X射线荧光光谱仪常见故障的诊断方法
新型的X射线荧光光谱仪都装有故障诊断软件，分布于仪器各个部位的传感器将仪器的状态信号传输到计算机，供仪器操作者和维修工程师判断仪器是否正常，找到产生故障的部位。但是有些在测量过程中出现的问题靠诊断软件是发现不了的，而且诊断软件仅仅提示产生了故障，要找到产生故障的原因，要求维修人员对仪器的结构比较熟悉，且具有一定的维修经验。本文介绍5种常见故障的产生原因及处理方法。
故障现象一
X射线发生器的高压开不起来。
故障分析：
这是X射线荧光光谱仪较常见的故障，一般发生在开机时，偶尔也发生在仪器运行中。故障的产生原因可以从三个方面去分析：1、X射线防护系统;2、内部水循环冷却系统;3、高压发生器及X射线光管。
1.1X射线防护系统
为了防止X射线泄漏，高压发生器只有在射线防护系统正常的情况下才能
启动。射线防护系统正常与否，主要检查以下二部分：
1、面板的位臵是否正常。X射线荧光光谱仪是一个封闭系统，面板是最外层的射线防护装臵，如果有一块面板不到位，仪器就有射线泄漏的可能。因此，每块面板上都有位臵接触传感器，面板没有完全合上，高压开不起来。
2、X射线的警示标志是否正常。国家标准[1]规定X射线荧光光谱仪必须安装红色警告信号灯并与相应的开关联动，因此如果信号灯失灵，高压也开不起来。
有一种简单的方法可以判断高压不能启动是否是由射线防护系统引起，即将仪器的状态设定为维修状态，屏蔽射线防护系统，如果这时高压可以开起来，就可以确定故障是由射线防护系统的问题引起的。
1.2内部水循环冷却系统
高压发生器的输出功率一般为3kW或4kW，将高压加至X射线光管后，除小部分用于产生X射线外，大部分转化为热能，由内部水循环冷却系统带走。内循环水用于冷却阳极靶附近的光管头部分，因此要求内循环水为电导率很低的去离子水，以防高压击穿。内循环水通过仪器内部的去离子树脂柱降低电导率，去离子树脂柱中的树脂会年久失效，因此高压无法启动时，可检查一下内循环水的电导率，如果电导率降不下去，考虑更换树脂。另外，内循环水的水
位过低，也会导致高压开不起来。
还有一种故障现象是高压开起来几分钟后跳掉，产生这种故障的原因可能为内循环水的流量过小。内循环水的流量通过流量计测量，水流过流量计时，带动流量计内的叶轮，叶轮切割磁力线，产生电信号。叶轮在水中长期转动，可能会锈蚀，从而使叶轮的转速减慢，流量计的电信号减弱，使仪器误认为水流量过小而导致高压跳掉。另外内循环水的过滤网堵塞导致水流量减小，也会引起高压跳掉。
1.3高压发生器及X射线光管本身
高压发生器和X射线光管是仪器内最贵重的部件，一般不会出问题。检查高压发生器，可将高压发生器打开，根据电路图，检查各个开关是否在正常位臵，看一下保险丝有没有熔断，再进一步的检查最好由专业维修工程师来做。X 射线光管是个封闭的部件，一旦损坏，只能更换，不能修理。检查X射线光管，可检查X射线光管与高压电缆的连接是否正常，高压电缆有无损坏。
故障现象二
光谱室和样品室的真空抽不到规定值。
故障分析：
X射线荧光光谱分析通常在真空光路条件下工作，但光谱室和样品室有很多部位与外部相连，可能漏气的部位很多。检查真空故障时，将可能出问题的地方人为分隔为三部分：真空泵、样品室、光谱室，对这三部分逐一检查以缩小范围。
2.1真空泵
将真空泵与光谱室和样品室的接口拆下并用橡皮塞堵住，然后抽真空，如果能在几秒钟内抽到规定值，可以排除真空泵出现故障的可能性。如果能抽到规定值但时间较长，可能是真空泵的效率降低，这种情况一般发生在经常分析压片样品和油品的仪器上，粉末或油被吸到真空泵油中，改变了油的粘度，这时需更换真空泵油。
2.2样品室
样品室最常见的漏气部位是样品自转装臵上的密封圈，样品测量时通常以0.5转/秒的速度自转，仪器几年运行下来，样品自转处的密封圈磨损，密封效果变差。
2.3光谱室
光谱室最常见的漏气部位是流气计数器，流气计数器安装在光谱室内，有一根入气管和一根出气管与外界相通，流气计数器的窗膜很薄，窗膜漏气，就会影响光谱室真空。检查方法：将入气管和出气管用一根软管连接，使流气计数器与外界隔绝，然后抽真空。
检查真空故障，在拆卸和安装时，要小心操作，不要让灰或头发掉到密封圈上，以避免产生新的漏气点，安装时可以在密封部位涂一点真空油脂。
故障现象三
计数率不稳定。
故障分析：
X射线荧光光谱仪的常用探测器有二个：流气计数器和闪烁计数器。闪烁计数器很稳定，问题常出现在流气计数器上。
流气计数器窗膜由一块聚酯薄膜、hostaphan膜或聚丙烯薄膜镀上一层很薄(约30nm)的铝膜所构成，由于窗膜承受大气压力，一段时间后随着基体材料的延展，铝膜可能产生裂纹，从而减弱导电性能，这种情况对脉冲高度分布影响不大，但会使计数率不稳定。新型号的X射线荧光光谱仪一般都安装1μm甚至0.6μm的窗膜，而不再使用6μm的窗膜，因此流气计数器的窗膜导电性能下降的可
能性增大。
检查方法[2]：在低X射线光管功率情况下，选一个KKα计数率约2000CPS 的样品，测定计数率，然后用一个钾含量高的样品取代原样品，将光管调到满功率，保持2分钟，再将X射线光管功率减至原值，测量第一个样品，如窗膜导电正常，将得到原计数率，如窗膜导电性能变差，会发现计数率减小，然后慢慢回升至初始值，这时就应调换窗膜。
故障现象四
2θ扫描时，发现峰形不光滑，有小锯齿状。
故障分析：
晶体是仪器内最脆弱的部件，尽量不要用手接触衍射面，如果手或其他东西碰到了晶体的衍射面，就会污染晶体，手上的汗或其他物质渗到晶体的表面，使晶体表面的晶格间距发生变化，而X射线荧光的衍射主要发生在晶体的表面，因此造成2θ扫描的峰形不光滑。这种故障一时很难消除，文献[3]介绍了晶体的表面处理方法，但一般清洗不干净。
故障现象五
2θ扫描时只出现噪声信号，没有峰位信号。
故障分析：
可能的原因有二个：
5.1探测器的前臵放大电路出现故障，出现的噪声信号为电路噪声，不是X 射线信号。
5.2测角仪的θ和2θ耦合关系发生混乱，通常是控制θ和2θ耦合关系的CMOS 中的数据由于电池漏电等原因丢失，这时需要重新对光。
此文章由广州深华生物技术有限公司编辑修改。
电脑硬件常见的故障检测及处理方法 互联网06-03 14:29:15 作者：佚名我要评论 掌握一些电脑维修的基本检测方法,是解决电脑故障的必备基础知识。本文总结了电脑使用者在日常的工作、生活中有可能遇到的几种代表性的电脑硬件故障以及处理方法，在遇到电脑故障时，快速判断并处理一些有规律可循的常见故障。 我们在日常生活、工作中肯定会遇到电脑硬件引起的一些故障，这个时候，如果你不懂如何检测及处理硬件故障，则会对我们的生活、工作造成很大的不便；本文就针对我们在使用电脑中常遇到的几种硬件故障，总结了几种代表性的电脑故障及处理方法，希望对大家有一定的帮助； 一、什么是电脑硬件故障 电脑硬件故障是由硬件引起的故障，涉及各种板卡、存储器、显示器、电源等。常见的硬故障有如下一些表现。 ①电源故障，导致系统和部件没有供电或只有部分供电。 ②部件工作故障，计算机中的主要部件如显示器、键盘、磁盘驱动器、鼠标等硬件产生的故障，造成系统工作不正常。 ③元器件或芯片松动、接触不良、脱落，或者因温度过热而不能正常运行。 ④计算机外部和内部的各部件间的连接电缆或连接插头(座)松动，甚至松脱或者错误连接。 ⑤系统与各个部件上及印制电路的跳线连接脱落、连接错误，或开关设置错误，而构成非正常的系统配置。 ⑥系统硬件搭配故障，各种电脑芯片不能相互配合，在工作速度、频率方面不具有一致性等。 二、硬件故障的常用检测方法 目前，计算机硬件故障的常用检测方法主要有以下几种。 1．清洁法 对于使用环境较差或使用较长时间的计算机，应首先进行清洁。可用毛刷轻轻刷去主板、外设上的灰尘。如果灰尘已清洁掉或无灰尘，就进行下一步检查。另外，由于板卡上一些插卡或芯片采用插脚形式，所以，震动、灰尘等其他原因常会造成引脚氧化，接触不良。可用橡皮擦去表面氧化层，重新插接好后，开机检查故障是否已被排除。 2．直接观察法
X射线荧光光谱仪国内厂家 产品介绍 天瑞仪器公司是国内最大的X射线荧光光谱仪厂家，全球专业生产高性能X射线荧光光谱仪(XRF)的公司。2011年推出的高性能、台式X荧光合金分析仪EDX3600H,融汇全球领先的合金分析技术，配备合金测试效果最佳的智能真空系统，利用低能光管配合真空测试，可以有效的降低干扰，提高轻元素分辨率,大大提高合金中微量的Al、Si、P等轻元素的检测效果。 EDX3600H合金光谱仪是天瑞仪器公司为合金测试专门开发的仪器类型。 具有测试精度高、测试速度快、测试简单等特点。 同时具有合金测试、合金牌号分析、有害元素分析，土壤分析仪、贵金属分析等功能。 检测样品包括从钠至铀的所有合金、金属加工件、矿物、矿渣、岩石等，形态为固体、液体、粉末等。 性能特点 高效超薄窗X光管，指标达到国际先进水平 针对合金的测试而开发的专用配件 SDD硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比 天瑞仪器专利产品—信噪比增强器（SNE），提高信号处理能力25倍以上 低能X射线激发待测元素，对Pb、S等微含量元素激发效果好 智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围 自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性； 高信噪比的电子线路单元 针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐 多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制； 内置高清晰摄像头 液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然 标准配置 合金测试高效超薄窗X光管 超薄窗大面积的原装进口SDD探测器 信噪比增强器SNE 光路增强系统 高信噪比电子线路单元
电脑故障诊断解决方法 平时常见的微机故障现象中,有很多并不是真正的硬件故障,而是由于某些设置或系统特性不为人知而造成的假故障现象。认识下面的微机假故障现象有利于快速地确认故障原因，避免不必要的故障检索工作。 1、电源插座、开关很多外围设备都是独立供电的，运行微机时只打开计算机主机电源是不够的。例如：显示器电源开关未打开，会造成“黑屏”和“死机”的假象；外置式MODEM 电源开关未打开或电源插头未插好则不能拨号、上网、传送文件，甚至连MODEM都不能被识别。打印机、扫描仪等都是独立供电设备，碰到独立供电的外设故障现象时，首先应检查设备电源是否正常、电源插头/插座是否接触良好、电源开关是否打开。 2、连线问题外设跟计算机之间是通过数据线连接的，数据线脱落、接触不良均会导致该外设工作异常。如：显示器接头松动会导致屏幕偏色、无显示等故障；又如：打印机放在计算机旁并不意味着打印机连接到了计算机上，应亲自检查各设备间的线缆连接是否正确。 3、设置问题例如：显示器无显示很可能是行频调乱、宽度被压缩，甚至只是亮度被调至最暗；音箱放不出声音也许只是音量开关被关掉；硬盘不被识别也许只是主、从盘跳线位置不对……。详细了解该外设的设置情况，并动手试一下，有助于发现一些原本以为非更换零件才能解决的问题。 4、系统新特性很多“故障”现象其实是硬件设备或操作系统的新特性。如：带节能功能的主机，在间隔一段时间无人使用计算机或无程序运行后会自动关闭显示器、硬盘的电源，在你敲一下键盘后就能恢复正常。如果你不知道这一特征，就可能会认为显示器、硬盘出了毛病。再如Windows、NC的屏幕保护程序常让人误以为病毒发作…… 多了解微机、外设、应用软件的新特性、多向专家请教，有助于增加知识、减少无谓的恐慌。 \[] 5、其它易疏忽的地方 CD-ROM的读盘错误也许只是你无意中将光盘正、反面放倒了；软盘不能写入也许只是写保护滑到了“只读”的位置。发生了故障，首先应先判断自身操作是否有疏忽之处，而不要盲目断言某设备出了问题。 微机故障常见的检测方法 1、清洁法对于机房使用环境较差，或使用较长时间的机器，应首先进行清洁。可用毛刷轻轻刷去主板、外设上的灰尘，如果灰尘已清扫掉，或无灰尘，就进行下一步的检查。另外，由于板卡上一些插卡或芯片采用插脚形式，震动、灰尘等其他原因，常会造成引脚氧化，接触不良。可用橡皮擦擦去表面氧化层，重新插接好后开机检查故障是否排除。 2、直接观察法即“看、听、闻、摸”。“看”即观察系统板卡的插头、插座是否歪斜，电阻、电容引脚是否相碰，表面是否烧焦，芯片表面是否开裂，主板上的铜箔是否烧断。还要查看是否有异物掉进主板的元器件之间(造成短路)，也可以看看板上是否有烧焦变色的地方，印刷电路板上的走线(铜箔)是否断裂等等。“听”即监听电源风扇、软/硬盘电机或寻道机构、显示器变压器等设备的工作声音是否正常。另外，系统发生短路故障时常常伴随着异常声响。监听可以及时发现一些事故隐患和帮助在事故发生时即时采取措施。“闻”即
一、名词解释 1．分馏效应：将试样中各物质按其沸点从低到高先后顺序挥发进入分析区的现象称为分馏效应或选择挥发。 2．共振线和共振电位：原子中的一个外层电子从激发态向基态跃迁产生的谱线，称为共振线；上述跃迁所需要的能量称为共振电位。 3．多普勒变宽：又称热变宽，它是发射原子热运动的结果。如果发射体朝向观察器（如光电倍增管）移动，辐射的表观频率要增大，反之，则要减小。所以观察器接收的频率是（ν+Δν）和（ν-Δν）之间的频率，于是出现谱线变宽。4．原子荧光：将一个可被元素吸收的波长的强辐射光源，照射火焰中的原子或离子，原子的外层电子从基态跃迁至高能态，大约在10-8s内又跃回基态或低能态，同时发射出与照射光相同或不同波长的光，这种现象称为原子荧光。5．原子发射光谱：在室温下，物质所有的原子都是处于基态。通过火焰、等离子体、电弧或火花等的热能可将它们原子化后并激发至高能级轨道。激发态原子的寿命很短，在它返回基态时伴随发射一个辐射光子，产生发射光谱线。6．原子吸收光谱：处于基态原子核外层电子，如果外界所提供特定能量的光辐射恰好等于核外层电子基态与某一激发态之间的能量差时，核外层电子将吸收特征能量的光辐射由基态跃迁到相应激发态，从而产生原子吸收光谱。 7．单重态与三重态：对于有两个外层电子的原子，它存在具有不同能量的受激单重态和三重态，在激发的单重态中，两电子的自旋相反（或配对），在三重态中两电子自旋平行。 8．激发电位：将元素原子中一个外层电子从基态跃迁至激发态所需的能量。9．荧光量子产率：发射荧光的分子数与激发分子总数的比值。或发射光量子数
与吸收光量子数的比值。 10. 分子发光：分子吸收外来能量时，分子的外层电子可能被激发而跃迁到更高的电子能级，这种处于激发态的分子是不稳定的，它可以经由多种衰变途径而跃迁回基态。这些衰变的途径包括辐射跃迁过程和非辐射跃迁过程，辐射跃迁过程伴随的发光现象，称为分子发光。 11．化学发光：化学反应过程中生成的激发态物质所产生的光辐射。 12．助色团：本身不产生吸收峰，但与生色团相连时，能使生色团的吸收峰向长波方向移动，并且使其吸收强度增强的基团。 13．生色团：指分子中可以吸收光子而产生电子跃迁的原子基团。 14．红移和蓝移：因取代基的变更或溶剂的改变，使其吸收带的最大吸收波长λmax发生移动；向长波方向移动称为红移；向短波方向移动称为蓝移。15．化学位移：由屏蔽作用引起的共振时磁场强度的移动现象。 16．浓差极化：由于物质传递造成的电极表面浓度对溶液本体浓度的偏离而引起的极化。 17．Nernst响应斜率：以离子选择电极的电位E（或电池电动势）对响应离子活度的负对数（pa）作图，所得校准曲线呈直线部分的斜率即为电极的响应斜率，Nernst响应斜率为59.2/n（mV）。 18．色谱分离：色谱分离是基于混合物各组分在两相中分配系数的差异，当两相作相对移动时，被分离物质在两相间进行连续、多次分配，组分分配系数微小差异导致迁移速率差异，实现组分分离。 19．梯度洗脱：将两种或两种以上不同性质但互溶的溶剂，随时间改变而按一定比例混合，以连续改变色谱柱中冲洗液的极性、离子强度或pH值等，从而改
X-射线荧光光谱仪(XRF) 1、仪器介绍 X-射线荧光光谱仪(XRF)，现有日本Rigaku公司生产的ZSX primus波长色散型XRF一台，及配套所必须的电源设备、冷循环水设备和前处理熔样机等。X射线荧光光谱分析技术制样简单、分析快速方便、应用广泛，可用于测定包括岩石、土壤、沉积物等在内的各种地质样品的化学组成。分析元素范围从Be(4)到U(92)，最常见的是用于主量元素分析，如SiO2、Al2O3、CaO、Fe2O3T、K2O、MgO、MnO、Na2O、P2O5、TiO2、LOI等元素。 2、仪器功能和技术参数： (1) 功能：定性分析、半定量分析和定量分析； (2) X射线管：4KW超薄端窗型(30μm)、铑靶X射线管； (3) 分光晶体：LiF(200)、Ge(111)、PET、RX25、LiF(220)； (4) 进样器：48位自动样品交换器； (5) 测角仪：SC：5-118度(2θ)；PC：13-148度(2θ)； (6) 分析元素范围：Be4-U92； (7) 线性范围：10-2 - 10-6； (8) 仪器稳定度：≤0.05%； (9) 测量误差：<5%。 3、应用和优势： XRF应用广泛，可用于岩石、矿物、土壤、植物、沉积物、冶金、矿业、钢铁、化工产品等样品中常量和痕量的定量分析。具有快速方便、制样简单、无损测量、分析元素宽、灵敏度高等优点。 X-ray Fluorescence Spectrometer (XRF) 1、I nstrument Introducation: The wavelength dispersion X-ray fluorescence spectrometer (XRF) is ZSX primus, made by Rigaku, Japan, with a set of instruments of electrical power unit, cold circulating water equipment and automatic fusion machine. XRF is widely used for geological element analysis, including rocks, soils, sediments, etc, which is simplicity and convenience of operation. Its analyzable elements range is from Be (4) to U (92). XRF is most common for the analysis of major elements, such as SiO2, Al2O3, CaO, Fe2O3T, K2O, MgO, MnO, Na2O, P2O5, TiO2 and LOI. 2、Instrument Technical Parameters: (1) Fucation: qualitative analysis, semi-quantitative analysis and quantitative analysis; (2) X-ray tube: 4KW ultrathin end-window (30μm) Rh target X-ray tube;
1 主板上装有哪些主要部件？ 2 主板故障的一般表现是什么？ 3 主板故障的诊断和排除方法有哪些？ 4 出现如下现象：开机无故黑屏；无法找到外设；无法找到硬盘；计算机发出异常声响；无法启动硬盘；无法引导或引导死机等等。可能是什么原因引起？ 5 内存一般有哪些故障，表现形式主要有哪些，如何排除？ 6 硬盘的主要故障有哪些，表现形式，如何排除？ 7 显卡故障有哪些，如何排除？ 8 不能播放声音可能是那些原因引起？ 9 光驱的故障有哪些？表现形式，如何排除？ 10 BIOS 设置中，Primary Boot Sequene是设置什么？ Set Powe_on Password是设置什么？ 11 CPU 故障的原因和现象有哪些？ 12 CMOS 电池电压低于（），需要更换电池。 13 系统提示“内存不足”是什么原因引起的？ 14会出现“invalid partition-table”错误，是什么原因引起的？ 15 进入操作系统之后，可以看到硬盘分区但是无法访问，或者无法拷贝，是何原因？ 16 开机后发出一长两短的蜂鸣声（对于AWARD BIOS而言），可能是什么原因？ 17 播放MP3有声音，播放CD无声可能是什么原因？ 电脑常见五种故障快速排查- [CPU-内存-硬盘使用维护] 2008-05-14 22:39:49| 分类：电脑方面问题及故| 标签：|字号大中小订阅 出现问题不慌张！电脑常见五种故障快速排查 PC电脑中，主板是负责连接电脑配件的桥梁，其工作的稳定性直接影响着电脑能否正常运行。由于它所集成的组件和电路多而复杂，因此产生故障的原因也相对较多。主板“罢工”时，出现的故障现象可能多种多样，一般通过逐步拔除或替换主板所连接的板卡(内存、显卡等)，先排除这些配件可能出现的问题后就可以把目标锁定在主板上。另外，主板故障往往表现为系统启动失败、屏幕无显示等难以直观判断的故障现象。当主板出现故障后，我们该采取什么应对措施，来将主板故障快速而有效地排除呢?为此，本文特意为各位网友提供一些相关故障的快速应对措施。 一、电脑无法正常启动，按下电源开关后没有任何反映 故障分析：主板无法正常启动的原因可能有多种，例如主板上的电容，在长时间的工作下，可能会出现炸裂或冒泡现象，这样主板的滤波功能可能就失效了，如此一来，供电电流中出现了很大成分的交流冲击波，从而导致主板工作不稳定，以致于无法正常启动;要是CPU供电不正常的话，主板也会无法正常启动，同时没有报警声;此外，CPU风扇的固定卡子要是发生断裂，或内存插槽出现断裂，或者内存插槽出现断针，CPU插座出现断针等，都有可能引发上面的故障。 故障应对：为了确保主板电容上的电压不致过高，应确保供电电源通过稳压器过滤，还不要让计算机长期工作，导致电容过热;你可以利用万用表，来检测CPU周围的三极管、二极管，是否工作正常，以便
01 点火问题 在分析工作中，经常会碰到部分仪器点火线圈不亮，无法正常点火。首先要检查点火炉丝是否正常，如炉丝断则需要更换炉丝，如炉丝亮但点不燃火焰，就需要检查燃气或控制阀，检查炉丝与炉芯的位置是否合适，排除这些故障后仪器可正常点火。 02 无信号强度 在仪器检定过程中，经常遇到仪器测量标准溶液后无响应荧光强度。遇到此类问题，首先，应该检查静态光源，检查元素灯是否点亮。若仪器灯能量正常，说明仪器电路部分正常，则需要进一步检查反应系统或原子化系统。检查仪器泵管松紧是否合适，管道有无堵塞破裂。如出现上述情况，试剂没有进系统，仪器没有发生氧化还原反应，则不会产生信号。更换管道，调整泵管松紧可以解决此问题。 检定标准溶液的酸度或还原剂浓度不够，不能生成被测元素的氢化物，无法正常原子化也会造成仪器无响应荧光强度，这就需要检查配置标准溶液所使用的酸和还原剂浓度。 03 仪器灵敏度低 在检定过程中，由于要检定仪器的测量线性及检出限，需要在仪器上测量0.0 ng/mL、1.0 ng/mL、5.0 ng/mL、10.0 ng/mL砷锑混合标准溶液的线性。重复测量3次，记录荧光强度值，按照线性回归计算斜率b，再对空白溶液连续进行11次荧光强度测量，计算其标准偏差，然后计算仪器的检出限QL。JJG939-2009《原子荧光光度计检定规程》要求仪器检出限为0.4 ng。检定中经常碰到仪器灵敏度低，调整仪器的灯电流和负高压后仍无法达到检定规程的要求，这就需要排查解决灵敏度低的问题。 首先检查炉丝是否老化，必要时更换炉丝，然后检查原子化器位置是否偏移造成焦距的变化而影响仪器的灵敏度。调光不好，焦距不在炉芯中心也会造成仪器灵敏度低，这就需要重新调整炉芯和光路位置。载气流量低，排废太快，载流管或毛细管变形或折弯等原因，都会造成标准溶液无法正常原子化而导致仪器灵敏度降低，这就需要检查仪器的进样系统，有必要时需更换仪器进样系统管路。在检定过程中，经常碰到仪器所使用的氩气纯度不够而造成仪器灵敏度降低，更换高纯度氩气后可解决此问题。所选用元素灯的强度也会对仪器的灵敏度造成影响，在仪器灵敏度较低时需要更换元素灯。 04 仪器信号不稳定 可以降低仪器的灯电流和负高压后信号值，如果还是不稳定，这时需要检查仪器所处的环境是否有强光干扰，仪器的检测窗口若有强光照射，会引起仪器荧光信号不稳定，这就需要遮光进行检定。然后观察仪器的火焰是否跳动，若有明显跳动则检查仪器抽排风口是否抽力太大，有气流影响而造成仪器火焰不稳定。 排除上述问题后，仪器信号仍不稳定，就需要检查仪器的水封、废液管，水封和废液管不畅
由于内存安装不当或有严重地质量问题往往会导致开机“内存报警”，是内存最常见地故障之一.在开机地时候，听到地不是平时“嘀”地一声，而是“嘀，嘀，嘀...”响个不停，显示器也没有图像显示.这种故障多数时候是因为电脑地使用环境不好，湿度过大，在长时间使用过程中，内存地金手指表面氧化，造成内存金手指与内存插槽地接触电阻增大，阻碍电流通过而导致内存自检错误.这类内存故障现象比较明显，也很容易通过重新安装或者替换另外地内存条加以确认并解决.在取下内存条后，应注意仔细用无水酒精及橡皮将内存两面地金手指擦洗干净，而且不要用手直接接触金手指，因为手上汗液会附着在金手指上，在使用一段时间后会再次造成金手指氧化，重复出现同样地故障，安装时可多换几个内存插槽.另外，我们还应用毛笔刷将内存条插槽中地灰尘清理掉，然后用一张比较硬且干净地白纸折叠起来，插入内存条插槽中来回移动，通过该方法让纸张将内存条插槽中地金属物擦拭干净，然后再安装内存条.同时要仔细观察是否有芯片被烧毁、电路板损坏地痕迹.另外某些老内存（如内存），安装时必须成对使用.而内存必须要将主板上地内存插槽插满才能正常使用，如果没有插满，就需要使用一个与形状类似地专用“串接器”插在空闲地插槽上. 因内存质量不佳或损坏而导致地系统工作不稳定故障，是电脑维修过程中，遇到地最多地问题了.比如系统频繁出现“篮屏死机”和“注册表损坏”错误或者经常自动进入安全模式等.比如遇到“注册表错误”时，我们可以进入安全模式，在运行中敲入“”命令，将“启动”项中地前面地“”去除，然后再重新启动电脑.如果故障排除，说明该问题真地是由注册表错误引起地；如果故障仍然存在，基本上就可以断定该机器内存有问题，这时需要使用替换法，换上性能良好地内存条检验是否存在同样地故障.有时候，长时间不进行磁盘碎片整理，没有进行错误检查时，也会造成系统错误而提示注册表错误，但对于此类问题在禁止运行“”后，系统就可以正常运行，但速度会明显地变慢.解决此类故障除了更换内存条以外，还可以先尝试调整主板中内存地相关参数.如果内存品质达不到在中设置地各项指标要求，会使内存工作在非稳定状态下，建议在中逐项降低、等参数地设置数值.假如您地内存并非名牌优质产品，最好选择默认设置为“”，即“自动侦测模式”.在模式下，系统自动从内存地芯片中获取信息，所以理论上说，此时内存地工作状态是最稳定地. 在大多数内存同步工作模式下，内存地运行速度与外频是相同地.但现在很多主板都支持“异步内存速度”，也就是说两者地工作频率可存在一定差异. 以典型地主板为例，进入后找到“ (内存时钟频率)”选项，即有“ (总线频率和内存工作频率同步)、(总线频率减)、(总线频率加)等三种模式.如果内存工作不稳定地话，当然可以将内存工作速度设定得低一些. .兼容性故障地处理 内存是电脑中最容易升级地配件之一.由于我们使用地电脑是由不同厂商生产地产品组合在一起地，不兼容性成为用户最为关注地问题.因为升级不当，就会导致出现系统工作不稳定、内存容量不能完全识别，甚至不能开机等一系列故障. 在升级过程中，内存地混插往往会出现问题，其中之一就是因为单面和双面内存混插造成地.双面内存往往需要占用两个“”，而一些旧型号地主板可能存在兼容问题（像地等老主板），就只能识别一半地容量.就单、双面内存地认识也想多说两句，其实它们地本身没有好坏之分，区别也很小，只不过最重要地是要看哪种封装被主板芯片组支持地更好.不可否认地一点是，同等容量地内存，单面比双面地集成度要高，生产日期要靠后，所以工作起来就更稳定罢了.另外大家很关心两种不同规格地内存条是否能够在同一主板中使用，实际上
电脑开机无显示故障的排除方法（查看有没有起鼓的电容）。 第1步：首先检查电脑的外部接线是否接好，把各个连线重新插一遍，看故障是否排除。 第2步：如果故障依旧，接着打开主机箱查看机箱内有无多余金属物，或主板变形造成的短路，闻一下机箱内有无烧焦的糊味，主板上有无烧毁的芯片，CPU 周围的电容有无损坏等。 第3步：如果没有，接着清理主板上的灰尘，然后检查电脑是否正常。 第4步：如果故障依旧，接下来拔掉主板上的Reset线及其他开关、指示灯连线，然后用改锥短路开关，看能否能开机。 第5步：如果不能开机，接着使用最小系统法，将硬盘、软驱、光驱的数据线拔掉，然后检查电脑是否能开机，如果电脑显示器出现开机画面，则说明问题在这几个设备中。接着再逐一把以上几个设备接入电脑，当接入某一个设备时，故障重现，说明故障是由此设备造成的，最后再重点检查此设备。 第6步：如果故障依旧，则故障可能由内存、显卡、CPU、主板等设备引起。接着使用插拔法、交换法等方法分别检查内存、显卡、CPU等设备是否正常，如果有损坏的设备，更换损坏的设备。 第7步：如果内存、显卡、CPU等设备正常，接着将BIOS放电，采用隔离法，将主板安置在机箱外面，接上内存、显卡、CPU等进行测试，如果电脑能显示了，接着再将主板安装到机箱内测试，直到找到故障原因。如果故障依旧则需要将主板返回厂家修理。 第8步：电脑开机无显示但有报警声，当电脑开机启动时，系统BIOS开始进行POST（加电自检），当检测到电脑中某一设备有致命错误时，便控制扬声器发出声音报告错误。因此可能出现开机无显示有报警声的故障。对于电脑开机无显示有报警声故障可以根据BIOS报警声的含义，来检查出现故障的设备，以排除故障。 将BIOS电池放电（恢复BIOS出厂默认值）建议插拔一下显卡、内存，清理一下卫生，并且擦亮显卡、内存的金手指。
原子荧光常见故障解决建议 一、请先仔细阅读《原子荧光应用手册》第68、69页。 二、通讯失败，参考文件《原子荧光光度计电脑通讯失败的详细解决方法》。 三、空白污染。 参考文件《仪器试剂污染处理方法》。 问题1．试剂污染：主要是酸的纯度不够，或纯度够了质量不好。解决方法：配制一个2%的和10%的HCL，上机看两个浓度酸的荧光值有多大差距，一般好酸荧 光值不会有太大差距，若10%的酸是2%酸荧光值好几倍，则判断酸的纯度不 能够（此方法不适用于做铅）。 问题2．容器污染：主要是器皿质量不好，或泡器皿的酸不好，或容器没有清洗干净。 解决方法：判断是否是器皿的问题，用一个干净的容器配制好2%酸若干，部分倒入被怀疑有污染的容器中，震荡几分钟后上机，看两容器中荧光值是否相近，若 被浸染，被浸染的器皿中的酸出的荧光值会高很多。器皿质量不好（有些厂家 器皿本身含所测元素的量比较大），只能更换，尽量选用A级的容量瓶、刻度 管；泡器皿的酸不好，泡器皿的酸尽量用优级纯的硝酸，并定量更换；容器没 有清洗干净，进行清洗。 问题3．还原剂试剂被粘污。 问题4．环境污染（主要是汞浸染）：若室内以前打碎过温度计，或做过高浓度的元素实验，容易引起环境污染。 解决方法：只能更换实验室。开着排风扇用电风扇吹，并在房间中放硫磺（汞污染）。 四、无信号。 问题：测完标准空白后，测标准点，荧光值自动扣空白后在0上下浮动，各点乱无线性关系。 解决方法： 1．检查水封有没有加水（主机内，部分仪器没有水封）。 2．检查排废管有没有夹好。夹管方法：在做样时拧松夹块上的螺钉，让废液在蠕动泵不转时也能排出。逐渐拧紧螺钉，拧到以下刚出现情况后再拧半周为好：蠕动泵转动时废液排出，不转时废液马上停止在管路中。 3．检查点火炉丝有没有点亮。 4．如果是Hg做样无信号，查看Hg灯有无点亮。激发点亮，点亮后必须重新预热！ 5．8X仪器，检查样品管和还原剂管有没有夹好样品和还原剂是否进到反应块。9X仪器检查进样针中是否有空气，有空气则说明中间已经折断。 6．拿一纸条，在进标准液后，回到载流槽时，悬在原子化器炉口（距炉口1CM以内），看纸条是否被点着（熏黑不算点着），若点不着检查下一步。能点着即有火焰无信号看第10步。 7．检查气液分离器内所进混合液是否反应，若有大量气泡生成（也可观察排出废液中是否有大量小气泡），无气泡生成则看下一步；有气泡则正常，检查气液分离器至原子化器毛细管是否漏气或被堵塞，无漏气、堵塞第一步肯定有火焰生成。能点着即有火焰无信号看第10步。 8．检查载流液、标准点是否有5%左右的酸（保证至少要3%的酸），还原剂硼氢化钾的量保证8X仪器不小于2%，9X仪器不小于1%，检查硼氢化钾是否失效（硼氢化钾易吸潮，易结块）。
家用汽车故障排除方法 1.车辆的转向盘总是不正，一会向左，一会向右，飘忽不定：故障判定：真故障。原因分析：这是由于固定在转向机凹槽中的橡胶限位块已完全损坏导致。将新限位块装复后，故 障完全消失。 2.每次开启空调时，其出风口有非常难闻的气味，天气潮湿时更加严重：故障判定：维护类故障。原因分析：空调的制冷原理是通过制冷剂迅速蒸发吸热，使流经的空气温度迅速 下降。由于蒸发器的温度低，而空气温度高，空气中的水分子颗粒会在蒸发器上凝结成水珠，而空气中的灰尘或衣服.座椅上的小绒毛等物质，容易附着在冷凝器的表面，从而导致 发霉，细菌会大量繁殖。这样的空气被人体长期吸入会影响驾驶员及乘车人的身体健康， 所以空调系统要定期更换空调滤芯，清洁空气道。 3下小雨时风窗玻璃刮不干净：故障判定：维护类故障。原因分析：不雨下得很大时使用 刮水器感觉不错，可是当下小雨启动刮水器时，就会发现刮水器会在玻璃面上留下擦拭不 均的痕迹；有的时候会卡在玻璃上造成视线不良。这种情况表明刮水器片已硬化。刮水器 是借电动机的转动能量，靠连接棒转变成一来一往的运动，并将此作用力传达至刮水器臂。不刮水器的橡胶部分硬化时，刮水器便无法与玻璃面紧密贴合，或者刮水器片有了伤痕便 会造成擦拭上的不均匀，形成残留污垢。刮水器或刮水器胶片面的更换很简单。但在更换 时应注意，在车型及年份不同，刮水器的安装方法及长度不同。有的刮水器胶片的更换很 简单。但在更换时应注意，在车型及年份不同，刮水器的安装方法及长度不同。有的刮水 器只需要更换橡胶片，而有的刮水器需整体更换。 4车辆有噪声：故障判定：假故障。原因分析：无论是高档车.低档车.进口车.国产车.新车. 旧车都存在不同程度的噪声问题。车内噪声主要来自发动机噪声.风噪.车身共振.悬架噪声 及胎声等五个方面。车辆行驶中，发动机高速运转，其噪声通过防火墙.底墙等传入车内； 汽车在颠簸路面行驶产生的车身共振，或高速行驶时开启的车窗不能产生共振都会成为噪声。由于车内空间狭窄，噪声不能有效地被吸收，互相撞击有时还会在车内产生共鸣现象。行驶中，汽车的悬架系统产生的噪声以及轮胎产生的噪声都会通过底盘传入车内。悬架方 式不同.轮胎的品牌不同.轮胎花纹不同.轮胎气压不同产生的噪声也有所区别；车身外形不 同及行驶速度不同，其产生的风噪大小也不同。在一般情况下，行驶速度越高，风噪越大。 5.运行中发动机温度突然过高：故障判定：真故障。原因分析：如果汽车在运行过程中， 冷却液温度表指示很快到达100℃的位置，或在冷车发动时，发动机冷却液温度迅速升高 至沸腾，在补足冷却液后转为正常，但发动机功率明显下降，说明发动机机械系统出现故障。导致这类故障的原因大多是：冷却系严重漏水；隔绝水套与气缸的气缸垫被冲坏；节 温器主阀门脱落；风扇传动带松脱或断裂；水泵轴与叶轮松脱；风扇离合器工作不良。 6.汽车加速时机油压力指示灯会点亮：故障判定：真.假故障并存。原因分析：机油灯点亮 有实与虚两种情况。所谓实，就是机油压力确实低，低到指示灯发出警告的程度，说明润 滑系统确有故障，必须予以排除。所谓虚，正像怀疑的那样，机油润滑系统没有故障，而
原子荧光分光光度计常见故障排除方法 在日常原子荧光光谱分析中，特别是当仪器使用时间长、频率高时，常会出现一些问题，常见的有：灵敏度突然降低；无荧光信号；空白信号很高；荧光信号不稳定；工作曲线线性差；图形不正常等情况。有资料对这些问题及其解决办法进行了总结。这些现象的出现通常与以下因素有关： 1、空心阴极灯 由于受到设计和制造工艺的限制，目前生产的高强度空心阴极灯在稳定性和使用寿命方面还存在一些问题，尤其是Hg、Bi、Te、Se灯。因此，在原子荧光光谱分析中要特别注意由空心阴极灯引起的问题。 a、灵敏度降低；稳定性差，空心阴极灯老化。适当提高灯电流或负高压；更换空心阴极灯。 b、新购置的空心阴极灯，但基线空白不稳定。空心阴极灯预热时间不够。空心阴极灯应预热30分钟，并空载运行10～20分钟。 c、测定灵敏度变化较大。双道不平衡，空心阴极灯照射氩氢火焰的位置不正确。用调光器调节空心阴极灯至合理位置。 d、没有信号。空心阴极灯未点燃。点燃空心阴极灯。 2．光路系统 光路系统的问题主要是由空心阴极灯的聚焦和照射氩氢火焰的位置引起，常出现基线信号值很高现象，特别是在测定Hg和Pb的时候。主要是因为石英炉的高度和透镜聚焦点没有调节到最佳位置。另一个光路系统的问题是双道干扰。 a、基线信号值很高，原子化器的高度不合适。调节原子化器高度。 b、一些元素灵敏度很低，透镜聚焦点不合适。调节透镜聚焦点。 c、一道荧光信号很强，另一道测定结果偏高或低。双道干扰单道的测定。 3．管道系统 原子荧光光谱分析中，管道系统是仪器非常重要的部分，也是使用中常出问题的部分。特别是仪器使用频率高、工作量大时，由于硅胶老化、破裂、管道积水和反应沉淀物堵塞管道系统等原因，经常使仪器不能正常工作。
X射线荧光光谱分析基本原理 当能量高于原子内层电子电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时,驱逐一个内层电子而出现一个空穴,使整个原子体系处于不稳定的激发态,然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态。当较外层的电子跃迁到空穴时,所释放的能量随即在原子内部被吸收而逐出较外层的另一个次级光电子,此称为俄歇效应,亦称次级光电效应或无辐射效应,所逐出的次级光电子成为俄歇电子.它的能量是具有独一特征的,与入射辐射的能量无关.当较外层的电子跃入内层空穴所释放的能量不在原子内被吸收,而是以辐射形式放出,便产生X射线荧光,其能量等于两能级之间的能量差,因此,X射线荧光的能量或波长是特征性的,与元素有一一对应的关系。如图所示: K层电子被逐出后,其空穴可以被外层中任一电子所填充，从而可产生一系列的谱线，称为K系谱线：由L层跃迁到K层辐射的X射线叫Kα射线,由M层跃迁到K层辐射的X射线叫Kβ射线……。同样,L层电子被逐出可以产生L系辐射(见图10.2)。如果入射的X射线使某元素的K层电子激发成光电子后L层电子跃迁到K层，此时就有能量ΔE释放出来，且ΔE=E K-E L，这个能量是以X射线形式释放，产生的就是Kα射线，同样还可以产生Kβ射线, L系射线等。莫斯莱(H.G.Moseley) 发现，荧光X射线的波长λ与元素的原子序数Z有关，其数学关系如下： λ=K(Z-s)-2 这就是莫斯莱定律，式中K和S是常数，因此,只要测出荧光X射线的波长,就可以知道元素的种类,这就是荧光X射线定性分析的基础。此外,荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此，可以进行元素定量分析。
用X射线照射试样时，试样可以被激发出各种波长的荧光X射线，需要把混合的X射线按波长（或能量）分开，分别测量不同波长（或能量）的X射线的强度，以进行定性和定量分析，为此使用的仪器叫X 射线荧光光谱仪。由于X光具有一定波长，同时又有一定能量，因此，X射线荧光光谱仪有两种基本类型：波长色散型和能量色散型。而我们天瑞仪器公司生产的X射线荧光光谱仪就属于能量色散型的。下面是仪器的工作原理图: 能量色散型X射线荧光光谱仪工作原理 仪器工作原理 通过高压工作产生电子流打入到X光管中靶材产生初级X射线,初级X射线经过过滤和聚集射入到被测样品产生次级X射线,也就是我们通常所说的X荧光,X荧光被探测器探测到后经放大,数模转换输入到计算机,计算机计算出我们需要的结果。
目录 中文摘要 (Ⅰ) 第 1 章绪论 (1) 1.1 配电网供电可靠性分析和现状 (1) 1.2 本文研究的意义及所完成的主要工作 (2) 第2章配电网元件概述及可靠性分析 (3) 2.1 元件可靠性的基本概念 (3) 2.1.1 可修复元件的状态 (3) 2.1.2 可修复元件的与失效有关的可靠性指标 (4) 2.1.3 可修复元件的与维修有关的可靠性指标 (5) 2.1.4 两种典型的元件寿命概率分布 (6) 2.1.5 元件的可用度 (8) 2.2 配电网络元件的故障率分析 (9) 2.2.1 元件的故障率计算 (9) 2.2.2 元件组的故障率分析 (9) 第3章配电网可靠性计算方法 (11) 第4章 10KV配电网供电可靠性分析 (13) 4.1 故障停电原因及对策 (13) 4.1.1 外力破坏 (13) 4.1.2 自然灾害 (14) 4.l.3 高压用户影响 (14) 4.1.4 导线问题 (14) 4.1.5 其他方面 (15) 4.2 非故障停电原因及解决办法 (15) 4.2.1 非故障停电原因 (15) 4.2.2 解决办法 (15)
牵引变电所常见故障判断及处理 方案 第一部分 牵引变电所处理故障的原则 1、牵引变电所的故障处理及事故抢修，要遵循“先通后复” 的原则。 2、对于有备用设备的牵引变电所，首先要考虑投入备用设备，以最快的速度设法先行恢复供电，并采用正确、可行的方案，迅速、果断地进行事故处理和抢修。然后及时通知有关部门，再修复或更换故障设备。 3、限制事故、故障的发展，消除事故、故障根源以及对人身设备的威胁。 4、在危及人身安全或设备安全的紧急情况下，值班人员可以先行断开有关的断路器和隔离开关，然后再报告段调度。 5、对于事故抢修，情况紧急时可以不开工作票，但应向段调度报告概况，听从段调度的指挥，在作业前必须按规定做好安全措施，并将抢修作业的时间、地点、内容及批准人的姓名等记录到值班日志中。 6、事故抢修时，牵引变电所所长或负责人应尽快赶到现场担任事故抢修工作领导人，如果所长不在即由当班值班人负责人自动担任抢修领导工作。
前言： 相对PC机而言服务器出故障的机率是小多了，但是它的故障给企业也带来了一些影响。作为服务器工程师除要有服务器基础知识以外，还需要具备服务器故障的诊断思路，这样才能最快速的解决问题也可以减少故障停机时间。 本文并不是针对某个厂家服务器故障完全手册，而是根据个人经验总结出来的一些经验思路还有一些总结案例。按照下面思路和方法基本上能够解决目前服务器更换式维修的大多数问题。而且里面的一些操作风险性也不是很大，因为服务器本身就是坏的，最坏的情况下就是它一点都不能工作了呗，（主要确认是否有数据，数据无价啊）而且现在很多厂商都有自己的客服电话关于产品问题打个电话也很方便，所以安心做啦 当然如果服务器在保修期内就打电话让售后工程师上门服务，毕竟顾客就是上帝嘛，但是如果上帝比较着急使用，一般小故障自己解决一下就好了，因为一般报修最快都是第二天（大客户如银行等除外，一般当天还得是晚上才能停机解决） 目录： 一、服务器常见故障分类 二、服务器常见故障现象及其对应排错方法 三、服务器排错基本原则 四、服务器故障需要收集哪些信息 五、服务器硬件故障排错实例 六、服务器软件故障排错实例 七、服务器常见内存故障现象 一、服务器常见故障类型分类： A. 开机无显示 B. 加电BIOS自检阶段故障 C. 系统和软件安装阶段故障和现象 D. 操作系统启动失败 E. 系统运行阶段故障 二、服务器常见故障现象及其对应的排除方法
A．服务器开机无显示（加电无显示和不加电无显示） 1. 检查供电环境 2. 检查电源和故障指示灯（故障指示灯状态，目前很多厂商的服务器都有故障指示灯，或故障诊断卡等。） 3. 按下电源开关时，键盘指示灯是否亮、风扇是否全部转动 4. 是否更换过显示器，尝试更换另外一台显示器 5. 插拔内存，用橡皮擦擦拭一下金手指，如果在故障之前有增加内存，去掉增加的内存尝试 6. 是否添加了CPU，如果有增加CPU尝试去掉 7. 去掉增加的第三方I/O卡包括Raid卡等 8. ClearCMOS (记得使用跳线来清除，尽量不要直接拔电池，每款服务器清除跳线位置不一致，具体找不到电话联系一下厂商客服) 9. 尝试更换主板、内存等主要部件 10．清除静电，将电源线等外插在服务器上的线缆全部拔掉，然后轻按开机键几下 B．加电BIOS自检报错 1. 根据BIOS自检报错信息提示 2. 查看是否外插了第三方的卡或者添加部件，如果有还原基本配置重启 3. 做最小化测试 4. 尝试清除CMOS 5. 看能否正常进入BIOS C. 系统安装阶段故障和现象 1.查看服务器支持操作系统的兼容版本（从厂商能查到兼容性列表） 2.系统安装蓝屏（对蓝屏故障代码诊断） 3.安装在分区格式化的时候找不到硬盘 （阵列驱动没有安装或者没有配置阵列，可以尝试适应引导光盘安装） 4.大于2T的硬盘式应该如何分区（必须使用阵列卡才能实现或者有外插识别卡） （使用阵列卡配置阵列分成一个小于2T的空间，一个大于2T的空间，然后将系统安装在小于2T的上面，安装好系统后在使用GPT方式分区即可） 5.安装过程是死机 (检查兼容性列表---查看硬盘接口选择是否正确---阵列驱动安装是否正确---尝试最小化配置安装检查是否为内存和CPU等问题) 6.引导光盘安装失败
原子荧光法复习题 一、填空： 1.原子荧光分析中，荧光类型有、、、热助线荧光和敏化原子荧光等。 答案：共振荧光、直跃线荧光、阶跃线荧光 2.原子荧光光谱仪中，目前有和两类仪器。 答案：色散系统、非色散系统 3.七十年代末，由于、及各种高效原子化器的使用，AFS技术得到了较大发展。 答案：高强度空心阴极灯、激光器 4.荧光猝灭的程度与及有关。 答案：被测元素、猝灭剂的种类 5.在原子荧光分析中，原子浓度较高时容易发生，它可使荧光信号变化和荧光谱线，从而峰值强度。 答案：自吸、变宽、减少 6.在原子荧光分析中，无论是连续光源或者线光源，光源强度越高，其测量线性工作范围。答案：越宽 7.原子荧光光谱仪的检测部分主要包括、以及放大系统和输出装置。 答案：分光系统、光电转换装置 8.在原子荧光分析中，石英原子化器炉温过高会使降低、增高，但较高的炉温又有利于消除干扰，所以应根据实际情况确定原子化温度。 答案：灵敏度、噪声、气相 9.在原子荧光分析中，测定灵敏度随观测高度增加而，观测高度太低时，会增加，观测高度太高时，会使和下降。 答案：降低、噪声、灵敏度、精度 10.原子荧光光谱仪中，以供电的空心阴极灯，可以使增强几十至几百倍。 答案：脉冲、谱线 11.在原子荧光分析的实际工作中，会出现空白大于样品强度的情况，这是因为空白溶液中不存在的原因。 答案：荧光、干扰 12.在原子荧光分析中，样品分析时，标准溶液的应和样品完全一致，同时必须做。 答案：介质、空白 13.在原子荧光分析中，当光电倍增管的负高压增加时，和水平同时增加，当灵敏度可以满足要求时，应尽量采用的负高压。 答案：信号、噪声、较低 14. 原子荧光光谱仪一般由四部分组成：、、和。 答案：光源（激发光源）、原子化器、光学系统（单色仪）、检测器 15.石英原子化器的外屏蔽气是用以防止周围的进入，产生，以保证较高及稳定的。
AFS—230E原子荧光光度计培训考试试题 选择题 1、在以下说法中, 正确的是( 2 ) (A) 原子荧光分析法是测量受激基态分子而产生原子荧光的方法 (B) 原子荧光分析属于光激发 (C) 原子荧光分析属于热激发 (D) 原子荧光分析属于高能粒子互相碰撞而获得能量被激发 2、原子化器的主要作用是：( 1 ) (A)将试样中待测元素转化为基态原子 (B)将试样中待测元素转化为激发态原子 (C)将试样中待测元素转化为中性分子 (D)将试样中待测元素转化为离子 3、在原子荧光法中, 多数情况下使用的是( 4 ) (A)阶跃荧光 (B)直跃荧光 (C)敏化荧光 (D)共振荧光 4、原子荧光的量子效率是指( 3 ) (A)激发态原子数与基态原子数之比 (B)入射总光强与吸收后的光强之比 (C)单位时间发射的光子数与单位时间吸收激发光的光子数之比 (D)原子化器中离子浓度与原子浓度之比 5、下述哪种光谱法是基于发射原理？( 2 ) (A) 红外光谱法 (B) 荧光光度法 (C) 分光光度法 (D) 核磁共振波谱法 二、填空题 1、原子荧光光谱仪一般由四部分组成：、、和。 答案：光源（激发光源）、原子化器、光学系统（单色仪）、检测器 2、原子荧光光谱仪的检测部分主要包括、以及放大系统和输出装置。 答案：分光系统、光电转换装置 3、在原子荧光分析的实际工作中，会出现空白大于样品强度的情况，这是因为空白溶液中不存在的原因。 答案：荧光、干扰 4、在原子荧光分析中，样品分析时，标准溶液的应和样品完全一致，同时必须做。 答案：介质、空白 5、AFS仪器的光源中，微波源入射功率直接影响测定结果和也影响无极放电灯的使用寿命。答案：精确度、准确度 三、判断题 1、原子荧光光谱仪的光电倍增管对可见光无反应，因此可以把仪器安装在日光直射或光亮处。（）