油中颗粒数及尺寸分布测量方法
(自动颗粒计数仪法)
本方法采用自动颗粒计数仪测定每100mL油中所含颗粒数量及尺寸分布，测量颗粒尺寸范围5～150μm(更换传感器可以扩大量程)。适合于测定变压器油、汽轮机油等油品的颗粒污染度。
1仪器及材料
1.1自动颗粒计数仪根据遮光原理工作，需定期校准。
1.2传感器与自动颗粒计数仪配套使用，能测定粒径约150μm的颗粒。
1.3超声波清洗器最小功率50W。
1.4秒表或计时器精确度为0.1s。
1.5真空泵真空度不小于86kPa。
1.6过滤装置供过滤清洁液使用。
1.7微孔滤膜孔径为0.8μm、0.45μm和0.15μm。
1.8取样瓶250mL玻璃瓶(医用输液瓶)，具塞和塑料薄膜衬垫。
1.9AC粉尘校准液AC粉尘为非球形颗粒，校准液一般由仪器生产厂提供，也可按国际标准ISO4402方法配制。
1.10标准胶球校准液一般由仪器生产厂提供，也可按美国宇航标准ARP1192A方法配制。
1.11异丙醇化学纯。
1.12石油醚化学纯，沸程60～90℃。
1.13甲苯(或二甲苯)化学纯。
1.14去离子水或蒸馏水。
2清洁液的制备
异丙醇、石油醚、甲苯和蒸馏水等可依次经过不同孔径的滤膜过滤制得。供清洗仪器及稀释样品使用的清洁液，每100mL中粒径大于5μm的颗粒不多于100粒；供检验取样瓶用的清洁液，每100mL中粒径大于5μm的颗粒不多于50粒。
3取样
3.1取样瓶的清洗及检验
3.1.1取样瓶经过自来水和蒸馏水清洗后，再用清洁水清洗，瓶盖和薄膜衬垫也要用清洁液清洗。
3.1.2检验清洗干净后，向瓶中注入总容积为45%～55%的清洁液，垫上薄膜，盖上瓶盖后充分摇动。用自动颗粒计数仪测定每100mL液体中粒径大于5μm的颗粒数应不多于100粒。将颗粒数乘以注入瓶内清洁液体积与瓶总容积之比值，并将结果记录在取样瓶的标签上，作为该取样瓶的清洁级(即每100mL容积中所含粒径大于5μm颗粒数量)，取样瓶的清洁级最小应比被取油样的颗粒浓度低两个数量级。
注：检验取样瓶用的清洁液，应根据瓶的干燥程度选用。若瓶中有水存在时，选用异丙醇；若瓶内干燥，选用石油醚。
3.1.3在经检验合格的取样瓶底部留有少许清洁石油醚，在瓶盖与瓶口间垫上薄膜，封闭取样瓶以备采样用。
3.2现场采样从设备中取样时，先放油将取样阀冲洗干净，连接导管和针头，并冲洗干净。在不改变流量的情况下，将针头插入经检验清洗合格的250mL取样瓶中，密封取样约200mL。如有的设备不能连接导管取样时，尽量缩短开瓶时间，取样后，先移走取样瓶，然后关闭取样阀。
油样应密封保存，最好不要倒置，测量时再启封。
4实验室环境
仪器的校准，样品的准备和测试都应在清洁环境中进行。一般空气中大于0.5μm的灰尘颗粒不超过350个/L，大于5μm的灰尘颗粒不超过2～3个/L，宜使用空气净化室。
5仪器的校准
每隔六个月或更换传感器元件时，应用校准液按如下程序校准自动颗粒计数仪。
5.1噪音电压峰值的测定
5.1.1选择合适的清洁液循环清洗仪器管路及传感器，并彻底干燥。
5.1.2调节计数仪1#门限值到0.40A。其余通道调整到大于或等于100B。
5.1.3将“时间取样”键按下(仪器上如没有时间取样器，可使用秒表计时)，并将取样定时器定为30s。
5.1.4将“计数方式”选择开关置于“计总数”位置。
5.1.5按下“启动”开关，30s后观察通道1的显示计数是否为30±5，如计数大于或小于30±5，则增加或减小门限值，使计数达到要求。
5.1.6重复计数三次以上，显示值均要满足30±5，如重复性不好，应重复5.1.1～5.1.6款步骤，直到满足要求为止。
5.1.7记录该门限值作为仪器的噪音电压峰值。
5.2校准通道门限值
5.2.1按仪器说明书“校准变动表”所列的值或前次校准的门限值，调节各通道门限值，不需校准的通道门限可调节到最高电压值。
5.2.2充分摇动校准液，然后将其置于超声浴中振荡(约3min)，使气泡逸出，擦干样品瓶外部后，置于仪器压力腔中，开动搅拌器。
5.2.3选择“体积取样”方式，开启仪器，调节流量到所用传感器的额定流量。
5.2.4开始计数，若计数结果与校准液给定值不符，则调节通道门限值，使每个通道计数与给定值的误差在“校准变动表”允许的误差范围内，重复计数3～5次，记录各通道门限值。
5.2.5用合适的清洁液将仪器管路冲洗干净。
5.2.6绘制校准曲线
5.2.
6.1在专用双对数坐标纸上，以颗粒尺寸为横轴，以门限值(见5.2.4条)减去噪音电压峰值(见5.1.7条)为纵轴绘制一条直线，该直线为无噪音理想校准线。
5.2.
6.2在无噪音理想校准线上取若干粒径的门限值，分别加上噪音峰值，再将这些点标绘在双对数坐标纸上，并连接各点得到该传感器的校准曲线(注意最小门限值必须高于噪音电压峰值0.20A)。
6油样测量步骤
6.1打开仪器的电源开关，使仪器预热约10min。
6.2仪器定标在传感器校准曲线上找到与所需粒径(一般为5.15，25.50，100μm)相对应的门限值，并按粒径大小依次调整到各通道上。
若被测的污染颗粒与校准液颗粒形状不一致，则应将粒径乘以相应因子。例如，被测污染颗粒为非球形，而校准液颗粒为球形，则应乘以因子1.54；反之，则除以1.54。
注：根据遮光原理工作的仪器，是将粒子的遮光面积折算为圆的直径计数的。校准用非球形AC粉尘与球形粒子具有相同的遮光面积时，AC粉尘的最大直径比球形粒子直径大1.54倍。
6.3油样的准备
6.3.1首先目测油样已被污染，杂质颗粒过大时，不应进行测量，否则大颗粒会堵塞传感器。
6.3.2若油样中含有游离状水，加入适量清洁剂异丙醇使油样透明。
6.3.3充分摇动油样，然后将其置于超声浴中振荡(约3min)，使气泡逸出。
6.3.4将油样瓶取出擦干外部后，置于仪器压力腔中，开动搅拌器，使污染颗粒均匀悬浮，但不得产生气泡。
6.4选择自动颗粒计数仪的“计数方式”、“计总数”或“差数”。选择“体积取样”(或“时间取样”)10～100mL。
6.5启动仪器，调节取样泵的气压使取样流量达到传感器的额定流量。
6.6开始计数，每个油样至少重复计数三次。如果油样的颗粒浓度超过了传感器允许的极限值时，报警灯将闪亮，此时应稀释油样后，重新脱气、测量。选择稀释液要与被测油样互溶，但不能溶解或凝聚油样中的污染颗粒，矿物油选择石油醚，磷酸酯；抗燃油选择甲苯为宜。
如果被测油样的粘度过大，进入仪器传感器的油达不到额定流量时，应选择合适的稀释液稀释，降低油的粘度。稀释液的量应维持在最少，以免影响测量误差。也可采用适当加热的方法降低油粘度。
6.7停止测试，取下试瓶，倒掉残液，用合适的清洁液清洗取样瓶，并冲洗仪器管道及传感器通道。
7计算
测量结果由下式计算
c c
V V V V
=?+
100
A B
A
式中c——每100mL被测油样中颗粒数量；
c——几次平行测量结果平均值；
V——每次测量进样体积，mL；
V A——油样体积，mL；
V B——稀释液体积，mL。
8试验报告
在试验报告中应注明样品名称，计数仪型号、传感器型号、校准物、校准日期、流量，
每次计数体积、稀释比例等。颗粒数应分别按几个尺寸范围(如＞5μm，＞15μm，＞25μm，＞50μm，＞100μm)报告。
9精确度
重复性三次平行测量中大于5μm颗粒的最大相对误差为±2%。
10结果判断
测量结果较前次有明显增大时，如果是电气设备用油，则应结合油中溶解气体分析和金属含量测定进行跟踪分析，查找原因；如果是汽轮机油，则应分析是由外界污染还是由磨损引起的。
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附加说明：
本标准由电厂化学专业标准委员会提出。
本标准由西安热工研究所技术归口。
本标准主要起草人李烨烽。
本标准主要参照ASTM F661方法制订。
附录 土 工 试 验 实验四 颗粒大小分析试验 (一)概述 试验目的是使用比重计法测定土的各种粒组占该土总质量的百分数，并据此绘制颗粒大小分配曲线。比重计法适用于分析粒径小于0.075mm 的土样，若试样中还有大于0.075mm 的粒径时，应联合使用比重计法和筛析法。 (二)试验原理 比重计法是将一定质量的试样加入4％浓度的六偏磷酸钠10mL 混合成1000mL 悬液，并使悬液中的土粒均匀分布。此时悬液中不同大小的土粒下沉速度快慢不一。一方面可由斯笃克(Stokes ，1845)定律计算悬液中不同大小土粒的直径，另一方面用比重计测定其相应不同大小土粒质量的百分数。 1．斯笃克定律 根据斯笃克定律各种土粒在悬液中的下沉速度与其直径大小、比重和液体的动力粘滞系数有关。在时间t 内的下沉速度v 为： 2 4101800)(gd d d t L v w wt s η ρ?-== 或 t L k d = g d d k w wt s ρη)(1018004-?= 式中 v ——土颗粒下沉速度，cm/s ； η——纯水的动力粘滞系数，10-6kPa·s d ——土颗粒粒径，mm ； g ——重力加速度，981cm/s 2； d s ——土粒的比重； ρw ——4℃时水的密度，g/cm 3； d wt ——温度T ℃时水的比重； L ——某一时间t 内土粒的沉降距离，cm ； t ——土粒沉降的时间，s ； k ——粒径计算系数。 为了简化计算，用图附4.1的斯笃克列线图，便可求得粒径d 值。此时，悬液中在L 范围内所有土粒的直径都比算得的d 值小，而大于d 的土粒都下沉到比L 大的深度处。 2．悬液中土粒质量的百分数 附4.1
教你如何进行晶粒度分析 金属晶粒的尺寸(或晶粒度)对其在室温及高温下的机械性质有决定性的影响，晶粒尺寸的细化也被作为钢的热处理中最重要的强化途径之一。因此，在金属性能分析中，晶粒尺寸的估算显得十分重要。那么根据一张金相照片我们能从中得到哪些信息呢？ 首先来看看这一段小视频 视频：晶粒度分析 一、晶粒度概述 晶粒度表示晶粒大小的尺度。金属的晶粒大小对金属的许多性能有很大影响。晶粒度的影响，实质是晶界面积大小的影响。晶粒越细小则晶界面积越大，对性能的影响也越大。对于金属的常温力学性能来说，一般是晶粒越细小，则强度和硬度越高，同时塑性和韧性也越好。 二、测定平均晶粒度的基本方法 一般情况下测定平均晶粒度有三种基本方法：比较法、面积法、截点法。具体如下 1、比较法：比较法不需计算晶粒、截矩。与标准系列评级图进行比较，用比较法评估晶粒度时一般存在一定的偏差(±0.5级)。评估值的重现性与再现性通常为±1级。 2、面积法：面积法是计算已知面积内晶粒个数，利用单位面积晶粒数来确定晶粒度级别数。该方法的精确度中所计算晶粒度的函数，通过合理计数可实现±0.25级的精确度。面积法的测定结果是无偏差的，重现性小于±0. 5级。面积法的晶粒度关键在于晶粒界面明显划分晶粒的计数
图：面积法 3、截点法：截点数是计算已知长度的试验线段（或网格）与晶粒界面相交截部分的截点数，利用单位长度截点数来确定晶粒度级别数。截点法的精确度是计算的截点数或截距的函数，通过有效的统计结果可达到±0.25级的精确度。截点法的测量结果是无偏差的，重现性和再现性小于±0.5级。对同一精度水平，截点法由于不需要精确标计截点或截距数，因而较面积法测量快。 同心圆测量线（截点法） 三、金相图具体案例分析 以上只是大致的测定方法太过笼统，如果真的拿到一个具体的微观照片，我们该怎么做呢？下面我们来看一下具体操作与计算方法。
金属平均晶粒度测定方法 1 范围 1.1 本标准规定了金属组织的平均晶粒度表示及评定方法。这些方法也适用晶粒形状与标准系列评级图相似的非金属材料。这些方法主要适用于单相晶粒组织，但经具体规定后也适用于多相或多组元和试样中特定类型的晶粒平均尺寸的测量 1.2 本标准使用晶粒面积、晶粒直径、截线长度的单峰分布来测定式样的平均晶粒度。这些分布近似正态分布。本标准的测定方法不适用于双峰分布的晶粒度。双峰分布的晶粒度参见标准E1181。测定分布在细小晶粒基体上个别非常粗大的晶粒的方法参见E930。 1.3本标准的测量方法仅适用平面晶粒度的测量，也就是试样截面显示出的二维晶度，不适用于试样三维晶粒，即立体晶粒尺寸的测量。 1.4 试验可采用与一系列标准晶粒度图谱进行对比的方法或者在简单模板上进行计数的方法。利用半自动计数仪或者自动分析晶粒尺寸的软件的方法参见E1382。 1.5本标准仅作为推荐性试验方法，它不能确定受检材料是否接收或适合使用的范围。1.6 测量数值应用SI单位表示。等同的英寸－英镑数值，如需标出，应在括号中列出近似值. 1.7 本标准没有列出所有的安全事项。本标准的使用者应建立适合的安全健康的操作规范和使用局限性。 1.8 章节的顺序如下：
2、参考文献 2.1ASTM标准 E3 金相试样的准备 E7 金相学有关术语 E407 微蚀金属和合金的操作 E562计数法计算体积分数的方法
E691 通过多个实验室比较决定测试方法的精确度的方法 E883 反射光显微照相指南 E930 截面上最大晶粒的评估方法（ALA晶粒尺寸） E1181双峰分布的晶粒度测试方法 E1382 半自动或全自动图像分析平均晶粒度方法 2.2 ASTM附件 2.2.1 参见附录X2 3 术语 3.1 定义－参照E7 3.2 本标准中特定术语的定义： 3.2.1 ASTM晶粒度——G,通常定义为 公式（1） N AE为100倍下一平方英寸（645.16mm2）面积内包含的晶粒个数，也等于1倍下一平方毫米面积内包含的晶粒个数，乘以15.5倍。 3.2.2＝2.1 3.2.3 晶界截点法——通过计数测量线段与晶界相交或相切的数目来测定晶粒度（3点相交认为为1.5各交点） 3.2.4晶粒截点法——通过计数测量线段通过晶粒的数目来测定晶粒度（相切认为0.5个，测量线段端点在晶粒内部认为0.5个） 3.2.5截线长度——测量线段通过晶粒时与晶界相交的两点之间的距离。 3.3 符号
实验一、颗粒大小分析试验(比重计法) 颗粒大小分析试验是测定干土中各种粒组所占该土总质量的百分数，借以明确颗粒大小分布情况，供土的分类与概略判断土的工程性质及选料之用。根据土的颗粒大小及级配情况常用的方法有筛分法与比重计法，筛分法适用于分析粒径大于0.074mm 的土；比重计法适用于粒径小于0.074mm的土。当土中兼有上述两类粒径时，则应联合使用筛析法与比重计法。 一、基本原理 密度计法是静水沉降分析法的一种，只适用于粒径小于0.075mm的土样。密度计法是将一定量的土样(粒径<0.075mm)放在量筒中，然后加纯水，经过搅拌，使土的大小颗粒在水中均匀分布，制成一定量的均匀浓度的土悬液(1000mL)。静止悬液，让土粒沉降，在土粒下沉过程中，用密度计测出在悬液中对应于不同时间的不同悬液密度，根据密度计读数和土粒的下沉时间，就可计算出粒径小于某一粒径d(mm)的颗粒占土样的百分数。 二、仪器设备 1、密度计 目前通常采用的密度计有甲、乙两种，这两种密度计的制造原理及使用方法基本相同,但密度计的读数所表示的含义则是不同的，甲种密度计读数所表示的是一定量悬液中的干土质量；乙种密度计读数所表示的是悬液比重。 (1)甲种密度计，刻度单位以在20oC时每1000mL悬液内所含土质量的克数来表示，刻度为-5～50，最小分度值为0.5。 (2)乙种密度计，刻度单位以在20oC时悬液的比重来表示，刻度为0.995～1.020，最小分度值为0.0002。 2、量筒2个：容积1000mL； 3、三角烧瓶：容积500ml 4、煮沸设备：电热器、锥形烧瓶； 5、分散剂：4%六偏磷酸钠或25%氨水； 6、其他：搅拌棒、温度计、研钵、秒表、烧杯、瓷皿、天平等。 三、操作步骤 1、密度计的校正 密度计在制造过程中, 其浮泡体积及刻度往往不易准确, 况且, 密度计的刻度是 以20 C的纯水为标准的。由于受实验室多种因素的影响，密度计在使用前应对刻度、弯液面、土粒沉降距离、温度、分散剂等的影响进行校正。 (1)土粒沉降距离校正
晶粒度分析
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DEFROM-3D之晶粒度分析模拟1.创建一个新问题 在主窗口中选中一个DB文件，单机后处理的Microsoftstructure按钮，打开 DEFORM-MICROSTRUCTURE窗口，单击Add project按钮增加计划。 2. 追踪选项设置 点击define按钮，在坯料上选取5个点，如图2所示
单机next按钮，在追踪界面选中No单选按钮，点击next。 3. 离散点阵设置 在离散点阵界面，类型选中Celluar Automata单选按钮（即CA模型），几何选中Square单选按钮，行和列分别设置为50，绝对尺寸为1，如图3所示 4. 边界条件设置 在边界条件界面，保持默认设置即可 5. 晶粒边界条件设置 在晶粒边界选项界面，设定Grain boundaries coupled to material flow 为No。Neighborhood选第一个，半径为1如图4所示
6. 位错密度常数设置 根据实际情况分别查找到对应材料各参数值，本次演示操作选取的值如图5所示 7. 再结晶设置 在再结晶界面选中Discontinous dynamic recrystallization (DRX)复选框，如图6所示，点击next 8. 形核状况设置 （1）在晶核形成界面1选中Function of threshold dislocation density and probability 单选按钮，如图7所示，然后next （2）在晶核形成条件界面2里，Critical dislocation density for DRX设为0.02，Probability of nucleation设为0.01，如图8所示，然后单击next。
XRD晶粒尺寸分析 很多人都想算算粒径有多大。 其实，我们专业的术语不叫粒径，而叫“亚晶尺寸”，它表征的并不是一个颗粒的直径。 A。这么说吧，粉末由很多“颗粒”组成，每个颗粒由很多个“晶粒”聚集而成，一个晶粒由很多个“单胞”拼接组成。X射线测得的晶块尺寸是指衍射面指数方向上的尺寸，如果这个方向上有M个单胞，而且这个方向上的晶面间距为d，则测得的尺寸就是Md。如果某个方向（HKL）的单胞数为N，晶面间距为d1，那么这个方向的尺寸就是Nd1。由此可见，通过不同的衍射面测得的晶块尺寸是不一定相同的。 B 如果这个晶粒是一个完整的，没有缺陷的晶粒，可以将其视为一个测试单位，但是，如果这个晶粒有缺陷，那它就不是一个测试单位了，由缺陷分开的各个单位称为“亚晶”。比如说吧，如果一个晶粒由两个通过亚晶界的小晶粒组成（称为亚晶），那么，测得的就不是这个晶粒的尺寸而是亚晶的尺寸了。 C 为什么那么多人喜欢抛开专业的解释而用“粒径”这个词呢？都是“纳米材料”惹的祸。纳米晶粒本来就很小，一般可以认为一个纳米晶粒中不再存在亚晶，而是一个完整的晶粒，因此，亚晶尺寸这个术语就被套用到纳米晶粒的“粒径”上来了。实际上，国家对于纳米材料的粒径及粒径分布的表征是有标准的，需要用“小角散射”方法来测量。比如，北京钢铁研究总院做这个就做了很长时间。但是呢，一则，做小角散射的地方还不多，做起来也特别麻烦（现在好一些了，特别是对光能自动一些了），所以，很少有人去做，而且，用衍射峰宽计算出来的“粒径”总是那么小，何乐而不为呢？我私下地觉得吧，这些人在偷换概念。久而久之，大家也就接受了。 为了这个事吧，有些人就问了，既然做出来的纳米材料的“粒径”是这么小，那么有没有办法在做SEM或TEM时将团聚在一起的小晶粒分开呢？确实分不开，分得开的是一个个的晶粒，分不开的是亚晶。 D 至于为什么通过衍射峰宽测出来的“粒径”为什么总是那么小，还有一个原因。实际上吧，使衍射峰变宽的原因可能有两个，一是晶粒变小了，另一个原因是晶粒内部存在“微观应变”。打个比方吧，甲乙两个人同时做一件事，结果把功劳算到甲一个人头上，当然这个人的功劳就大了（功能劳大就峰宽，峰越宽晶粒就越细）。有时候发现，有个别人在有意无意地避口不谈乙的功劳。 E 为什么允许将亚晶尺寸称为“粒径”呢？称为径，必假定晶粒为“球形”，从而假定了不论从哪个晶面去测都会是相同的，即忽略了A 所说的那种差别。事实上，这种不同方向的尺寸差异在很多情况下确实可以忽略。但是，也有一些特殊情况是不可以的。下面我们再谈。 注意这两个假定，这就是为什么很多人都说，XRD测出来的粒径不可靠，总是小于SEM和TEM量出来的值。因为概念都不相同，它们怎么可能相同呢？ 既然大家都说是粒径，那么要怎么样来算粒径呢？ 我们先来看一个简单的问题。 怎么做拟合？
“颗粒粒径分析方法”汇总大全 来源：材料人2016-08-05 一、相关概念： 1、粒度与粒径：颗粒的大小称为粒度，一般颗粒的大小又以直径表示,故也称为粒径。 2、粒度分布：用一定方法反映出一系列不同粒径区间颗粒分别占试样总量的百分比称为粒度分布。 3、等效粒径：由于实际颗粒的形状通常为非球形的，难以直接用直径表示其大小，因此在颗粒粒度测试领域，对非球形颗粒，通常以等效粒径（一般简称粒径）来表征颗粒的粒径。等效粒径是指当一个颗粒的某一物理特性与同质球形颗粒相同或相近时，就用该球形颗粒的直径代表这个实际颗粒的直径。其中，根据不同的原理，等效粒径又分为以下几类：等效体积径、等效筛分径、等效沉速径、等效投影面积径。需注意的是基于不同物理原理的各种测试方法，对等效粒径的定义不同，因此各种测试方法得到的测量结果之间无直接的对比性。 4、颗粒大小分级习惯术语：纳米颗粒（1-100 nm），亚微米颗粒（0.1-1 μm），微粒、微粉（1-100 μm），细粒、细粉（100-1000 μm），粗粒（大于1 mm）。 5、平均径：表示颗粒平均大小的数据。根据不同的仪器所测量的粒度分布，平均粒径分、体积平均径、面积平均径、长度平均径、数量平均径等。 6、D50：也叫中位径或中值粒径，这是一个表示粒度大小的典型值，该值准确地将总体划分为二等份，也就是说有50%的颗粒超过此值，有50%的颗粒低于此值。如果一个样品的D50=5 μm，说明在组成该样品的所有粒径的颗粒中，大于5 μm的颗粒占50％，小于5 μm的颗粒也占50％。 7、最频粒径：是频率分布曲线的最高点对应的粒径值。 8、D97：D97指一个样品的累计粒度分布数达到97%时所对应的粒径。它的物理意义是粒径小于它的的颗粒占97%。这是一个被广泛应用的表示粉体粗端粒度指标的数据。 二、粒度测试的基本方法及其分析 激光法 激光法是通过一台激光散射的方法来测量悬浮液，乳液和粉末样品颗粒分布的多用途仪器。纳米型和微米型激光料度仪还可以通过安装的软件来分析颗粒的形状。现在已经成为颗粒测试的主流。 1、优点：（1）适用性广，既可测粉末状的颗粒，也可测悬浮液和乳浊液中的颗粒；（2）测试范围宽，国际标准ISO 13320 - 1 Particle Size Analysis 2 Laser Diffraction Meth 2 ods 2 Part 1: General Principles中规定激光衍射散射法的应用范围为0.1～3000 μm；（3）准确性高，重复性好；（4）测试速度快；（5）可进行在线测量。 2、缺点：不宜测量粒度分布很窄的样品，分辨率相对较低。 激光散射技术分类： 1、静态光散射法（即时间平均散射）：测量散射光的空间分布规律采用米氏理论。测试的有效下限只能达到50纳米，对于更小的颗粒则无能为力。纳米颗粒测试必须采用“动态光散射”技术。 2、动态光散射法：研究散射光在某固定空间位置的强度随度时间变化的规律。原理基于ISO 13321分析颗粒粒度标准方法，即利用运动着的颗粒所产生的动态的散射光，通过光子相关光谱分析法分析PCS颗粒粒径。 按仪器接受的散射信号可以分为衍射法、角散射法、全散射法、光子相关光谱法，光子交叉相关光谱法（PCCS）等。其中以激光为光源的激光衍射散射式粒度仪（习惯上简称此类仪器为激光粒度仪）发展最为成熟，在颗粒测量技术中已经得到了普遍的采用。 激光粒度分析仪：
《钢材质量检验》单元教学设计一、教案头
二、教学过程设计
三、讲义 1.金属的硬度试验 晶粒度检验 晶粒度是晶粒大小的量度，它是金属材料的重要显微组织参量。钢中晶粒度的检验，是借助金相显微镜来测定钢中的实际晶粒度和奥氏晶粒度。 实际晶粒度，就是从出厂钢材上截取试样所测得的晶粒大小。而奥氏晶粒度则是将钢加热到一定温度并保温足够时间后，钢中奥氏晶粒度大小。下面介绍奥氏晶粒度的显示和晶粒度的测定方法。 晶粒度的测定 在国家标准GB6394-86中规定测量晶粒度的方法有比较法、面积法和截点法等，生产检验中常用比较法。 1.比较法 比较法是在100倍显微镜下与标准评级图对比来评定晶粒度的。标准图是按单位面积内的平均晶粒数来分级的，晶粒度级别指数G和平均晶粒数N的关系为式中 N=2G+3 N-放大100倍时每1mm2面积内的晶粒数，晶粒越细，N越大，则G越大。 在GB6394-86中备有四个系列的标准评级图，包括I无孪晶晶粒，II有孪晶晶粒，III 有孪晶晶粒（深反差腐蚀），IV钢中奥氏体晶粒。图4-10是系列I的标准评级图。实际评定时应选用与被测晶粒形貌相似的标准评级图，否则将应引入视觉误差。当晶粒尺寸过细或过粗，在100倍下超过了标准评级图片所包括的范围，可改用在其他放大倍数下参照同样标准评定，再利用表查出材料的实际晶粒度。 评级时，一般在放大100倍数的显微镜下，在每个试样检验面上选择三个或三个以上具有代表性的视场，对照标准评级图进行评定。 若具有代表性的视场中，晶粒大小均匀，则用一个级别来表示该种晶粒。若试样中发现明显的晶粒不均匀现象，则应当计算不同级别晶粒在视场中各占面积的百分比，若占优势的晶粒不低于视场面积的90%时。则只记录一种晶粒的级别指数，否则应当同时记录两种晶粒度及它们所占的面积，如6级70%-4级30%。 比较法简单直观，适用于评定等轴晶粒的完全再结晶或铸态的材料。比较法精度较低，为了提高精度可把标准评级图画在透明纸上，再覆在毛玻璃上与实际组织进行比较。 四、训练任务
鞋子尺寸测量方法及尺码对照表 鞋子尺寸测量 为购买到最适合自己的尺码，建议您先认真参考非常重要的有关尺码测量的介绍内容: 注： 1、"抬脚测量是大家最容易犯的错误!如果抬脚测量，由于脚没有受力的缘故，测量出来的数据会偏小而不准确。所以测量时要求身体直立，体重均分于双脚，这样才能测出准确的尺码。 2、人由于行走习惯和用力不一的原因，基本上每个人的两只脚都不一样大小，购买鞋子的时候应按照最大那只脚来选择尺码。(差之毫厘，失之千里哦) 3、你平时都穿多大尺码的鞋?请勿提供球鞋尺码。 4、脚板是肉肉的?还是瘦而没肉? 5、请您按前面介绍的测量方法核准尺码，该方法是中华人民共和国国家质量监督局对我国制鞋行业的规范标准。注意测量出来的数据一定要和平时自己穿的码数基本协调才对噢。 鞋子尺码对照表 我们常用的两种鞋码一种是英美制的，就是一般比较大的那个，一种是我国制定的，就是较小的。 换算公式： 中国制/2-10=英美制 写的尺码大概分四种： 美国、英国、欧洲和毫米数。比如说： US UK EUR MIM
9 8 42 270 我们中国一般用欧洲号。 女鞋 脚长(cm) 22."5 23 23."5 24 24."5 25 25."5 26 中国35 36 37 38 39 39 40 40 美国5 5."5 6 6."5 7 7."5 8 8."5 英国4 4."5 5 5."5 6 6."5 7 7."5 欧洲35 36 37 38 39 39 40 40 .男鞋
脚长(cm) 24." 525." 526."5 27 27."5 28 中国43 44 45 46 美国 77." 588."59 9."5 10 10."5 英国 66." 577."58 8."5 9 9."5 欧洲43 44 45 46 希望以上信息对网购族们有一定的帮助作用。
1．晶粒度 晶粒大小的度量称为晶粒度。通常用长度、面积、体积或晶粒度级别数等不同方 晶粒大小的度量称为晶粒度通常用长度面积体积或晶粒度级别数等不同方 法评定或测定晶粒度大小。使用晶粒度级别数表示的晶粒度与测量方法和计量单 位无关。 2．实际晶粒度（如按照产品实际热处理条件进行渗碳淬回火后进行测试的晶粒度）实际晶粒度是指钢在具体热处理或热加工条件下所得到的奥氏体晶粒大小。实际 晶粒度基本上反映了钢件实际热处理时或热加工条件下所得到的晶粒大小，直接 影响钢冷却后所获得的产物的组织和性能平时所说的晶粒度如不作特别的说明 影响钢冷却后所获得的产物的组织和性能平时所说的晶粒度，如不作特别的说明，一般是指实际晶粒度。 3．本质晶粒度（如按照GB/T6394中渗碳法进行测试的晶粒度） 本质晶粒度是用以表明奥氏体晶粒长大倾向的晶粒度，是一种性能，并非指具体 的晶粒。根据奥氏仁晶粒长大倾向的不同，可将钢分为本质粗品粒钢和本质细晶 粒钢两类。就是这个材料的底子好不好，耐热处理晶粒不长大的能力好不好。 测定本质晶粒度的标准方法为：将钢加热到930℃±10℃，保温6h后测定奥氏体 晶粒大小，晶米度在1级～4级者为本质粗晶粒钢，晶粒度在5级～8级者为本质细 晶粒大小晶米度在级级者为本质粗晶粒钢晶粒度在级 晶粒钢。加热温度对奥氏体晶粒大小的影响见下图
一般情况下，本质细晶粒钢的晶粒长大倾向小，正常热处理后获得细小的实际晶粒，淬火温度范围较宽，生产上容易掌握，优质碳素钢和合金钢都是本质细晶粒钢。本质粗晶粒钢的晶粒长大倾向大，在生产中必须严格控制加热温度。以防过热晶粒粗化。值得注意的是加热温度超过930℃。本质细晶粒钢也可能得到很粗大的奥氏体晶粒。甚至比同温度下本质粗晶粒钢的晶粒还粗。 至比同温度下本质粗晶粒钢的晶粒还粗
常用的测绘量具以及测量零件尺寸的方法
1. 测量零件尺寸时常用的测量工具 测量尺寸常用量具有：钢板尺、外卡钳和内卡钳。测量较精确的尺寸，则用游标卡尺，如图1－3所示。 2. 常用的测量方法 (1) 测量长度尺寸的方法 一般可用钢板尺或游标卡尺直接测量，如图 1－4所示。 (2) 测量回转面直径尺寸的方法 用内卡钳测量内径，外卡钳测量外径。测量时，要把内、外卡钳上下、前后移动，测得最大值为其直径尺寸，测量值要在钢板尺上读出。遇到精确的表面，可用游标卡尺测量，方法与用内外卡钳相同，如图 1－5 a、b、c、d 所示。 (3) 测量壁厚尺寸 一般可用钢板尺直接测量，若不能直接测出，可用外卡钳与钢板尺组合，间接测出壁厚，如图1-6所示。 (4) 测量中心高 利用钢板尺和内卡钳可测出孔的中心高，如图 1－7 所示。也可用游标卡尺测量中心高。 (5) 测量孔中心距 可用内卡钳、外卡钳或游标卡尺测量，如图 1－8 所示。
(6) 测量圆角 一般可用圆角规测量，如图 1－9 是一组圆角规，每组圆角规有很多片，一半测量外圆角，一半侧量内圆角，每一片标着圆角半径的数值。测量时，只要在圆角规中找到与零件被测部分的形状完全吻合的一片，就可以从片上得知圆角半径的大小。 (7) 测量螺纹 测量螺纹需要测出螺纹的直径和螺距。螺纹的旋向和线数可直接观察。对于外螺纹，可测量外径和螺距，对于内螺纹可测量内径和螺距。测螺距可用螺纹规测量，螺纹规是由一组带牙的钢片组成，如图 1－10所示，每片的螺距都标有数值，只要在螺纹规上找到一片与被测螺纹的牙型完全吻合，从该片上就得知被测螺纹的螺距大小。然后把测得的螺距和内、外径的数值与螺纹标准核对，选取与其相近的标准值。 《画法几何及机械制图》零件测绘实验教程 一、课程所属类型及服务专业 课程属于技术基础课，服务机械类各专业。 二、实验的目的和要求 1实验目的： 通过对轴、盘盖、箱体三类零件的测绘以及对减速箱拆卸，了解零件测绘的一般步骤，掌握其测绘的常用方法，熟悉量具的选用和使用。进一步巩固零件的视图选择和表达方法，以及查表计算等有关知识。 2实验要求： 对不同形状的轴、盘盖、箱体三类零件进行测绘，在方格纸上绘制草图，根据其的大小和复杂程度选择合适的图幅，绘制零件图，并填写实验报告。 三、学时分配及实验项目表
Image-Pro-Plus分析微粒粒径操作过程简要概述 1．打开IPP软件，选择complete模式 也可已在进入界面后，在任务栏中的window的下拉菜单中选select manu…进入模式选择对话框。 2．打开照片，要求是tiff格式 注：我此处引用的照片来之J.AM.CHEM.SOC.2004, 126, 6164-6168(作者之一：Z. John Zhang)，图中标尺代表50 nm。 然后可以用如下工具来调节颗粒与背景的对比度，但是通常效果不理想，有人说用photoshop把一个一个的颗粒圈起来再处理，这样效果好些，但由于我刚学photoshop，无法实现这个目标。 3．重新设置（在图中增加）标尺 点击如下对话框的紫色按钮，出现Spatial Calibration对话框： 在对话框中点击New按钮，建立新的刻度标尺，
选长度单位（Unit ：我这里选nm ），点击Image 按钮，出现Scaling 对话框，输入标尺代表的尺寸数值（50）： 注意到照片中出现的绿色“H ”，鼠标调整“H ”的长度知道跟原始标尺一样长。
然后点击“OK”键,回到spatial calibration对话框，先点击“Apply”按钮，确认刚才的选择，再点击“Mark...”按钮，出现Spatial Calibration Marker对话框。
对话框中有四种标尺模式，还可选择标尺在不在图中显示（On－Image or ...），不在图中显示更好，因为在计算粒径时候，软件会把标尺上的字也当微粒算进去，输入标尺所代表的长度值（50）unit，点击“OK”按钮，出现如下对话框： 注意到图片左上角的新标尺，按“continue”键，回到spatial calibration对话框，此时可用鼠标左键移动新标尺到你想要的图片位置，按右键固定。 4．计算粒径 点击工具栏中的按钮，出来count/size对话框：
实验指导书 实验一晶粒度的测定及评级方法 一．实验目的 1. 了解显示和测定钢的奥氏体晶粒度的方法，验证加热温度和保温时间对 奥氏体晶粒大小影响的规律性； 2.掌握钢铁材料晶粒度评级的实验技术。 二．晶粒度的显示及评级方法 1. 晶粒度的定义及晶粒大小的显示方法 在常规讨论中所提到的奥氏体晶粒度具有3个不同概念。它们分别是，起始晶粒度、实际晶粒度和本质晶粒度。起始晶粒度是指：钢刚刚完成奥氏体化过程时所具有的的晶粒度；实际晶粒度，就是从出厂的钢材上截取试样所测得的某一种工艺条件下所获得的晶粒大小；而奥氏体本质晶粒度则是将钢加热到一定温度并保温足够时间后，所具有的奥氏体晶粒大小（目前有逐步取消这个概念的趋势）。 (大多数钢材的奥氏体只能在高温下存在，因此，要测定其大小。通常须要采用下述方法，把高温A氏体的形貌固定并保留下来，以便在室温下评定钢中晶粒的大小) 。借助金相显微镜来测定钢中的晶粒度，其显示方法有氧化法、网状铁素体法、网状珠光体（屈氏体）法、网状渗碳体法、渗碳法、淬硬法等几种： (1)氧化法 氧化法就是利用奥氏体晶界容易氧化这个特点，根据沿晶界分布的氧化物来测定奥氏体晶粒的大小。测定的方法是首先将试样的检验面抛光，随后将抛光面朝上置于炉中。对碳素钢和合金钢，当含碳量小于或等于0.35％时，一般在900±10℃加热1h。含碳量大于0.35％时，一般可在860±10℃加热1h，然后淬如冷水或盐水。根据氧化情况，将试样适当倾斜8-15度进行研磨和抛光，直接在显微镜下测定奥氏体晶粒的大小，(抛光浸蚀后在过渡带内可以看到已氧化的原奥氏体晶界的黑色网络)，为了显示清晰，可用15％的盐酸酒精溶液进行侵蚀。 (2)网状铁素体法
题：里面的举例对于理解相关英文简写很有帮助哦！另外一定要结合客户的指示图！ 上衣的尺寸 一，身长（Body Length） 1，一般上衣的衣长： （1）从后领中量至下摆（From CB Neck to bottom edge of hem）。 （2）从肩高点量至下摆（From HPS to bottom edge of hem） 。 2，特殊上衣的衣长： （1）后长（Back Length）： 在大多数情况下，是记作：后中量（from CB），在服装的后身，量取后领中至下摆的距离。但是也有可能要求其他的测量位置线，例如肩高点量（from HPS）。 （2）前长（Front Length）： 在大多数情况下，是记作：肩高点量（from HPS），在服装的前身，量取肩高点至下摆的距离。 但是也有可能要求其他的测量位置线，例如从前领中量（from C. F. Neck）。 二，胸围（Chest Width） 在大多数情况下，测量位置点是在袖笼下1英寸，从一侧的侧缝水平地量到另一侧，在客户的尺寸表上记作：at 1”below the AH。 三，腰围（Waist Width） 1，上衣腰围：一般在客户的尺寸表上会注明一个测量位置点，指出是在肩高点下多少距离测量，记作“X”down from HPS。 2，下装腰围：下装，如裙、裤。测量时只需测量下装的腰头开口长度即可。 如果是带有橡筋的裙或者裤，其腰围测量就有松量尺寸（relaxed）和拉量尺寸（extended）之分。 四，下摆围（Bottom Width） 从下摆的一侧量到另一侧。如果下摆是带有橡筋，则需要分别测量松量尺寸（relaxed）和拉量尺寸（extended）。 五，下摆罗纹宽（Rib/ Bottom Hem Height） 从下摆罗纹起头的一侧量到下摆罗纹结束处。 六，肩宽（Cross Shoulder） 从一侧与袖窿接缝的肩点量到另一侧的对应肩点。 另一种肩宽的测量为单肩宽（Side Shoulder）。
对不同颗粒尺寸采用不同的测量方法 作者：Stephen Ball,，马尔文仪器产品营销经理 本文中，马尔文仪器产品营销经理Stephen Ball向您介绍生物制药中蛋白质团聚物的一些测量技术。 随着生物分子在许多制药公司药物开发途径中所占据的比例越来越大，人们越来越关心相关开发、生产与监管方面难题的解决。由于药物的潜在免疫原性是生产商和监管者都十分关心的要素，因此如何定义生物药品的纯度与效力要比那些小分子药物复杂得多。这反过来突显了业界对高质量分析工具的迫切需要——希望它们能有助于全面表征出生物药物颗粒和团聚物，同时对药物内在颗粒与污染物的理化特性表征也越来越重视。 测量的用处何在？ 药物分子从发现走向早期配方是十分关键的一个步骤。分子的理化特性是药物配方与给药的决定因素；药物分子的理化特性确定得越早，就能获得越大的经济效益——无论是为了确定上述步骤成功的可能性，还是尽早避免可能的失败。就这一点而言，比较理想的是能够在非常少量的样品上进行一系列非破坏性试验，并且把更多的精力放在改善可能用到的测试过程中。 从药物分子理化特性表征到药物开发过程直至最终的成品测试，发现和检测蛋白质团聚物，是药物开发最重要的步骤，因为理解药物分子这方面的行为对于药物产品的配制、稳定性和安全性来说都是至关重要的。蛋白质结构是通过范德华力、氢键、二硫键和疏水作用的结合来保持的，环境条件的改变可能会影响其中的一些或者全部相互作用力——其结果可能会引发团聚物非正常的折叠或者对于溶解性造成负面影响。在此过程中，蛋白质的活性常常会消失，也有可能很多团聚物会发展出免疫原性，从而对最终治疗药物产品的有效性和安全性造成显著影响。 当前的监管预期是，对团聚物和大小范围在“0.2- 2”微米级别1的不溶性微粒进行表征。大小超过几微米的团聚物可以用视觉方法来进行表征。小于这个尺寸的，可以采用动态光散射(DLS) 法和体积排除色谱 (SEC) 法等成熟的分析技术对蛋白质凝聚物进行表征。图1列出了上述方法所采用的技术和测量范围。共振质量测量法 (RMM)是最新发展的技术现在也被用来检测和统计50 nm到5μm这一至关重要尺寸范围内的不溶性微粒，并对它们的浮力质量、净质量和粒径大小进行可靠的测量。共振质量测量法为不溶性微粒和亚微米级凝聚物提供了测量窗口。 动态光散射法的使用 动态光散射法测量迅速，属于非侵入性的测量方式，特别适合在药物试剂开发的早期阶段筛选蛋白质。
超硬磨料微粉的粒子尺寸及尺寸分布 此文是描述当今超硬磨料工业生产中关于金刚石微粉及CBN粉末的粒子尺寸和尺寸分布的技术和标准。颗粒粒度的表征 粉末系统的粒子尺寸及尺寸分布的测量是大部分工业生产中的主要要求。粒子尺寸及尺寸分布对最终产品的大块性质（机械性能，导电性能，导热性能）有决定性的影响。大多数粉末生产商提供粒子尺寸及尺寸分布标准，但是这些标准对质量控制的实际结果还需要讨论。一个合适的质量控制体系，可以防止或避免高斥力导致的最终产品的生产损失。市面上有很多粒子尺寸及尺寸分布的测量设备，不同的设备测量方法不同，必定导致不同的测量结果。此外，即使使用相同的测量方法，测量中的技术差异和计算方法差异，也会导致粒子尺寸及尺寸分布测量结果有很大差异。而且，粒子的形状对粒子尺寸及尺寸分布也有很大影响。所以不同测量方法下数据的对比应当特别重视，需要采用合理的测量规程。一般研究中的粉末特征是极为相似的，所以这些规程甚至会需要对设备的校准都有很严格的标准。当把粒子尺寸及尺寸分布作为一种生产过程控制标准时，粒子尺寸及尺寸分布数据的使用就非常重要。生产过程的变化表现在检测数据变化的趋势和幅度，这种变化直接影响到产品质量。在很多情况下，粒度大小和粒度分布需要规定一个可以接受的波动范围。只有在长度和重量两个主要的参数有国际标准作为参考时，才能获得相对准确的粒度分析。以长度或重量作为参数的测量技术称为“初级测量”或直接测量，包括：显微图象分析、筛选分析、电子区域检测、重力沉降和离心沉降等。根据二阶效应如衍射图象、布郎运动、浊度等来测量粒子尺寸表征的方法称为“二级测量”或间接测量，它通过电脑建模（伴随若干假设的数学算法）来研究实验数据，最常用的有激光衍射法、动态光散射法、光子相关谱法。当使用显微分析技术时，大部分测量数据有一定的可靠程度。在这类技术中，测量的粒子能直观的被检测。通常，测量结果的可靠程度受到次测量粒子数，粒子代表性的分析，粒子形状，弥散分布和相关试样制备技术影响。此外，为了只用一个尺寸（如直径）来描述粒子尺寸，分析中一般把粒子看成球状的。综上所述，通常粒子尺寸及尺寸分布的测量中，某次（种）测量的结果可以和其它的测量结果互相对比和联系，不同的设备在相似的条件下，可能获得同样的结果。所以，测量的精确性比准确性更加重要。在尺寸测量工作规程的制定中，粉末生产商和购买者之间的高效率交流至关重要。共同讨论合适的审计方法，可以获得良好的跟踪性能，就生产规程和产品要求达成共识。图1推荐了一般情况下分析粒子尺寸及尺寸分布的检测过程。附录1介绍了一些粒子尺寸及尺寸分布界定的定义和计算方法。附录2介绍了塞网尺寸、微米级尺寸、一克拉中近似粒子数三者之间的联系。 粗粒金刚石和CBN粉末的筛分以及标准筛分粒度表 一般情况下，筛分是指将自由流动干粉末样品振动通过一系列从大到小的筛子。筛孔最大的筛子放在最上面，最小的放在最下面。通过保留在筛孔之上或累积在给定尺寸筛孔上的部分来反映粒度分布。以下的类似ASTM和ISO标准对孔径的细节提出了要求，包括丝径、眶径和维护清洁筛子的方法：ASTM E11-95对象为金属丝制筛，ASTM E163-96对象为电成型薄版实验筛。ISO 3310-1 技术要求和检测/Part1-金属丝制筛；ISO 3310-3 技术要求和检测/Part3-电成型薄版实验筛。 筛子的校准 筛子的校准大都通过筛选已知的物料，对比测定粒度分布和已知粒度分布。国际学会规定了一种标准的材料，（SRM），筛子的检测标准和技术（NISI）。这些材料用电光学的显微方法确定了尺寸，而且适用与筛子的校准。这些恰当的筛子校准条件（SRM&NISI）在附录三-Part1列出。其他建议的筛子校准技术包括通过筛子的光学检查来测量某个筛子的孔径分布。 实用标准 这些标准意图为金刚石和CBN粉末的检测建立一个普遍的基础，用于工业生产各种各种超磨性产品。此标准意图为超磨性粉末的生产商、供应商、使用商提供这类产品的基本知识。以下的一系列标准应用于粗粒金刚石和CBN粉末：美国标准2002\7\12（American Standard ANSI B74.16/July 12,2002）-金刚石和CBN(立方氮化硼)的尺寸；磨粒国际标准2005\5\16（Abrasive Grains International Standard）ISO 6106/May 16,2005-磨料产品-超磨料的颗粒尺寸。 金刚石和CBN粗磨料粒子尺寸的标准
现场测量放线（以数据分析方法引导现场测量） 1 ?实施依据 a. 四化管理参考文件《现场测量放线作业指引》 ； b. 土建移交水平线、基准线；（装饰单位在接收前必须复核） c. 施工图纸所有房间开间尺寸、进深尺寸、顶标高； 2 ?测量内容 a. 土建粉刷完成部分尺寸测量；测量所有房间每面墙的长度、宽度及层高， 测量新风主机安装尺寸； 目的：检查墙体的方正度，核对图纸尺寸是否小于设计尺寸，与新风厂 家商定管线 走向与主机定位，为图纸深化提供依据。 b. 土建基层尺寸（指土建粉刷未完成由装饰单位负责施工的房间尺寸如厨 房、卫生间等）；土建基层尺寸需测量长度、宽度及层高、门窗尺寸； 目的：确定 粉刷完成标准尺寸。 c. 装饰单位根据土建移交水平线及基准线给出厨卫门窗安装标高线、 安装垂 直线、进出线； 目的：为方便后期瓷砖排版统一活砖尺寸。 d. 根据施工图明确管道井、烟道井尺寸，由控制线确定其位置。 3 ?确定测量方法 a. 明确数据分析方法，确定现场实测内容； 数据分析方法：将测量出的所有数据进行归纳汇总，对照施工蓝图，按 照数据离散 值大小进行分类，找出离散值，确定标准尺寸和粉刷厚度。 分类原则：找出厨房、卫生间内开间和深度的最大值与最小值。根据规 范，墙面粉刷厚度必须控制在 10MM ?40MM 之间的，符合这一类要求 的尺寸归为一 类。若粉刷厚度超过 40MM 或小于10MM 都不合理，超 过40MM ，需加设钢丝网，且房 间尺寸也会相应缩小，易产生空鼓、裂 缝，所以宁可多归纳一类尺寸，也要尽量避免后期出现墙面裂缝等质量 问题。 b. 房间层高、门窗的高度等垂直方向的尺寸，以土建提供的水平线为 基准线；测量门窗的宽度需测量两个点，第一个点在离地 30 cm 处，第 （数据归类分析参考文件: 51#楼厨卫尺寸总表 .xls 51#厨房卫生间标准 粉刷完成面分类.xls ）
中华人民共和国能源部标准 SD313—89 油中颗粒数及尺寸分布测量方法 (自动颗粒计数仪法) 中华人民共和国能源部1989-03-27批准 1989-10-01实施 本方法采用自动颗粒计数仪测定每100mL油中所含颗粒数量及尺寸分布，测量颗粒尺寸范围5～150μm(更换传感器可以扩大量程)。适合于测定变压器油、汽轮机油等油品的颗粒污染度。 1仪器及材料 1.1自动颗粒计数仪根据遮光原理工作，需定期校准。 1.2传感器与自动颗粒计数仪配套使用，能测定粒径约150μm的颗粒。 1.3超声波清洗器最小功率50W。 1.4秒表或计时器精确度为0.1s。 1.5真空泵真空度不小于86kPa。 1.6过滤装置供过滤清洁液使用。 1.7微孔滤膜孔径为0.8μm、0.45μm和0.15μm。 1.8取样瓶250mL玻璃瓶(医用输液瓶)，具塞和塑料薄膜衬垫。 1.9AC粉尘校准液AC粉尘为非球形颗粒，校准液一般由仪器生产厂提供，也可按国际标准ISO4402方法配制。 1.10标准胶球校准液一般由仪器生产厂提供，也可按美国宇航标准ARP1192A方法配制。 1.11异丙醇化学纯。 1.12石油醚化学纯，沸程60～90℃。 1.13甲苯(或二甲苯)化学纯。 1.14去离子水或蒸馏水。 2清洁液的制备 异丙醇、石油醚、甲苯和蒸馏水等可依次经过不同孔径的滤膜过滤制得。供清洗仪器及稀释样品使用的清洁液，每100mL中粒径大于5μm的颗粒不多于100粒；供检验取样瓶用的清洁液，每100mL中粒径大于5μm的颗粒不多于50粒。 3取样 3.1取样瓶的清洗及检验 3.1.1取样瓶经过自来水和蒸馏水清洗后，再用清洁水清洗，瓶盖和薄膜衬垫也要用清洁液清洗。 3.1.2检验清洗干净后，向瓶中注入总容积为45%～55%的清洁液，垫上薄膜，盖上瓶盖后充分摇动。用自动颗粒计数仪测定每100mL液体中粒径大于5μm的颗粒数应不多于100
名称：E112-96（2004年重新核准） ——平均晶粒度标准测试方法1 这一标准是根据E112条款颁布的；E112之后紧跟的数字表示最初编辑的年份，或者表示最后修改的年份（如果有修改），括号内数字（如果有的话）则表示最终批准的年份，上标ε1表示从最后修改或批准之日起的一次编辑更换。 该标准被国防部各相关部门认可使用。 简介 这些金属平均晶粒度测试方法根本上是测量过程。因为这一过程完全是独立于金属及其合金材料的几何学问题。实际上，这些基本方法也应用于评估非金属的平均晶粒、晶体及晶胞尺寸。如果材料组织结构接近于标准对比图谱中的某一个图的话，可以采用对比法。截距法和求积法也经常应用于确定平均晶粒度。然而，对比法不能应用于单个晶粒的测量。 1 范围 1.1 本标准规定了金属组织的平均晶粒度表示及评定方法。这些方法也适用晶粒形状与标准系列评级图相似的非金属材料。这些方法主要适用于单相晶粒组织，但经具体规定后也适用于多相或多组元和试样中特定类型的晶粒平均尺寸的测量 1.2 本标准使用晶粒面积、晶粒直径、截线长度的单峰分布来测定试样的平均晶粒度。这些分布近似正态分布。本标准的测定方法不适用于双峰分布的晶粒度。双峰分布的晶粒度参见标准E1181。测定分布在细小晶粒基体上个别非常粗大的晶粒的方法参见E930。 1.3本标准的测量方法仅适用平面晶粒度的测量，也就是试样截面显示出的二维晶度，不适用于试样三维晶粒，即立体晶粒尺寸的测量。 1.4 试验可采用与一系列标准晶粒度图谱进行对比的方法或者在简单模板上进行计数的方法。利用半自动计数仪或者自动分析晶粒尺寸的软件的方法参见E1382。 1.5本标准仅作为推荐性试验方法，它不能确定受检材料是否接收或适合使用的范围。 1.6 测量数值应用SI单位表示。等同的英寸－英镑数值，如需标出，应在括号中列出近似值. 1.7 本标准没有列出所有的安全事项。本标准的使用者应建立适合的安全健康的操作规范和使用局限性。 1.8 章节的顺序如下：