集成门电路功能测试实验报告
一、实验预习
1. 逻辑值与电压值的关系。
2. 常用逻辑门电路逻辑功能及其测试方法。
3. 硬件电路基础实验箱的结构、基本功能和使用方法。
二、实验目的
测试集成门电路的功能
三、实验器件
集成电路板、万用表
四、实验原理
TTL与非门74LS00的逻辑符号及逻辑电路：
双列直插式集成与非门电路CT74LS00：
数字电路的测试：
常对组合数字电路进行静态和动态测试，静态测试是在输入端加固定的电平信号，测试输出壮态，验证输入输出的逻辑关系。动态测试是在输入端加周期性信号，测试输入输出波形，测量电路的频率响应。常对时序电路进行单拍和连续工作测试，验证其状态的转换是正确。本实验验证集成门电路输入输出的逻辑关系，实验在由硬件电路基础实验箱和相关的测试仪器组成的物理平台上进行。
硬件电路基础实验箱广泛地应用于以集成电路为主要器件的数字电路实验中，它的主要组成部分有：
(1) 直流电源：提供固定直流电源（+5V,-5V）和可调电源(+3～15V,-3～15V)。
(2) 信号源：单脉冲源（正负两种脉冲）；连续脉冲。
(3) 逻辑电平输出电路：通过改变逻辑电平开关状态输出两个电平信号：高电平“1”和低电平“0”。
(4) 逻辑电平显示电路：电平显示电路由发光二极管及其驱动电路组成，用来指示测试点的逻辑电平。
(5) 数码显示电路：动态数码显示电路和静态数码显示电路，静态数码显示电路由七段LED数码管及其译码器组成。
(6) 元件库：元件库装有电位器、电阻、电容、二极管、按键开关等器件。
(7) 插座区与管座区：可插入集成电路，分立元件。
集成门电路功能验证方法：
选定器件型号，查阅该器件手册或该器件外部引脚排列图，根据器件的封装，连接好实验电路，以测试74LS00与非门的功能为例：
正确连接好器件工作电源：74LS00的1 4脚和7脚分别接到实验平台的5 V直流电
源的“+5 V"和“GND”端处，TTL数字集成电路的工作电压为5 V(实验允许±5％的误差)。
连接被测门电路的输入信号：74LS00有四个二输入与非门，可选择其中一个二输入与非门进行实验，将输入端A,B分别连接到实验平台的“十六位逻辑电平输出” 电路的其中两个输出端（如K1、K 2对应的输出端）。
连接被测门电路的出端：将与非门的输出端Y连接到“十六位逻辑电平显示”电路的其中一个输入端。
确定连线无误后，可以上电实验，并记录实验数据，分析结果。
通过开关改变被测与非门输入端A，B的逻辑值，对应输入端的LED指示灯亮时为1，不亮时为0。
观测输出端的逻辑值，对应输出端的指示灯LED亮红色时为1，亮绿色时为0。不亮表示输出端不是标准的TTL电平。
K1、K 2共有4种开关位置的组合，对应被测电路的四种输入逻辑状态00，01，10，11，可以改变K1、K 2开关的位置，观察电平显示LED的亮灭情况，以真值表的形式记录被测门电路的输入和输出逻辑状态。
观测逻辑值时，用万用表测量出对应的电压值，验正TTL电路逻辑值与电压值的关系。
比较实测值与理论值，比较结果一致，说明被测门的功能是正确的，门电路完好。
如果实测值与理论值不一致，应检查集成电路的工作电压是否正常，实验连线是否正确，判断门电路是否损坏。
五、实验内容
1. 基本门电路逻辑电路测试：
测试74LS08(与门)、74LS32(或门)、74LS04(非门)、74LS00(与非门) 、74LS86(异或门)的功能。将被测芯片插入实验区的空插座,连接好测试线路,拨动开关,改变输入信号,观测输入输出端的逻辑值时，并用万用表测量出输出端对应的电压值，验正TTL 电路的逻辑功能, 记录实验数据。
2. 逻辑门的转换
利用74S00
与非门组成非门，2 输入与门,2 输入或门电路，画出实验电路图，并测试其逻辑功能，验证结果。
非门：
电路图：
测试结果：
与门：
电路图：
测试结果：
74LS08 74LS32 74LS04 74LS00 74LS86
A B Y U/V Y U/V Y U/V Y U/V Y U/V
0 0 0 0.21 --- --- 1 3.55 1 3.55 0 0.77
0 1 0 0.20 --- --- 0 0.10 1 3.54 1 3.53
1 0 0 0.21 --- --- --- --- 1 3.54 1 3.22
1 1 1 3.4
2 --- --- --- --- 0 0.15 1 3.09
A Y
0 1
1 0
A B Y
0 0 0
或门：
电路图：
测试结果：
3. 门电路的基本应用
测试用“异或门”和“与非门”组成的半加器逻辑功能。
根据半加器的逻辑表达式可知，半加器的输出的和数S 是输入A、B（二进制数）的“异或”，而进位数C 是A、B的相“与”，故半加器可用一个集成“异或门”和两个“与非门”组成，如图1.3.3所示。
（1）在实验箱上用“异(74LS86)和“与非”门连1.3.3所示逻辑电路。输入端A、B接“逻辑电平”开关，输出端S、C接“电平显示”发光二极管。
通过电平开关改变输入A、B的逻辑状态置位，观测输出端的逻辑状态，列表记录。
（2）通过电平开关改变输入A、B的逻辑状态置位，观测输出端的逻辑状态，
0 1 0
1 0 0
1 1 1
A B Y
0 0 0
0 1 1
1 0 1
1 1 1
列表记录。
六、实验心得
此次实验原理不是很复杂，但是线路比较难连，实验所用到的关键器件也不太好找。理论知识挺容易的，但实际实行起来的确蛮纠结的，做了好多次总是有问题，后来发现电线有一根是坏掉的，做电路实验，还是需要多些经验呐。精品文档
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43121556423156实验三：基本门电路及触发器 实 验 室： 实验台号： 日 期： 2016.10.7 专业班级： 姓 名： 学 号： 一、 实验目的 1.了解TTL 门电路的原理，性能好使用方法，验证基本门电路逻辑功能。 2.掌握门电路的设计方法。 3.验证J-K 触发器的逻辑功能。 4.掌握触发器转换的设计方法。 二、实验内容 （一）验证以下门电路的逻辑关系 1. 用与非门（00）实现与门逻辑关系：F=AB 2. 异或门（86）： (二):门电路的设计(二选一) 1.用74LS00和74LS86 设计半加器. 2.用TTL 与非门设计一个三人表决电路。 A B C 三个裁判，当表决某个提案时，多数人同意提案为通过。 （1为同意，0为不同意） 要求：用74LS00和 74LS10芯片。 （三）验证JK 触发器的逻辑关系 1．J-K 触发器置位端、复位端及功能测试。 图3-1 JK 触发器(74LS112)和D 触发器(74LS74) 2、设计J-K 触发器转化成D 触发器的电路 利用与非门和J-K 触发器设计并测试逻辑功能。 B A B A B A F ⊕=+=n n n n n n n B A B A B A S ⊕=+=' n n n B A C ='
A B F 三、实验原理图 图3-2与门电路 图3-3 异或门电路 图3-4半加器 四、实验结果及数据处理 1． 直接在实验原理图上标记芯片的引脚。 2． 写出实验结果。 （1）与门、异或门实验结果表（用数字万用表测量高低电平1、0的电压值。） （2）半加器实验结果 (3) 表决电路结果 =1A B F
目录 一、前言 (2) 二、课设任务 (2) 三、方案设计、原理分析 (2) 四、译码电路设计 (8) 五、报警信号产生器 (10) 六、调试及结果 (12) 七、体会 (13)
一、前言 本次课程设计的基本任务是着重提高学生在EDA知识学习与应用方面的实践技能。学生通过电路设计安装、调试、整理资料等环节，初步掌握工程设计方法和组织实践的基本技能，逐步熟悉开展科学实践的程序和方法。 EDA技术是电子信息类专业的一门新兴学科，是现代电子产品设计的核心，其任务是掌握在系统可编程逻辑器件及其应用设计技术，为电子产品开发研制打下坚实基础。 本课程设计对学生有如下要求：根据设计任务和指标，初步电路；通过调查研究，设计计算，确定电路方案；选择元器件，在计算机上连好线路，独立进行试验，并通过调试、仿真、改进方案；分析实验结果，写出设计总结报告：学会自己分析，找出解决问题方法；对设计中遇到的问题，能独立思考、查阅资料，寻找答案。 二、课设任务 1、14位数字密码分成高7位（DH6…DH0）和低7位（DL6…DL0）， 用数字逻辑开关预置，输出信号out为1表示开锁，否则关闭。 2、14位数字密码分时操作，先预置高7位，然后再置入低7位。 3、要求电路工作可靠，保密性强，开锁出错立即报警。 4、利用MAX plus2 软件进行设计、编译，并在FPGA芯片上实现。 5、简易14位数字密码锁模块的框图如下： 三、方案设计、原理分析 首先我是一班的三号，所以我的密码时0100010 0000011。我所做的设计是先把高七位输入锁存，然后在输入低七位，
最后判断密码是否正确，密码正确就开锁，密码错误就报警。数字密码锁控制电路的组成部分：YMQ模块， 1、IC9A的设计 设计要求14位数字密码分时操作，先预置高七位0100010，而后置低七位0000011，首先可以使用寄存器将高七位存起来，而后与低七位一起进行译码，如果密码正确，输出OUT2为1，否则为0. 2、数字密码锁控制电路原理图：
电路分析实验报告
实验报告（二、三） 一、实验名称实验二KCL与KVL的验证 二、实验目的 1.熟悉Multisim软件的使用； 2.学习实验Multisim软件测量电路中电流电压； 3.验证基尔霍夫定理的正确性。 三、实验原理 KCL为任一时刻，流出某个节点的电流的代数和恒等于零，流入任一封闭面的电流代数和总等于零。且规定规定：流出节点的电流为正，流入节点的电流为负。 KVL为任一时刻，沿任意回路巡行，所有支路电压降之和为零。且各元件取号按照遇电压降取“+”，遇电压升取“-”的方式。沿顺时针方向绕行电压总和为0。电路中任意两点间的电压等于两点间任一条路径经过的各元件电压降的代数和。 四、实验内容 电路图截图：
1.验证KCL： 以节点2为研究节点，电流表1、3、5的运行结果截图如下： 由截图可知，流入节点2的电流为2.25A，流出节点2 的电流分别为750mA和1.5A。2.25=0.75+1.5。所以，可验证ＫＣＬ成立。 ２.验证ＫＶＬ： 以左侧的回路为研究对象，运行结果的截图如下：
由截图可知，Ｒ３两端电压为２２.５Ｖ，Ｒ１两端电压为７.５Ｖ，电压源电压为３０Ｖ。２２.５＋７.５－３０＝０。所以，回路电压为０，所以，可验证ＫＶＬ成立。 一、实验名称实验三回路法或网孔法求支路电流（电压） 二、实验目的 1.熟悉Multisim软件的使用； 2.学习实验Multisim软件测量电路中电流电压； 3.验证网孔分析法的正确性。 三、实验原理 为减少未知量(方程)的个数，可以假想每个回路中有一个回路电流。若回路电流已求得，则各支路电流可用回路电流线性组合表示。这样即可求得电路的解。回路电流法就是以回路电流为未知量列写电路方程分析电路的方法。网孔电流法就是对平面电路，若以网孔为独立回
实验报告书 课程名称：软件测试 实验题目：黑盒测试报告 专业：教育技术学 班级：教技142 学生姓名：安卓 指导老师：郭小雪 所属学期：2017-2018学年第二学期
一、引言 1.1目的 测试报告为三角形问题和找零钱最佳组合问题项目的黑盒测试报告，目的在于总结测试阶段的测试以及分析测试结果。 实验环境 在Windows 2000(SP2) 或Windows XP 操作系统上，使用C++语言，工具作为开发环境(IDE) 实验要求 1.根据给出的程序分别使用等价类划分法、边界值分析法、判定表 方法、因果图法、正交试验法、功能图法、错误推测法来设计相应的测试用例。 2.输入数据进行测试，填写测试用例。 二、实验原理 黑盒测试原理：已知产品的功能设计规格，可以进行测试证明每个实现了的功能是否符合要求。软件的黑盒测试意味着测试要在软件的接口处进行。这种方法是把测试对象看作一个黑盒子，测试人员完全不考虑程序内部的逻辑结构和内部特性，只依据程序的需求规格说明书，检查程序的功能是否符合它的功能说明。因此黑盒测试又叫功能测试。 从理论上讲，黑盒测试只有采用穷举输入测试，把所有可能的输入都
作为测试情况考虑，才能查出程序中所有的错误。实际上测试情况有无穷多个，人们不仅要测试所有合法的输入，而且还要对那些不合法但可能的输入进行测试。这样看来，完全测试是不可能的，所以我们要进行有针对性的测试，通过制定测试案例指导测试的实施，保证软件测试有组织、按步骤，以及有计划地进行。黑盒测试行为必须能够加以量化，才能真正保证软件质量，而测试用例就是将测试行为具体量化的方法之一。具体的黑盒测试用例设计方法包括等价类划分法、边界值分析法、错误推测法、因果图法、判定表驱动法、正交试验设计法、功能图法等。 等价类划分的办法是把程序的输入域划分成若干部分（子集），然后从每个部分中选取少数代表性数据作为测试用例。每一类的代表性数据在测试中的作用等价于这一类中的其他值。该方法是一种重要的,常用的黑盒测试用例设计方法。 1 划分等价类 划分等价类：等价类是指某个输入域的子集合。在该子集合中，各个输入数据对于揭露程序中的错误都是等效的，并合理地假定：测试某等价类的代表值就等于对这一类其它值的测试。因此,可以把全部输入数据合理划分为若干等价类,在每一个等价类中取一个数据作为测试的输入条件,就可以用少量代表性的测试数据。取得较好的测试结果。等价类划分可有两种不同的情况：有效等价类和无效等价类。 有效等价类：是指对于程序的规格说明来说是合理的,有意义的输入数据构成的集合。利用有效等价类可检验程序是否实现了规格说明中
集成门电路功能测试实验报告 一实验内容 1 三态门的静态逻辑功能测试。 2 动态测试三台门。并画出三态门的输出特性曲线。输入为CP矩形波。 3 测试三态门的传输延迟时间。 4 动态测试三态门的电压传输特性曲线。输入为三角波。 二实验条件 硬件基础实验箱，函数信号发生器，双踪示波器，数字万用表，74LS125。 三实验原理 1 首先测试实验箱上提供的频率电源参数是否正确。 打开实验箱电源，把分别把5MHz的脉冲接入红表笔上，黑表笔接地。观察示波器显示波形的频率是否为5MHz，经过观察计算，波形频率接近5M。误差很小，从下图可以看出,ch1为输入波形一个周期占四个格子，可计算得到f=5MHz。 2 三态门的静态逻辑功能测试。(后面四个实验都是通过示波器在同一时刻测试 3动态测试三台门。并画出三态门的输出特性曲线。输入为CP矩形波。 使能端无效是波形：
使能端有效时输出波形 4 测试三态门的传输延迟时间。 通过测量同一时刻的输入输出波形，可以观察到三态门的输出延迟。得到波形图为
CH1，CH2分别为输入输出波形，可以看出在上升沿的输出延迟为10ns 然而下降沿的时候的截图已经丢失了，依稀记得在实验时候，测得是数据下降沿的输出延迟与上升沿的不一致，并且比上升沿的短。为9.6ns，其传输延迟为两个延迟的平均值9.8ns。 5 测试三态门的电压传输特性曲线。输入为三角波。 得到输入输出波形为：CH1为输入，CH2为输出。
得到阀值电压为0.92V。 四总结 这次实验基本上和上次实验的方法一样，没遇到什么大的问题。就是还是粗心。五评价 实验效果挺好。巩固了对逻辑器件的功能测试的方法和操作。
电路实验 实验报告 第二次实验 实验名称：弱电实验 院系：信息科学与工程学院专业：信息工程姓名：学号： 实验时间：年月日
实验一：PocketLab的使用、电子元器件特性测试和基尔霍夫定理 一、仿真实验 1.电容伏安特性 实验电路： 图1-1 电容伏安特性实验电路 波形图：
图1-2 电容电压电流波形图 思考题： 请根据测试波形，读取电容上电压，电流摆幅，验证电容的伏安特性表达式。 解：()()mV wt wt U C cos 164cos 164-=+=π， ()mV wt wt U R sin 10002cos 1000=??? ? ? -=π，us T 500=； ()mA wt R U I I R R C sin 213.0== =∴，ππ40002==T w ； 而()mA wt dt du C C sin 206.0= dt du C I C C ≈?且误差较小，即可验证电容的伏安特性表达式。 2.电感伏安特性 实验电路： 图1-3 电感伏安特性实验电路 波形图：
图1-4 电感电压电流波形图 思考题： 1.比较图1-2和1-4，理解电感、电容上电压电流之间的相位关系。对于电感而言，电压相位 超前 （超前or 滞后）电流相位；对于电容而言，电压相位 滞后 （超前or 滞后）电流相位。 2.请根据测试波形，读取电感上电压、电流摆幅，验证电感的伏安特性表达式。 解：()mV wt U L cos 8.2=， ()mV wt wt U R sin 10002cos 1000=?? ? ?? -=π，us T 500=； ()mA wt R U I I R R L sin 213.0===∴，ππ 40002==T w ； 而()mV wt dt di L L cos 7.2= dt di L U L L ≈?且误差较小，即可验证电感的伏安特性表达式。 二、硬件实验 1.恒压源特性验证 表1-1 不同电阻负载时电压源输出电压 2.电容的伏安特性测量
实验报告实验课题：门电路 实验目的： 常用腔I ri m路邂样功能扯其精试n也. 订件电路蔓圖实脸箱的结构、茶本功能和僅用有氐 掌握电路连接、排除故障和调试的方法。 实验仪器与器材: 1、数字电子技术实验系统 2、741^00典2输入与非门「I片 74LSI1三3输入与门1片 74LS04反和器 1片 741SH6 V^2输人异或门1片74LS32四2输入界或门1片 实验内容及步骤： TTL门电路逻辑功能验证 按图1-1在实验系统（箱）上找到相应的门电路。并把输入端按实验箱的逻辑开关，输出端按发光二极管如图1-2所示TTL与门电路逻辑功能验证接线图。 按状态表1-1中“与门”一栏输入A、B（0,1信号，观察输出结果（）看LED备用发光二极管，如灯亮为1，灯灭为0）填入表1-1中，并用万用表测量0、1电平值。 按同样的方法，验证“或门” 74LS32…等的逻辑功能，并把结果填入表1-1中
图1-2TTL门电路实验流程图 实验数据记录及处理结果： 数据了记录自行完成 理论知识挺弄拐的.们实劭实行起來的确密纠斛的*做了好爭次总定有轲題?焉来
懂得了从电路图到真实电路的基 发現电线育 廉足坏抻的.做电蹬实检.还a 需啖多些经检呐? 五、实验总结 通过这次试验，我了解了用仪器拼接电路的基本情况。 本过程。在连接的时候，很容易因为线或者门出现问题。 H 次实验除珅下杲很豆杂”程是线路tt 较離连?实验所用到的关锭器件也不龙好找。 理论知识挺容易的+ (I 」实际实杠血來时例侥纠塔的.做了好茲挟总是育何遥*门来 发现电线件一棍呈坏抻的.做电賂实龄T 还定斋味幸映绅輪呐=
东南大学电工电子实验中心 实验报告 课程名称: 第次实验 实验名称: 院 (系 :专业: 姓名:学号: 实验室 : 实验组别: 同组人员:实验时间:年月日评定成绩:审阅教师: 一、实验目的 二、实验原理 三、预习思考题 1、下图中的两个电路在实际工程中经常用到,其中反相器为 74LS04,电路中的电阻起到了保证输出电平的作用。分析电路原理,并根据器件的直流特性计算电阻值的取值范围。
N 个 N 个 (a (b 答:①电路 (a使用条件是驱动门电路固定输出为低电平 ②电路 (b使用条件是驱动门电路固定输出为高电平 2、下图中的电阻起到了限制前一级输出电流的作用,根据器件的直流特性计算电阻值的取值范围。 N 个 答: 3、图 2.4.1 用上拉电阻抬高输出电平中, R 的取值必须根据器件的静态直流特性来计
算,试计算 R 的取值范围。 5 V 图 2.4.1 用上拉电阻抬高输出电平 答: 4、图 2.4.3(a中 OC 外接上拉电阻的值必须取的合适,试计算在这个电路中 R 的取值范围。 (a OC 门做驱动 答:
5、下图中 A 、 B 、 C 三个信号经过不同的传输路径传送到与门的输入端,其中计数器为顺序循环计数, 即从 000顺序计到 111, C 为高位, A 为低位。 A 、 B 、 C 的传输延分别为 9.5nS 、 7.1nS 和 2nS 。试分析这个电路在哪些情况下会出现竞争-冒险,产生的毛刺宽度分别是多少。 答: 四、实验内容 必做实验: A 2.5节实验:门电路静态特性的测试 内容 7. 用 OC 门实现三路信号分时传送的总线结构框图如图 2.5.4所示, 功能如表 2.5.2所示。 (注意 OC 门必须外接负载电阻和电源, E C 取 5V D 2 D 1 D 0 图 2.5.4 三路分时总线原理框图①查询相关器件的数据手册,计算 OC 门外接负载电阻的取值范围,选择适中的电阻 值,连接电路。
数字电路实验报告 姓名：张珂 班级：10级8班 学号：2010302540224
实验一：组合逻辑电路分析一．实验用集成电路引脚图 1．74LS00集成电路 2．74LS20集成电路 二、实验内容 1、组合逻辑电路分析 逻辑原理图如下：
U1A 74LS00N U2B 74LS00N U3C 74LS00N X1 2.5 V J1 Key = Space J2 Key = Space J3 Key = Space J4 Key = Space VCC 5V GND 图1.1组合逻辑电路分析 电路图说明：ABCD 按逻辑开关“1”表示高电平，“0”表示低电平； 逻辑指示灯：灯亮表示“1”，灯不亮表示“0”。 真值表如下： A B C D Y 0 0 0 0 0 0 0 0 1 0 0 0 1 0 0 0 0 1 1 1 0 1 0 0 0 0 1 0 1 0 0 1 1 0 0 0 1 1 1 1 1 0 0 0 0 1 0 0 1 0 1 0 1 0 0 1 0 1 1 1 1 1 0 0 1 1 1 0 1 1 1 1 1 0 1 1 1 1 1 1 表1.1 组合逻辑电路分析真值表 实验分析： 由实验逻辑电路图可知：输出X1=AB CD =AB+CD ，同样，由真值表也能推出此方程，说明此逻辑电路具有与或功能。 2、密码锁问题： 密码锁的开锁条件是：拨对密码，钥匙插入锁眼将电源接通，当两个条件同时满足时，开锁信号为“1”，将锁打开；否则，报警信号为“1”，则接通警铃。
试分析下图中密码锁的密码ABCD 是什么？ 密码锁逻辑原理图如下： U1A 74LS00N U2B 74LS00N U3C 74LS00N U4D 74LS00N U5D 74LS00N U6A 74LS00N U7A 74LS00N U8A 74LS20D GND VCC 5V J1 Key = Space J2 Key = Space J3 Key = Space J4 Key = Space VCC 5V X1 2.5 V X2 2.5 V 图 2 密码锁电路分析 实验真值表记录如下： 实验真值表 A B C D X1 X2 0 0 0 0 0 1 0 0 0 1 0 1 0 0 1 0 0 1 0 0 1 1 0 1 0 1 0 0 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 1 0 0 1 0 1 1 1 0 1 1 0 0 0 0 1 1 0 0 1 1 0 1 0 1 0 0 1 1 0 1 1 0 1 1 1 0 0 0 1 1 1 0 1 0 1 1 1 1 0 0 1 1 1 1 1 0 1 表1.2 密码锁电路分析真值表 实验分析： 由真值表（表1.2）可知：当ABCD 为1001时，灯X1亮，灯X2灭；其他情况下，灯X1灭，灯X2亮。由此可见，该密码锁的密码ABCD 为1001.因而，可以得到：X1=ABCD ，X2=1X 。
软件测试与质量课程实验报告实验2：黑盒测试法实验
缺席：扣10分实验报告雷同：扣10分实验结果填写不完整：扣1 – 10分其他情况：扣分<=5分总扣分不能大于10分 参考代码如下： （1）程序参考答案： #include
数字电路实验报告
实验一 组合逻辑电路分析 一．试验用集成电路引脚图 74LS00集成电路 74LS20集成电路 四2输入与非门 双4输入与非门 二．实验内容 1.实验一 自拟表格并记录: 2.实验二 密码锁的开锁条件是：拨对密码，钥匙插入锁眼将电源接通，当两个条件同时满足时，开锁信号为“1”，将锁打开。否则，报警信号为“1”，则接通警铃。试分析密码锁的密码ABCD 是什么？ X1 2.5 V A B C D 示灯：灯亮表示“1”，灯灭表示“0” ABCD 按逻辑开关，“1”表示高电平，“0”表示低电平
ABCD 接逻辑电平开关。 最简表达式为：X1=AB ’C ’D 密码为： 1001 A B C D X1 X2 A B C D X1 X2 0 0 0 0 0 1 1 0 0 0 0 1 0 0 0 1 0 1 1 0 0 1 1 0 0 0 1 0 0 1 1 0 1 0 0 1 0 0 1 1 0 1 1 0 1 1 0 1 0 1 0 0 0 1 1 1 0 0 0 1 0 1 0 1 0 1 1 1 0 1 0 1 0 1 1 0 0 1 1 1 1 0 0 1 0 1 1 1 1 1 1 1 1 1 三.实验体会： 1.分析组合逻辑电路时，可以通过逻辑表达式，电路图和真值表之间的相互转换来到达实验所要求的目的。 2.这次试验比较简单，熟悉了一些简单的组合逻辑电路和芯片 ，和使用仿真软件来设计和构造逻辑电路来求解。 实验二 组合逻辑实验（一） 半加器和全加器 一．实验目的 1. 熟悉用门电路设计组合电路的原理和方法步骤 二．预习内容 1. 复习用门电路设计组合逻辑电路的原理和方法步骤。 2. 复习二进制数的运算。 3. 用“与非门”设计半加器的逻辑图。 4. 完成用“异或门”、“与或非”门、“与 非”门设计全加器的逻辑图。 5. 完成用“异或”门设计的3变量判奇 电路的原理图。 三．元 件参考 U1A 74LS00D U1B 74LS00D U1C 74LS00D U1D 74LS00D U2A 74LS00D U2B 74LS00D U2C 74LS00D U3A 74LS20D X1 2.5 V X2 2.5 V VCC 5V A Ｂ Ｃ D
集成电路设计综合实验 题目：集成电路设计综合实验 班级：微电子学1201 姓名： 学号：
集成电路设计综合实验报告 一、实验目的 1、培养从版图提取电路的能力 2、学习版图设计的方法和技巧 3、复习和巩固基本的数字单元电路设计 4、学习并掌握集成电路设计流程 二、实验内容 1. 反向提取给定电路模块（如下图1所示），要求画出电路原理图，分析出其所完成的逻辑功能，并进行仿真验证；再画出该电路的版图，完成DRC验证。 图1 1.1 查阅相关资料，反向提取给定电路模块，并且将其整理、合理布局。 1.2 建立自己的library和Schematic View（电路图如下图2所示）。 图2 1.3 进行仿真验证，并分析其所完成的逻辑功能（仿真波形如下图3所示）。
图3 由仿真波形分析其功能为D锁存器。 锁存器:对脉冲电平敏感，在时钟脉冲的电平作用下改变状态。锁存器是电平触发的存储单元，数据存储的动作取决于输入时钟（或者使能）信号的电平值，当锁存器处于使能状态时，输出才会随着数据输入发生变化。简单地说，它有两个输入，分别是一个有效信号EN,一个输入数据信号DATA_IN，它有一个输出Q，它的功能就是在EN有效的时候把DATA_IN的值传给Q，也就是锁存的过程。 只有在有锁存信号时输入的状态被保存到输出，直到下一个锁存信号。其中使能端A 加入CP信号，C为数据信号。输出控制信号为0时，锁存器的数据通过三态门进行输出。所谓锁存器，就是输出端的状态不会随输入端的状态变化而变化，仅在有锁存信号时输入的状态被保存到输出，直到下一个锁存信号到来时才改变。锁存，就是把信号暂存以维持某种电平状态。 1.4 生成Symbol测试电路如下(图4所示) 图4
北京交通大学电路基础实验报告
实验目的: (1)学习MultiSim2001建立电路、直流电路的分析方法。 (2)掌握伏安特性的测量。 (3)通过实验，加深对叠加定理和戴维南定理的理解。 实验内容： 1）测量二极管的伏安特性 （1）建立如右图所示的仿真Array电路。 （2）启动Simulate菜单中的 Analyses下的DC Sweep 设置相应的参数后，单击Simulate按钮，得到二极管的伏 安特性曲线。 2）验证叠加定理Array（1）建立如右图 所示的仿真电路。 （2）启动仿真开 关后，用电压表分 别测出V1、V2单 独作用和共同作 用时个支路的电压值，验证叠加定理。 3）验证戴维南定理 （1）建立如下图所示的仿真电路。（其中a对应2的位置，
b 对应0的位置） （2）用电压表测量R3断开时a 、b 端口的开路电压。 （3）将电阻R3短路，用电流表测量a 、b 端口短路电压。 （4）计算出等效电阻。重新建立一仿真电路，调出一个直流电压源，设置其电压为测量出的开路电压值，调一个电阻值为计算出的等效电阻，与R3电阻串联成一个等效电路。再用电压表和电流表测量R3两端的电压和流过电流，验证戴维南定理。 实验过程： 1） 测量二极管的伏安特性。 如右图，建立仿真电路图后，启动Simulate 菜单中的Analyses 下的DC Sweep 命令，设置相应的参数后，单击Simulate 按钮，得到二极管的伏安特性曲线如下：
2）验证叠加定理。 V1单独作用： 令V2=0.启动仿真开关如下图： U11=8.727V U21=3.273V U31=3.273V V2单独作用： 令V1=0，启动仿真开关如下图：
软件质量保证与测试 实验指导 计算机工程学院
测试环境配置 1.setting Junit (1) start Eclipse Select windows-preferences-java-build path –class path variables (2) click new, the figure of new variable entry is shown. (3) name JUNIT_LIB
select file-选择JUnit 插件所对应的JAR文件所在地，在Eclipse的安装目录的plugins目录中 2.JUNIT的组成框架 其中，junit.framework 和junit.runner是两个核心包。 junit.framework 负责整个测试对象的框架 junit.runner 负责测试驱动 Junit的框架又可分为： A、被测试的对象。 B、对测试目标进行测试的方法与过程集合，可称为测试用例(TestCase)。
C、测试用例的集合，可容纳多个测试用例(TestCase)，将其称作测试包(TestSuite)。 D、测试结果的描述与记录。(TestResult) 。 E、每一个测试方法所发生的与预期不一致状况的描述，称其测试失败元素(TestFailure) F、JUnit Framework中的出错异常（AssertionFailedError）。 JUnit框架是一个典型的Composite模式：TestSuite可以容纳任何派生自Test 的对象；当调用TestSuite对象的run()方法是，会遍历自己容纳的对象，逐个调用它们的run()方法。 3.JUnit中常用的接口和类 Test接口——运行测试和收集测试结果 Test接口使用了Composite设计模式，是单独测试用例（TestCase），聚合测试模式（TestSuite）及测试扩展（TestDecorator）的共同接口。 它的public int countTestCases（）方法，它来统计这次测试有多少个TestCase，另外一个方法就是public void run（TestResult ），TestResult是实例接受测试结果，run方法执行本次测试。 TestCase抽象类——定义测试中固定方法 TestCase是Test接口的抽象实现，（不能被实例化，只能被继承）其构造函数TestCase(string name)根据输入的测试名称name创建一个测试实例。由于每一个TestCase在创建时都要有一个名称，若某测试失败了，便可识别出是哪个测试失败。 TestCase类中包含的setUp()、tearDown()方法。setUp()方法集中初始化测试所需的所有变量和实例，并且在依次调用测试类中的每个测试方法之前再次执行setUp()方法。tearDown()方法则是在每个测试方法之后，释放测试程序方法中引用的变量和实例。 开发人员编写测试用例时，只需继承TestCase，来完成run方法即可，然后JUnit获得测试用例，执行它的run方法，把测试结果记录在TestResult之中。 Assert静态类——一系列断言方法的集合 Assert包含了一组静态的测试方法，用于期望值和实际值比对是否正确，即测试失败，Assert类就会抛出一个AssertionFailedError异常，JUnit测试框架将
数字电路实验报告3 暨南大学本科实验报告专用纸 课程名称数字逻辑电路实验成绩评定实验项目名称三态门特性研究和典型应用指导教师实验项目编号 0806003803实验项目类型验证型实验地点 B406 学生姓名学号 学院电气信息学院系专业电子信息科学与技术实验时间 2013 年5 月27日上午～月日午温度℃湿度 三态门特性研究和典型应用 一、实验目的 1.学习应用实验的方法分析组合逻辑电路功能。 2.熟悉三态门逻辑特性和使用方法。 3.掌握三态门的典型应用，熟悉三态门输出控制和构成总线的应用。 4.学习数字系统综合实验平台可编辑数字波形发生器使用方法。 二、实验器件、仪器和设备 1. 4双输入与非门74LS00 1片 2. 4三态输出缓冲器74LS125 1片 3. 4异或门74LS86 1片 4. 数字万用表UT56 1台 5. TDS－4数字系统综合实验平台 1台 6. PC机（数字信号显示仪） 1台 7. GOS－6051示波器 1台 芯片引脚图 三、实验步骤和测试分析 1、三态门逻辑特性测试（用表格记录测试数据） ①74LS125三态门的输出负载为74LS00一个与非门输入端。 74LS00同一个与非门的另一个输入端接低电平，测试74LS125三态门三态输出、高电平输出、低电平输出的电压值。同时测试74LS125三态输出时74LS00输出值。 测试电路图及数据表格如下页所示。 ②74LS125三态门的输出负载为74LS00一个与非门输入端。 74LS00同一个与非门的另一个输入端接高电平，测试74LS125三态门三态输出、高电平输出、低电平输出的电压值。同时测试74LS125三态输出时74LS00输出值。
实验二、基尔霍夫定律的验证 一、实验目的 1.通过实验验证基尔霍夫电流定律和电压定律，巩固所学理论知识。 2.加深对参考方向概念的理解。 二、器材设备 双路直流稳压电源，直流电路单元板（TS－B－28），万用表 三、实验原理 基尔霍夫节点电流定律： 电路中任意时刻流进（或流出）任一节点的电流的代数和等于零。其数学表达式为： ∑=0 I （2-1） i 基尔霍夫回路电压定律： 电路中任意时刻，沿着任一节闭合回路，电压的代数和等于零。其数学表达式为： ∑=0 U （2-2） i 电路的参考方向： 在电路中假定一个方向为参考，称为参考方向。当电路中的电流（或电压）的实际方向与参考方向相同时取正值，其实际方向与参考方向相反时取负值。 四.实验内容及步骤 本实验在直流电路单元板（TS -B-28）上进行，实验电路如图2-1所示。图中X1、X2、X3、X4、X5、X6为节点B的三条支路测量接口。 4.1、验证KCL定律 测量节点B的某支路的电流时，可假定流入节点B的电流为正，并将另外两个支路的测量接口短接，再将电流表的负极接到B点上，电流表的正极接到该支路的接口上（如图2－2）。
1. 按图2-2(a)接好实验电路，再将双路直流稳压电源的输出电压调节旋钮沿逆时针方向调到底，然后打开电源开关，调节电压输出，使U1=10.00V，U2=18.00V，测出AB支路的电流I1值，并在表2-1中记下测量值。 2.将电路转换成图2-2(b)形式,测出并记录BC支路的电流I2值。再将电路转换成图2-2(c)形式，测出并记录BE支路的电流I3值.。 3. 计算∑i I数值，验证基尔霍夫电流定律的正确性。利用电路中已知的电阻及电源电压值，应用电路定律计算出I1、I2、I3值并与测得的I1、I2、I3值比较，求出各测量值的相对误差。 表2-1（保留小数点后两位） 4.2、验证KVL定律 当要测量电压时，应将三个支路的测量接口短接，再取ABEFA回路为回路I，BCDEB 回路为回路II，可选取顺时针方向为绕行方向，依次测量两回路各支路的电压值。 1. 将电路转换成图2-3形式，仍保持U1=10.00V，U2=18.00V取顺时针方向为绕行方向，选择合适的电压表量程，依次测出回路I中各支路电压U AB、U BE、U EF、U FA和回路II中各支路电压U BC、U CD、U DE、U EB，并在表2-2中记下测量值。 2. 计算∑i U数值，验证基尔霍夫电压定律的正确性。利用已知的电阻及电源电压值，应用电路定律计算出上述各支路的电压值并与测得的值比较，求出各测量值的相对误差。 表2-2（保留小数点后三位） [数据处理，保留小数点后三位] 一、利用基尔霍夫定律计算节点B各支路的电流及回路Ⅰ、回路Ⅱ各支路的电压值。 设图2-3电路的节点B各支路的电流方向如图，取流入节点的电流方向为参考方向，则据基尔霍夫电流定律有：I1+I2=－I3 （2-3）另I4＝I1、I2=I5（2-4）取顺时针方向为电压的参考方向，则据基尔霍夫电压定律有： 回路Ⅰ：R1×I1-R3×I3+R4×I1=U1（2-5）
广东*融学院实验报告 课程名称：软件测试 」、实验目的及要求 1、理解测试用例的重要性。 2、熟练掌握等价类划分、边界值方法、决策表和因果图法设计测试用例。 二、实验环境及相关情况（包含使用软件、实验设备、主要仪器及材料等） 1. 使用软件：装有QTP功能测试软件 2 .实验设备：装有Windows的联网的个人计算机 三、实验内容及步骤（包含简要的实验步骤流程） 1、实验题目：登陆框测试 在各种输入条件下，测试程序的登录对话框功能。 用户名和密码的规格说明书如下：（密码规则同用户名规则。） 用户名长度为6至10位（含6位和10 位）; 用户名由字符（a-z、A-Z）和数字（0-9）组成； 不能为空、空格和特殊字符。 要求：按照规格说明书，分别用等价类划分和边界值方法设计测试用例。 步骤：（1）分析规格说明书，确定输入条件、输出条件的有效等价类、无效等价类以及各个边界条件；（2）第二步：填表格并编号；（3）第三步：设计测试用例；（4）第四步：执行测试用例。 2、员工薪制冋题。 （1）年薪制员工：严重过失，扣年终风险金的4%，过失，扣年终风险金的2%。 （2）非年薪制员工：严重过失，扣月薪资的8%，过失，扣月薪资的4%。 步骤：（1）分析程序的规格说明，列出原因和结果；（2）找出原因与结果的因果关系、原因与原因之间的约束关系，画出因果图；（3）将因果图转化成决策表；（4）根据决策表，设计测试用例的输入数据和预期输出。
四、实验结果（包括程序或图表、结论陈述、数据记录及分析等，可附页） 等价类划分方法： 五、实验总结（包括心得体会、问题回答及实验改进意见，可附页） 通过本次实验，我理解了测试用例的重要性。熟练掌握了等价类划分、边界值方法、决策表和因果图法设计测试用例。 六、教师评语 1、完成所有规定的实验内容，实验步骤正确，结果正确； 2、完成绝大部分规定的实验内容，实验步骤正确，结果正确； 3、完成大部分规定的实验内容，实验步骤正确，结果正确； 4、基本完成规定的实验内容，实验步骤基本正确，所完成的结果基本正确； 5、未能很好地完成规定的实验内容或实验步骤不正确或结果不正确。 评定等级： 签名:
门电路逻辑功能及测试实验报告记录
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深圳大学实验报告实验课程名称：数字电路实验 实验项目名称：门电路逻辑功能及测试学院：信息工程学院 报告人：许泽鑫学号：201 班级：2班同组人： 指导教师：张志朋老师 实验时间：2016-9-27 实验报告提交时间：2016-10-11
一、实验目的 （1）熟悉门电路逻辑功能，并掌握常用的逻辑电路功能测试方法。 （2）熟悉RXS-1B数字电路实验箱。 二、方法、步骤 1.实验仪器及材料 1)RXS-1B数字电路实验箱 2)万用表 3)器件 74LS00四2输入与非门1片 74LS86四2输入异或门1片 2.预习要求 1)阅读数字电子技术实验指南，懂得数字电子技术实验要求和实验方 法。 2)复习门电路工作原理及相应逻辑表达式。 3)熟悉所用集成电路的外引线排列图，了解各引出脚的功能。 4)学习RXB-1B数字电路实验箱使用方法。 3.说明 用以实现基本逻辑关系的电子电路通称为门电路。常用的门电路在逻辑功能上有非门、与门、或门、与非门、或非门、与或非门、异或门等几种。 非逻辑关系：Y=A 与逻辑关系：Y=A B + 或逻辑关系：Y=A B 与非逻辑关系：Y=A B + 或非逻辑关系：Y=A B + 与或非逻辑关系：Y=A B C D ⊕ 异或逻辑关系：Y=A B
三、实验过程及内容 任务一：异或门逻辑功能测试 集成电路74LS86是一片四2输入异或门电路，逻辑关系式为1Y=1A ⊕1B ，2Y=2A ⊕2B ， 3Y=3A ⊕3B ，4Y=4A ⊕4B ，其外引线排列图如图1.3.1所示。它的1、2、4、5、9、10、12、13号引脚为输入端1A 、1B 、2A 、2B 、3A 、3B 、4A 、4B ，3、6、8、11号引脚为输出端1Y 、2Y 、3Y 、4Y ，7号引脚为地，14号引脚为电源+5V 。 （1）将一片四2输入异或门芯片74LS86插入RXB-1B 数字电路实验箱的任意14引脚的IC 空插座中。 （2）按图1.3.2接线测试其逻辑功能。芯片74LS86的输入端1、2、4、5号引脚分别接至数字电路实验箱的任意4个电平开关的插孔，输出端3、6、8分别接至数字电路实验箱的电平显示器的任意3个发光二极管的插孔。14号引脚+5V 接至数字电路实验箱的+5V 电源的“+5V ”插孔，7号引脚接至数字电路实验箱的+5V 电源的“⊥”插孔。 （3）将电平开关按表1.3.1设置，观察输出端A 、B 、Y 所连接的电平显示器的发光二极管的状态，测量输出端Y 的电压值。发光二极管亮表示输出为高电平（H ），发光二极管不亮表示输出为低电平（L ）。把实验结果填入表1.3.1中。 图1.3.1 四2输入异或门74LS86外引线排列图 1A 1B 1Y 2A 2B 74LS86 V CC 4B 4A 4Y 3B 4A 3Y 1 2 3 4 5 14 13 12 11
数字逻辑实验报告 实验一器件认知及基本逻辑门逻辑功能测试 一、实验目的 1. 认知逻辑器件的外形和引脚的排列。 2．掌握TTL与非门、与或非门和异或门输入与输出之间的逻辑关系。 3．熟悉TTL中、小规模集成电路的使用方法。 4. 对逻辑器件的逻辑功能进行测试和验证。 5. 掌握"Dais数字电路实验系统”仪器的使用方法。 二、实验所用器件和设备 1．二输入四与非门74LS00 1片 2．二输入四或非门74LS28 1片 3. 二输入四异或门74LS86 1片 4．Dais数字电路实验系统1台 5．万用表1个 三、实验内容 1．测试二输入四与非门74LS00一个与非门的输入和输出之间的逻辑关系。 2. 测试二输入四或非门74LS28一个或非门的输入和输出之间的逻辑关系。 3．测试二输入四异或门74LS86一个异或门的输入和输出之间的逻辑关系。 四、实验提示． 1. 将被测器件插人实验台上的集成块插座中。 2．将器件的引脚7与“地(GND)”连接，将器件的14引脚与+5V连接。 3．用实验台的电平开关输出作为被测器件的输入。拨动开关，则改变器件的输入电平为“0”或为“1”。 4. 将被测器件的输出引脚与实验台上的电平指示灯（即发光二极管）连接。指示 灯亮表示输出电平为“1”，指示灯灭表示输出电平为“0”。 五、实验报告要求 1．画出三个实验的接线图。 2．用真值表表示出实验结果。 实验二用全与非门构成全加器 一、实验目的 1. 掌握全加器的逻辑功能和真值表。
2．掌握用全与非门构成全加器的方法。 二、实验所用器件和设备 1. 二输入四与非门74LS00 2片 2．三输入三与非门74LS10 1片 3．六反相器74LS04 1片 4. Dais数字电路实验系统1台 三.实验内容 1．画出全加器的电路图。 2．全与非门构成全加器，并搭出电路。 四．实验提示 二输入四与非门74LS00 中的任一个与非门二输入端连在一起时，此与非门即可当成非门使用。 五．实验报告要求 1．用真值表形式说明全加器的功能。 2．画出用全与非门构成的全加器的电路图。 实验三三态门实验 一、实验目的 I．掌握三态门逻辑功能和使用方法。 2．掌握用三态门构成总线的特点和方法。 二、实验所用器件和设备 1．四2输入正与非门74LS00 1片 2．三态输出的四总线缓冲门74LS125 1片 3．万用表l个 4.Dais数字电路实验系统1台 三、实验内容 1．74LS125三态门的输出负载为74LS00一个与非门输入端。74LS00同一个与非门的另一个输入端接低电平，测试74LS125三态门三态输出、高电平输出、低电平输出的电压值。同时测试74LS125三态输出时74LS00输出值。
串联电路实验报告 篇一：实验报告：组成串联电路和并联电路a 连接串联电路和并联电路 一、实验目的：掌握_____________、______________的连接方式。 二、实验器材： __________、__________、__________、__________、___________。 三、步骤： （一）.组成串联电路 1.按图1-1的电路图，先用铅笔将图1-2中的电路元件，按电路图中的顺序连成实物电路图(要求元件位置不动，并且导线不能交叉)。在连接实物电路过程中，开关是 2.经电路连接无误后，闭合和断开结果填入表格中。 3.把开关改接到L1和L2之间，再改接到L2和电池负极间，观察开关控制两只灯泡的情况。将观察结果填入表格中。 （二）组成并联电路 1、在图方框中画出由两只灯泡L1、L2组成的并联电路。要求三个开关中的开关S控制干 路，开关S1和S2分别控制两个支路，并按电路图连接实物及实物图。 2、经检查电路连接无误后，把
3、闭合S1和S2，断开与闭合干路中的开关S，观察它控制哪个灯泡？将观察结果填入表 格中。 4、闭合S和S2，断开与闭合支路中的开关S1，观察它控制哪个灯泡？将观察结果填入表 格中。 5、闭合S和S1，断开与闭合支路开关S2，观察它控制哪个灯泡？将观察结果填入表格中。 （三）实验结论 串联电路：在串联电路里只有条电流路径；用电器）工作，它们之间（选填“会”或“不会”）相互影响；开关控制_____ ____用电器;如果开关的位置改变了,开关的控制作用_________. 并联电路：在并联电路里有条电流路径；用电器）工作，它们之间（选填“会”或“不会”）相互影响；干路开关控制_________用电器，支路开关控制_________用电器（四）、结束实验，整理仪器，把器材分类放好，依次推出实验室。 电学实验规则： 1.实验开始时：首先要依据实验要求，能正确地画出电路图。 2.选择器材时：要依据画出（含“给出”）的电路图，