芯片检测仪使用说明
一．电源及系统启动方式
1. 打开设备卷帘盖。
2. 打开接线板开关，打开蓝色稳压开关，注意，必须待稳压电源指示灯由红色变为绿色，电压稳定后才可进行后续操作，如电压不稳定就开始操作，很可能损坏设备。
3. 按下圆形绿色ON开关，打开系统总电源。
4. 打开机台右下方的黑色有机玻璃盖子，按下白色圆形按钮，启动电脑主机。
5. 按下橙色开关（power）。
6.打开显示器开关，启动PG-2000软件和PClink软件，登录ID: 1, password:1
7.打开显微镜左侧红色开关。
二.样品检测操作步骤
1.按下绿色按钮（start），载物盘移出，按下V AC抽真空键，真空泵工作，放入芯片，轻触芯片看是否吸附牢固,确定样品放置平整，如不平整则会影响检测结果并损坏探针。
2.芯片放置完毕后，再次按下绿色Start键，载物盘归位。
3.选取标准芯片，进行影像学习，设定60%的相似度（可以根据需要自行设定），然后点击搜索。
4.取任意最近一点，点击产品设定，选择自动更新（系统自动显示出行数，列数以及晶粒间距），点击产品设定，存储，名称，点击设定名称，自行输入名称后点击离开。
5.点击晶圆水平，进行影像的水平调节。
6.点击影像扫描，系统自动扫描选取样品。
7.进行接触检测，按下UP/DW键观察ES1和ES2指示灯是否亮，亮则说明接触良好，否则为接触不良。若接触不良，则需要按下A/Light键，打开环形照明灯，从显微镜的目镜中观察样品以及针头位置，调节探针台的XYZ 轴旋钮，使针头能正确接触芯片的电极，直到ES1和ES2指示灯点亮。再次按下UP/DW键，完成接触检测。8.打开PClink测试连线软件（用户名和密码都是1），进行参数设定，并对档案进行命名，点击开始写档。9．回到PG2000系统，点击开始测试，按下绿色Start键，设备开始进行检测，检测完成后，按下红色Abort键结束检测。如果在检测过程中需要暂停，则按下黄色Pause键，暂停结束后若仍需继续检测，则按下绿色Start 键，系统继续对样品进行检测。若暂停后要结束检测，则按下红色Abort键，系统自动终止检测。
10.正常检测完毕，按下红色Abort键，结束检测。
三．检测完成系统关闭过程
1.所有检测完成后，若需关闭系统，则首先要关闭PG2000软件和PClink软件，再正常关闭计算机。
2.接着关闭显微镜左侧红色开关。
3.然后关闭橙色POWER开关。
4.确定系统中所有开关均已关闭后，最后按下红色OFF键，关闭系统总电源。
5.关闭系统过程中，必须按照以上步骤操作，否则极易造成设备损坏。
6.待系统关闭后，关闭稳压电源蓝色开关，关闭接线板开关，拉下卷帘盖，检查无误后，方可离开。
故障备注：目前设备尚存在一些故障问题，显微镜右眼的目镜是坏的，无法看到样品，仅能从左眼目镜进行观察。并且在第7步进行接触检测时，正常情况下按下UP/DW键观察ES1和ES2指示灯是否亮，点亮则说明接触良好，否则为接触不良，而目前即使接触良好，ES1和ES2灯也不亮，对针的时候无法直观判断接触情况，操作难度很大，需要检修。马老师说过段时间会有工程师来维修和详细培训，维修培训过后我会对操作手册进行进一步的完善和修改。
集成电路测试员实习报告 篇一：测控技术与仪器专业生产实习报告 测控技术与仪器专业 《生产实习报告》 一、实习概况 实习时间：XX.7.28-XX.8.8 实习地点：无锡市公共实训基地 实习要求：掌握如下的专业知识和技能并通过考核。 1.集成电路及测试常识 2.模拟集成电路测试原理、方法及设备详细构成； 3.集成电路主要参数及测试设备框架构成； 4.评估集成电路的具体技术指标； 5.集成电路测试实际操作。 二、实习企业介绍 北京信诺达泰思特科技股份有限公司成立于XX年11月，注册资本为632万人民币，主要从事集成电路测试系统的研发。在集成电路测试领域具有深厚的技术实力与市场储备，同时承接集成电路测试服务、电路板测试维修业务。公司是集研制、开发、销售、服务于一体的高新技术企业。由研发人员发明了“一种快速获取DSP测试向量的方法及装置”并取得国防专利证书。公司核心研发团队多年来一直从事半导体测试系统的研发工作，参与并完成的项目包括国家六.五
重点科技攻关项目“大规模/超大规模存储器集成电路测试系统研制”；国家“七五”、“八五”重点科技攻关项目“测试程序库的开发与实 用化”；北京市科学院“100M超大规模数字电路测试系统研制”项目等，以上项目均顺利通过验收。公司所研发的产品涵盖数字集成电路测试、模拟集成电路测试、数模混合集成电路测试、存储器测试、继电器测试、电源模块测试等，曾为多家封装测试企业、军工企业及科研院所提供产品及服务，广泛应用于航空、航天、铁路、船舶、兵器、电子、核工业等领域。还可以针对用户实际需求，量身为客户提供最优的测试解决方案。公司秉承“敬业、奉献、协同、创新”的精神，为客户提供高质高效的测试展品和服务。 三、实习内容 第一周： 7月28日上午我们来到无锡公共实训基地学习集成电路测试的相关知识。下午基地领导带我们参观了公司、介绍了相关产品。 产品描述： ST5000是一款高精度的半导体分立器件测试系统，该系统采用了标准的PXI总线，能够兼容CPCI和PXI设备。它是一款浮动资源的测试工作站，这种特殊的架构方式使得用户可以最有效的利用系统资源，配置出最经济、高效的测试
一级电阻分选电路的设计 摘要 本设计充分利用了现代集成芯片技术，采用了阻抗变换和比较的方法，其结果简单、控制可靠、使用方便、具有很高的灵敏性，又不易产生错误。具有很高的使用价值。 主要运用桥式整流电路，窗口比较电路和显示电路等基本电路，并利用三端稳压器稳定输出电压，并通过窗口比较电路输出高低电平，再通过LED显示电路显示出合适的电阻，从而方便快捷的挑选出一级电阻。本设计主要运用的芯片有W7805,W7905,CD4001,LM324D等。整体设计遵循硬件工程的方法，经过需求分析，总体设计，安装调试，模块测试和系统实现几个阶段。 关键词：稳压电路，窗口比较器，CD4001，电阻测量
目录 1 课题描述 (1) 2 设计方案 (1) 2.1电源电路设计 (2) 2.2检测电路 (2) 2.3显示电路 (5) 3元件选择 (5) 3.1 三端稳压器 (5) 3.2 LM324四运放 (6) 3.3 四输入或非门 (6) 4整体电路 (7) 总结 (8) 致谢 (9) 参考文献 (10)
1 课题描述 随着工业的快速发展，很多东西得到了批量的生产。但是，这就给质量检验增加了难度。过去的微电子技术已经不能满足现状所需，因此微电子技术的发展应运而生，新的测试方法，新的测试理论，新的测试领域以及新的测试领域不断出现，在许多方面已经冲破了传统仪器的观念，电子仪器的功能和作用发生了质的变化。因此，如何快速而又高效的检测便成了人们关注的问题。比如，生产出来的电阻由于各种原因而造成在一定范围内浮动，如何筛选变化在0.95~1.05范围内的合格电阻而抛弃那些不合格的电阻。本设计是对电阻进行检测，有电源部分，检测部分和显示部分构成。并且，此设计可以直接加载在220V 交流电上。其中，电源部分由整流桥整流和三态稳压管进行稳压，以输出+/- 5V 的直流电压，用以检测电路模块的工作。检测部分通过选定门限电压、标准电阻，通过窗口比较器进行比较，就可以快速而又准确的检测出被测电阻是否合格。 2 设计方案 整个电路系统如图1所示，由电源部分、检测部分和显示部分三部分构成[1]。 图1 整体电路框图 电源模块由桥式整流、电容滤波和三端集成稳压块W7805和W7809等部分组成，可使输出电压为+/-5V 。检测电路由LM324四运放集成芯片构成，其中一个运放作为电压跟随器事项阻抗变换，另外两个运放组成窗口比较器。 由门限电
第一章 集成电路的测试 1.集成电路测试的定义 集成电路测试是对集成电路或模块进行检测，通过测量对于集成电路的输出回应和预期输出比较，以确定或评估集成电路元器件功能和性能的过程，是验证设计、监控生产、保证质量、分析失效以及指导应用的重要手段。 .2.集成电路测试的基本原理 输入Y 被测电路DUT（Device Under Test）可作为一个已知功能的实体，测试依据原始输入x 和网络功能集F（x），确定原始输出回应y，并分析y是否表达了电路网络的实际输出。因此，测试的基本任务是生成测试输入，而测试系统的基本任务则是将测试输人应用于被测器件，并分析其输出的正确性。测试过程中，测试系统首先生成输入定时波形信号施加到被测器件的原始输入管脚，第二步是从被测器件的原始输出管脚采样输出回应，最后经过分析处理得到测试结果。 3.集成电路故障与测试 集成电路的不正常状态有缺陷（defect）、故障（fault）和失效（failure）等。由于设计考虑不周全或制造过程中的一些物理、化学因素，使集成电路不符合技术条件而不能正常工作，称为集成电路存在缺陷。集成电路的缺陷导致它的功能发生变化，称为故障。故障可能使集成电路失效，也可能不失效，集成电路丧失了实施其特定规范要求的功能，称为集成电路失效。故障和缺陷等效，但两者有一定区别，缺陷会引发故障，故障是表象，相对稳定，并且易于测试；缺陷相对隐蔽和微观，缺陷的查找与定位较难。 4.集成电路测试的过程 1.测试设备 测试仪：通常被叫做自动测试设备，是用来向被测试器件施加输入，并观察输出。测试是要考虑DUT的技术指标和规范，包括：器件最高时钟频率、定时精度要求、输入\输出引脚的数目等。要考虑的因素：费用、可靠性、服务能力、软件编程难易程度等。 1.测试界面 测试界面主要根据DUT的封装形式、最高时钟频率、ATE的资源配置和界面板卡形等合理地选择测试插座和设计制作测试负载板。
高校实验室IC集成电路芯片测试 解决方案 在高校的教学实验环节，需要大量地使用一些基本功能的集成芯片。譬如74/54系列的门电路，AD/DA芯片，放大器，比较器，二极管，三极管，光耦，接口芯片等。 由于学生初学电路，使用过程中，存在很多偶然的低级错误，造成芯片的损伤，给后面的实验造成很多麻烦，所以在实验过程中，为了排除这类因素，节省教学时间，需要用专用的amdtech芯片测试仪器对芯片的功能进行校验。除此之外，此测试仪支持芯片自动查找功能，查找成功后会自动显示芯片的型号。测试仪软硬件独立设计，芯片库可在线实时更新，简单易用。可根据用户提供的芯片，进行测试（需定制）。 1.1方案特色 1.基于标准USB接口，即插即用； 2.标准40脚锁扣插座，最大可测40脚的IC； 3.系统带自检功能，芯片型号可自动判别； 4.可测试74/54系列TTL芯片，4000/4500系列CMOS芯片； 5.可测试放大器，比较器，二极管，三极管，光耦，接口 芯片等集成电路芯片；
6.可测试常用的AD、DA芯片； 7.驱动程序支持win2000/winxp/win2003/win7/win8/ win10； 8.测试仪软硬件独立设计，芯片库可在线实时更新，简单 易用； 9.可根据用户提供的芯片，进行测试（需定制）。 1.2方案使用 1.首先安装软件，安装完成后，插入芯片测试仪，系统会自动提示安装驱动设备，按照提示，使用自动安装。 测试芯片时，不管什么类型的芯片，都是底部对齐，缺口朝上，如下图所示：
2.运行芯片测试仪软件。 测试步骤如下： （1）在【选择类型】下拉框里面，选择芯片的类型 （2）选择好类别后，在【选择器件】列表框里选择具体的待测 试芯片型号。 （3）选中芯片后，点击【测试】按钮，这时测试仪 的“ready”指示灯会点亮。软件会自动测试指定芯 片的好坏。 （4）如果芯片字迹模糊，而无法知道具体芯片型号 时，可以选择【自动扫描测试】按钮，软件会自动从 芯片库里面进行比对，如果对应上了具体型号，会自 动提示芯片的型号。 注：【自动扫描测试】是扫描当前类别里面的器件，
一、设计任务及要求 设计并制作一中集成运算放大器简易测试仪。 1.测试仪能用于判断集成运放放大功能的好坏； 2.适应于单电源和双电源型运算放大器的测试； 3.设计信号产生电路，用于判断运算放大器好坏的输入； 4.设计毫伏表电路，用于测量运算放大器输出； 5.设计本仪器所需的直流稳压电源，要求有±15V 两路电压输出，每路输出电流大于50mA,并具有过电流保护功能。 二、设计方案 1.设计思路 设计测试集成运放的好坏，本实验的思路是将该被测的集成运放接成电压跟随器，在输入端接入标准的正弦信号，输出端使用示波器观测，若放大倍数为1，则表示运放正常，否则，损坏。利用这一直观的方法，可方便地判断运放的好坏。为实现这一目的，设计电路中还应含有正弦信号产生电路，而且还需要设计毫伏表电路用以对被测运放输出信号的电压值进行测量。故该实验包括四部分：正弦波振荡电路，集成运放检测电路（即电压跟随器），毫伏表电路，直流稳压电源。 电路的整体原理图如下图1： 2.单元电路设计 （1）正弦波发生电路 RC 串并联选频网络如图2所示，电路中还有一负反馈电路，它由R1和R2组成，这样就由RC 串联支路，RC 并联支路，R1和R2支路分别构成了电桥的四个桥臂，因此该电路也被称为文氏电桥震荡电路。该电路具有选频特性，若在网络的两端加上正弦交流信号U ，则在网络中而可输出电压为U1,则该网络的传输系数U U1F =,根据RC 串并联阻抗的特点可得 jwC 1R// jwC 1R jwC 1R// F ++= = )wRC 1 -wRC j 31 （+ 当RC 1w =时F=31为最大值。 RC 选频网络的特点是适用于低频信号，一般用于频率从固定而且稳定性要求不高的电路里。 集成运放检测电路 直流稳压电源
2012~ 2013 学年第二学期 《模拟电子技术基础》课程设计报告 题目：数字逻辑信号测试器的设计 专业：电子信息工程 班级： 组成员： 指导教师： 电气工程学院 2013年6月5 日
任务书 课题名称数字逻辑信号测试器的设计 指导教师（职称）倪琳 执行时间2012 — 2013 学年第二学期第 15 周学生姓名学号承担任务 音响信号产生电路 音响信号产生电路 音响信号产生电路 输入信号识别电路 输入信号识别电路 输入信号识别电路及仿真 音响驱动电路及仿真 音响驱动电路及仿真 音响驱动电路及仿真 设计目的1、学习数字逻辑电平测试仪电路的设计方法； 2、研究数字逻辑电平测试仪电路的设计方案。 设计要求 1、技术指标：测试高电平、低电平，发出不同的声响。测量范围：低电平＜0.8V, 高电平＞3.5V ，高低电平分别用1KHZ和800HZ的声响表示；被测信号在0.8～3.5v之间不发声；工作电源为5V ,输入阻抗大于20KΩ。 2、设计基本要求 （1）设计一个数字逻辑电平测试仪电路； （2）拟定设计步骤； （3）根据设计要求和技术指标设计好电路，选好元件及参数； （4）运用仿真软件绘制设计电路图； （5）撰写设计报告。
数字逻辑电平测试仪设计 摘要 在检修数字集成电路组成的设备时，经常需要使用万用表和示波器对电路中的故障部位的高低电平进行测量，以便分析故障的原因。使用这些仪器能较准确的测出被测点信号的电平的高低和被测电平的周期，但是使用者必须一方面用眼睛看着万用表的表盘或示波器的屏幕，另一方面还要寻找测试点，因此使用起来很不方便。本文介绍了一个逻辑信号电平测试器，它可以方便快捷的测量某一点的电位的高低，通过声音的有无和声音的频率来判定被测电位的电平范围，从而能解决平常对电路中某点的逻辑电平进行测试其高低电平时，采用很不方便的万用表或示波器等仪器仪表的麻烦。该测试器采用运算放大器作电压比较器进行电平判断，根据电平高低使音响电路产生不同频率方波驱动扬声器，使扬声器有相应不同的声调输出提示。从而达到了测试效果。 关键词放大器；逻辑信号；电平测试；高电平；低电平
一种集成电路产品测试系统的设计与实现 曹维国1，邓中亮1，王峥2 1北京邮电大学电子工程学院，北京 (100876) 2凤凰微电子（中国）有限公司，北京 (100084) E-mail：Weiguo.cao@https://www.doczj.com/doc/1513809176.html, 摘要：本文回顾了数字集成电路的测试技术；分析了该项技术在对SIM形式封装的数字集成电路测试中的缺陷和不足；针对目前的测试系统的单一和性能价格比例偏低的情况提出了一种新型的综合测试系统，详细介绍了该系统的工作原理及组成，讨论了该系统的软硬件设计方案，总结了其优点。 关键词：用户识别模块，集成电路，测试系统，精密测量单元 1.引言 数字集成电路测试的目的在于检测集成电路的故障并对检测到的故障进行定位、生成测试报告并对故障进行分类汇总以用于缺陷分析。从测试技术上分可分为测试生成技术、响应鉴别技术、测试仪技术和易测设计技术等。从测试方法上分可分为人工测试和穷举测试法、ATPG (自动测试图形生成)、DFT (Design For Test，可测性设计)、 BST (边界扫描测试)和BIST (Build In Self Test，内建自测试)[1]等。从阶段可分为设计阶段测试、生产阶段测试和产品测试[2]。测试技术和测试方法具有通用性和共用性，而阶段性测试则跟被测对象的不同会衍生不同的测试系统尤其是在产品测试阶段[3]。设计阶段测试可借助强大的EDA（Electronic Design Automation，电子设计自动化）工具，生产阶段的测试由集成电路制造商完整的制造体系来保证，但是封装后的数字集成电路的外形各种各样，管脚有多有少，尤其是对SIM （Subscriber Identity Module，用户识别模块）形式封装的数字集成电路的产品外部只有8个管脚可以利用，从而造成了该类产品测试阶段通用性和专用性的矛盾。目前针对SIM封装形式的数字集成电路进行产品测试的系统十分稀缺且都具有共同的不足： 1)没有补偿电路，无法进行回零测试； 2)只能进行电气性能的开短路和漏电流测试，无法进行加压测流和加流测压； 3)只能进行电气性能的测试，无法完成逻辑功能的测试； 4)价格比较高。 结合SIM封装形式的数字集成电路产品测试系统的要求和企业产品的具体应用进行设计开发了一套专用测试系统，实现对SIM封装形式的数字集成电路的逻辑功能测试和电气性能测试，并对测试的结果进行汇总分析形成报告以用于缺陷分析。 2.系统介绍 本测试系统由控制计算机﹑测试电路和测试适配器三部分组成.适用于SIM封装形式下的集成电路的开短路测试﹑工作电流测试﹑输入管脚漏电流测试﹑输出电平测试和基本逻辑功能测试。并且具备16个芯片的并行测试能力。系统框架图如图1所示：
数字集成电路测试仪(YBD-868)} YBD868型数字集成电路测试仪是一种性能较高的通用仪器,测试脚数最大为双列直插式40脚，可测范围复盖了大多数的数字集成电路，测试准确可靠，操作简便，基本功能如下: ———* 器件好坏测试—————* 器件型号判别 ———* 器件动态老化————- * 器件代换查询 三．技术指标 1．操作系统：十六位轻触式立体键盘双音提示系统,被测器件安装采用锁紧插座。 2．显示系统：六位数码管显示器显示被测器件型号或各种功能提示，四只led显示仪器工作状态。 8. 外形尺寸：292*235*75立方厘米 9. 整机重量：2.0kg 四. 测试范围 ybd868型数字集成电路测试仪库存容量两千多片，包含以下各大系列: 1. ttl54系列 2. ttl55系列 3. ttl74系列 4. ttl75系列 5. cmos14系列 6. cmos40系列 7. cmos45系列
8. 光耦合器系列 9. led显示器系列 10. 常用ram系列 11. 常用单片机系列 12. 微机外围电路系列 五. 功能综述 1. 器件好坏判别: 当未知被测器件的好坏时，只要输入该器件的型号,并将器件放于对应的工作插座上，可判别出该仪器件的好坏。 2. 器件型号判别: 当未知被测器件的型号时，只需输入该器件的引脚数目，并将被测器件放于对应的工作插座上仪器即可立即判别出该器件的型号。 3. 器件代换查询: 输入欲查询的器件型号，按下“代换查询“键就可知道是否有逻辑功能与之完全相同的其它器件。 4. 器件动态老化: 当怀疑被测器件的动态稳定性时，只要输入该器件的型号，并将被测器件放于对应的插座上，按下“动态老化“键,仪器就可对该器件进行动态老化和连续测试。
第三代ZD9610型在线电路维修测试仪的发展历程 ——中国改革开放40年精密电路板维修检测设备领域发展缩影 摘要：第三代ZD9610型在线电路维修测试仪是精密电路板维修（芯片级）检测设备，在关键技术上取得重大突破，许多被长期困扰的维修测试难题得到解决。第三代ZD9610电路测试仪的发展历程，是中国改革开放40年精密电路板维修检测设备领域发展的一个缩影。 关键词：第三代ZD9610电路测试仪 >40管脚数字器件动态性能测试 5cVI曲线 0.前言 北京正达时代电子技术有限公司成立于1997年，核心人员是1990年代初期国内最早研制在线电路维修测试仪的专家骨干，长期致力于精密电路板维修仪器/电子元器件检测设备研发和服务。特别是第三代ZD9610型在线电路维修测试仪，在国内外业界具有重要影响力。 回顾中国改革开放40年，在经济腾飞浪潮中，国内在线电路维修测试仪经历了1998~2018高速发展的黄金20年。第三代ZD9610电路测试仪的发展历程，正是中国改革开放40年精密电路板维修检测设备领域发展的一个缩影。 1.国内在线电路维修测试仪黄金20年 在线电路维修测试仪设计精密，测试高效，结合计算机技术并且综合运用器件功能测试和器件管脚阻抗特性测试等测试手段，是重要的精密电路板维修（芯片级）检测设备。 1.1国内电路测试仪研制背景： 1980年代初，伴随改革开放步伐，国内陆续引进了大量现代化电气设备。由于这些设备上普遍采用数字集成电路器件，因而常被冠以“数控设备”这一时髦的名称。当时国内电路维修人员对数字器件概念模糊，器件故障无从判别，迫切需要检测手段。 1980年代末，新加坡“创能”品牌BW4040型在线电路维修测试仪（下文简称：电路测试仪）进入国内。名称中“在线”是指：测试电路板时无须焊下器件。型号中“4040”是指：具有40路数字通道，40路VI曲线通道。电路测试仪将测试技术与计算机技术相结合，具有+5V 数字器件库。既可以测试+5V数字器件功能，也可以采用VI曲线测试数字器件/模拟器件管脚阻抗特性。 面对电路测试仪在电路板维修中的巨大优势，国内企业也积极开始研究与试制，不断推出一代又一代电路测试仪产品。 1.2第一代电路测试仪： 国内第一代电路测试仪是从对BW4040电路测试仪的学习和仿制开始的，代表机型是正达ZD4040电路测试仪。主要特点：40路数字通道，40路VI曲线通道，器件库包含40管脚以下+5V数字器件。 具有40路数字通道，提供+5V测试电源是第一代电路测试仪的基本特征。由于增加VI曲线通道难度不大，所以ZD4080电路测试仪（80路VI曲线通道）也属于第一代电路测试仪。 第一代电路测试仪始于1990年代初，那时的计算机还是DOS操作系统。随着计算机技术的飞速发展，第一代ZD4040电路测试仪也同步改进和升级。今天的ZD4040-N电路测试仪可以支持windows10_64位操作系统，在维修中依然发挥着重要作用。 1.3第二代电路测试仪： 国内第二代电路测试仪开始摆脱全面仿制阶段，推出一些自主创新的特色功能。代表机型是正达ZD9001电路测试仪。主要特点是：40路数字通道，80路VI曲线通道，20路模拟功能
H a r b i n I n s t i t u t e o f T e c h n o l o g y 集成电路测试原理及方法简介 院系：电气工程及自动化学院 姓名： XXXXXX 学号： XXXXXXXXX 指导教师： XXXXXX 设计时间： XXXXXXXXXX
摘要 随着经济发展和技术的进步，集成电路产业取得了突飞猛进的发展。集成电路测试是集成电路产业链中的一个重要环节，是保证集成电路性能、质量的关键环节之一。集成电路基础设计是集成电路产业的一门支撑技术，而集成电路是实现集成电路测试必不可少的工具。 本文首先介绍了集成电路自动测试系统的国内外研究现状，接着介绍了数字集成电路的测试技术，包括逻辑功能测试技术和直流参数测试技术。逻辑功能测试技术介绍了测试向量的格式化作为输入激励和对输出结果的采样，最后讨论了集成电路测试面临的技术难题。 关键词：集成电路；研究现状；测试原理；测试方法
目录 一、引言 (4) 二、集成电路测试重要性 (4) 三、集成电路测试分类 (5) 四、集成电路测试原理和方法 (6) 4.1.数字器件的逻辑功能测试 (6) 4.1.1测试周期及输入数据 (8) 4.1.2输出数据 (10) 4.2 集成电路生产测试的流程 (12) 五、集成电路自动测试面临的挑战 (13) 参考文献 (14)
一、引言 随着经济的发展，人们生活质量的提高，生活中遍布着各类电子消费产品。电脑﹑手机和mp3播放器等电子产品和人们的生活息息相关，这些都为集成电路产业的发展带来了巨大的市场空间。2007年世界半导体营业额高达2.740亿美元，2008世界半导体产业营业额增至2.850亿美元，专家预测今后的几年随着消费的增长，对集成电路的需求必然强劲。因此，世界集成电路产业正在处于高速发展的阶段。 集成电路产业是衡量一个国家综合实力的重要重要指标。而这个庞大的产业主要由集成电路的设计、芯片、封装和测试构成。在这个集成电路生产的整个过程中，集成电路测试是惟一一个贯穿集成电路生产和应用全过程的产业。如：集成电路设计原型的验证测试、晶圆片测试、封装成品测试，只有通过了全部测试合格的集成电路才可能作为合格产品出厂，测试是保证产品质量的重要环节。 集成电路测试是伴随着集成电路的发展而发展的，它为集成电路的进步做出了巨大贡献。我国的集成电路自动测试系统起步较晚，虽有一定的发展，但与国外的同类产品相比技术水平上还有很大的差距，特别是在一些关键技术上难以实现突破。国内使用的高端大型自动测试系统，几乎是被国外产品垄断。市场上各种型号国产集成电路测试，中小规模占到80%。大规模集成电路测试系统由于稳定性、实用性、价格等因素导致没有实用化。大规模/超大规模集成电路测试系统主要依靠进口满足国内的科研、生产与应用测试，我国急需自主创新的大规模集成电路测试技术，因此，本文对集成电路测试技术进行了总结和分析。 二、集成电路测试重要性 随着集成电路应用领域扩大，大量用于各种整机系统中。在系统中集成电路往往作为关键器件使用，其质量和性能的好坏直接影响到了系统稳定性和可靠性。 如何检测故障剔除次品是芯片生产厂商不得不面对的一个问题，良好的测试流程，可以使不良品在投放市场之前就已经被淘汰，这对于提高产品质量，建立生产销售的良性循环，树立企业的良好形象都是至关重要的。次品的损失成本可以在合格产品的售价里得到相应的补偿，所以应寻求的是质量和经济的相互制衡，以最小的成本满足用户的需要。 作为一种电子产品，所有的芯片不可避免的出现各类故障，可能包括：1.固定型故障；2.跳变故障；3.时延故障；4.开路短路故障；5桥接故障，等等。测试的作用是检验芯片是否存在问题，测试工程师进行失效分析，提出修改建议，从工程角度来讲，测试包括了验证测试和生产测试两个主要的阶段。
集成运放参数测试仪[2005年电子大赛一等奖] 摘要：本系统参照片上系统的设计架构、采用FPGA与SPCE061A相结合的方法，以SPCE061A单片机为进程控制和任务调度核心；FPGA做为外围扩展，内部自建系统总线，地址译码采用全译码方式。FPGA内部建有DDS控制器，单片机通过系统总线向规定的存储单元中送入正弦表；然后DDS控制器以设定的频率，自动循环扫描，生成高精度，高稳定的5Hz基准测量信号。扫频信号通过对30MHz的FPGA系统时钟进行分频和外部锁相环（FPGA采用FLEX10K10无内部锁相环）倍频，产生高频率稳定度、幅值稳定度的扫频信号。放大器参数测量参照GB3442-82标准，低频信号幅度的测量采取AD高速采样，然后进行数字处理的方法；高频信号的幅度直接采用集成有效值转换芯片测得。A/D 转换采用SPCE061A内部自带的10位AD。SPCE061A主要实现用户接口界面（键盘扫描、液晶显示、数据打印以及其他服务进程的调度）、AD转换以及测量参数（Vio Iio Kcmr Avd BWG Tr）计算、与上位机通信等方面的功能。上位机主要实现向下位机发送测量指令、与下位机交换测量数据、以及数据的存储、回放、统计。 关键词：参数测量运算放大器 DDS FPGA SPCE061A 数字信号处理 一、方案比较设计与论证 （一）测量电路模块 1、测试信号源部分 方案一：利用传统的模拟分立元件或单片压控函数发生器MAX038，可产生三角波、方波、正弦波，通过调整外围元件可以改变输出频率、幅度，但采用模拟器件由于元件分散性太大，即使用单片函数发生器，参数也与外部元件有关，外接电阻电容对参数影响很大，因而产生的频率稳定度较差、精度低、抗干扰能力差、成本也较高。 方案二：采用锁相式频率合成方案。锁相式频率合成是将一个高稳定度和高精度的标准频率经过运算，产生同样稳定度和精确度的大量离散频率的技术，他在一定程度上满足了既要频率稳定精确，又要在大范围内变化的矛盾。但其波形幅度稳定度较差，在低频内波形不理想。 方案三：采用DDS技术。DDS以Nyquist时域采样定理为基础，在时域内进行频率合成，其相位、幅度都可以实现程控，而且用FPGA来实现非常简单。 在这里我们只需要一个5Hz的单一稳定频率，要求其频率，幅度稳定。综合考虑，我们采用方案三，实现了高精度，高稳定度的5Hz测试信号源。 2、主测试电路 方案一：将测试放大器参数的实现分成4个电路检测。该方案实现各个参数的测量比较好，且有利于各个参数调试。但是对于要实现智能测试该方案较复杂，在电路中所用的继电器太多，很容易引起电磁干扰，不利于系统的整体性能提高，且不能实现电路的智能测试。 方案二：采用一级运放。该电路经过仔细的分析会发现它设计的非常的巧妙调试也很方便，不会产生自激、饱和等情况。缺点就是对与精度较高的运算放大器该方案实现不了。 方案三：采用试题中所给的电路。这是一个二级的电路，测试精度非常的高。但在调试中我们发现它很容易出现自激，为了使整个电路保持稳定，我们采取了一系列的稳定措施，如采用雕刻机雕刻线路，并实现大面积的接地，辅助运放加入补偿矫正网络等。 综合上述，为了实现自动测量，保证测试有更高的精度，采用方案三。 3、信号放大电路 方案一：采用普通的运算放大器放大电路。运算放大器放大电路成熟可靠，选用不同的运算放大器，能够对各种信号进行很好放大。但其放大值固定，不能动态调整，不便于处理大范围变化信号。 方案二：采用程控可增益放大器。程控可增益放大器可用单片机方便的进行增益设定，十分有利于处理大动态范围信号。 由于测量信号动态范围大，要有效的采样处理，就要求放大器增益可动态调整，由此我们选用方案二，采用可编程增益放大器AD625和数字电位器AD737组成程控增益放大器，实现对测量信号的有效放大。 4、滤波电路 方案一：采用二阶切比雪夫低通滤波器或二阶巴特沃斯低通滤波器。切比雪夫滤波器的幅度响应在通带内是在两值之间波动，在通带内波动的次数取决于滤波器的阶数。理想的在靠近截止频率的范围内比巴特沃斯有更接近矩形的频率响应。但这一点是一在频带内允许波动为代价的。巴特沃斯低通滤波器幅频响应是单调下降的，其N阶低通滤波器的前（2N-1）阶导数在频率为零处始终为零，故又称为最大平坦幅度滤波器。 方案二：采用数字滤波。数字滤波有极大的灵活性，可以在不增加任何硬件成本的基础上对信号进行有效的滤波，而且可以实现模拟器件难以实现的高阶滤波。但要进行高效率的滤波，对AD采样要求有较高的采样速率和时实性，对单片机要求有较高的数据运算速度。 方案三：采用模拟滤波器加数字滤波。先用模拟滤波器对信号进行简单的滤波处理，然后AD采样，进行数字滤波。这样既可以更加有效的对信号进行滤波，使有效信号更为纯净，便于后级数据处理，又降低了对ADC及单片机的要求，使得利用SPCE061A可以较轻松的实现 在本题中，测量输出有效信号同样为5Hz，但伴有大量的高频及较严重的50Hz工频干扰，为了保持通带内有效信号的平坦性及纯净，我们选用方案三，模拟用二阶巴特沃斯低通滤波器，数字滤波采用有限冲击响应法设置了低通滤波器及50Hz陷波器。 （二）信号采集模块 方案一：用AD736 RMS真有效值转换芯片，AD736的响应频率在0~10KHZ，采用该器件只需将被测的信号加到它的输入端上，就可以得到它的有效值，无需软件处理，测试非常的方便。但是我们在调试中现在AD736 在响应低频的时候不是很稳定，这样对整个系统会带来不稳定。因此我们没有选用这个方案。 方案二：采用A/D转换，将模拟信号数字化，然后进行数据处理。凌阳16位单片机内置有8路10位的A/D，运用起来非常的方便。无需外围的电路，转换精度也比较高，因此我们采用了方案二。 （三）用户接口模块
数字集成电路测试系统 BJ3125A 使用说明书 北京无线电仪器厂 ********
1.概述 1.1BJ3125A 型数字IC测试系统是BJ3125数字IC测试系统的改型产品，继 承了原有系统的优点。 1.2 该系统数字IC测试按存储响应法进行设计，这种方法理论上成熟，方法上统一，应用最广泛，国内外科技人员熟悉。此外，由于利用这种原理测试方法上差异小，所以易于和国内、外其他测试系统的测试数据，测试结果数据进行比较，有较好的兼容性。 1.3 本系统的设计思想 采用通用微机控制，为以后多快好省地开发各系列智能仪器打下基础。采用通用微机对于软件开发及系统调试都带来许多方便。 采用总线支持模块化结构，便于扩展成其他测试系统。 将研制中大规模数字集成电路测试系统中积累的知识、经验充分赋予该系统，软件能继承的就继承，如页表式编程测试包、系统的诊断校准程序、程序库…… 在功能测试上不追求速度而只追求功能齐全，如：能测试各种工艺系列的IC，能测开路门，可进行三态测试等。着重在直流参数上下功夫。如：小电流测试及保证较好的测试精度。 在电路设计上力求电路简捷，尽量采用先进的、性价比高的器件，如选用AD7237双D/A、AD526增益可软件编程放大器、AD620仪用放大器等，可降低成本，缩短研制周期，较容易保证较好的性能指标，便于生产。 1.4 本系统的主要特点
——采用通用微机控制 ——完善的诊断校准程序 ——商业化齐套实用的程序库 ——具有测试存储器的软件图形发生器 ——具有电平精度高、输出阻抗低、电平范围宽的三态驱动器。——可对开路门进行测试 ——具有三态测试能力 ——采用地缓冲放大器，以利用提高直流参数测试精度 ——功能测试采用双阈值比较 ——恒流源、恒压源、电压表是独立的、便于测试模拟电路时使用——易于扩展成其它IC测试系统。 1.5 本测试系统，可测试中小规模数字IC 1.6 测试用途 整机厂、研究单位的器件验收测试及其他各种应用测试。 2.系统构成及主要功能（参看图1）
电子测量仪器的分类及应用 电子测量仪器按其工作原理与用途,大致划为以下几类。 1.多用电表 模拟式电压表、模拟多用表(即指针式万用表VOM)、数字电压表、数字多用表(即数字万用表DMM)都属此类。这是经常使用仪表。它可以用来测量交流/直流电压、交流/直流电流、电阻阻值、电容器容量、电感量、音频电平、频率、晶体管NPN或PNP电流放大倍数β值等。 2.示波器 示波器是一种测量电压波形的电子仪器,它可以把被测电压信号随时间变化的规律,用图形显示出来。使用示波器不仅可以直观而形象地观察被测物理量的变化全貌,而且可以通过它显示的波形,测量电压和电流,进行频率和相位的比较,以及描绘特性曲线等。 3.信号发生器 信号发生器(包括函数发生器)为检修、调试电子设备和仪器时提供信号源。它是一种能够产生一定波形、频率和幅度的振荡器。例如:产生正弦波、方波、三角波、斜波和矩形脉冲波等。 4.晶体管特性图示仪 晶体管特性图示仪是一种专用示波器,它能直接观察各种晶体管特性曲线及曲性簇。例如:晶体管共射、共基和共集三种接法的输入、输出特性及反馈特性;二极管的正向、反向特性;稳压管的稳压或齐纳特性;它可以测量晶体管的击穿电压、饱和电流、自或a参数等。 5.兆欧表 兆欧表(俗称摇表)是一种检查电气设备、测量高电阻的简便直读式仪表,通常用来测量电路、电机绕组、电缆等绝缘电阻。兆欧表大多采用手摇发电机供电,故称摇表。由于它的刻度是以兆欧(MΩ)为单位,故称兆欧表。 6.红外测试仪 红外测试仪是一种非接触式测温仪器,它包括光学系统、电子线路,在将信息进行调制、线性化处理后达到指示、显示及控制的目的。目前已应用的红外测温仪有光子测温和热测温仪两种,主要用于电热炉、农作物、铁路钢轨、深埋地下超高压电缆接头、消防、气体分析、激光接收等温度测量及控制场合。 7.集成电路测试仪 该类仪器可对TI1、PM0S、CM0S数字集成电路功能和参数测试,还可判断抹去字的芯片型号及对集成电路在线功能测试、在线状态测试。
课程设计题目：常用基本数字集成电路应用设计 学生姓名： 学号： 院系： 专业班级： 指导教师姓名及职称： 起止时间： 课程设计评分： 常用基本数字集成电路应用设计 1.多谐振荡器概述 多谐振荡器是一种自激振荡器，它不需要输入触发信号，接通电源后就可自动输出矩形脉冲。由于矩形脉冲含有丰富的谐波分量，因此，常将矩形脉冲产生电路称为多谐振荡器。 1.1非门电路构成的多谐振荡器设计
1.1.1基本原理 门电路构成多谐振荡器 非门作为一个开关倒相器件，可用以构成各种脉冲波形的产生电路。电路的基本工作 原理是利用电容器的充放电，当输入电压达到与非门的阈值电压VT 时，门的输出状态即发生变化。因此，电路输出的脉冲波形参数直接取决于电路中阻容元件的数值。 （1）不对称多谐振荡器 非对称型多谐振荡器的输出波形是不对称的，当用TTL与非门组成时，输出脉冲宽度 tw1=RC, tw2=1.2RC, T=2.2RC 调节 R和C值，可改变输出信号的振荡频率，通常用改变C实现输出频率的粗调，改 变电位器R实现输出频率的细调。 图1为不对称多谐振荡器，为了使电路产生振荡，要求U1A和U1B两个反向器都工作在电压传输特性的转折区，即工作在放大区。 （2）对称型多谐振荡器 电路完全对称，电容器的充放电时间常数相同, 故输出为对称的方波。改变R和C的值， 可以改变输出振荡频率。非门3用于输出波形整形。 一般取R≤1KΩ?,当R1＝R2=1KΩ，C1=C2＝100pf～100μf时，f可在几Hz～MHz 变化。
脉冲宽度tw1＝tw2＝0.7RC，T＝1.4RC. 图2中，U1A和U1B两个反向器之间经电容C1和C2耦合形成正反馈回路。 (3) 石英晶体稳频的多谐振荡器 当要求多谐振荡器的工作频率稳定性很高时，上述几种多谐振荡器的精度已不能满足要 求。为此常用石英晶体作为信号频率的基准。用石英晶体与门电路构成的多谐振荡器常用来 为微型计算机等提供时钟信号。 图3所示为常用的晶体稳频多谐振荡器。（a）、 (b)为TTL器件组成的晶体振荡电路；（c）、 (d)为CMOS器件组成的晶体振荡电路，一般用于电子表中，其中晶体的f0=32768Hz。 图3（c）中，门1用于振荡，门2用于缓冲整形。Rf是反馈电阻，通常在几十兆欧之 间选取，一般选22MΩ。R起稳定振荡作用，通常取十至几百千欧。C1是频率微调电容器， C2用于温度特性校正。
集成电路芯片测试仪（A题） 一、任务 设计制作一个集成电路芯片测试仪，能对常用的74系列逻辑芯片进行逻辑功能测试，以确定芯片的好坏和型号。 二、要求 1.基本要求 （1）通过键盘输入型号，可以对74系列的 00/02/04/08/10/11/20/21/27/30十种组合逻辑芯片进行逻辑功能测试，确定其功能正确性； （2）通过键盘输入管腿特性，可以确定上述74系列的组合逻辑芯片的型号； （3）显示上述芯片的逻辑符号和逻辑表达式。 2.发挥部分 将上述三项基本要求扩展到74系列时序电路：74/109/160/245等。 （1）通过键盘输入型号，可以对74系列的74/109/160/245等芯片进行逻辑功能测试，确定其功能正确性； （2）通过键盘输入管腿特性，可以确定上述74系列时序逻辑芯片的型号； （3）显示上述芯片的逻辑符号和状态转换图； （4）其它特色与创新。 1
三、评分标准 四、说明 要求用单片机或DSP模块做成一个相对独立的整体，不能用PC机实现。 2
LED显示棒（B题） 一、任务 设计制作一个依靠摇动能显示字符、图形的LED显示棒。 二、要求 1.基本要求 （1）设计一个基于LED的显示棒，LED灯必须线状排列，至少使用16只。 （2）摇动时形成的亮灯扇形区域能够让人分辨出“A”字符。 （3）摇动时形成的亮灯扇形区域能够让人分辨出“电”字。 （4）摇动时形成的亮灯扇形区域能够让人分辨出国际奥委会五环图形。 （5）用按键实现显示切换，用电池供电。 2.发挥部分 （1）摇动时形成的亮灯扇形区域能够让人分辨出英文单词“Welcome”。 （2）摇动时形成的亮灯扇形区域能够让人分辨出汉字词组“美亚”。 （3）摇动时形成的亮灯扇形区域能够让人分辨出北京奥运会会徽图形。 （4）其它特色与创新。 三、评分标准 3
电子测量仪器校准的原理分类 1.多用电表 模拟式电压表、模拟多用表（即指针式万用表VOM）、数字电压表、数字多用表（即数字万用表DMM）都属此类。这是经常使用仪表。它可以用来测量交流/直流电压、交流/直流电流、电阻阻值、电容器容量、电感量、音频电平、频率、晶体管NPN或PNP电流放大倍数β值等。 2.示波器 示波器是一种测量电压波形的电子仪器，它可以把被测电压信号随时间变化的规律，用图形显示出来。使用示波器不仅可以直观而形象地观察被测物理量的变化全貌，而且可以通过它显示的波形，测量电压和电流，进行频率和相位的比较，以及描绘特性曲线等。 3.信号发生器 信号发生器（包括函数发生器）为检修、调试电子设备和仪器时提供信号源。它是一种能够产生一定波形、频率和幅度的振荡器。例如：产生正弦波、方波、三角波、斜波和矩形脉冲波等。 4.晶体管特性图示仪 晶体管特性图示仪是一种专用示波器，它能直接观察各种晶体管特性曲线及曲性簇。例如：晶体管共射、共基和共集三种接法的输入、输出特性及反馈特性；二极管的正向、反向特性；稳压管的稳压或齐纳特性；它可以测量晶体管的击穿电压、饱和电流、β或α参数等。 5.兆欧表 兆欧表（俗称摇表）是一种检查电气设备、测量高电阻的简便直读式仪表，通常用来测量电路、电机绕组、电缆等绝缘电阻。兆欧表大多采用手摇发电机供电，故称摇表。由于它的刻度是以兆欧（MΩ）为单位，故称兆欧表。 6.红外测试仪 红外测试仪是一种非接触式测温仪器，它包括光学系统、电子线路，在将信息进行调制、线性化处理后达到指示、显示及控制的目的。目前已应用的红外测温仪有光子测温和热测温仪两种，主要用于电热炉、农作物、铁路钢轨、深埋地下超高压电缆接头、消防、气体分析、激光接收等温度测量及控制场合。 7.集成电路测试仪 该类仪器可对TTL、PMOS、CMOS数字集成电路功能和参数测试，还可判断抹去字的芯片型号及对集成电路在线功能测试、在线状态测试。 8.LCR参数测试仪 电感、电容、电阻参数测量仪，不仅能自动判断元件性质，而且能将符号图形显示出来，并显示出其值。其还能测量Q、D、Z、Lp、Ls、Cp、Cs、Kp、Ks等参数，且显示出等效电路图形。 9.频谱分析仪 频谱分析仪在频域信号分析、测试、研究、维修中有着广泛的应用。它能同时测量信号的幅度及频率，测试比较多路信号及分析信号的组成。还可测试手机逻辑和射频电路的信号。例如：逻辑电路的控制信号、基带信号，射频电路的本振信号、中频信号、发射信号等。
集成运算放大器简易测 试仪 集团公司文件内部编码：（TTT-UUTT-MMYB-URTTY-ITTLTY-
一、设计任务及要求 设计并制作一中集成运算放大器简易测试仪。 1.测试仪能用于判断集成运放放大功能的好坏； 2.适应于单电源和双电源型运算放大器的测试； 3.设计信号产生电路，用于判断运算放大器好坏的输入； 4.设计毫伏表电路，用于测量运算放大器输出； 5.设计本仪器所需的直流稳压电源，要求有±15V两路电压输出，每路输出电流大于50mA,并具有过电流保护功能。 二、设计方案 1.设计思路 设计测试集成运放的好坏，本实验的思路是将该被测的集成运放接成电压跟随器，在输入端接入标准的正弦信号，输出端使用示波器观测，若放大倍数为1，则表示运放正常，否则，损坏。利用这一直观的方法，可方便地判断运放的好坏。为实现这一目的，设计电路中还应含有正弦信号产生电路，而且还需要设计毫伏表电路用以对被测运放输出信号的电压值进行测量。故该实验包括四部分：正弦波振荡电路，集成运放检测电路（即电压跟随器），毫伏表电路，直流稳压电源。 电路的整体原理图如下图1： 集成运放检测电 2.单元电路设计
（1）正弦波发生电路 RC 串并联选频网络如图2所示，电路中还有一负反馈电路，它由R1和R2组成，这样就由RC 串联支路，RC 并联支路，R1和R2支路分别构成了电桥的四个桥臂，因此该电路也被称为文氏电桥震荡电路。该电路具有选频特性，若在网络的两端加上正弦交流信号U ，则在网络中而可输出电压为U1,则该网络的传输系数U U1F =,根据RC 串并联阻抗的特点可得 jwC 1R//jwC 1R jwC 1R// F ++==)wRC 1-wRC j 31（+ 当RC 1w =时F=31为最大值。RC 选频网络的特点是适用于低频信号，一般用于频率从固定而且稳定性要求不高的电路里。 图2 （2）集成运放检测电路 本实验采用电压跟随电路，将集成运放接成电压跟随器，如下图3.根据示波器的信号比较，判断集成运放的好坏。 图3 （3）直流稳压电源 1）整流电路 完成整流任务。将交流电变成直流电，主要靠二极管的单向导电性，因此二极管是构成整流电路的基本元件。 2）滤波电路 滤波电路主要用于滤去整流输出电压中的波形，中心原件为电容，电容愈大，负载电阻愈大，时间常数τ=RC 越大，滤波后输出电压越平滑，其平均值就越大。 3）稳压电路