NO 元件名称检测方式图片试验仪器测试方法
推力标准（Kgf ）1CHIP0402推力推力计1、消除阻碍0402元器件边缘的其它元器件；
2、选用推力计，将仪器归零，≤30度角进行推力试验；
3、检查元器件是否脱焊，记录元器件脱焊的数值；
4、 ≥0.60Kgf判合格。
0.602CHIP0603推力推力计1、消除阻碍0603元器件边缘的其它元器件；
2、选用推力计，将仪器归零，≤30度角进行推力试验；
3、检查元器件是否脱焊，记录元器件脱焊的数值；
4、≥1.00Kgf判合格。
1.003CHIP0805推力推力计1、消除阻碍0805元器件边缘的其它元器件；
2、选用推力计，将仪器归零，≤30度角进行推力试验；
3、检查元器件是否脱焊，记录元器件脱焊的数值；
4、≥1.50Kgf判合格。
1.504CHIP1206推力推力计1、消除阻碍1206元器件边缘的其它元器件；
2、选用推力计，将仪器归零，≤30度角进行推力试验；
3、检查元器件是否脱焊，记录元器件脱焊的数值；
4、≥2.50Kgf判合格。
2.505四脚 IC 推力推力计1、消除阻碍四脚IC边缘的其它元器件
2、选用推力计，将仪器归零，≤30度角进行推力试验；
3、检查元器件是否脱焊，记录元器件脱焊的数值；
4、≥3.00Kgf判合格。
3.006五脚 IC 推力推力计1、消除阻碍5脚 IC元器件边缘的其它元器件；
2、选用推力计，将仪器归零，≤30度角进行推力试验；
3、检查元器件是否脱焊，记录元器件脱焊的数值；
4、≥3.50Kgf判合格。
3.507六脚 IC 推力推力计1、消除阻碍6脚 IC元器件边缘的其它元器件；
2、选用推力计，将仪器归零，≤30度角进行推力试验；
3、检查元器件是否脱焊，记录元器件脱焊的数值；
4、≥3.50Kgf判合格。
3.508八脚 IC 推力推力计1、消除阻碍八脚IC边缘的其它元器件；
2、选用推力计，将仪器归零，≤30度角进行推力试验；
3、检查元器件是否脱焊，记录元器件脱焊的数值；
4、≥4.00Kgf判合格。
4.009二极管SOD323推力推力计1、消除阻碍二极管(SOD323)边缘的其它元器件；
2、选用推力计，将仪器归零，≤30度角进行推力试验；
3、检查元器件是否脱焊，记录元器件脱焊的数值；
4、≥1.50Kgf判合格。
1.5010二极管SOD123推力推力计1、消除阻碍二极管(SOD123)边缘的其它元器件；
2、选用推力计，将仪器归零，≤30度角进行推力试验；
3、检查元器件是否脱焊，记录元器件脱焊的数值；
4、≥2.00Kgf判合格。
2.0011三极管SOT-23推力推力计 1.、消除阻碍三极管（SOT-23）边缘的其它元器件；
2、选用推力计，将仪器归零，≤30度角进行推力试验；
3、检查元器件是否脱焊，记录元器件脱焊的数值；
4、≥3.00Kgf判合格。
3.0012三极管推力推力计1、消除阻碍5脚 IC元器件边缘的其它元器件；
2、选用推力计，将仪器归零，≤30度角进行推力试验；
3、检查元器件是否脱焊，记录元器件脱焊的数值；
4、≥2.00Kgf判合格。
3.5013MOS管推力推力计1、消除阻碍MOS管边缘的其它元器件
2、选用推力计，将仪器归零，≤30度角进行推力试验；
3、检查元器件是否脱焊，记录元器件脱焊的数值；
4、≥4.00Kgf判合格。
4.0014电感推力推力计1、消除阻碍电感边缘的其它元器件
2、选用推力计，将仪器归零，≤30度角进行推力试验；
3、检查元器件是否脱焊，记录元器件脱焊的数值；
4、≥4.00Kgf判合格。
4.0015晶振推力推力计1、消除阻碍晶振边缘的其它元器件
2、选用推力计，将仪器归零，≤30度角进行推力试验；
3、检查元器件是否脱焊，记录元器件脱焊的数值；
4、≥3.00Kgf判合格。 3.00
制作：审核：批准：备注:如在PCBA元件焊点强度测试过程中,元件不在上表范围内,可依上表类似元器作参照,进行推力测试及判定.
常用元件焊点强度推力测试标准