微机原理及应用（单片机）实验指导书
熊光洁
机电教研室
北京工商大学机械自动化学院
2008-3-28
目录
第一部分单片机原理及汇编程序设计概述......................................3~12
实验一认识单片机开发系统，学习有关软件的使用 ............................3~7
实验二 MCS-51汇编程序设计（分支、散转程序练习） (8)
实验三查表程序设计........................... (9)
实验四数据排序程序设计........................... .. (10)
实验五位操作实验 ........................... (11)
实验六定时/计数器实验... .................... . (12)
实验七中断系统实验 (13)
实验八静态存储器扩展实验... . (14)
实验九综合实验——特种车优先通过的交通灯控制 (15)
第二部分 TD-NMC+教学实验系统简介 .........................................18~30 2.1 TD-NMC+系统功能及特点.. (18)
2.2 TD-NMC+系统构成 (19)
2.3 SST89E554RC简介. .....................................................19~20 2.4Keil C51 的安装 ............................. ...........................21~23 2.4.1 系统要求......... . (21)
2.4.2 软件安装 .............................................................21~23 2.5 μVision2 集成开发环境.................................................24~26 2.6 仿真调试与脱机运行间的切换方法.........................................26~29 2.6.1 脱机运行.................................................. ... .....26~27 2.6.2 与Keil C51 开发环境联机调试的方法. (27)
2.6.3 从SoftICE返回IAP引导程序的方法 (29)
第一部分单片机原理及汇编程序设计
实验一认识单片机开发系统，学习有关软件的使用
一、实验目的
1.学习Keil C51 集成开发环境的操作；
2.熟悉TD-NMC+教学实验系统板的结构及使用;
3.熟悉程序汇编、装入、调试及执行过程。
二、实验设备
PC机一台，TD-NMC+教学实验系统平台
三、实验内容
1.观察TD-NMC+教学实验系统的结构；
2.编写实验程序，将00H～0FH 共16个数写入单片机内部RAM 的30H～3FH 空间。通过本实验，
学生需要掌握Keil C51 软件的基本操作，便于后面的学习。
3. 练习编辑、调试、汇编、通信的方法和步骤。
四、实验步骤
1．观察TD-NMC+教学实验系统的结构，了解主机、主要芯片位置，电源连接方法，通信接口位置，复位方法，显示等。
2. 创建Keil C51 应用程序
在Keil C51 集成开发环境下使用工程的方法来管理文件，所有的源文件、头文件甚至说明性文档都可以放在工程项目文件里统一管理。
下面创建一个新的工程文件Asm1.Uv2，以此详细介绍如何创建一个Keil C51 应用程序。
（1）运行Keil C51 软件，进入Keil C51 集成开发环境。
（2）选择工具栏的Project 选项，如图1-1-1 所示，弹出下拉菜单，选择NewProject 命令，建立一个新的μVision2 工程。这时会弹出如图1-1-2 所示的工程文件保存对话框，选择工程目录并输入文件名Asm1 后，单击保存。
图1-1-1 工程下拉菜单
图1-1-2 工程保存对话框
（3）工程建立完毕后，μVision2 会马上弹出如图1-1-3 所示的器件选择窗口。器件选择的目的是告诉μVision2 使用的80C51 芯片的型号是哪一个公司的哪一个型号，不同型号的51芯片内部资源是不同的。此时选择SST 公司的SST89E554RC。另外，可以选择Project 下拉菜单中的“Select Device for Target ‘Target 1’”命令来弹出图1-1-3 所示的对话框。
图1-1-3 器件选择对话框
（4）到此建立好一个空白工程，现在需要人工为工程添加程序文件，如果还没有程序文件则必须建立它。选择工具栏的File 选项，在弹出的下拉菜单中选择New 目录，如图1-1-4 所示，或点击
。此时会在文件窗口出现如图1-1-5 所示的新文件窗口Text1，若多次执行New 命令，则会出现Text2、Text3 等多个新文件窗口。
图1-1-4 新建源文件下拉菜单图1-1-5 源程序编辑窗口（5）输入程序，完毕后点击“保存”命令保存源程序，如图1-1-6 所示，将Text1 保存成Asm1.asm。Keil C51 支持汇编和C 语言，μVision2 会根据文件后缀判断文件的类型，进行自动处理，因此保存时需要输入文件名及扩展名.ASM 或.C。保存后，文件中字体的颜色会发生一定变化，关键字会变为蓝色。
图1-1-6 源文件保存对话框
（6）程序文件建立后，并没有与Asm1.Uv2 工程建立任何关系。此时，需要将Asm1.asm
源程序添加到Asm1.Uv2 工程中，构成一个完整的工程项目。在Project Window 窗口内，选中Source
Group1 点击鼠标右键，会弹出如图1-1-7 所示的快捷菜单，选择Add Files to Group‘SourceGroup1’命令，此时弹出如图2-1-8 所示的添加源程序文件对话框，选择文件Asm1.asm，点击Add 命令按钮即可将源程序文件添加到工程中。
图1-1-7 添加源程序文件快捷菜单
图1-1-8 添加源程序文件对话框
2. 编译、链接程序文件
（1）设置编译、链接环境，点击命令，会出现如图1-1-9 所示的调试环境设置窗口，在这里可以设置目标系统的时钟。单击Output 标签，在打开的选项卡中选中Create Hex File 选项，在编译时系统将自动生成目标代码*.Hex。点击Debug 标签会出现如图1-1-10 所示的调试模式选择窗口。
从图2-1-10 可以看出，μVision2 有两种调试模式：Use Simulator（软件仿真）和Use（硬件仿真）。这里选择硬件仿真，点击Settings 可以设置串口。串口波特率选择 38400。
图1-1-9 Keil C51 调试环境设置窗口
图1-1-10 调试设置窗口
（2）点击或命令编译、链接程序，此时会在Output Window 信息输出窗口输出相关信息，如图2-1-11 所示。
图1-1-11 编译、链接输出窗口
3. 调试仿真程序
（1）打开系统板的电源，给系统复位后点击调试命令（注：每次进入调试状态前确保系统复位正常），将程序下载到单片机的FLASH 中，此时出现如图1-1-12 所示调试界面。
（2）点击命令，可以打开存储器观察窗口，在存储器观察窗口的‘Address:’栏中输入D:30H （或0x30）则显示片内RAM30H 后的内容，如图1-1-12 所示。如果输入‘C:’表示显示代码存储器的内容，‘I:’表示显示内部间接寻址RAM 的内容，‘X:’表示显示外部数据存储器中的内容。
（3）将光标移到SJMP $语句行，点击命令，在此行设置断点。
图1-1-12 调试界面
（4）接下来点击命令，运行实验程序，当程序遇到断点后，程序停止运行，观察存储器中的内容，如图1-1-13 所示，验证程序功能。
（5）如图1-1-12 所示，在命令行中输入‘E CHAR D:30H=11H,22H,33H,44H,55H’后回车，便可以改变存储器中多个单元的内容，如图1-1-14 所示。
图1-1-13 运行程序后存储器窗口图1-1-14 修改存储器内容（6）修改存储器的内容的方法还有一个，就是在要修改的单元上点击鼠标右键，弹出快捷菜单，如图1-1-15 所示，选择‘Modify Memory at D:0x35’命令来修改0x35 单元的内容，这样每次只能修改一个单元的内容。
图1-1-15 存储器修改单元
（7）点击命令，可以复位CPU，重新调试运行程序，点击命令，单步跟踪程序。
（8）实验结束，按系统的复位按键可以复位系统，点击命令，退出调试。
在此以Asm1.Uv2 工程为例简要介绍了Keil C51 的使用，Keil C51 功能强大，关于Keil C51
的使用需要通过日后的使用慢慢掌握。
硬盘中提供有SoftICE_Tutorial.exe 文件，该文件以动画的形式展示了基于SST 公司的SoftICE 在Keil C51 环境下的调试过程。
实验二 MCS-51汇编程序设计（分支、散转程序练习）
一、 实验目的
1、学习分支程序的设计方法，熟悉51的指令系统；
2、学习散转程序的设计方法，熟悉51的指令系统；
3、学习设计延时循环程序。
二、 实验设备
PC 机一台，TD-NMC+教学实验系统
三、实验内容
1.采用比较分支结构设计程序，实现以下温度控制。
设某温度检测系统，在控制器的RAM 的40H 单元存放标准温度，50H 单元存放检测温度值。当检测温度大于标准温度时，使P1.0的灯亮报警，当检测温度低于标准温度时启动加热灯（假设P1.7置“1”，接通加热电路）；当检测温度等于标准温度时，关掉加热炉，保持温度，并使P1.2的灯亮。
2．用散转结构编程实现以下要求
当R7等于0、1、2时，分别散转到OPR0、OPR1、OPR2三个程序入口。
OPR0入口后P1口8个灯不停的闪烁；
OPR1入口后P1.7灯先亮，然后右移，循环不止；
OPR1入口后P1口中间两灯先亮，然后向两边散开，循环不止。
四、 实验线路图
五、 接线方法
用排线将P1口的P1.0—P1.7与D0--D7相接，P1口相应的位输出高电平，就可以点亮相应的发光二极管。
实验三查表程序设计实验
一、实验目的
学习查表程序的设计方法，熟悉51 的指令系统。
二、实验设备
PC机一台，TD-NMC+教学实验系统
三、实验内容
1. 通过查表的方法将16 进制数转换为ASCII 码；
2. 通过查表的方法实现y＝x2，其中x为0～9 的十进制数，以BCD码表示，结果仍以BCD码形式输出。
四、实验步骤
1. 采用查表的方法将16 进制数转换为ASCII 码
根据ASCII 码表可知，0～9 的ASCII 码为30H～39H，A～F 的ASCII 码为41H～46H，（假定待转换的数存放在R7 中）：
实验程序：自己编写（待转换的数存放在R7 中，R6、R5存放转换结果。）
实验步骤：
（1）编写实验程序，编译、链接无误后联机调试；
（2）将待转换的数存放在R7 中，如令R7 中的值为0x86；
（3）在语句行SJMP MAIN 设置断点，运行程序；
（4）程序停止后查看寄存器R6、R5 中的值，R6 中为高4 位转换结果0x38，R5 中为低4 位转换结果0x36；
（5）反复修改R7的值，运行程序，验证程序功能。
2. 通过查表实现y＝x2
x 为0～9 的十进制数，存放与R7 中，以BCD 码的形式保存，结果y 以BCD 码的形式存放于寄存器R6 中。
实验程序：自己编写
实验步骤：
（1）编写实验程序，经编译、链接无误后，进入调试状态；
（2）改变R7 的值，如0x07；
（3）在语句行SJMP MAIN 处设置断点，运行程序；
（4）程序停止后，查看寄存器R6 中的值，应为0x49；
（5）反复修改R7 中的值，运行程序，验证程序功能。
实验四数据排序实验
一、实验目的
熟悉51 的指令系统，掌握数据排序程序的设计方法。
二、实验设备
PC机一台，TD-NMC+教学实验系统
三、实验内容
在单片机片内RAM 的30H～39H 写入10 个数，编写实验程序，将这10 个数按照由小到大
的顺序排列，仍写入RAM 的30H～39H 单元中。
四、实验步骤
根据实验内容要求，画出程序流程图，参考图4，编写实验程序。
实验步骤如下：
（1）编写实验程序，编译、链接无误后联机调试；
（2）为30H～39H 赋初值，如：在命令行中键入E CHAR D:30H＝9, 11H, 5, 31H, 20H, 16H, 1, 1AH, 3FH, 8 后回车，可将这10 个数写入30H～39H 中；
（3）将光标移到语句行SJMP $处，点击命令，将程序运行到该行；
（4）查看存储器窗口中30H～39H 中的内容，验证程序功能；
（5）重新为30H～39H 单元赋值，反复运行实验程序，验证程序的正确性。
图4 实验程序流程图
实验五位操作实验
一、实验目的
掌握位指令的使用，学习位程序的设计方法。
二、实验设备
PC机一台，TD-NMC+教学实验系统
三、实验内容
编写实验程序，计算Y = A⊕ B ，。
MCS-51 单片机内部有一个一位微处理器，借用进位标志Cy 作为位累加器。位操作指令的操作对象是内部RAM 的位寻址区，即字节地址为20H～2FH 单元中连续的128 位（位地址为00H～7FH），以及特殊功能寄存器中的可位寻址的位。
四、实验步骤
程序需要实现A 与B 的异或运算，将A、B 分别存放在位地址00H、01H 中，结果Y 存放在位地址04H 中。
实验程序清单：（Asm6.asm）
QA EQU 00H
QB EQU 01H
QY EQU 04H
ORG 0000H
LJMP MAIN
ORG 0100H
MAIN: MOV C, QA
ANL C, /QB ;C=QA(QB 非)
MOV QY, C
MOV C, QA
CPL C
ANL C, QB ;C=(QA 非)QB
ORL C, QY ;C=QA(QB 非)+(QA 非)QB
MOV QY, C
SJMP MAIN ;设置断点, 观察20H 或C 中的值
END
实验步骤：
（1）编写实验程序，经编译、链接无误后，联机调试；
（2）修改20H 单元的值，例如01H；
（3）在语句行SJMP MAIN 设置断点，运行实验程序；
（4）程序停止运行后查看20H 中的值，应为11H；
（5）修改20H 中的值，重新运行程序，验证程序的正确性。
附：
在汇编语言中，除了MCS-51 指令系统所规定的指令外，还定义了一些伪指令，这些伪指
令只对汇编程序提供必要的控制信息，不产生任何代码。因此伪指令不是单片机执行的指令。常用的伪指令有如下几条：
（1）起始地址伪指令：ORG nn（nn 表示16 位地址）
（2）定义字节伪指令：DB n1, n2, ···, nN
（3）定义字伪指令：DW nn1, nn2, ···, nnN
（4）定义存储区伪指令：DS x
从指定的地址单元开始，预留x 个存储单元，以备程序使用。
（5）等值伪指令：字符名 EQU 数或汇编符号
将一个数（8 位或16 位二进制数）或特定的汇编符号赋予所定义的字符名。
（6）数据地址赋值伪指令：字符名 DATA nn
将16 位地址赋予所定义的字符名。通常用来定义数据地址。
（7）定义位地址符号伪指令：字符名 BIT bit
将位地址bit 赋予所定义的字符名。如果所使用的汇编程序不具备识别BIT 伪指令的能力，可以用EQU 命令来定义位地址变量。
（8）汇编结束伪指令：END
实验六定时/计数器实验
一、实验目的
1. 了解MCS-51 单片机定/计数器的工作原理与工作方式；
2. 掌握定时/计数器T0 和T1 在定时器和计数器两种方式下的编程；
二、实验设备
PC机一台，TD-NMC+教学实验系统，示波器一台。
三、实验内容
1. 使用定时器0 与定时器1 进行定时，在P1.0 和P1.1 引脚上输出方波信号，通过示波器观察波形输出，测量并记录方波周期。
2. 将定时/计数器1 设定为计数器方式，每次计数到10 在P1.0 引脚上取反一次，观察发光二极管的状态变化。
四、实验步骤
1. 定时器实验
实验步骤：
（1）编写实验程序，编译、链接后联机调试；
（2）运行实验程序，使用示波器观察P1.0 与P1.1 引脚上的波形并记录周期；
（3）改变计数初值，观察实验现象，验证程序功能。
2. 计数器实验
实验步骤：
图3-3-1 计数器实验接线图
（1）按图3-3-1 连接实验线路图；
（2）编写程序，联机调试；
（3）运行实验程序，按单次脉冲KK1，观察发光管D0 的状态，每10 次变化一次；
（4）实验结束，按复位按键退出调试。
实验七中断系统实验
一、实验目的
了解MCS-51 单片机的中断原理，掌握中断程序的设计方法。
二、实验设备
PC机一台，TD-NMC+教学实验系统，示波器一台。
三、实验内容
1. 单片机集成的定时器可以产生定时中断，利用定时器0 和定时器1，编写实验程序在P1.0及P1.1 引脚上输出方波信号，通过示波器观察实验现象并测量波形周期。
2. 手动扩展外部中断 INT0、INT1，当INT0 产生中断时，使LED8 亮8 灭闪烁4 次；当INT1产生中断时，使LED 由右向左流水显示，一次亮两个，循环4 次。
因为51 单片机加入了中断系统，从而提高了CPU 对外部事件的处理能力和响应速度。增强型单片机SST89E554RC 共有8 个中断源，即外部中断0（INT0）、定时器0（T0）、外部中断1（INT1）、定时器1（T1）、串行中断（TI 和RI）、定时器2（T2）、PCA 中断和Brown-out 中断。
中断使能寄存器（IE）
中断使能A（IEA）
四、实验步骤
1. 定时器中断
实验步骤：
（1）编写实验程序，经编译、链接无误后，启动调试功能；
（2）运行实验程序，使用示波器观察P1.0 及P1.1 引脚上的波形；
（3）使用示波器测量波形周期，改变计数值，重新运行程序，反复验证程序功能；
（4）按复位键退出调试状态。
2. 外部中断
实验步骤：
（1）按图3-2-1 连接实验电路，单次脉冲单元原理图如图3-2-2 所示。
（2）编写实验程序，编译、链接无误后启动调试；
（3）运行实验程序，先按KK1－，观察实验现象，然后按KK2－，观察实验现象；
（4）验证程序功能，实验结束按复位按键退出调试。
图3-2-1 外中断实验接线图
图3-2-2 单次脉冲单元原理图
实验八静态存储器扩展实验
一、实验目的
1. 掌握单片机系统中存储器扩展的方法；
2. 掌握单片机内部RAM 和外部RAM 之间数据传送的特点。
二、实验设备
PC 机一台，TD-NMC+教学实验系统
三、实验内容
编写实验程序，在单片机内部一段连续RAM 空间30H～3FH 中写入初值00H～0FH，然后将这16 个数传送到RAM 的0000H～000FH 中，最后再将外部RAM 的0000H～000FH 空间的内容传送到片内RAM 的40H～4FH 单元中。
四、实验原理
存储器是用来存储信息的部件，是计算机的重要组成部分，静态RAM 是由MOS 管组成的触发器电路，每个触发器可以存放1位信息。只要不掉电，所储存的信息就不会丢失。因此，静态RAM工作稳定，不要外加刷新电路，使用方便。但一般SRAM 的每一个触发器是由6个晶体管组成，RAM 芯片的集成度不会太高，目前较常用的有6116（2K×8 位），6264（8K×8 位）和62256（32K×8位）。本实验以62256 为例讲述单片机扩展静态存储器的方法。
图4-1-1 62256 引脚图
SST89E554RC 内部有1K 字节RAM，其中768 字节（00H～2FFH）扩展RAM 要通过MOVX指令进行间接寻址。内部768 字节扩展RAM 与外部数据存储器在空间上重叠，这要通过AUXR寄存器的EXTRAM 位进行切换，AUXR 寄存器说明如下：
EXTRAM：内部/外部RAM 访问
0：使用指令MOVX @Ri/@DPTR 访问内部扩展RAM，访问范围00H～2FFH，300H 以上的空间为外部数据存储器；
1：0000H～FFFFH 为外部数据存储器。
AO：禁止/使能ALE
0：ALE 输出固定的频率；
1：ALE 仅在MOVX 或MOVC 指令期间有效。
五、实验步骤
1. 按图4-1-2 连接使用电路；
2. 按实验内容编写实验程序，经编译、链接无误后启动调试；
3. 打开存储器观察窗口，在存储器＃1 的Address 中输入D:0x30，在存储器＃2 的Address中输入X:0x0000 来监视存储器空间；
4. 可单步运行程序，观察存储器内容的变化，验证实验程序的功能。
图4-1-2 扩展存储器实验线路图
注：连接实验线路时，若使用TD-PITE 接口实验箱，应将BHE#和BLE#信号接GND；若使用TD-PIT++实验箱，需将BE3～BE0 接GND。
实验九综合实验——特种车优先通过的交通灯控制
一、实验目的
1. 学习交通灯的实用控制技术；
2. 培养学生汇编语言程序设计的综合应用能力，使学生能够综合运用分支、转移、定时、中断、
查表、子程序等结构。
二、实验设备
PC 机一台，TD-NMC+教学实验系统
三、实验内容
一般情况控制器控制交通灯的正常亮灭，指挥十字路口的灯，有急救车到达时，两方向的交通信号为全红，以便让急救车通过，急救车通过后，交通灯恢复中断前的状态。本实验以开关接通低
电平使INT0发出中断申请，表示有急救车通过。
四、实验说明
要完成本实验，首先必须了解交通路灯的燃灭规律。设有一十字路口为南北方向和东西方向，初始状态为四个路口的红灯全亮，然后东西路口的绿灯亮，南北路口的红灯亮，东西路口方向的车通行，延时一段时间后，东西路口的绿灯熄灭，黄灯开始闪烁，闪烁若干次后，东西路口红灯亮，而同时南北路口的绿灯亮，南北路口方向开始通车，延时一段时间后，南北路口的绿灯熄灭，黄灯开始闪烁。闪烁若干次后，再切换到东、西路口方向，重复上述过程。本实验中断处理程序的应用，主要是如何保护进入中断前的状态，使得中断程序执行完毕后能够回到交通灯中断前的状态。
五、实验步骤
（1）设计实验电路图。
（2）编写实验程序，编译、链接无误后启动调试；
（3）运行实验程序，观察实验现象；
（4）验证程序功能，实验结束按复位按键退出调试。
第二部分 TD-NMC+实验系统简介随着单片机技术的发展，八位单片机迅速地从功能简单的51 单片机向嵌入式、增强型51内核单片机发展。使用在系统可编程（ISP）技术、在应用可编程技术（IAP）以及内嵌仿真功能的单片机层出不穷。先进技术的发展使得单片机调试、开发的手段发生了翻天覆地的变化。为了顺应技术的发展，满足高校单片机实验教学的需要，西安唐都科教仪器公司精心设计，在TD-NMC 的基础上推出了新型八位单片机实验系统TD-NMC+。为各高校及科研单位进行“单片机原理及应用”的实验教学及应用开发提供了高效率、高性能、全开放的实验和开发平台。
2.1 TD-NMC+系统功能及特点
1. 取代硬件仿真器的增强型单片机
系统采用具有在系统可编程（ISP）和在应用可编程（IAP）技术的增强型51 单片机，单片机中内置仿真程序，完全取代传统的硬件仿真器和编程器。这种先进的单片机将仿真系统和单片机应用系统合二为一，大大降低了应用开发成本，极大地提高了研制开发效率。把单片机的仿真开发和应用设计提高到一个崭新的技术领域。
2. 先进的单片机调试开发工具
使用业界著名的Keil C51 集成开发环境作为实验系统设计、调试、开发的工具。Keil C51软件提供了多种调试、运行程序的方法，提供单步、断点、全速运行程序，可观察寄存器区、ROM 变量区、RAM 变量区、Xdata 变量。支持汇编语言和C 语言的源语言混合调试。
3. 完善的单片机实验平台
实验系统采用单元化电路，所有实验资源完全开放给用户。实验内容既保持了教学中常用的接口芯片又增加了反映先进技术和实际应用中常用的接口芯片。例如：IC 卡读写模块、SPI总线接口芯片、看门狗芯片、可编程计数器阵列（PCA）、低功耗技术、单总线数字温度传感器单元、16×16 点阵显示、LCD 显示单元、USB 总线接口单元等。
4. USB 总线的应用开发
USB 是一种通用串行总线，它提供的是主机和外部设备之间的一种数据通信服务。由于USB总线接口技术在微机中的普及性应用，使得它在接口技术的教学中成为非常必要的内容。USB 设备的开发包括应用电路的设计、固件程序的设计、设备驱动和应用程序的设计。在硬件方面，将固件程序设计作为教学的重点；在软件方面，教学应以驱动程序和应用程序的设计为主，通过建立应用程序框架、添加控件函数代码和添加USB 接口程序代码就可熟悉基本设计过程，而后在课程设计或毕业设计中由学生自己进行全面的设计开发。
5. 优越的系统扩展性能
实验系统提供的总线扩展插座及面包板，可以支持课程设计、毕业设计、电子设计竞赛等大型的应用开发。
6. 良好的实验开放性，增强用户综合设计能力
实验系统具有良好的开放性，系统总线及各种外围接口器件都可由用户操作连接。支持“验证式、模仿式、探索式和开发式”四种实验方法的综合运用，提高用户动手操作和设计开发的能力。
7. 便捷的实验连接方式，提高实验效率
硬件实验采用排线和锥体连接器混合的连线方式。数据总线和地址总线采用排线连接，控制总线和控制信号线采用锥体单线连接。这种连线方式既保证了用户自行设计和构造实验电路的简明快捷，又保证了连线的可靠性和实验的成功率。
2.2 TD-NMC+系统构成
TD-NMC+实验系统平台由系统单元、扩展单元、基本接口实验单元和应用实验单元等几部分构成。TD-NMC+实验系统的构成如表2-1 所示。
表2-1TD-NMC+实验系统的构成
2.3 SST89E554RC 简介
SST89E554RC 具有在系统可编程（ISP）和在应用可编程（IAP）技术，该器件是SST 公司推出的8位微控制器FlashFlex51 家族中的一员，内置仿真程序，完全取代传统的硬件仿真器和编程器。这种先进的单片机将仿真系统和应用系统合二为一，大大降低了应用开发成本，极大地提高了研发效率。把单片机的仿真开发和应用设计提高到一个崭新的技术领域。SST89E554RC具有如下特征：与8051 兼容，嵌入SuperFlash 存储器
－软件完全兼容
－开发工具兼容
－引脚全兼容
·工作电压5V，工作时钟0～40MHz
·1Kbyte 内部RAM
·两块SuperFlash EEPROM，主块32Kbyte，从块8Kbyte，扇区为128Byte
·有三个高电流驱动端口（每个16mA）
·三个16 位的定时器/计数器
·全双工、增强型UART
－帧错误检测
－自动地址识别
·八个中断源，四级优先级
·可编程看门狗定时器（WDT）
·可编程计数阵列（PCA）
·双DPTR 寄存器
·低EMI 模式（可禁止ALE）
·SPI 串行接口
·标准每周期12 个时钟，器件提供选项可使速度倍增，达到每周期6 个时钟
·低功耗模式
－掉电模式，可由外部中断唤醒
－空闲模式
SST89E554RC 的功能框图如图2-3-1 所示，外部引脚如图2-3-2 所示。
SST89E554RC 的特殊功能寄存器如表2-3-1 所列。
图2-3-1 SST89E554RC 功能框图图2-3-2 SST89E554RC 外部引脚图
表2-3-1 SST89E554RC 特殊功能寄存器存储器映象
注：1 表示该特殊功能寄存器可位寻址。
关于此单片机特有功能模块及寄存器可参看芯片数据手册或相应实验章节。
《微机原理及应用》试题库 1. 8086和8088的引脚信号中， D 为地址锁存允许信号引脚。 A．CLK B．INTR C．NMI D．ALE 2. 下面的哪项是有效标识符： B A . 4LOOP： B. DELAYIS： C. MAIN A/B： D. GAMA$1： 3. 如图所示的三态输出电路，当 A 时，V B≈V DD。 A. E(ENABLE)=1, A=1 B. E(ENABLE)=1, A=0 C. E(ENABLE)=0, A=1 D. E(ENABLE)=0, A=0 4. 设(SS)=2000H，(SP)=0100H，(AX)=2107H，则执行指令PUSH AX 后，存放数据21H的物理地址是 D 。 A. 20102H B. 20101H C. 200FEH D. 200FFH 5. 汇编语言中，为了便于对变量的访问, 它常常以变量名的形式出现在程序中, 可以认为它是存放数据存储单元的 A 。 A．符号地址B．物理地址C．偏移地址D．逻辑地址 6. 下列四个寄存器中，不能用来作为间接寻址方式的寄存器是 A 。 A. CX B. BX C. BP D. DI (C)7. 执行下列程序段： MOV AX，0 MOV BX，1 MOV CX，100 AA：ADD AX，BX INC BX LOOP AA HLT 执行后的结果：(AX)= ，(BX)= 。 A. 5050，99 B. 2500，100 C. 5050，101 D. 2550，102 8. 假设V1和V2是用DW定义的变量，下列指令中正确的是 A 。 A．MOV V1, 20H B．MOV V1, V2 C．MOV AL, V1 D．MOV 2000H, V2 9. – 49D的二进制补码为 A 。
土力学实验指导书淮海工学院土木工程学院
实验一含水率实验 一、实验目的 测定土的含水量，了解土的含水情况，是计算土的孔隙比、液性指数和其他物理力学性质不可缺少的一个基本指标。适用范围：粗粒土、细粒土、有机质土和冻土。 二、试验方法 烘干法、酒精燃烧法、炒干法。本试验用烘干法。 三、试验原理 土的含水量是土在温度105～110O C下烘干到恒重时失去的水分质量与达到恒重后干土质量的比值，以百分数表示。 四、试验设备 烘箱：保持温度105～110O C的自动控制的电热烘箱、电子分析天平、铝制秤量盒、削土刀等。 五、操作步骤 1、先秤量好带有编号的盒盖、盒身的两个铝盒，分别记录重量数值g0并填入表1中。 2、从原状或扰动土样中，选取具有代表性的试样约15～30g或用切环刀土样时余下的试样；对有机质土、砂类土和整体状构造冻土取样为50g左右，放在秤量盒内，立即盖好盒盖，称盒盖、盒身及湿土的重量，准确至0.01g，将数值g1填入表1中。 3、打开盒盖，放入烘箱中在温度105～110O C下烘至恒重，烘干时间对粘性土、粉土不得少于8h,对砂土不得少于6h，对含有机质超过干土质量5%的土应将温度控制在65～70O C的恒温下烘至恒重。取出土样，盖好盒盖，秤重并记录干土及铝盒的重量，将数值g2填入表1中。 六、计算含水率 W=(g1-g2)/(g2-g0)×100% 其中W—含水率g0——铝盒重量，单位为g。 g1——铝盒加湿土的重量，单位为g。g2——铝盒加干土的重量，单位为g。 七、注意事项： 本试验必须对两个试样进行平行测定，测定的差值：当含水率小于40%时为1%；当含水率等于、大于40%时为2%。取两个侧值的平均值，以百分数表示。
····································密························封························线································ 学生答题不得超过此线 一、单项选择题(每小题1分，共20分。请将答案填入答题单) 1.8086CPU由两个独立的工作单元组成,它们是执行单元EU和( ). A）总线控制逻辑器 B）内部通信寄存器 C）指令寄存器 D）总线接口单元 2.8086系统若用256KB*1动态存储器芯片可望构成有效存储系统的最小容量是( ). A）256KB B）512KB C）640KB D）1MB 3.Intel8255A使用了（）个端口地址。 A）1 B）2 C）3 D）4 4.PC机中为使工作于一般全嵌套方式的8259A中断控制器能接受下一个中断请求，在中断服务程序结束处就( ). A）发送OCW2指令 B）发送OCW3指令 C）执行IRET指令 D）执行POP指令 5.RAM是随机存储器,它分为( )两种. A）ROM和SRAM B）DRAM和SRAM C）ROM和DRAM D）ROM和CD-ROM 6．在程序运行过程中，确定下一条指令的物理地址的计算表达式是（） A）CS×16+IP B）DS×16+SI C）SS×16+SP D）ES×16+DI 7.( )是以CPU为核心,加上存储器,I/O接口和系统总线构成的. A）微处理器 B）微型计算机 C）微型计算机系统 D）计算机 8.对于掉电,8086/8088CPU是通过( )来处理的. A）软件中断 B）可屏蔽中断 C）非屏蔽中断 D）DMA 9.计算机的存储器采用分级存储体系的主要目的是（）。 A）便于读写数据 B）减小机箱的体积 C）便于系统升级 D）解决存储容量、价格和存取速度之间的矛盾 10.8259A的OCW1----中断屏蔽字( )设置. A）在ICW之前 B）只允许一次 C）可允许多次 D）仅屏蔽某中断源时11.将十六进制数163.5B转换成二进制数是）( ) A）1101010101.1111001 B）110101010.11001011 C）1110101011.1101011 D）101100011.01011011 12．Intel 8086/8088微处理器有（）地址线，直接寻址内存空间的范围是（）。 A）10条，64KB B）20条，64KB C）16条，1M D）20条，1M 13．Intel 8086/8088微处理器的标志寄存器中，作为记录指令操作结果的标志是（）。 A）CF，OF，PF，AF，SF，ZF B) CF，PF，ZF，SF C) OF，DF，IF，SF，ZF，CF D) IF，DF，OF，CF 14．下述对标志寄存器中标志位不产生影响的指令是（）。 A）JMP NEXT B) TEST AL，80H C) SHL AL，1 D) INC SI 15．简单的汇编语言程序可以通过（）来建立、修改和执行。 A）连接程序 B) 调试程序 C) 汇编程序 D) 编辑程序 16．累加器AL中的内容是74H，执行CMP AL，47H指令后，累加器AL中的内容是（）。
目录 实验一静水压强实验???????????????????????????????????????????1实验二伯努利方程式的验证?????????????????????????????????????3实验三雷诺实验??????????????????????????????????????????????6实验四管道沿程阻力实验??????????????????????????????????????9实验五管道局部阻力系数的测定????????????????????????????????12
实验一静水压强实验 （一）实验目的 1、测定静止液体中某点的静水压强，加深对静压公式p=p0+γh的理解； 2、测定有色液体的重度，并通过实验加深理解位置水头，压强水头及测压管水 头的基本概念，观察静水中任意两点测压管水头Z+p/γ=常数。 p=p0+γh 式中：P——被测点的静水压强； P0——水箱中水面的表面压强； γ——液体重度； h——被测点在表面以下的竖直深度。 可知在静止的液体内部某一点的静水压强等于表面压强加上液体重度乘以该点在液面下的竖直深度。 （四）实验步骤 1、打开密封水箱E顶上空气阀门a，此时水箱内水面上的压强p0=p a。观察各测压连通管内液面是否平齐，如果不齐则检查各管内是否阻塞并加以勾通。
2、读取A点、B点的位置高度Z A、Z B。 3、关闭空气阀门a，转动手柄，抬高长方形小水箱F至一定高度，此时表面压力P0＞P a，待水面稳定后读各测压管中水位标高▽=▽I（I=1、2、3、 4、5），并记入表中。 4、在保持P0＞P a的条件下，改变长方形小水箱F高度，重复进行2-3次。 5、打开空气阀门a，使水箱内的水面上升，然后关闭空气阀门a，下降长方形小水箱。 6、在P0＜P a的条件下，改变水箱水位重复进行2-3次。 （五）对表中数据进行分析 单位：mm
《微机原理及应用》期末考试复习参考资料 一、微机原理与应用模拟试题Ⅰ 一、填空题（每空1分，共25分） 1、指令由和组成。 2、I/O接口是微机系统的一种部件，它被设置在与之间。 3、已知[X]补=（11110011）B，则真值X= 。 4、IF是标志；SP称为；CS称为。 5、段地址为A382H，偏移地址为1234H，则对应的物理地址为。 6、8086CPU由和两部分组成。 7、CPU的基本时间计量单位称为周期。 8、SP总是指向堆栈的。 9、指令MOV AX，[BP+200]读取的是段的存储单元。 10、由8个二进制位组成的基本数据表示单元称为。 11、访存空间的是指CPU所能访问的。 12、某存储器芯片的存储容量为32K×8，则该芯片有个存储单元。 13、PENTIUM的工作模式有、、。 14、指令由、和操作数字段组成。 15、8086CPU指令系统中，用20条地址线寻址I/O端口，其端口地址范围 为。 16、电可擦除的可编程只读存储器的英文简写为。 17、逻辑地址由段基值和___ ___组成。 二、判断题（每小题1.5分，共15分，在每小题 后面的括号中认为正确的画“√”，错误的画 “×”） 1、堆栈是处在CPU内部的一个部件。（）
2、8086的状态标志位有9个。（） 3、IP是EU中的寄存器。（） 4、IP中存放的是正在执行的指令的偏移地址。（） 5、全地址译码法是指存储器芯片上的所有地址均参加译码。（） 6、EPROM是电可擦除的PROM。（） 7、中断是指CPU执行程序过程被意外暂停。（） 8、EEPROM中存储的数据不会因掉电而丢失。（） 9、SRAM是不用刷新的RAM。（） 10、总线周期是指CPU通过总线访问一次内存或外设的时间。（） 三、单项选择题（每题1.5分，共15分） 1）。 (A) SP (B) IP (C)BP (D)CS 2、源变址寄存器是（）。 (A) SI (B)DI (C)SP (D)DX 3、下面4个标志中属于控制标志的是（）。 (A) CF (B)DF (C)SF (D)ZF 4、LEA BX，BUFF 指令的功能是（）。 (A)将存储单元BUFF的地址送给BX。 (B)将存储单元BUFF的数据送给BX。 (C)将存储单元BUFF的偏移地址送给BX。 (D)将存储单元BUFF的段地址送给BX。 5、DOS功能调用的子功能号存放在（）寄存器中。 (A) AH (B)AL (C)DH (D)DL 6、采用DMA方式的I/O系统中，其基本思想是在（）间建立直接的数据通道。 (A) CPU与外设 (B)主存与外设 (C)外设与外设 (D)CPU与主存 7、设SP=1110H，执行 PUSH AX 指令后，SP的内容为（）。 (A) SP=1112H (B)SP=110EH (C)SP=1111H (D)SP=110FH 8、语句DAI DB 2 DUP（3，5，7）汇编后，与该语句功能等同的语句是（）。 (A) DAI DB 3，5，7 (B)DAI DB 2，3，5，7 (C)DAI DB 3，5，7，2 (D)DAI DB 3，5，7，3，5，7 9、给定AL=80H，CL=02H，则SAR AL ，CL指令执行后的结果是（）。 (A) AL=40H (B)AL=20H (C)AL=0C0H (D)AL=0E0H 10、对于输入端口，应具有下面何种功能（）。 (A)应具备数据缓冲功能。 (B)应具备数据锁存功能。 (C)应同时具备数据缓冲功能和数据锁存功能。 (D)具备缓冲功能和数据锁存功能中的任一种。 四、名词解释题（每题5分，共25分）
《微机原理及应用》试题库 1. 8086 和 8088 的引脚信号中，D为地址锁存允许信号引脚。 A． CLK B． INTR C．NMI D．ALE 2.下面的哪项是有效标识符：B A . 4LOOP ： B. DELAYIS ： C. MAIN A/ B ： D.GAMA$1 ： 3.如图所示的三态输出电路，当 A 时， V B≈V DD。 A. E(ENABLE)=1, A=1 B.E(ENABLE)=1, A=0 C. E(ENABLE)=0, A=1 D.E(ENABLE)=0, A=0 4. 设 (SS)=2000H ， (SP)=0100H ， (AX)=2107H ，则执行指令PUSH AX后，存放数据21H 的物理地址是 D。 A. 20102H B. 20101H C. 200FEH D. 200FFH 5. 汇编语言中，为了便于对变量的访问, 它常常以变量名的形式出现在程序中, 可以认为它是存放数据存储单元的A。 A．符号地址B．物理地址C．偏移地址 D ．逻辑地址 6. 下列四个寄存器中，不能用来作为间接寻址方式的寄存器是A。 A. CX B. BX C. BP D. DI (C)7. 执行下列程序段： MOV AX ，0 MOV BX ，1 MOV CX ， 100 AA ： ADD AX ，BX INC BX LOOP AA HLT 执行后的结果：(AX)=，(BX)=。 A. 5050 ， 99 B. 2500， 100 C. 5050 ， 101 D. 2550 ， 102 8. 假设 V1 和 V2 是用 DW 定义的变量，下列指令中正确的是A。 A ． MOV V1, 20H B． MOV V1, V2 C ． MOV AL, V1D． MOV2000H, V2 9. –49D 的二进制补码为A。
重庆科技学院试卷库系统试卷库导出试卷 微机原理及应用-编程题(43题) 题序:0017题型:06难度:01分值:10.0章号:03节号:02 知识点: 。8086/8088指令系统 题干: 变量DATAX和DATAY定义如下: DATAX DW 0148H DW 2316H DA TAY DW 0237H DW 4052H 试编写一个程序段，实现将DATAX和DA TAY两个字数据相乘（用MUL）。答案: 解：(1) MOV AX, DATAX MUL DATAY MOV DATAY,AX MOV DATAY+2,DX 题序:0018题型:06难度:02分值:10.0章号:03节号:02 知识点: 。8086/8088指令系统 题干: 变量DATAX和DATAY定义如下: DATAX DW 0148H DW 2316H DA TAY DW 0237H DW 4052H 试编写一个程序段，实现将DATAX除以23（用DIV）。 答案: 解：(1) MOV AX, DATAX MOV BL, 23 DIV BL MOV BL,AH
MOV AH, 0 MOV DATAY, AX 。存放商 MOV AL,BL MOV DATAY+2, DX 。存放余数 题序:0002题型:06难度:03分值:10.0章号:03节号:02 知识点: 。8086/8088指令系统 题干: 试编写一个程序段，实现将BX中的数除以10，结果仍放在BX中。 答案: 解： MOV CL，0AH MOV AX，BX DIV CL MOV BX，AX 题序:0016题型:06难度:03分值:10.0章号:03节号:02 知识点: 。8086/8088指令系统 题干: 变量DATAX和DATAY定义如下: DATAX DW 0148H DW 2316H DA TAY DW 0237H DW 4052H 试编写一个程序段，实现将DATAX和DA TAY中的两个双字数据相加, 和存放在DA TAY和答案: 解：(1) MOV AX, DATAX ADD AX, DATAY MOV BX, DATAX+2 ADD BX, DATAY+2 MOV DATAY, AX MOV DATAY+2, BX
材料力学实验指导书 §5 梁弯曲正应力电测实验指导书 1、概述 梁是工程中常用的受弯构件。梁受弯时，产生弯曲变形，在结构设计和强度计算中经常要涉及到梁的弯曲正应力的计算，在工程检验中，也经常通过测量梁的主应力大小来判断构件是否安全，也可采用通过测量梁截面不同高度的应力来寻找梁的中性层。 2、实验目的 1、用应变电测法测定矩形截面简支梁纯弯曲时，横截面上的应力分布规律。 2、验证纯弯梁的弯曲正应力公式。 3、观察纯弯梁在双向交变加载下的应力变化特点。 3、实验原理 梁纯弯曲时，根据平面假设和纵向纤维之间无挤压的假设，得到纯弯曲正应力计算公式为： Z I My =σ 式中：M —弯矩 Z I —横截面对中性层的惯性矩 y —所求应力点的纵坐标（中性轴为坐标零点）。 由上式可知梁在纯弯曲时，沿横截面高度各点处的正应力按线性规律变化，根据纵向纤维之间无挤压的假设，纯弯梁中的单元体处于单纯受拉或受压状态，由单向应力状态的胡克定律E *εσ=可知，只要测得不同梁高处的ε，就可计算出该点的应力σ，然后与相应点的理论值进行比较，以验证弯曲正应力公式。 4、实验方案 4.1实验设备、测量工具及试件： YDD-1型多功能材料力学试验机（图1.8）、150mm 游标卡尺、四点弯曲梁试件（图5.1）。 YDD-1型多功能材料力学试验机由试验机主机部分和数据采集分析两部分组成，主机部分由加载机构及相应的传感器组成，数据采集部分完成数据的采集、分析等。 图5.1实验中用到的纯弯梁，矩形截面，在梁的两端有支撑圆孔，梁的中间段有四个对称半圆形分配梁加载槽，加载测试时，两半圆型槽中间部分为纯弯段，在纯弯段中间不同梁高部位、在离开纯弯段中间一定距离的梁顶及梁底、在加工有长槽孔部位的梁顶及梁底均粘贴电阻应变片。 4.2 装夹、加载方案 安装好的试件如图5.2所示。试验时，四点弯曲梁通过销轴安装在支座的长槽孔内，形成滚动铰支座。梁向下弯曲时，荷载通过分配梁等量地分配到梁上部两半圆形加载槽，梁向上弯曲时，荷载通 过分配梁等量地分配到梁下部两半圆形加载槽，分配梁的两个加载支滚，一个为滚动铰支座，一个为 图5.1 四点弯曲梁试件
《微机原理及应用》期末考试 复习参考资料 一、微机原理与应用模拟试题Ⅰ 一、填空题（每空1分，共25分） 1、指令由和组成。 2、I/O接口是微机系统的一种部件，它被设置在与之间。 3、已知[X]补=（11110011）B，则真值X= 。 4、IF是标志；SP称为；CS称为。 5、段地址为A382H，偏移地址为1234H，则对应的物理地址为。 6、8086CPU由和两部分组成。 7、CPU的基本时间计量单位称为周期。 8、SP总是指向堆栈的。 9、指令MOV AX，[BP+200]读取的是段的存储单元。 10、由8个二进制位组成的基本数据表示单元称为。 11、访存空间的是指CPU所能访问的。 12、某存储器芯片的存储容量为32K×8，则该芯片有个存储单元。 13、PENTIUM的工作模式有、、。 14、指令由、和操作数字段组成。 15、8086CPU指令系统中，用20条地址线寻址I/O端口，其端口地址范围 为。 16、电可擦除的可编程只读存储器的英文简写为。 17、逻辑地址由段基值和___ ___组成。 二、判断题（每小题1.5分，共15分，在每小题 后面的括号中认为正确的画“√”，错误的画“×”） 1、堆栈是处在CPU内部的一个部件。（） 2、8086的状态标志位有9个。（） 3、IP是EU中的寄存器。（）
4、IP中存放的是正在执行的指令的偏移地址。（） 5、全地址译码法是指存储器芯片上的所有地址均参加译码。（） 6、EPROM是电可擦除的PROM。（） 7、中断是指CPU执行程序过程被意外暂停。（） 8、EEPROM中存储的数据不会因掉电而丢失。（） 9、SRAM是不用刷新的RAM。（） 10、总线周期是指CPU通过总线访问一次内存或外设的时间。（） 三、单项选择题（每题1.5分，共15分） 1）。 (A) SP (B) IP (C)BP (D)CS 2、源变址寄存器是（）。 (A) SI (B)DI (C)SP (D)DX 3、下面4个标志中属于控制标志的是（）。 (A) CF (B)DF (C)SF (D)ZF 4、LEA BX，BUFF 指令的功能是（）。 (A)将存储单元BUFF的地址送给BX。 (B)将存储单元BUFF的数据送给BX。 (C)将存储单元BUFF的偏移地址送给BX。 (D)将存储单元BUFF的段地址送给BX。 5、DOS功能调用的子功能号存放在（）寄存器中。 (A) AH (B)AL (C)DH (D)DL 6、采用DMA方式的I/O系统中，其基本思想是在（）间建立直接的数据通道。 (A) CPU与外设(B)主存与外设(C)外设与外设(D)CPU与主存 7、设SP=1110H，执行PUSH AX 指令后，SP的内容为（）。 (A) SP=1112H (B)SP=110EH (C)SP=1111H (D)SP=110FH 8、语句DAI DB 2 DUP（3，5，7）汇编后，与该语句功能等同的语句是（）。 (A) DAI DB 3，5，7 (B)DAI DB 2，3，5，7 (C)DAI DB 3，5，7，2 (D)DAI DB 3，5，7，3，5，7 9、给定AL=80H，CL=02H，则SAR AL ，CL指令执行后的结果是（）。 (A) AL=40H (B)AL=20H (C)AL=0C0H (D)AL=0E0H 10、对于输入端口，应具有下面何种功能（）。 (A)应具备数据缓冲功能。 (B)应具备数据锁存功能。 (C)应同时具备数据缓冲功能和数据锁存功能。 (D)具备缓冲功能和数据锁存功能中的任一种。 四、名词解释题（每题5分，共25分）
CH04 存储系统 习题与思考题 1．存储器的哪一部分用来存储程序指令及像常数和查找表一类的固定不变的信息？哪一部分用来存储经常改变的数据？ 解答：只读存储器ROM；随机存储器RAM。 2．术语“非易失性存储器”是什么意思？PROM和EPROM分别代表什么意思？ 解答：“非易失性存储器”是指当停电后信息会丢失；PROM--可编程序的只读存储器PROM(Programmable ROM)，EPROM--可擦除的可编程的只读存储器EPROM(Erasible Programmable ROM)。 3．微型计算机中常用的存储器有哪些？它们各有何特点？分别适用于哪些场合？ 解答： 双极型半导体存储器 随机存储器(RAM) MOS存储器（静态、动态） 主存储器可编程只读存储器PROM 可擦除可编程只读存储器EPROM，EEPROM 只读存储器(ROM)掩膜型只读存储器MROM 快擦型存储器 存储器磁盘(软盘、硬盘、盘组)存储器 辅助存储器磁带存储器 光盘存储器 缓冲存储器 4．现代计算机中的存储器系统采用了哪三级分级结构，主要用于解决存储器中存在的哪些问题？ 解答：目前在计算机系统中通常采用三级存储器结构，即使用高速缓冲存储器、主存储器和辅助存储器，由这三者构成一个统一的存储系统。从整体看，其速度接近高速缓存的速度，其容量接近辅存的容量，而位成本则接近廉价慢速的辅存平均价格。三级结构主要用于解决速度、容量和成本的问题。 5．试比较静态RAM和动态RAM的优缺点，并说明有何种方法可解决掉电时动态RAM中信息的保护。 解答：静态RAM----存储一位信息的单元电路可以用双极型器件构成，也可用MOS器件构成。双极型器件构成的电路存取速度快，但工艺复杂，集成度低，功耗大，一般较少使用这种电路，而采用MOS器件构成的电路。静态RAM的单元电路通常是由6个MOS 管子组成的双稳态触发器电路，可以用来存储信息“0”或者“1”，只要不掉电，“0” 或“1”状态能一直保持，除非重新通过写操作写入新的数据。同样对存储器单元信息的读出过程也是非破坏性的，读出操作后，所保存的信息不变。使用静态RAM的优点是访问速度快，访问周期达20~40ns。静态RAM工作稳定，不需要进行刷新，外部电
第一章绪论 §1.1 工程力学实验的内容 实验是进行科学研究的重要方法，科学史上许多重大发明是依靠科学实验而得到的，许多新理论的建立也要靠实验来验证。例如材料力学中应力应变的线性关系就是虎克于1668年到1678年间作了一系列的弹簧实验之后建立起来的。不仅如此，实验对材料力学有着更重要的一面。因为材料力学的理论是建立在将真实材料理想化，实际构件典型化，公式推导假设化基础之上的，它的结论是否正确以及能否在工程中应用，都只有通过实验验证才能断定。在解决工程设计的强度，刚度等问题时，首先要知道材料的力学性能和表达力学性能的材料常数。这些常数只有靠材料试验测试才能得到。有时实际工程中构件的几何形状和载荷都十分复杂，构件中的应力单纯靠计算难以得到正确的数据，这种情况下必须借助于实验应力分析的手段才能解决。因此，材料力学实验是学习材料力学课程不可缺少的重要环节。材料力学实验包括以下三个方面的内容： 1.测定材料的力学性能材料的力学性能是指在力或能的作用下，材料在变形、强 度等方面表现出的一些特性，如弹性极限、屈服极限（屈服强度）、强度极限、弹性模量、疲劳极限、冲击韧性等。这些强度指标或参数都是构件强度、刚度和稳定性计算的依据，而它们一般要通过实验来测定。此外，材料的力学性能测定又是检验材质、评定材料热处理工艺、焊接工艺的重要手段。随着材料科学的发展，各种新型合金材料、合成材料不断涌现，力学性能的测定，是研究每一中新型材料的重要任务。 2.验证理论公式的正确性材料力学的一些理论是以某些假设为基础的，例如杆件 的弯曲理论就以平面假设为基础。用实验验证这些理论的正确性和适用范围，有助于加深对理论的认识和理解。至于新建立的理论和公式，用实验来验证更是必不可少的。实验是验证、修正和发展理论的必要手段。 3.实验应力分析某些情况下，例如因构件几何形状不规则，受力复杂或精确的边 界条件难以确定等，应力分析计算难于获得准确结果。这时，用诸如电测、光弹性等实验应力分析方法直接测定构件的应力，便成为有效的方法。对经过较大简化后得出的理论计算或数值计算，其结果的可靠性更有赖于实验应力分析的验证。§1.2 材料力学试验的标准、方法和要求 材料的强度指标如屈服极限、强度极限、持久极限等，虽是材料的固有属性，但往往与试样的形状、尺寸、表面加工精度、加载速度、周围环境（温度、介质）等有关。为使实验结果能相互比较，国家标准对试样的取材、形状、尺寸、加工精度、试验手段和方法以及数据处理都作了统一规定。
微机原理与应用试卷 一、单项选择题（每小题 1 分共 10 分） 1.十进制33.25转换成十六进制数为( ) A. B1.4H B. 1B.19H C. 21.4H D. 33.4H 2. 若有16条地址线,那么可访问的内存地址范围为。( ) A. 0001H～FFFFH B. 0000H～FFFFH C. 00000H～FFFFFH D. 00001H～FFFFFH 3. 8086 CPU内有指示下条指令有效地址的指示器是( ) A. IP B. SP C. BP D. SI 4.下列指令中语法有错误的是( ) A. IN AX，20H B. LEA SI，［2000H］ C. OUT DX，AL D. SHL AX，2 5. 8088CPU内部的数据总线有多少条( ) A. 8条 B. 16条 C. 20条 D. 32条 6. 若（AL）＝0FH，（BL）＝04H，则执行CMP AL，BL后，AL和BL的内容为( ) A. 0FH和04H B. 0BH和04H C. 0FH和0BH D. 04H和0FH 7. 指令MOV AX,[BX][SI]中源操作数的寻址方式是。( ) A. 寄存器间接寻址 B. 变址寻址 C. 基址变址寻址 D. 相对寻址 8. 与MOV BX，OFFSET X等价的指令是( ) A. MOV BX，X B. LDS BX，X C. LES BX，X D. LEA BX，X 9. 不能实现将AX清零和CF清零的指令是（） A. SUB AX，AX B. MOV AX，0 C. XOR AX，AX D. AND AX，0 10.可编程计数／定时器8253的工作方式有几种（） A. 3 B. 4 C. 5 D. 6 二、填空题（每空2分，共20分） 1. 计算机通常___________和___________是核心部件，合称为中央处理单元CPU。 2. 8086CPU通过数据总线对__________进行一次访问所需要的时间为一个总线周期，一个总线周期至少包括__________时钟周期。 3. 组成16M*8位的存储器，需要1M*4位的存储芯片___________片。 4. 微机中一般采用__________芯片作为串行通信接口。 5．在8086CPU系统中，设某中断源的中断类型码为08H，中断矢量为0100H：1000H，则相应的中断矢量存储地址为__________；从该地址开始，连续的4个存储单元存放的内容依次为__________。
实验一金属材料的拉伸和压缩实验 一、实验目的 1、测定低碳钢材料拉伸时的屈服极限σs、强度极限σb、断后伸长率δ、断面收缩率ψ。 2、测定铸铁材料拉伸和压缩时的强度极限σbt和σbc。 3、观察比较低碳钢和铸铁的破坏过程和破坏特征。 4、熟悉微控电子万能材料试验机和游标卡尺的使用。 二、实验设备和试样 1、设备：微控电子万能材料试验机，游标卡尺 2、试样： ①拉伸试样：采用圆形长比例试样标距L=100mm，直径d=10mm ②压缩试样：采用圆柱形试样高度h=30mm，直径d=15mm 三、实验步骤 拉伸实验 1、试样准备 ①在试样标距段的两端及中间截面处沿两相互垂直方向测量直径各一次，并对每个截面求直径的算术平均值。选用三个截面中平均直径的最小值计算截面面积。 ②将标距段长度用划线机做出标记，并沿标距长度每隔10mm划标记线，以便于观察断口的位置和测量变形。 2、实验机准备 ①估计载荷，确定载荷在试验机量程范围之内。 ②打开试验机钥匙开关；打开计算机主机及显示屏。 ③打开控制主程序，联机。 3、装夹试样 ①将试样轻夹于上、下夹头，使试样沿轴向方向。 ②松开上夹头，拧紧下夹头，在微机控制界面中选中试验力清零。 ③拧紧上夹头，将试样夹好。 4、录入试验参数 ①单击“试样录入”，录入试样材料、形状、编号、参数及试验方法等，并保存； ②选择已录入的“试验编号”，选择（试验）曲线。 ③单击参数设置，设置横梁移动速度、横梁移动方向、初始试验力、断裂百分比及计算结果选项。 ④变形清零，位移清零。 5、进行实验 单击“实验开始”开启试验机，当试验力达到断裂百分比自动停止试验，并计算结果。 6、结束实验 试样断裂后，停车，取出试样，量测试样的断后标距和断后面积。 量测时将试样断后的两段紧密对接在一起，尽量保持两段的轴线位于同一直线内，若断面形成缝隙，则此缝隙也应计入断后标距。 断后标距的量测方法与断面的位置有关，若断面距最近标距端点的距离大于L0/3，则直接测量两标距端点间的距离作为断后标距L1。若断面距最近标距端点的距离小于或等于L0/3，则采用移
《微机原理及应用》习题答案 教材：《80X86/Pentium 微型计算机原理及应用》答案第一章 计算机基础 1-3 （1）01101110 真值=110 （2）10001101 真值=-13 1-4 （1）＋010111 [+010111]原=[+010111]反=[+010111]补=00010111 (2) +101011 [+101011]原=[+101011]反=[+101011]补=00101011 (3) - 101000 [-101000]原=10101000 [-101000]反= 11010111 [-101000]补=11011000 (4) -111111 [-111111]原=10111111 [-111111]反= 11000000 [-111111]补=11000001 1- 6 (1) [x1+y1] 补=[x1]补+ [y1]补 =00010100+00100001=00110101 (2) [x2-y2]补=[x2]补+ [-y2]补 =11101100+00100001=00001101 1- 7 (1) 85+60 解：[-85] 补=10101011 [60] 补=00111100 [-85] 补+[60] 补=10101011+00111100=11100111 (11100111)补=10011001 真值=—25 CS= 0, CP=0, CS? CP= 0 无溢出 (4)-85-60 [-85] 补=10101011 [-60] 补=11000100 [-85] 补+[-60] 补=10101011+11000100=101101111 CS=1, CP=0 CS? CP=1 有溢出1- 8 (1) [x] 补+ [y] 补=01001010+01100001=10101011 CS=0, CP=1 CS? CP=1 有溢出⑵[X] 补-[y]补=[x]补+ [-y]补 =01001010- 01100001=01001010+10101010 =100010110 CS=1, CP=1 CS? CP=0 无溢出1- 9 (1) (127)10=(000100100111)BCD (2) (74)H=(116)10=(000100010110)BCD (1) 41H 代表 A (2) 72H 代表r (3) 65H 代表e (4) 20H 代表SP 1-14 (1) 69.57 (69.57)10=(1000101.100)B=0.1000101100 X 27 =0.1000101100 X 2+111 浮点规格数为011101000101 (2) -38.405 (-38.405)10=(-100110.011)B -100110.011= -0.100110011 x 26 = - 0.100110011 x 2110 浮点规格数为011011001100 (3) - 0.3125 (-0.3125)10=(-0.0101)2=(-0.101)2 x 2-001 浮点规格数为111111010000 1. +0.00834 2. (+0.00834)10=(0.000000100010001)2=(0.100010 001)2 x 2-110 3. 浮点规格数为101001000100 4. 1-15 5. (1) (69.57)10=(1000101.10010001111010111)2 6. =(1.00010110010001111010111)2 x 2110 7. p=6+127=133=(10000101)2 8. 单精度浮点数为 01000010100010110010001111010111 9. ( 2) (-38.405)10=(-100110.011001111010111000)2 10. = - (1.00110011001111010111000)2 x 2101 11. p=5+127=132=(10000100)2 12. 单精度浮点数为 11000010000110011001111010111000 13. (3) (-0.3125)10=(-0.0101)2=(-1.01)2 x 2-10 14. p=-2+127=125=(1111101)2 15. 单精度浮点数为 10111110101000000000000000000000 第二章80X86/Pentium 微处理器 2- 3 IO/M DT/R DEN RD WR 读存储器0 0 0 0 1 写存储器0 1 0 1 0 2- 17 PA=CS x 16+IP IP 的范围为OOOOH?FFFFH而CS 为 A000H 因此PA的范围即现行代码段可寻址的存储空间范围为 1-10
扬州大学试题纸Array ( 2009－2010学年第1学期) 广陵学院07 班（年）级课程微机原理及应用 (A)卷 1. 以程序存储和程序控制为基础的计算机结构提出者是（B ） A.布尔 B.冯﹒诺依曼 C.图灵 D.帕斯卡尔 2．十进制数95转换成二进制数是（D ） A. 10010101 B. 01100101 C. 0100110 D. 01011111 3．大写字母C的ASCII码是（C ） A. 11001100B B. 00001100B C. 01000011B D. 01000111B 4．在微机中，主机和高速硬盘进行数据交换，一般采用的方式是（ D） A. 程序直接控制方式 B. 程序中断控制方式 C. 无条件传送方式 D. DMA方式 5．将寄存器AX的内容求反的正确指令是（ C ） A. NEG AX B. CMP AX,0FFFFH C. NOT AX D. CMP AX，AX 6. 指令MOV ARRAY[DI]，DX 源操作数的寻址方式是（B ） A.变址寻址 B.寄存器寻址 C.基址寻址 D.基址变址寻址 7. 8086/8088响应不可屏蔽中断时，其中断类型号是（A ） A.由CPU自动产生 B.从外设取得 C.由指令INT给出 D.由中断控制器提供 8.8086指令队列的长度是 ( C ) A. 4个字节 B.5个字节 C.6个字节 D.8个字节 M/、WR、RD信号的状态依次9. 在最小模式下，CPU从外设读取数据操作，IO 为（ A ） A. 0，1，0 B. 0，三态，0 C. 0，0，1 D. 1，1，0 10.在8086系统中，CPU被启动后,IP及四个段寄存器的初始状态是(D )
工程力学实验指导书（建环、给排水、包装工程） 2016年 9月
目录 实验一金属材料的拉伸实验 (2) 实验二金属材料的压缩实验 (5) 实验三弯曲正应力电测实验 (8)
实验一金属材料的拉伸实验 一、实验目的和要求 1、 观察低碳钢和铸铁在拉伸过程中的力与变形的关系。 2、测定低碳钢拉伸时的屈服极限s σ；强度极限b σ，伸长率δ和截面收缩率φ 3、测定铸铁的强度极限b σ。 4、比较低碳钢（塑性材料）与铸铁（脆性材料）拉伸时的力学性质。 5、了解CMT 微机控制电子万能实验机的构造原理和使用方法。 二、实验装置和原理 实验仪器设备： CMT 微机控制电子万能实验机、游标卡尺、拉伸试件。 试件制备： 实验采用的圆截面短比例试件按国家标准(GB/T 228-2002)制成，如图1-1所示。这样可以避免因试件尺寸和形状的影响而产生的差异，便于各种材料的力学性能相互比较。图中：d 0为试件直径，L 0为试件的标距，并且短比例试件要求L 0=5d 0。 图1-1 实验原理： 试件夹持在夹具上，点击试件保护键，消除夹持力，调节拉力作用线，使之能通过试件轴线，实现试件两端的轴向拉伸。 试件在开始拉伸之前，设置好保护限位圈，微机控制系统首先进入POWERTEST3.0界面。试件在拉伸过程中，POWERTEST3.0软件自动描绘出一条力与变形的关系曲线如图1—2，低碳钢在拉伸到屈服强度时，取下引伸计，试件继续拉伸，直至试件被拉断。 低碳钢试件的拉伸曲线(图1—2a)分为四个阶段―弹性、屈服、强化、颈缩四个阶段。 铸铁试件的拉伸曲线(图1—2b)比较简单，既没有明显的直线段，也没有屈服阶段，变形很小时试件就突然断裂，断口与横截面重合，断口形貌粗糙。抗拉强度σb 较低，无明显塑性变形。与电子万能实验机联机的微型电子计算机自动给出低碳钢试件的屈服载荷Fs 。、最大载荷Fb 和铸铁试件的最大载荷Fb 。
微机原理及应用 K60DN512VLL10 相关寄存器快速查询手册 2015年11月25日编
目录 1.通用输入输出(GPIO) 4 1.1.引言 4 1.2.寄存器说明 4 1.2.1.引脚控制寄存器(PORTx_PCRn) 4 1.2.2.GPIO端口寄存器 4 1.2.3.GPIO时钟门控寄存器（SIM_SCGC5） 5 2.中断 6 3.周期中断定时器（PIT）7 3.1.说明7 3.2.寄存器描述7 3.2.1.PIT 模块控制寄存器（PIT_MCR）7 3.2.2.定时器加载值寄存器（PIT_LDVALn）7 3.2.3.当前定时器值寄存器（PIT_CVALn）7 3.2. 4.定时器控制寄存器（PIT_TCTRLn）8 3.2.5.定时器标志寄存器（PIT_TFLGn）8 3.2.6.PIT时钟门控寄存器6（SIM_SCGC6）8 4.通用异步接收器/发送器(UART)9 4.1.UART 波特率9 4.2.寄存器说明9 4.2.1.UART 波特率寄存器9 4.2.2.UART 控制寄存器4(UARTx_C4)9 4.2.3.UART 控制寄存器1(UARTx_C1)9 4.2.4.UART 控制寄存器2(UARTx_C2)10 4.2. 5.UART 状态寄存器1(UARTx_S1)10 4.2.6.UART 数据寄存器(UARTx_D)10 4.2.7.UART时钟门控寄存器11 5.AD12 5.1.寄存器说明12 5.1.1.ADC 配罝寄存器1(ADCx_CFG1)12 5.1.2.ADC 配罝寄存器2(ADCx_CFG2)12 5.1.3.ADC状态和控制寄存器1(ADCx_SC1n)13 5.1.4.ADC状态和控制寄存器2(ADCx_SC2)14 5.1.5.ADC状态和控制寄存器3(ADCx_SC3)14 5.1. 6.ADC 数据结果寄存器（ADCx_Rn）15 5.1.7.ADC时钟门控寄存器15 6.DA17 6.1.寄存器说明17 6.1.1.DAC数据寄存器（低）(DACx_DATnL)17 6.1.2.DAC数据寄存器（高）(DACx_DATnH)17 6.1.3.DAC 控制寄存器0 (DACx_C0)17 6.1.4.DAC 控制寄存器1 (DACx_C1)18 6.1.5.DAC 控制寄存器2 (DACx_C2)18 6.1.6.DAC 状态寄存器(DACx_SR)18 6.1. 7.DAC时钟门控寄存器(SIM_SCGC2)19 7.附A 时钟门控寄存器汇总20 7.1.寄存器说明20 7.1.1.系统时钟门控寄存器1(SIM_SCGC1)20 7.1.2.系统时钟门控寄存器2(SIM_SCGC2)20 7.1.3.系统时钟门控寄存器3(SIM_SCGC3)20