass尺寸大，需要选取较多位置进行测量，如图一所示有62个测量点。若以每个测量点做控制图，则控制图数量过多，实施管理不便。若以一张Glass作为一个子组，则Glass上不同位置的测量值差异较大，如图二所示，组内差异大于组间差异不易发现过程变差。因此将Glass整体分成若干层，对每一层单独进行抽样和控制图管理，减少组内变差，使控制图可以有效识别过程异常波动。