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几本经典模拟ic教科书的比较
1、CMOS analog circuit design
by
P.E.ALLEN
评定：理论性90
实用性70
编写100
精彩内容：运放的设计流程、比较器、开关电容
这本书在国内非常流行，中文版也翻译的很好，是很多人的入门教材。建议大家读影印版，因为ic领域的绝大部分文献是以英文写成的。如果你只能读中文版，你的学习资料将非常有限。
笔者对这本书的评价并不高，认为该书理论有余，实用性不足，在内容的安排上也有不妥的地方，比如没有安排专门的章节讲述反馈，在小信号的计算方面也没有巧方法。
本书最精彩的部分应该就是运放的设计流程了。这是领域里非常重要的问题，像Allen教授这样将设计流程一步一步表述出来在其他书里是没有的。这正体现了Allen教授的治学风格：苛求理论的完整性系统性。但是，作为一项工程技术，最关键的是要解决问题，是能够拿出一套实用的经济的保险的方案。所以，读者会发现，看完最后一章关于ADC/DAC的内容，似乎是面面俱到，几种结构的ADC都提到了，但是当读者想要根据需求选择并设计一种ADC/DAC时，却无从下手。
书中关于比较器的内容也很精彩，也体现了Allen教授求全的风格。不过，正好其它教科书里对比较器的系统讲述较少，该书正好弥补了这一缺陷。
Allen教授是开关电容电路和滤波器电路的专家。书中的相关章节很适合作为开关电容电路的入门教材。
该书的排版、图表等书籍编写方面的工作也做的很好。像Allen这样的理论派教授不管在那所大学里，大概都会很快的获得晋升吧。
另外，Allen教授的学生Rincon Moca教授写的关于LDO的书非常详尽，值得一读。
2、CMOS Circuit Design Layout and Simulation
CMOS Mixed-Signal Circuit Design
by
R.J.Baker
评定：理论性80
实用性100
编写80
精彩内容：数据转换器的建模和测量、hspice网表
这本书的风格和Allen的书刚好相反：理论的系统性不强，但是极为实用，甚至给出大量的电路仿真网表和hspice仿真图线。
这本书的中文版翻译的也很好。最近出了第二版，翻译人员换了，不知道翻译的水平如何。不过，第二版好贵啊~~
Baker教授在工业界的实战经验丰富，曾经参加过多年的军方项目的研发，接收器，锁相环，数据转换器，DRAM等曾设计过。所以，书中的内容几乎了包含了数字、模拟的所有重要电路，Baker教授算得上是百科全书式的设计师了。大概是因为参与的项目多，如果像Allen 教授那样系统的总结每一种电路太耗费精力，他的书并不苛求面面俱到，但是力求让读者看完就能自己设计出来。书中给出的大量hspice网表和图线对读者来说非常实用。
Baker是混合信号电路的专家，他的书关于数据转换器的内容最为精彩，除了独此一家的转换器模型和测量，还给出了转换器中积分器的时序响应，让读者在频域和时域都能有一个清晰的认识。
这本书是模拟ic领域唯一获得IEEE出版奖的设计，也是IEEE对该书实用风格的肯定。
该书的不足在于书的理论框架不清晰，读者需要自己多做一些归纳总结的工作。另外，书中的电路、图表实在是不太美观。
3、Analysis and design of of analog integrated circuits by P.R.Gray
评定：理论性100
实用性80
编写90
精彩内容：器件模型和工艺、基准源的公式推导、反馈系统的稳定性、双差分运放
Gray教授入行早、道行深，凡是书中提到的电路，一定是极尽能事讲述全面透彻。所以，该书的文字特别多，再加上书中还花了大量的篇幅讲述bipolar管的电路，读这本书很需要耐心。不过，有同事说，把每个理论都由浅入深的讲述了一遍，很适合入门。看来还是仁者见仁啊。
该书的中文版非常烂，劝大家别买，省点银子。同时，也奉劝各位在大学的老师们，要翻译就认认真真的，别糟蹋了好书。你们的大名还写在书上呢，给自己留点颜面行不行啊？！
从第一章器件的模型开始，Gray教授就给出了大量的公式和推导，让人喘不过气来，甚至让人恐惧模拟ic。其实呢，作为工程师，理解公式的结论比公式的推导更重要，所以，读者沉溺于公式推导的迷海中，千万别忘了这个公式是需要说明什么问题的。
器件模型和工艺、基准源的公式推导和反馈系统的稳定性，这三部分内容都需要大量的公式。用Gray教授的书来学习这些内容，很对口。关于双差分运放的共模稳定性，书中给出了不少公式，这是书中独此一家的内容，值得好好研读。
eetop上有斯坦福电子系的模拟ic ppt，用的是这本书。那份ppt可以看成是书中的重点内容，给读者减减负。
发现一个有趣的问题：以上列举的三位模拟ic大师恰巧都不是名校毕业，还有发明wildar 电流镜、基准源、CMOS运放的祖师爷级人物Robert J. Widlar也不是名校生。看来要成为优秀的工程师钻研和坚持比名校背景重要的多。
下面几本书的作者都是名校毕业。巧了，我只是按作者姓氏的音序排列而已。
4、Analog Integrated Circuit Design by
D.A.Johns and K.Martin
评定：理论性90
实用性90
编写90
精彩内容：运放的线性建立时间、开关电容、比较器
这是笔者认为综合评定最好的一本教科书。可惜啊，中文版又很烂，同志们，不会翻译就别勉强~
该书中和了前面几本书的优点：理论完整，却不过多纠缠于公式推导，甚至有时不加推导的直接给出公式；实用性很强，有的公司直接使用书上的电路。总体感觉，尽管讲述了信号与系统、开关电容、转换器、锁相环等等复杂的内容，书的文字却远不Gray教授的书多，但是又恰好讲在了关键点上。
现在经常使用的对寄生电容不敏感的积分器就是Martin教授的原创，可见他对积分器的理解之深，相关内容非常精彩。
5、Design of Analog CMOS Integrated Circuits by B.Razavi
评定：理论性90
实用性80
编写90
精彩内容：小信号的计算、开关电容、失配
这是另一本在国内很流行的教科书，因为中文版翻译的也很好。
该书最大的特色在于书中计算复杂的小信号模型使用了不少巧妙、近似的方法，经常让人有拍案叫绝的冲动。正如书中第一章所说，”As analog designers, we must wear our engineer's hat for a quick and intuitive understanding of a large circuit, our mathematician's hat for quantifying subtle, yet important effects in a circuit, and our artist's hat for inventing new circuit topologies.” 这大概是因为Razavi教授的老本行是射频电路，所以特别注重小信号的计算和寄生电容的影响。
如果读者把书中的小信号模型都计算，会感受到模拟ic的乐趣所在。不过笔者提醒一句，小信号计算很重要，但是如果你研究的不是射频电路，也许应该多花点心思在器件、反馈、噪声、信号与系统等方面。
一直很纳闷，Razavi教授是伊朗人，现在美伊关系这么僵，他还能安心为老美做研究？还听说他曾三次尝试创业，但是都以失败告终，看来电路高手不一定是创富高手啊。
6、ANALOG DESIGN ESSENTIALS by Willy M. C. Sansen
评定：理论性90
实用性80
编写100
精彩内容：运放的系统化设计、失配、失真
Sansen教授是欧洲第一的模拟ic设计大师，水平自然不在话下。他编的书也很有特色，是ppt的形式。有不少人还误以为这不是原版呢。这正体现了老Sansen教授教书育人的理念啊。
该书的中文版刚出版不久，浏览了一下，翻译的还不错，是翻译Allen那本书的王志功老师负责的。就是太贵了，98块！
如果说Baker是ic的百科全书式人物，Sansen就是模拟ic的百科全书式人物。他的书既体现了扎实的模拟ic基本功，又考虑了读者的学习接受过程。他甚至可以把多级运放、轨到轨运放、offset和cmrr、电路中的耦合效应等等有些“偏”的内容作为独立的章节，却又讲述的系统而完整。但是他表现出来是和Gray教授是截然不同的风格：Gray表现的是深厚的内功，Sansen表现的是轻巧的招式——Sansen书中的公式全都很简洁，推导也是点到即止。
这本书还有一个特点：参考文献很丰富。Sansen教授习惯在讲述完基础知识后，列举当前相关的先进技术。这对拓宽视野很有好处。
笔者认为这本书不适合作为入门书籍，因为Sansen教授本人是透过现象看本质，能用简单的公式说明问题，入门的工程师们还是经历一下推导公式，特别是小信号模型的痛苦过程吧。
据说胡锦涛主席还去Sansen主持的欧洲联合微电子中心——是叫这名字吧？——参观过呢。
把这些经典书籍做个比较，其目的绝不是建议大家全都读一遍，而是找到最适合自己的一本或两本书，其余的作为以后查阅的资料就行了。其实，以上任何一本书，只要读通了，都可以学到扎实的模拟ic基础知识，泛泛而读的效果远远比不上精度。模拟ic这东西，只有做到精深的地步才能体会到它的艺术性。
中北大学 操作系统课程设计 说明书 学院、系：软件学院 专业：软件工程 学生姓名：徐春花学号： 设计题目：基于Linux的模拟文件系统的设计与实现 起迄日 期: 2014年6月14日- 2014年6月26日指导教薛海丽
师: 2014 年 6月 26 日 前言 简单地说，Linux是一套免费使用和自由传播的类Unix操作系统，它主要用于基于Intel x86系列CPU的计算机上。这个系统是由世界各地的成千上万的程序员设计和实现的。其目的是建立不受任何商品化软件的版权制约的、全世界都能自由使用的Unix兼容产品。 Linux不仅为用户提供了强大的操作系统功能，而且还提供了丰富的应用软件。用户不但可以从Internet上下载Linux及其源代码，而且还可以从Internet上下载许多Linux的应用程序。可以说，Linux本身包含的应用程序以及移植到Linux上的应用程序包罗万象，任何一位用户都能从有关Linux的网站上找到适合自己特殊需要的应用程序及其源代码，这样，用户就可以根据自己的需要下载源代码，以便修改和扩充操作系统或应用程序的功能。这对Windows NT、Windows98、MS-DOS或OS2
等商品化操作系统来说是无法做到的。 Linux具有：稳定、可靠、安全的优点，并且有强大的网络功能。其中有对读、 写进行权限控制、审计跟踪、核心授权等技术，这些都为安全提供了保障。在相关软 件的支持下，可实现WWW、FTP、DNS、DHCP、E-mail等服务，还可作为路由器 使用，利用IPCHAINSIPTABLE网络治理工具可构建NAT及功能全面的防火墙。 Linux是在GNU公共许可权限下免费获得的，是一个符合POSIX标准的操作系 统。Linux操作系统软件包不仅包括完整的Linux操作系统，而且还包括了文本编辑 器、高级语言编译器等应用软件。它还包括带有多个窗口管理器的X-Windows图形 用户界面，如同我们使用Windows NT一样，允许我们使用窗口、图标和菜单对系 统进行操作。 目录 1需求分析 (3) 1.1 功能介绍 (3) 1.2 目的及意义 (5) 1.2.1 目的 (5) 1.2.2 意义 (6) 1.3 设计成果 (7) 2总体设计 (8) 2.1功能介绍 (8) 2.2模块关联 (9) 3详细设计 (12)
I C测试原理解析 Document serial number【UU89WT-UU98YT-UU8CB-UUUT-UUT108】
IC测试原理解析3 存储器和逻辑芯片的测试? ?存储器芯片测试介绍? ?存储器芯片是在特定条件下用来存储数字信息的芯片。存储的信息可以是操作代码，数据文件或者是二者的结合等。根据特性的不同，存储器可以分为以下几类，如表1所示：? ? ?存储器术语的定义? ?在讨论存储器芯片测试之前，有必要先定义一些相关的术语。? ?写入恢复时间(Write?Recovery?Time):一个存储单元在写入操作之后和正确读取之前中间必须等待的时间。? ? ;?保持时间(Hold?Time):输入数据电平在锁存时钟之后必须保持的时间间隔。? ?Pause?Test:存储器内容保持时间的测试。? ?刷新时间(Refresh?Time):存储器刷新的最大时间间隔。? ?建立时间(Setup?Time):输入数据电平在锁存时钟之前必须稳定保持的时间间隔。? ?上升和下降时间(Rise?and?Fall?Times)：功能速度测试是通过重复地进行功能测试，同时改变芯片测试的周期或频率来完成的。测试的周期通常使用二进制搜索的办法来进行改变。这些测试能够测出芯片的最快运行速度。? ?写入恢复(Write?Recovery):一个存储单元在写入操作之后和下一个存储单元能正确读取之前中间必须等待的时间。? ?读取时间(Access?time):通常是指在读使能，片选信号或地址改变到输出端输出新数据的所需的最小时间。读取时间取决于存储器读取时的流程。?
?存储器芯片测试中的功能测试? ?存储器芯片必须经过许多必要的测试以保证其功能正确。这些测试主要用来确保芯片不包含一下类型的错误：? ?存储单元短路：存储单元与电源或者地段路? ?存储单元开路：存储单元在写入时状态不能改变相邻单元短路：根据不同的短路状态，相邻的单元会被写入相同或相反的数据地址? ?开路或短路：这种错误引起一个存储单元对应多个地址或者多个地址对应一个存储单元。这种错误不容易被检测，因为我们一次只能检查输入地址所对应的输出响应，很难确定是哪一个物理地址被真正读取。? ?存储单元干扰：它是指在写入或者读取一个存储单元的时候可能会引起它周围或者相邻的存储单元状态的改变,也就是状态被干扰了。? ?存储器芯片测试时用于错误检测的测试向量? ?测试向量是施加给存储器芯片的一系列的功能，即不同的读和写等的功能组合。它主要用于测试芯片的功能错误。常用的存储器测试向量如下所示，分别介绍一下他们的执行方式以及测试目的.? -------------------------------------------------------------------------------- ?全”0”和全”1”向量:?4n行向量? ?执行方式：对所有单元写”1”再读取验证所有单元。对所有单元写”0”再读取验证所有单元。? ?目的：检查存储单元短路或者开路错误。也能检查相邻单元短路的问题。?
IC测试原理解析(第一部分) 本系列一共四章，下面是第一部分，主要讨论芯片开发和生产过程中的IC测试基本原理， 内容覆盖了基本的测试原理，影响测试决策的基本因素以及IC测试中的常用术语。 第一章 数字集成电路测试的基本原理 器件测试的主要目的是保证器件在恶劣的环境条件下能完全实现设计规格书所规定的功能及性能指标。用来完成这一功能的自动测试设备是由计算机控制的。因此，测试工程师必须对计算机科学编程和操作系统有详细的认识。测试工程师必须清楚了解测试设备与器件之间的接口，懂得怎样模拟器件将来的电操作环境，这 样器件被测试的条件类似于将来应用的环境。 首先有一点必须明确的是，测试成本是一个很重要的因素，关键目的之一就是帮助降低器件的生产成本。甚至在优化的条件下，测试成本有时能占到器件总体成本的40%左右。良品率和测试时间必须达到一个平衡，以取得最好的成本效率。 第一节 不同测试目标的考虑 依照器件开发和制造阶段的不同，采用的工艺技术的不同，测试项目种类的不同以及待测器件的不同，测试技术可以分为很多种类。 器件开发阶段的测试包括: ? 特征分析：保证设计的正确性，决定器件的性能参数; ? 产品测试：确保器件的规格和功能正确的前提下减少测试时间提高成本效率 ? 可靠性测试：保证器件能在规定的年限之内能正确工作; ? 来料检查：保证在系统生产过程中所有使用的器件都能满足它本身规格书要求，并能正确工作。 制造阶段的测试包括: ?圆片测试：在圆片测试中，要让测试仪管脚与器件尽可能地靠近，保证电缆，测试仪和器件之间的阻抗匹配，以便于时序调整和矫正。因而探针卡的阻抗匹配和延时问题必须加以考虑。 ? 封装测试：器件插座和测试头之间的电线引起的电感是芯片载体及封装测试的一个首要的考虑因素。 ? 特征分析测试，包括门临界电压、多域临界电压、旁路电容、金属场临界电压、多层间电阻、金属多点接触电阻、扩散层电阻、 接触电阻以及FET寄生漏电等参数测试。 通常的工艺种类包括: ? TTL
目录 第1章需求分析 (1) 第2章概要设计 (1) 系统的主要功能 (1) 系统模块功能结构 (1) 运行环境要求 (2) 数据结构设计 (2) 第3章详细设计 (3) 模块设计 (3) 算法流程图 (3) 第4章系统源代码 (4) 第5章系统测试及调试 (4) 运行结果及分析 (4) 系统测试结论 (5) 第6章总结与体会 (6) 第7章参考文献 (6) 附录 (7)
第1章需求分析 通过模拟文件系统的实现，深入理解操作系统中文件系统的理论知识, 加深对教材中的重要算法的理解。同时通过编程实现这些算法,更好地掌握操作系统的原理及实现方法,提高综合运用各专业课知识的能力；掌握操作系统结构、实现机理和各种典型算法，系统地了解操作系统的设计和实现思路，并了解操作系统的发展动向和趋势。 模拟二级文件管理系统的课程设计目的是通过研究Linux的文件系统结构，模拟设计一个简单的二级文件系统，第一级为主目录文件，第二级为用户文件。 第2章概要设计 系统的主要功能 1) 系统运行时根据输入的用户数目创建主目录 2) 能够实现下列命令： Login 用户登录 Create 建立文件 Read 读取文件 Write 写入文件 Delete 删除文件 Mkdir 建立目录 Cd 切换目录 Logout 退出登录 系统模块功能结构
运行环境要求 操作系统windows xp ，开发工具vc++ 数据结构设计 用户结构：账号与密码结构 typedef struct users { char name[8]; char pwd[10]; }users; 本系统有8个默认的用户名,前面是用户名,后面为密码,用户登陆时只要输入正确便可进入系统,否则提示失败要求重新输入。 users usrarray[8] = { "usr1","usr1", "usr2","usr2", "usr3","usr3", "usr4","usr4",
第1章认识半导体和测试设备 更多.. 1947年，第一只晶体管的诞生标志着半导体工业的开始，从那时起，半导体生产和制造技术变得越来越重要... 第1节 晶圆、晶片和封装 第3节 半导体技术 第5节 测试系统的种类 第7节 探针卡（ProbeCard） 第2节 自动测试设备 第4节 数字和模拟电路 第6节 测试负载板（LoadBoard）... 第2章半导体测试基础 更多.. 半导体测试程序的目的是控制测试系统硬件以一定的方式保证被测器件达到或超越它的那些被具体定义在器件规格书里的设计指标... 第1节 基础术语 第3节 测试系统 第5节 管脚电路 第2节 正确的测试方法 第4节 PMU 第6节 测试开发基本规则 第3章基于PMU的开短路测试 更多.. Open-Short Test也称为Continuity Test或Contact Test，用以确认在器件测试时所有的信号引脚都与测试系统相应的通道在电性能上完成了连接，并且没有信号引脚与其他信号引脚、电源或地发生短路... 第1节 测试目的 第2节 测试方法 第4章DC参数测试 更多.. 测试程序流程中的各个测试项之间的关系对DC测试来说是重要的，很多DC测试要求前提条件... 第1节基本术语 第3节VOL/IOL 第5节Static IDD 第7节IIL / IIH 第11节High Impedance Curren... 第2节VOH/IOH 第4节Gross IDD 第6节IDDQ & Dynamic IDD 第8节Resistive Input & Outpu...
第12节IOS test 第5章功能测试 更多.. 功能测试是验证DUT是否能正确实现所设计的逻辑功能，为此，需生成测试向量或真值表以检测DUT中的错误，真值表检测错误的能力可用故障覆盖率衡量，测试向量和测试时序组成功能测试的核心... 第1节基础术语 第3节输出数据 第5节Vector Data 第7节Gross Functional Test an... 第9节标准功能测试 第2节测试周期及输入数据 第4节Output Loading for AC Te... 第6节Functional Specification... 第8节Functionally Testing a D... 第6章AC参数测试 更多.. 第1节 测试类型 第1节 晶圆、晶片和封装
简单文件系统的设计及实现 一、实验目的： 1、用高级语言编写和调试一个简单的文件系统，模拟文件管理的工作过程。从而对各种文件操作命令的实质内容和执行过程有比较深入的了解 2、要求设计一个 n个用户的文件系统，每次用户可保存m个文件，用户在一次运行中只能打开一个文件，对文件必须设置保护措施，且至少有Create、delete、open、close、read、write等命令。 二、实验内容： 1、设计一个10个用户的文件系统，每次用户可保存10个文件，一次运行用户可以打开5个文件。 2、程序采用二级文件目录（即设置主目录[MFD]）和用户文件目录（UED）。另外，为打开文件设置了运行文件目录（AFD）。 3、为了便于实现，对文件的读写作了简化，在执行读写命令时，只需改读写指针，并不进行实际的读写操作 4、算法与框图 ?因系统小，文件目录的检索使用了简单的线性搜索。 ?文件保护简单使用了三位保护码：允许读写执行、对应位为 1，对应位为0，则表示不允许读写、执行。 ?程序中使用的主要设计结构如下：主文件目录和用户文件目录（ MFD、UFD）； 打开文件目录（ AFD）（即运行文件目录） 文件系统算法的流程图如下
三、工具/准备工作： 在开始本实验之前，请回顾教科书的相关内容。并做以下准备： 1) 一台运行Windows 2000 Professional或Windows 2000 Server的操作系统的计算机。 2) 计算机中需安装Visual C++ 6.0专业版或企业版 四、实验要求： （１）按照学校关于实验报告格式的要求，编写实验报告（含流程图）； （２）实验时按两人一组进行分组，将本组认为效果较好的程序提交检查。
本系列一共四章，下面是第一部分，主要讨论芯片开发和生产过程中的IC测试基本原理，内容覆盖了基本的测试原理，影响测试决策的基本因素以及IC测试中的常用术语。 器件测试的主要目的是保证器件在恶劣的环境条件下能完全实现设计规格书所规定的功能及性能指标。用来完成这一功能的自动测试设备是由计算机控制的。因此，测试工程师必须对计算机科学编程和操作系统有详细的认识。测试工程师必须清楚了解测试设备与器件之间的接口，懂得怎样模拟器件将来的电操作环境，这样器件被测试的条件类似于将来应用的环境。 首先有一点必须明确的是，测试成本是一个很重要的因素，关键目的之一就是帮助降低器件的生产成本。甚至在优化的条件下，测试成本有时能占到器件总体成本的40%左右。良品率和测试时间必须达到一个平衡，以取得最好的成本效率。 第一节不同测试目标的考虑 依照器件开发和制造阶段的不同，采用的工艺技术的不同，测试项目种类的不同以及待测器件的不同，测试技术可以分为很多种类。 器件开发阶段的测试包括: ·特征分析：保证设计的正确性，决定器件的性能参数; ·产品测试：确保器件的规格和功能正确的前提下减少测试时间提高成本效率 ·可靠性测试：保证器件能在规定的年限之内能正确工作; ·来料检查：保证在系统生产过程中所有使用的器件都能满足它本身规格书要求，并能正确工作。 制造阶段的测试包括: ·圆片测试：在圆片测试中，要让测试仪管脚与器件尽可能地靠近，保证电缆，测试仪和器件之间的阻抗匹配，以便于时序调整和矫正。因而探针卡的阻抗匹配和延时问题必须加以考虑。 ·封装测试：器件插座和测试头之间的电线引起的电感是芯片载体及封装测试的一个首要的考虑因素。·特征分析测试，包括门临界电压、多域临界电压、旁路电容、金属场临界电压、多层间电阻、金属多点接触电阻、扩散层电阻、接触电阻以及FET寄生漏电等参数测试。 通常的工艺种类包括: · TTL · ECL · CMOS · NMOS · Others 通常的测试项目种类: ·功能测试：真值表，算法向量生成。 ·直流参数测试：开路/短路测试，输出驱动电流测试，漏电电源测试，电源电流测试，转换电平测试等。·交流参数测试：传输延迟测试，建立保持时间测试，功能速度测试，存取时间测试，刷新/等待时间测试，上升/下降时间测试。 第二节直流参数测试 直流测试是基于欧姆定律的用来确定器件电参数的稳态测试方法。比如，漏电流测试就是在输入管脚施加电压，这使输入管脚与电源或地之间的电阻上有电流通过，然后测量其该管脚电流的测试。输出驱动电流测试就是在输出管脚上施加一定电流，然后测量该管脚与地或电源之间的电压差。
操作系统课程设计报告 题目：文件系统 专业：软件工程 院系：信息管理学院 年级：大三软件Q1141 学号： 11150132 姓名：王毅 指导教师：李红艳 职称：副教授 湖北经济学院教务处制
目录 操作系统课程设计报告 一实验内容 (2) 二设计的基本概念和原理 (2) 三总体设计 (2) 2-1 文件的组织结 构............................................................. (2) 2-2 磁盘空间的管 理............................................................. (2) 2-3 目录结 构 (3) 2-4文件操 作 (4) 四详细设计 (4) 4-1 建立文件（create_file）流程 图 (4) 4-2 打开文件（open_file）流程 图 (6) 4-3读文件（read_file）流程 图 (7) 4-4 写文件（write_file）流程
图 (8) 4-5 关闭文件（close_file）流程 图 (9) 4-6 删除文件（delete_file）流程 图 (10) 4-7 显示文件内容（typefile）流程 图 (11) 4-8 建立目录（md）流程 图 (12) 4-9显示目录内容流程 图 (13) 五详细代码 (14) 六运行结果截图 (40) 七总结 (44) 八参考文献 (45) 一、实验内容 要求设计一个简单的文件系统，用文件模拟磁盘，实现以下功能： （1）支持多级目录结构； （2）实现的命令包括建立目录、列目录、删除空目录、建立文件、删除文件、显示文件内容、打开文件、读文件、写文件、关闭文件、改变文件属性。
IC测试原理解析(第三部分) 芯片测试原理讨论在芯片开发和生产过程中芯片测试的基本原理，一共分为四章，下面将要介绍的是第三章。我们在第一章介绍了芯片测试的基本原理；第二章讨论了怎么把这些基本原理应用到存储器和逻辑芯片的测试上；本文主要介绍混合信号芯片的测试；接下来的第四章将会介绍射频/无线芯片的测试。 第三章混合信号芯片测试基础 基于DSP的测试技术 利用基于数字信号处理(DSP)的测试技术来测试混合信号芯片与传统的测试技术相比有许多优势。这些优势包括： 由于能并行地进行参数测试，所以能减少测试时间； 由于能把各个频率的信号分量区分开来(也就是能把噪声和失真从测试频率或者其它频率分量中分离出来)，所以能增加测试的精度和可重复性。 能使用很多数据处理函数，比如说求平均数等，这对混合信号测试非常有用 采样和重建 采样用于把信号从连续信号(模拟信号)转换到离散信号(数字信号)，重建用于实现相反的过程。自动测试设备(A TE)依靠采样和重建给待测芯片(DUT)施加激励信号并测量它们的响应。测试中包含了数学上的和物理上的采样和重建。图1中说明了在测试一个音频接口芯片时用到的各种采样和重建方法。 采样和重建在混合信号测试中的应用
纯数学理论上，如果满足某些条件，连续信号在采样之后可以通过重建完全恢复到原始信号，而没有任何信号本质上的损失。不幸的是，现实世界中总不能如此完美，实际的连续信号和离散信号之间的转换总会有信号的损失。 我们周围物理世界上的许多信号，比如说声波、光束、温度、压力在自然界都是模拟的信号。现今基于信号处理的电子系统都必须先把这些模拟信号转换为能与数字存储，数字传输和数学处理兼容的离散数字信号。接下来可以把这些离散数字信号存储在计算机阵列之中用数字信号处理函数进行必要的数学处理。 重建是采样的反过程。此过程中，被采样的波形(脉冲数字信号)通过一个数模转换器(DAC)和反镜象滤波器一样的硬件电路转换为连续信号波形。重建会在各个采样点之间填补上丢失的波形。DAC和滤波器的组合就是一个重建的过程，可以用图2所示的冲击响应p(t)来表示。 由一个数据序列重建连续时间波形 混合信号测试介绍 最常见的混合信号芯片有：模拟开关，它的晶体管电阻随着数字信号变化；可编程增益放大器(PGAs)，能用数字信号调节输入信号的放大倍数；数模转换电路(D/As or DACs)；模数转换电路(A/Ds or ADCs)；锁相环电路(PLLs)，常用于生成高频基准时钟或者从异步数据流中恢复同步时钟。
IC测试原理解析 主要讨论芯片开发和生产过程中的IC测试基本原理，内容覆盖了基本的测试原理，影响测试决策的基本因素以及IC测试中的常用术语。 第一章数字集成电路测试的基本原理 器件测试的主要目的是保证器件在恶劣的环境条件下能完全实现设计规格书所规定的功能及性能指标。用来完成这一功能的自动测试设备是由计算机控制的。因此，测试工程师必须对计算机科学编程和操作系统有详细的认识。测试工程师必须清楚了解测试设备与器件之间的接口，懂得怎样模拟器件将来的电操作环境，这样器件被测试的条件类似于将来应用的环境。 首先有一点必须明确的是，测试成本是一个很重要的因素，关键目的之一就是帮助降低器件的生产成本。甚至在优化的条件下，测试成本有时能占到器件总体成本的40%左右。良品率和测试时间必须达到一个平衡，以取得最好的成本效率。 第一节不同测试目标的考虑 依照器件开发和制造阶段的不同，采用的工艺技术的不同，测试项目种类的不同以及待测器件的不同，测试技术可以分为很多种类。 器件开发阶段的测试包括: ?特征分析：保证设计的正确性，决定器件的性能参数; ?产品测试：确保器件的规格和功能正确的前提下减少测试时间提高成本效率 ?可靠性测试：保证器件能在规定的年限之内能正确工作; ?来料检查：保证在系统生产过程中所有使用的器件都能满足它本身规格书要求，并能正确工作。 制造阶段的测试包括: ?圆片测试：在圆片测试中，要让测试仪管脚与器件尽可能地靠近，保证电缆，测试仪和器件之间的阻抗匹配，以便于时序调整和矫正。因而探针卡的阻抗匹配和延时问题必须加以考虑。 ?封装测试：器件插座和测试头之间的电线引起的电感是芯片载体及封装测试的一个首要的考虑因素。 ?特征分析测试，包括门临界电压、多域临界电压、旁路电容、金属场临界电压、多层间电阻、金属多点接触电阻、扩散层电阻、接触电阻以及FET寄生漏电等参数测试。 通常的工艺种类包括:
EM-Plant环境下车间生产管理仿真与优化创新实验大纲 实验名称：EM-Plant环境下车间生产管理仿真与优化创新实验实验学时：24 适用专业：工业工程专业 开课学院：机电学院 开课学期：第6学期 一、实验课程简介 本实验采用的是EM-Plant软件工具，该软件是面向对象的、图形化的、集成的建模、仿真工具，系统结构和实施都满足面向对象的要求。eM-Plant可以对各种规模的工厂和生产线，包括大规模的跨国企业，建模、仿真和优化生产系统，分析和优化生产布局、资源利用率、产能和效率、物流和供需链等。 二、学生应达到的实验能力与标准 1、上机实验前，应认真预习实验内容及有关的相应知识。 2、查找有关信息，了解EM-Plant的初步知识。 3、掌握仿真建模流程。 4、了解EM-Plant建模的基本元素、对象及SimTalk语言。 5、了解统计分析、优化工具。 三、讲授实验的基本理论与实验技术知识
1、熟悉和使用EM-Plant软件工具。 2、建立对象专业化的轴套装配过程仿真。 3、建立工艺专业化的轴套装配过程仿真。 4、建立轴加工的关键路线识别仿真。 四、实验考核与成绩评定 平时上机实践与设计实验考核相结合，其中平时成绩占30%，实验考核占70%。 EM_Plant创新实验指导书 张帅王军强主编
西北工业大学2009年12月 目录
实验一轴套装配过程仿真（对象专业化） 1．实验目的 模拟对象专业化组织方式下，动画显示轴和轴套的装配过程，了解轴和轴套BOM装配编程，统计总的装配时间，分析瓶颈设备。 2．实验输入、输出参数 输入参数：轴和轴套的加工数量、装配关系、加工时间、加工工艺路线 输出参数：产出、总的装配时间、设备利用率、瓶颈设备。 Table_shaft表：记录轴的整个加工时间；
１ 存储器芯片测试 存储器芯片是在特定条件下用来存储数字信息的芯片。存储的信息可以是操作代码，数据文件或者是二者的结合。根据特性的不同，存储器可以分为以下几类，如表１所示。大允许时间间隔。 建立时间（Ｓｅｔｕｐ Ｔｉｍｅ）：输入数据电平在锁存时钟之前必须稳定保持的时间间隔。 速度（Ｓｐｅｅｄ）：功能速度测试是通过重复地进行功能测试，同时改变芯片测试的周期或频率来完成的。测试的周期通常使用二进制搜索的办法来进行改变。这些测试能够测出芯片的最快运行速度。 读取时间（Ａｃｃｅｓｓ ｔｉｍｅ）：通常是指在读使能，芯片被选中或地址改变到输出端输出新数据的所需的时间。读取时间取决于存取单元排列次序。 ３ 存储器芯片所需的功能测试存储器芯片必须经过许多必要的测试以保证其功能正确。这些测试主要用来确保芯片不包含以下任何一种类型的错误： 存储单元短路：存储单元与电源或者地短路。 存储单元开路：存储单元在写入时状态不能改变。 相邻单元短路：根据不同的生产工艺，相邻的单元会被写入相同或相反的数据。 地址开路或短路：这种错误引起一个存储单元对应多个地址或者多个地址对应一个存储单元。这种错误不容易被检测，因为我们一次只能检查输入地址所对应的输出响应，很难确定是哪一个物理地址被真正读取。 存储单元干扰：它是指在写入或者读取一个存储单元的时候可能会引起它相邻的存储单元状态的改变，也就是状态被干扰了。 ４ 存储器芯片测试时用于错误检 测的测试向量 测试向量是施加给存储器芯片的一系列的功 ＩＣ测试原理－存储器和逻辑芯片的测试 许伟达 （科利登系统有限公司） 存储器的种类 闪存（Ｆｌａｓｈ） 只读存储器（ＲＯＭ） 静态随机读取存储器 （ＳＲＡＭ） 电可编程只读存储器（ＥＰＲＯＭ） 电可编程可擦除编程只读存 储器（ＥＥＰＲＯＭ） 动态随机读取存储器（ＤＲＡＭ） 特性 低成本，高密度，速度快；低功耗，高可靠性 成熟的技术，高密度，可靠的，低成本；写入速度慢，适用于固定代码存储的批量产品 速度最快，高功耗，低密度；较低的密度关系使其生产成本上升较高 高密度；必须通过紫外线照射来擦除内存数据 以字节方式进行电擦除；低可靠性，高成本，密度最低 高密度，低成本，高速度，高功耗 表１ 存储器的种类与特性 ２ 存储器术语的定义 在讨论存储器芯片测试之前，有必要先定义一 些相关的术语。 写入恢复时间（Ｗｒｉｔｅ Ｒｅｃｏｖｅｒｙ Ｔｉｍｅ）：一个 存储单元在写入操作之后到能正确读取之前这中间 必须等待的时间。 锁存时间（Ｈｏｌｄ Ｔｉｍｅ） ：输入数据电平在锁存 输入时钟之后必须保持的时间间隔。 数据保存时间（Ｐａｕｓｅ Ｔｅｓｔ）：存储器单元 能保持它们状态的时间，也是存储器内容能保持时 间的测试。 刷新时间（Ｒｅｆｒｅｓｈ Ｔｉｍｅ） ：存储器刷新前的最 半导体技术第３１卷第５期２００６年５月350
#include "stdio.h" #include "iostream.h" #include "string.h" #include "iomanip.h" #define FILENAME_LENGTH 10 //文件名称长度#define COMMAND_LENGTH 10 //命令行长度#define PARA_LENGTH 30 //参数长度 //账号结构 typedef struct users { char name[8]; char pwd[10]; }users; //文件结构 struct fnode { char filename[FILENAME_LENGTH]; int isdir; int isopen; char content[255]; //我是目录/我是文件fnode *parent; fnode *child; fnode *prev; fnode *next; }; //账号 users usrarray[8] = { "usr1","usr1", "usr2","usr2", "usr3","usr3", "usr4","usr4", "usr5","usr5", "usr6","usr6", "usr7","usr7", "usr8","usr8", }; fnode *initfile(char filename[],int isdir); void createroot();
int run(); int findpara(char *topara); bool chklogin(char *users, char *pwd); void help(); int mkdir(); int create(); int read(); int write(); int del(); int cd(); int dir(); fnode *root,*recent,*temp,*ttemp; char para[PARA_LENGTH],command[COMMAND_LENGTH],temppara[PARA_LENGTH],recentpa ra[PARA_LENGTH]; //创建文件与目录结点 fnode* initfile(char filename[],int isdir) { fnode *node=new fnode; strcpy(node->filename,filename); node->isdir=isdir; node->isopen=0; node->parent=NULL; node->child=NULL; node->prev=NULL; node->next=NULL; return node; } //创建文件存储结点 void createroot () { recent=root=initfile("/",1); root->parent=NULL; root->child=NULL; root->prev=root->next=NULL; strcpy(para,"/"); } int mkdir() { temp=initfile(" ",1); cin>>temp->filename; if(recent->child==NULL)
操作系统大型试验 实 验 报 告 姓名：XX 班级：软件工程110x 学号：201126630xxx
一、名称 操作系统大型试验。 二、目的 用C++编写出一个简单的模拟文件系统，实现目录的添加、删除、重命名，文件的添加、删除、重命名、文件和目录、文件的拷贝。 三、要求 开发工具：word，vc win32api 1.设计和实现一个简单的文件系统，要求包括目录、普通文件和文件的存储 2.文件系统的目录结构采用类似Linux的树状结构； 3.要求模拟的操作包括： a)目录的添加、删除、重命名； b)目录的显示（列表） c)文件的添加、删除、重命名 d)文件和目录的拷贝 4.用户进入时显示可用命令列表；用户输入help时显示所有命令的帮助文档；输入某个命令+？时显示该条命令的使用说明 5.用户输入exit时退出该系统 6.实验实现基于windows平台； 7.实验开发语言可以选用C/c++等 四、设计 1.主要思路说明 本模拟系统通过一个大小固定的数组要代表物理盘块，假设共有1024块，新增目录占一块，新增文件占一块，文件中可输入内容，内容假设定义为5个字符占一块，超出则应新申请空间。模拟物理盘块的数组中，数组内容为-99代表改物理盘块内容为空，可使用，其他数字均代表该物理盘块被占用，其中-3代表是占用文件的末结点，其他整数代表是文件内容的下一个寻址下标，另有一个string类型的数组来存储内容，模拟文件写入了对应下标的物理盘块中。设置了一个全局指针指向根结点，一个全局指针指向当前操作目录。搜索空白物理盘块时采用顺序搜索物理盘块数组。存储形式主要采用类似二叉树结构，如目录为根，目录下的第一个文件或目录存在根的子节点，目录下的其他文件或目录存在第一个文件或目录的兄弟节点，以此类推。 本程序仅seperate()函数使用现成代码，此函数功能为将输入命令串分离，仅仅起到美观作用，其余所有代码均为原创！ 2.申优功能： 1)能实现动态增长，即当输入文件的内容大小大于分配的模拟物理盘块时系统能够自动寻找空物理盘块并分配，将超出的内容保存在新的物理盘块中，若超出模拟磁盘大小，则超出部分不保存且返回提示。 2)能实现级联删除，即当删除目录（文件夹）时，目录下的所有内容也应当删除并正确释放物理盘块空间。
Q I T 的皮哥(P I N O C C H I O )拥有该译文版权本部分为Modeling In eMPlant 2D 文档的学习笔记，Em-plant_basic 是Step by Step 的第二部分内容。在翻译过程中，加入了本人的一些体会和经验。 本部分将介绍使用Emplant2D 创建模型进行仿真的过程中，将要面临的重要工作。如果你开始为一个新的仿真工作作出草图规划，或者准备创建相应的一个3D 模型，有许多必要的细节是需要牢记的。 创建一个仿真模型 基本概念 新的模型可以是你亲自动手建立的，也可能是你的同事建立的一些已有对象，你需要把它们整合在一起。通过对应用对象建模，可以为你自己的企业建立相应的模型对象库。系统提供的主要对象包括：Frame 、the active and passive material flow ，the movable objects 、the method object 、lists and labels 、information flow objects 以及eventcontroller 。 *Frame 对象。是仿真模型中所有对象的容器。 *Event controller 对象。 *每个对象可以派生，也可以复制，以提高对象的可重用性。Emplant 中支持继承。 *The active material flow object 。在仿真模型中，负责运输、处理移动对象（如零部件）的对象。（PS ：包括但不限于场地、设施等） *The passive material flow object 。不处理MUs ，而是负责存储MUs 或者显示对MUs 的跟踪信息。 *the moving units （MUs ）。仿真过程中，被创建、存储、运输、处理、移动的对象、部件 *the resource objects 。控制资源池（workerpool ）中的资源（workers ）何时、如何到达场所的对象。 *method 。附属于对象，method 可以自己编写，当条件满足时候，对象将按照编制的程序动作。Emplant 内嵌了一门强大的编程语言，method 可以又material flow object 激发，或者由其他method 激发。Emplant 同时提供了debugger 对程序进行调试。 *lists and tables 。 *dialog 对象。可以创建和系统提供的对话窗口类似的dialog 对象。Emplant 提供对frame 的保护——你可以对frame 编写method ，在open 的时候进行控制。 *Bottlneck analyzer 、sankeyDiagram 等。仿真分析工具 *可以通过其他程序，利用系统提供的接口变更仿真数据。数据的变更也可以在仿真过程中进行。 创建一个简单仿真模型 1） 创建一个frame 对象 2） 将相应对象放入frame 。 EM-PLANT入门学习-之2
~ 目录 第1章需求分析 (1) 第2章概要设计 (1) 系统的主要功能 (1) 系统模块功能结构 (1) 运行环境要求 (2) 、 数据结构设计 (2) 第3章详细设计 (3) 模块设计 (3) 算法流程图 (3) 第4章系统源代
码 (4) 第5章系统测试及调试 (4) 运行结果及分析 (4) 系统测试结论 (5) 。 第6章总结与体会 (6) 第7章参考文献 (6) 附录 (7) 《 第1章需求分析 通过模拟文件系统的实现，深入理解操作系统中文件系统的理论知识, 加深对教材中的重要算法的理解。同时通过编程实现这些算法,更好地掌握操作系统的原理及实现方法,提高综合运用各专业课知识的能力；掌握操作系统结构、实
现机理和各种典型算法，系统地了解操作系统的设计和实现思路，并了解操作系统的发展动向和趋势。 模拟二级文件管理系统的课程设计目的是通过研究Linux的文件系统结构，模拟设计一个简单的二级文件系统，第一级为主目录文件，第二级为用户文件。^ 第2章概要设计 系统的主要功能 1) 系统运行时根据输入的用户数目创建主目录 2) 能够实现下列命令： Login 用户登录 \ Create 建立文件 Read 读取文件 Write 写入文件 Delete 删除文件 Mkdir 建立目录 Cd 切换目录 Logout 退出登录 ! 系统模块功能结构 运行环境要求 操作系统windows xp ，开发工具vc++ 数据结构设计
用户结构：账号与密码结构 typedef struct users ! { char name[8]; char pwd[10]; }users; 本系统有8个默认的用户名,前面是用户名,后面为密码,用户登陆时只要输入正确便可进入系统,否则提示失败要求重新输入。 users usrarray[8] = { "usr1","usr1", > "usr2","usr2", "usr3","usr3", "usr4","usr4", "usr5","usr5", "usr6","usr6", "usr7","usr7", "usr8","usr8", }; ' (3)数据结构说明 a)文件结构链表 struct fnode { char filename[FILENAME_LENGTH]; int isdir; int isopen; char content[255]; · fnode *parent; fnode *child; fnode *prev; fnode *next; }; b)函数介绍 fnode *initfile(char filename[],int isdir);
CPU芯片测试技术
目录 第一章 CPU芯片封装概述 1.1 集成电路的发展 (4) 1．1．1 世界集成电路的发展 (4) 1．1．2 我国集成电路的发展 (5) 1．1．3 CPU芯片的发展 (6) 1.2 CPU构造原理 (10) 1．3 .1 CPU工作原理 (11) 1．3．2 CPU的工作流程 (12) 1.4 CPU性能指标 (12) 第二章测试 2.1 可靠性测试 (23) 2.2 测试分类 (24) 2.3 测试过程 (24) 2.4 电性能测试 (25) 2.5 电功能测试 (26) 2.6 测试环境条件 (26) 第三章 CPU芯片测试设备 3.1 测试设备介绍 (28) 3．1．1 Handler(传送机)介绍 (28) 3．1．2 Tester(测试机)介绍 (29) 3．1．3 Chiller(温控设备)介绍 (29) 3.2 测试系统 (30) 3．2．1 SUMMIT ATC 2.13 (温度控制系统) (30) 3．2．2 T2000( 测试系统) (31) 3．2．3 其它相关系统 (31) 第四章测试实例分析 4.1 等级测试 (32) 4.2 实例分析 (32) 致谢....................................................................................。.. (42) 参考文献 (43)
摘要 为什么要测试？ 可以通过测试对产品中的带有缺陷的不合格的产品及时筛选出来。 可以通过测试对产品的性能作出优良等级的评定。 可以通过测试对产品，还在工厂中时，随时监控，及时找出存在的问题，解决问题。 可以通过测试对产品，及时监控，把最新动态反馈给工程师，从而不断的改进和完善工艺。 关键字：测试可靠性中央处理器传送机测试机 Abstract Why should we test ？ Can pass the test product with a defect in the standard filter out of the product in time. Can test the performance of the product to make a good level of assessment. Can pass the test product, is still at the factory at any time to monitor, identify problems in a timely manner, to solve the problem. Can pass the test product, timely monitoring, the latest feedback to the engineers, so as to continuously improve and perfect the process Keywords: Test,reliability,CPU(Central Processing Unit),Handler,Tester
生产系统仿真报告 课程名称生产系统建模与仿真 学生学院 专业班级 2009年6月5日 目录 一、仿真建模及原理-----------------------------------------------------3 二、系统绩效评估------------------------------------------------------12 （1）该生产线的生产节拍和平均节拍---------------------12
（2） A 型号与B 型号PCB日产量------------------------------13 （3）各机台的平均利用率------------------------------------------14 （4）系统内平均在制品数量---------------------------------------15 三、问题探讨------------------------------------------------------------18 （1）系统中的瓶颈工序---------------------------------18 （2）瓶颈工序前缓冲区内产品数量平均值---------------------18 （3）如果改变PCB 到达系统的速率，能否影响PCB 的日产量？若能，如何影响------------------------------------------20 四、小组每位成员的在设计中的贡献率---------------------------20 一、仿真建模及原理 建立基本模型 1．在对象类别数据库中新增一个Training_的资料夹(Folder)，并在Training中创建一个新的Folder，将Folder的名称更改为Mus(Move